- •Глава 1 Методы обеспечения точности соединений
- •2. Метод полной взаимозаменяемости
- •2. Метод неполной взаимозаменяемости (мнвз)
- •3. Метод групповой сборки (селективная сборка)
- •4. Сборка с пригонкой.
- •5.Сборка с регулированием
- •Глава 2. Соединения деталей
- •2.1. Характеристика соединений деталей
- •2.2. Показатели качества
- •2.3. Задачи конструирования соединений
- •2.4. Классификация и свойства контактных пар
- •Классификация элементарных контактных пар
- •2.5. Основы базирования деталей
- •2.6. Геометрическая неопределенность контактных пар
- •2.7. Преобразование классов контактных пар
- •2.8. Геометрическая неопределенность базирования
- •Принципы конструирования соединений
- •Принципы конструирования соединений
- •Уровни точности технологических процессов сборки
- •Принцип совмещения рабочих элементов деталей в соединении
- •Б) без нарушения;
- •Принцип геометрической определенности контакта пар в соединении
- •Принцип силового замыкания соединений
- •Принцип ограничения смещений в соединении деталей
- •Принцип ограничения поворотов
- •Принцип ограничения продольного и поперечного вылетов рабочих элементов
- •Учет тепловых свойств соединяемых деталей
- •Принципы конструирования узлови функциональных устройств оптических приборов
- •Принцип Аббе
- •Принцип кратчайшей цепи преобразования
- •Принцип наибольших масштабов преобразования
- •Принцип отсутствий избыточных связей и местных подвижностей в механизмах приборов
- •Принцип необходимости юстировки оптических систем
- •Основные требования к материалу и изготовлению деталей
- •Потерян рис. 4,д
- •Расчет допусков для деталей оптической системы автоколлимационного микроскопа (трубки Забелина)
Потерян рис. 4,д
Согласно принципу таутохронизма (принцип равенства времен прохождения светом пути между двумя фиксированными положениями волнового фронта по любому лучу пучка), для времени прохождения светом пути между двумя положениями плоского волнового фронта w и w' по краевому и осевому лучам напишем
,
где
,
и
-
скорости
света соответственно в средах с
показателем преломления
n1,
n2
и в воздухе, равные
.
После
преобразований получим
,
(2)
т.е. деформация выходящего волнового фронта в некотором постоянном масштабе - (n1 – n2) повторяет дефекты плоскости раздела двух сред.
Согласно
принципу таутохронизма, волновые
деформации в
пределах сечения данного пучка при
прохождении через любую последующую
систему не изменяются по величине, если
эта система
находится в однородной среде. Поэтому
волновая деформация
по
формуле (2) сохранит свою величину в
пределах данного
светового пучка и по выходе из любой
оптической системы,
расположенной за пластинкой с дефектом
-
.
На деформацию
выходящего волнового фронта
влияют также такиетипичные
дефекты, как микрошероховатость (рис.
4, б), цилиндричность
(рис. 4, в),
клиновидность
(рис. 4, г)
и
сферичность (рис. 4, д).
Первые
два дефекта вызывают
микродеформации и
цилиндричность, а последние два -
отклонение и сферичность выходящего
волнового фронта, а также хроматизм
поперечный (рис.
4, г)
и
продольный (рис. 4, д).
Деформации
и несферичность следует ограничить
волновым допуском
;
тем же допуском можно регламентировать
и хроматизм,
ограничивая в пределах рабочего пучка
наибольшее взаимное
смещение
выходящих
волновых фронтов
и
(рис.
4, г)
для
линий F'
и
С'
спектра
водорода или наименьшую разность
стрелок
-
между
ними (рис. 4, д).
Однако
допуск на клиновидность деталей принято
задавать в
угловой мере, удобнее и допустимый
угловой хроматизм
-
выражать
в той же мере. Поскольку согласно
принципу таутохронизма,
при ходе через любую оптическую систему
значение хроматизма
в волновой мере
не
изменится, то
,
(3)
где D'p - диаметр рабочего выходного зрачка системы.
Допуск
на угловой хроматизм в угловых секундах
при
мкм
будет равен
.
(3а)
При диаметре рабочего выходного зрачка D'p =2 мм угловой хроматизм допустим не более 10". В менее ответственных случаях задают более широкие допуски на угловой хроматизм - до 20" для каждой детали, вызывающей хроматизм.
