Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Курсовая рабрта Двораковского 2011.doc
Скачиваний:
13
Добавлен:
08.09.2019
Размер:
548.86 Кб
Скачать

1.2. Реактивное магнетронное распыление.

Нанесение пленок химических соединений магнетронными распылителями называют реактивным магнетронном распылением (РМР). Основное отличие РМР от магнетронного нанесения пленок металлов заключается в том, что процесс распыления проводится в смеси инертного и реактивного газов (рис.1.1). В качестве реактивных газов могут применять любые химически активные газы, чаще всего это кислород (получение оксидов), азот (получение нитридов), углеродсодержащие газы (получение карбидов), фтор и хлор содержащие газы (фториды, хлориды).

Подача реактивного газа в вакуумную камеру в процессе нанесения пленок значительно усложняет физические процессы, сопровождающие распыление катода и формирование пленочного покрытия. Качественно особенности протекания физических процессов можно рассмотреть, использовав рис.1.2.

Рис. 1.2. Динамика относительной интенсивности спектрального элемента материала мишени IM и реактивного газа IR на протяжении полного цикла нанесения пленки.

На рис.1.2. показана динамика относительной интенсивности спектрального элемента материала мишени (катода) IM (плотность потока распыленного материала) и реактивного газа IR (концентрация этого газа в разряде) на протяжении полного цикла проведения процесса нанесения пленки в условиях поддержания на постоянном уровне средней величины мощности разряда и давления в вакуумной камере. Изменяемой величиной являлся расход реактивного газа.

Отмеченные на оси времени точки соответствуют: t0 – момент времени включения регистрирующей аппаратуры (оптических датчиков); t1 – момент зажигания магнетронного разряда в инертном газе; t2 – момент подачи реактивного газа в вакуумную камеру; t3 – момент выхода на требуемое значение IM * интенсивности IM, т.е. на требуемый состав покрытия металл – реактивный газ (MR); t4 – момент отключения обратной связи между интенсивностью IM и расходом реактивного газа; t5 – начальный момент самопроизвольного изменения состояния системы мишень-плазма-пленка.

Представленные на рис.1 зависимости носят универсальный характер для процессов РМР независимо от материала катода и рода реактивного газа.

Стадия t0t1 (стадия 1) есть стадия стабилизации выходных сигналов датчиков излучения, она характеризуется наличием малых шумовых сигналов.

Стадия t2t1 (стадия 2) характеризует выход магнетронного разряда на стационарный режим горения в среде инертного газа. К концу стадии 2 достигается максимальное значение IM, равное (IM)0. Наблюдаемый рост интенсивности IR по сравнению со стадией 1 обусловлен шумовыми оптическими сигналами, источниками которых являются слабоинтенсивные спектральные линии материала мишени и инертного газа, попадающие в полосу пропускания устройства монохроматизации этого датчика. Длительность стадии 2 определяется временем установления теплового режима распыляемой мишени, которое зависит от рассеиваемой на ней мощности, т.е. мощности разряда.

На стадии 3 (интервал t2t3) происходит переход от режима нанесения пленки материала мишени к неустойчивому режиму нанесения пленки соединения MR Подача реактивного газа на этой стадии осуществлялась с помощью прибора управления расходом реактивного газа, который, используя обратную связь оптический датчик - натекатель газа, поддерживал заданную величину IM, равную IM *. Это связано с неустойчивостью системы мишень-плазма-пленка [2]. Неустойчивость этой системы приводит к самопроизвольному ее переходу в одно из двух устойчивых состояний процесса даже при сохранении на постоянном уровне давления в камере и мощности разряда. Первое состояние – это распыление с «металлической» мишенью, когда доля химического соединения MR в осаждаемом покрытии низка, т.е. реализуется осаждение практически металлического покрытия. Второе состояние – это распыление с «реактивной» мишенью, когда поверхность катода-мишени полностью покрыта пленкой соединения MR и осаждаемое покрытие состоит из MR и растворенных в нем молекул и атомов реактивного газа. Для практики применения РМР наибольший интерес представляют именно неустойчивые промежуточные состояния, так как в таких состояниях получают пленки требуемых свойств с максимальной скоростью их осаждения.

