
- •Введение
- •Лекция № 1
- •I. Физические основы микрОэлектроники
- •1.1. Общие сведения о полупроводниках
- •1.2. Структура полупроводника
- •. Носители зарядов в полупроводниковых материалах
- •1.4. Зонная теория твердого тела
- •1.5. Зонные диаграммы собственных и примесных полупроводников, характерные потенциальные уровни
- •Лекция № 2
- •1.6. Распределение носителей в зонах
- •1.7. Количественная оценка уровня Ферми в примесных и собственных полупроводниках
- •Выводы:
- •Лекция № 3
- •1.8. Дрейфовые и диффузионные токи в полупроводнике
- •1.9. Электронно-дырочный переход
- •1.9.1. Общие сведения о n-p-переходе
- •1.9.2. Физика работы n-p-перехода
1.7. Количественная оценка уровня Ферми в примесных и собственных полупроводниках
Уровень Ферми в полупроводниках может быть найден при делении величины n на р считая, что Nv = Nc, получим
,
(1.4)
где φЕ = (φc + φv)/2.
Учитывая,
что nр
= ni2,
получим
.
Подставим в формулу (1.4) это значение.
.
Отсюда находим
,
(1.5)
где
–
уровень Ферми в n-полупроводнике.
Следовательно, в n-полупроводнике уровень Ферми смещается в сторону ЗП и тем сильнее, чем больше концентрация электронов в ЗП или чем выше концентрация доноров.
Определим
уровень Ферми в р-полупроводнике,
для этого вместо n
подставим его значение из (1.3)
в (1.4), тогда
.
Отсюда находим
.
(1.6)
Следовательно,
в р-полупроводнике
уровень Ферми смещается в сторону ВЗ и
тем сильнее, чем выше концентрация дырок
в ВЗ. В собственном полупроводнике ni
= pi.
Следовательно,
или
.
Составляющая
и
в уравнениях (1.5) и (1.6), характеризующая
отношение концентраций одноименных
носителей в собственных и примесных
полупроводниках получила название
химического потенциала. Поэтому у
потенциала Ферми есть еще одно название
– электрохимический потенциал.
Выводы:
1. В чистом полупроводнике уровень Ферми проходит по середине ЗЗ (совпадает с электростатическим потенциалом).
2. Уровень Ферми в n-полупроводниках смещается в сторону ЗП, оставаясь в ЗЗ, и только в вырожденных полупроводниках или полуметаллах он переходит в ЗП.
3. Уровень Ферми в р-полупроводниках смещается в сторону ВЗ, оставаясь в ЗЗ, и только в вырожденных полупроводниках он переходит в ВЗ.
4. Уровень Ферми величина постоянная внутри кристалла, каким бы неоднородным он не был.
Лекция № 3
1.8. Дрейфовые и диффузионные токи в полупроводнике
Как
было показано в лекции № 1, проводимость
полупроводника определяется двумя
составляющими: электронной и дырочной
проводимостями. В общем случае перемещение
носителей (электронов и дырок) может
происходить за счет наличия электрического
поля, напряженность которого
,
где U
– напряжение, приложенное к полупроводнику;
l
– длина полупроводника; а также за счет
наличия градиенты концентрации носителей
по длине полупроводника. В первом случае
ток называется дрейфовым, а во втором
– диффузионным. Тогда
,
где
А/см2
– плотность тока в полупроводнике;
– плотность дрейфового тока, вызванная
перемещением электронов и дырок;
– плотность диффузионного тока, вызванная
перемещением электронов и дырок.
Величина
плотности дрейфового тока зависит от
скорости перемещения носителей заряда
в полупроводнике
и
,
где n
– коэффициент пропорциональности,
который носит название подвижности
электронов
,
численно равен средней скорости
перемещения электрона под действием
электрического поля напряженностью 1
В/см;
– коэффициент пропорциональности,
который носит название подвижности
дырок. Подвижность электронов выше, чем
дырок, поэтому при одинаковой плотности
электронов и дырок (например, собственный
полупроводник
)
электронный ток дрейфовый больше
дырочного.
,
(1.7)
,
(1.8)
где – заряд электрона (1,610-9 Кл); n – концентрация электронов; р – концентрация дырок.
Удельная электропроводность, вызванная дрейфовой составляющей
,
где
I
– ток, протекающий через полупроводник;
S
– сечение полупроводника;
– плотность тока; U
– напряжение, приложенное к полупроводнику;
l
– длина полупроводника.
Тогда из (1.7) и (1.8) получим
,
.
Полная электропроводность, вызванная дрейфовой составляющей тока
,
а для собственных полупроводников, учитывая, что
.
Для
нахождения диффузионных составляющих
плотности тока
и
,
вместо градиента электрического
потенциала
,
воспользуется градиентом химического
потенциала, равного
,
где d
– производная электрического потенциала;
dx
– производная химического потенциала;
х
– ось, совпадающая с направлением
изменения концентрации.
В
уравнениях (1.5) и (1.6)
для п-полупроводника
и
для р-полупроводника.
Тогда считая, что ni
и pi
= const,
,
.
Подставив эти значения в (1.7) и (1.8), получим
,
.
Знак минус учитывает то, что движение носителей как электронов, так и дырок, всегда направлено в сторону уменьшения концентрации, а знак заряда у них разный.
Произведение
называется коэффициентом диффузии,
тогда
,
.
Сравнивая составляющие дрейфовой и диффузионной плотностей токов, можно сделать вывод, что дрейфовый ток зависит от величины концентрации, а диффузионный – только от их градиента.
Полная плотность тока в полупроводнике
. (1.9)