При
разделении суммарного допуска
на
прибор в целом на
допуски для отдельных источников
первичных ошибок (поверхности,
углы, детали) учитывают, что некоторые
из погрешностей имеют
скалярный характер (например, хроматизм
положения), а
другие - векторный (например, хроматизм
за счет клиновидности
деталей).
Среднее
значение волнового допуска
на каждый источник скалярных ошибок
числом тск
можно
подсчитать по формуле
.
(4)
Среднее
значение волнового допуска
на
каждый источник векторных
ошибок подсчитывают по той же формуле
(62), но с
коэффициентом k
>1,
учитывающим благоприятное влияние
дисперсии
первичных ошибок по фазе на значение
суммарной погрешности;
обычно полагают
.
Поэтому
.
(5)
Формулы
для
расчета допусков на
оптические поверхности и
детали, перпендикулярные к оси пучка
лучей.
Пользуясь
формулой
(2),
можно рассчитать
допуски
на высоту
микронеровностей
оптических
поверхностей
.
(6)
Коэффициент g, обратный передаточному коэффициенту, который равен отношению частичной ошибки к первичной, зависит от разности показателей преломления сред, разделяемых оптической поверхностью: чем больше его численное значение, тем шире допуски можно задать на эту поверхность. Для границы стекло - воздух (при n1 - n2 = 0,5) gп = 2; для поверхностей склейки стекол (при nст - nкл = 0,05) gскл = 20; для зеркал с внешним отражением g0=0,5; для зеркал с внутренним (задним) отражением (при п = 1,5) go.п. = 1/3. Это для поверхностей, нормальных к оси падающего пучка лучей.
Из
сравнения коэффициентов, g
для
приведенных случаев следует, что
требования к поверхностям разных
типов значительно
отличаются друг от друга; например,
требования к точности
обработки зеркал с внешним отражением
в 4 раза, а зеркал
с
внутренним отражением более чем в шесть
раз строже, чем к
точности обработки стеклянных
поверхностей, граничащих с
воздухом. Сами же допуски на
микрошероховатости оптических
поверхностей
весьма строги. Поскольку в формуле (64)
допустимо
значительно
менее 0,1 мкм, оптические поверхности
визуальных
систем всегда, за редким исключением
(поверхности склейки,
наклонные
зеркальные поверхности, погружаемые
в иммерсию поверхности и др.), должны
обрабатываться с наименьшей
шероховатостью.
Одиночные дефекты полированных поверхностей (царапины, выколки) и дефекты материалов (пузыри, камни и др.) регламентируют не по их глубине по ГОСТ 2789-73*, а по отношению площади этих дефектов к площади поперечного сечения рабочего пучка лучей в месте их расположения; по ГОСТ 11141-84 допустимое отношение площадей не должно превышать 1 %.
Пользуясь
тем же коэффициентом g,
получим
расчетную формулу
для допуска на дефекты формы
в
числе
интерференционных
колец в пределах рабочего участка
оптической поверхности
детали:
,
(7)
где
-
допуск на астигматизм и
местные
деформации выходящего
волнового фронта в пределах рабочего
пучка лучей, выраженный
числом полудлин волны света, применяемого
для освещения при контроле формы
поверхностей под пробным стеклом; для
белого света
![]()
мкм.
Предельное
значение
допуска
,для
визуальных
систем
в
любом случае должно быть менее
полосы. (8)
Коэффициент g в формуле (7) берется соответственно типу поверхности.
Допуск
на астигматичность (несферичность)
поверхностей в
пределах светового диаметра
можно увеличить в квадратеотношения
его к рабочему диаметру Dp
пучка
.
(9)
Допуски на нерегулярные местные ошибки (зональные, вырывы) в пределах светового диаметра следует задавать такими же, какими они получились по формуле (8) для рабочего участка поверхности.
Допуск
N на общее отклонение формы поверхностей,
перпендикулярных
к оси пучка лучей, можно определить из
различных требований:
исходя из допустимых аберраций (в
частности, продольного
хроматизма), из условий контроля, из
требований взаимозаменяемости.
Для неответственных деталей этот допуск
задают
из возможностей технологии серийного
оптического производства.