Спад величины IM обусловлен образованием соединения MR на поверхности мишени, коэффициент распыления которого всегда меньше коэффициента распыления чистой поверхности. Если вся поверхность мишени покрывается соединением MR, то достигается минимальное значение величины IM, равное (IM)m. При условии проведения процесса, когда W и p являются постоянными, количественными показателями состояния системы мишень-плазма-пленка может являться величина:

, (1.1)

имеющая смысл степени реактивности процесса [3]. Эта величина принимает значения от 0 до 1 и может служить в качестве критерия нанесения пленки требуемого состава. Следует отметить, что при постоянных W и p поддержание требуемого режима нанесения покрытия путем поддержания величины  равносильно поддержанию величины (IM)* из интервала (IM)0–(IM)m.

Анализ влияния величины  на состав покрытия показал, что для выбранной пары материал мишени – реактивный газ образование стехиометрического покрытия на холодной подложке происходит в узком интервале значений . Например, TiN при  = 0,650,03; TiО2 – при  = 0,750,04; (InSn)2О3 – при  = 0,720,05.

Указанная неустойчивость процесса РМР хорошо иллюстрирует рис. 1.3., где на примере нанесения покрытия TiNx представлена зависимости интенсивности атомной линии титана и молекулярной полосы азота от относительного расхода азота g / gk при различных скоростях откачки азота из вакуумной камеры. Данные зависимости получены путем медленного изменения рабочей точки процесса (величины IM *) с помощью прибора управления в условиях постоянства значений W и р. Переход к каждому последующему состоянию системы мишень-плазма-пленка проводился за время, необходимое для установления нового равновесного состояния, т.е. для установления величин IM и IR.

Рис.1.3. Зависимость интенсивности атомной линии титана (кривые 1, 3, 4) и молекулярной полосы азота (кривая 2) от относительного расхода азота g / gk: 1 и 2 – скорость откачки S = 0; 3 – S = gk; 4 – S = 4gk, W = 2 кВт, p = 0,3 Па.

На кривых 1, 3 и 4 можно выделить три характерные участка. Участок AB – это состояния со степенью реактивности , близкой к нулю, соответствующие распылению с «металлической» мишенью. Здесь значительные изменения расхода реактивного газа приводит к слабым изменениям IM и IR, следовательно, состава покрытия. Наибольший практический интерес представляет участок BC, на котором достигаются максимальные скорости осаждения покрытий стехиометрического и близкого к нему состава. Горение разряда на участке CD происходит в условиях, когда поверхность мишени покрыта пленкой нитрида титана [4]. В данных режимах распыление происходит с минимальной скоростью и образуется пленка с растворенным реактивным газом.

Как видно из рис.1.3, при относительном расходе реактивного газа, большем, чем в точке C, система мишень-плазма-пленка может находиться в одном из трех состояний (точки М1, М2 и М3). Точка М1 есть состояние неустойчивого равновесия. Если система находится в таком состоянии, то отключение обратной связи при сохранении величин g, W и p приводит к самопроизвольному переходу системы в одно из устойчивых состояний. Из точки М1 кривой IM происходит переход или в точку М2 участка AB с   0.05 со спадом парциального давления реактивного газа, или переход в точку М3 участка CD в состоянии с  = 1 с ростом парциального давления реактивного газа. Динамика таких переходов изображена на рис.1.2. кривыми 1 и 2 для IM и кривыми 1 и 2 для IR. Направление самопроизвольного перехода, т.е. уменьшение или рост при переходе случайно.

Следует отметить, что после отключения обратной связи в момент времени t4, наблюдается сохранение степени реактивности, т.е. состава осаждаемого потока в течение промежутка t4t5 (рис.1.2., стадия 5). Длительность этого промежутка определяется случайными низкочастотными возмущениями мощности разряда, расхода реактивного газа, давления в вакуумной камере [5].