Чаще всего при задании допуска N
исходят
из удобства контроля
несферичности
,
которая равна наибольшей разностичисла
полос
в главных сечениях поверхности;
она надежно определяется, если общее
число полос N
не
более чем в 3—5 (редко в 10) раз превышает
допускаемую величину
.
Допуск на клиновидность пластинок, разверток призмы, косину линз определяется по формуле
,
(10)
где
- допуск на угловой хроматизм за окуляром
приборапо
формуле (2);
- диаметры рабочего пучка лучей в местерасположения
данной детали и рабочего выходного
зрачка соответственно;
их отношение равно угловому увеличению
оптической
системы, стоящей за данной деталью.
Следует еще иметь в виду, что в сходящемся ходе лучей клин вызывает также кому. Ее значение в угловой мере за системой, расположенной за клином, можно вычислить по формуле:
,
(11)
где
-
апертурный угол пучка лучей в месте
расположения клина.
Клиновидность
разверток отражательных призм возникает
вследствие
двух причин: отклонений углов призм от
номинала, вызывающих
клиновидность
в плоскости главного сечения,и
пирамидальности
,
которая
дает клиновидность
в
плоскости, перпендикулярной
к главному сечению. В силу перпендикулярности
обеих составляющих клиновидность
развертки призмы равна
.
При
расчете допусков и контроле призм,
согласно ГОСТ
2.412-81,
каждая из ошибок рассматривается как
самостоятельная.
Связь между отклонениями отдельных
углов призм и
клиновидностью
,
а также между пирамидальностью призмы
и
клиновидностью
,
легко находится из разверток призм.
Отклонение
угла крыши
от строго прямого угла вызывает двоение
изображения, когда пучок световых лучей
падает одновременно
на обе ее грани. Допуская двоение
изображения за окуляром
не более
,
допуск на отклонение угла крыши
вычисляют
по формуле
,
(12)
где п - показатель преломления призмы; ер — угол падения осевого луча на ребро крыши; у — угловое увеличение системы, стоящей за призмой, для осевой точки ребра крыши.
Допуск на децентрировку линзы из допустимого поперечного хроматизма равен
,
(13)
где
мкм - волновой допуск на хроматизм в
пределах рабочего
размера D
линзы.
Для
линз, составляющих ахроматическую пару
и близко расположенных
друг к другу, допуски по формуле (13)
получатся одинаковыми, так как по
условию ахроматизации
.Децентрировка
линз вызывает не только хроматизм, но
и кому на
оси и другие аберрации, что необходимо
учитывать в ответственных системах.
Из формул (9)-(13) видно, что допуски на отдельные погрешности оптических поверхностей и деталей зависят от их местоположения в ходе лучей, в первую очередь - от диаметра D сечения рабочего пучка лучей: чем шире сечение рабочего пучка в месте расположения детали, тем строже все указанные допуски. В такой же зависимости от размера сечения рабочего пучка находятся и требования к материалам для деталей в отношении оптической однородности, двойного лучепреломления и т.д.
Это
заставляет для деталей, расположенных
в широком сечении рабочего
пучка (дальше от плоскости изображения),
назначать материалы
более высоких категорий, чем для деталей,
стоящих в
узком пучке (ближе к плоскости
изображения), для которых допустимо
применять материалы пониженных
категорий. Требования
же к качеству полировки поверхностей
и в отношении таких
дефектов, как пузыри, камни, царапины,
выколки, наоборот,
возрастают с уменьшением сечения
рабочего пучка. Самые строгие требования
предъявляются к деталям и поверхностям,
расположенным
близко к плоскости изображения, т.е. в
узких световых
пучках; к таким деталям относятся сетки
и коллективы. Формулы
для расчета допусков на наклонные
оптические поверхности и
пластинки.
Для наклоненной под углом плоскости,
разделяющей
среды с показателями преломления n1
и n2
и
имеющей
неровность высотой -
,
коэффициент
,
который
связывает
высоту неровности -
с вызванной ею деформацией
проходящего волнового фронта, вычисляется
из более сложноговыражения
[ср. с формулой (4) ]
.
(14)
Из общей формулы (14) для поверхностей различного типа можно получить:
для преломляющей поверхности, граничащей с воздухом (n1=1; n2=п),
;
(14а)
для внутреннего зеркала (п1 = -n2 = n)
;
(14б)
для внешнего зеркала (п = 1)
.
(14в)
В
табл. 2 приведены абсолютные значения
,
а
на рис.
5 - график
для
поверхностей трех типов при п
= 1,5.
Таблица
и график позволяют упростить расчет
допусков.
Расчетные
формулы для допусков на микронеровности
и несферичность сохраняют свой вид и
для наклонных поверхностей, но значения
коэффициента
в
них следует подставлять
в соответствии с типом поверхности и
углом наклона
.
Наклонные плоские поверхности имеют два источника астигматизма. Кроме цилиндричности, астигматизм вызывается также и сферичностью наклонной поверхности, так как при наклонном падении пучка лучей кругового сечения на строго сферическую поверхность выходящий волновой фронт деформируется неодинаково: больше в плоскости падения (вдоль длинной оси рабочего участка эллиптической формы) и меньше в перпендикулярном направлении (вдоль короткой оси рабочего участка). Возникает астигматизм волнового фронта, равный наибольшей разности его стрелок.
Допуск на сферичность наклонной плоскости, определяемый числом полос Nр вдоль малой оси рабочего участка, равен
,
(15)
где k - отношение длин большой и малой осей рабочего участка эллиптической формы.
Согласно ГОСТ 2.412-81, допуск N для некруглых деталей следует задавать вдоль наименьшего светового размера lсв. min, поэтому
.
(16)
Коэффициенты
для
расчета
допусков на
оптические
детали с
преломляющими
и
отражающими рабочими
поверхностями в зависимости от угла их
наклона (при
)
Таблица 5.
|
Коэффициент |
Угол наклона
| ||||
|
0 |
30 |
45 |
60 |
90 | |
|
|
2,0 |
1,8 |
1,6 |
1,4 |
0,9 |
|
|
0,5 |
0,6 |
0,7 |
1,0 |
|
|
|
0,3 |
0,4 |
0,5 |
0,7 |
|
|
|
|
5,4 |
1,6 |
0,5 |
0 |
|
|
|
1,7 |
0,7 |
0,3 |
0 |
|
|
|
1,2 |
0,5 |
0,2 |
0 |
|
|
1,0 |
0,8 |
0,6 |
0,3 |
- |
В
случае
призм,
развертка которых перпендикулярна к
оси пучка,
и зеркал с внешним отражением знаменатель
в
формуле
(15) равен
и тогда получаем коэффициент
(см.
табл. 5 и рис. 5), равный
.
(17)
В
точке
соответствующие кривые взаимно
пересекаются,так
как
.
Допустимую
клиновидность для наклонной пластинки
можно рассчитать
и умножить полученный результат на
коэффициент
(см.
табл. 5 и рис. 5 ), меньший единицы,
учитывающий возрастание углового
хроматизма с наклоном пластинки
на угол
,
причем
.

Рис.
5. Коэффициенты
,
и
для расчета допусков
на дефекты преломляющей
и отражающих поверхностей
и на клиновидность пластинок
в зависимости от их угла наклона
(при показателе преломления материала
)
Из
табл. 5 и рис. 5 можно видеть зависимость
требований к
точности поверхностей и параллельности
пластинок от типа поверхностей
и угла их наклона. Учитывая, что чем
меньше значения
коэффициентов
и
,
а также
,
тем строже эти требования,
приходим к следующим выводам.
Требования к точности обработки (кривые
для
допусков на
местные погрешности и микронеровности)
внешних отражающих
поверхностей, нормальных к оси пучка
в 4 раза, а внутренних
даже в 6 раз выше, чем к обработке
преломляющих поверхностей,
граничащих с воздухом. Однако по мере
возрастания угла наклона
поверхности коэффициенты
изменяются
неодинаково: для
преломляющих поверхностей они
уменьшаются (более чем вдвое
при
),
а для отражающих возрастают (до
бесконечности при
).
Это подтверждается известным фактом:
прискользящем
ходе лучей даже шероховатые (шлифованные)
поверхности
дают оптически правильное изображение.Требования к сферичности плоских поверхностей (кривые
)с
увеличением угла наклона
непрерывно и быстро ужесточаются
независимо
от типа поверхностей.Требования к параллельности пластинок и разверток призм с увеличением угла наклона е ужесточаются (кривая
).
