
- •Содержание
- •Введение
- •Физико-химические и потребительские свойства радиоматериалов
- •Классификация материалов, применяемых для изготовления элементов радиоэлектронных систем
- •3. Основные сведения о радиокомпонентах
- •4. Лабораторный практикум
- •4.1. Исследование диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь диэлектриков
- •Теоретическая часть
- •Диэлектрическая проницаемость
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •4.2. Исследование термоэлементов на базе термопар
- •Теоретическая часть
- •Термоэлектрический метод измерения температуры
- •Термоэлектродные материалы
- •Типы и конструкции термопар
- •Термостатирование свободных концов и схемы включения термопар
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •4.3. Исследование интегральных свойств магнитных материалов
- •Теоретическая часть
- •Перемагничивание магнитных материалов
- •Применение магнитных материалов
- •Регистрация петли гистерезиса магнитного материала
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •4.4. Исследование доменной структуры магнитных пленок
- •Теоретическая часть
- •Основы теории доменной структуры
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •4.5. Исследование параметров резисторов
- •Теоретическая часть
- •Классификация резисторов
- •Условные обозначения и маркировка резисторов
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •4.6. Исследование варисторов и терморезисторов
- •Теоретическая часть
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •4.7. Исследование параметров конденсаторов
- •Теоретическая часть
- •Условные обозначения, маркировка конденсаторов
- •Зарядка и разрядка конденсатора в цепи постоянного тока
- •Конденсатор в цепи переменного тока
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Классификация катушек индуктивности
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения задания
- •Электромагнитные реле
- •Параметры электромагнитных реле
- •Электромеханические реле
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •4.10. Исследование параметров магнитоуправляемЫх герметизированнЫх контакТов (Герконов)
- •Теоретическая часть
- •Параметры контактов
- •Время движения зависит от конструкции и материала контактных пружин, а также величины рабочего зазора. С достаточной точностью можно считать, что
- •Материал контактов
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения задания
- •Порядок выполнения
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
Порядок выполнения задания
Зная емкость исследуемого конденсатора С и величину индуктивности L предлагаемой катушки, оцените резонансную частоту fрез =
.
Переключателем поддиапазонов генератора и переключателем «ЧАСТ.MHz» прибора установите частоту, соответствующую fрез, на которой требуется измерить емкость и добротность конденсатора
Катушку индуктивности L подключите к клеммам «LХ».
Настройте измерительный контур в резонанс и зафиксируйте полученные величины Q1, С1.
К клеммам «СХ» подключите исследуемый конденсатор и снова настройте измерительный контур в резонанс. Определите новые значения Q2, С2.
Емкость и добротность исследуемого конденсатора определите по формуле (4.1.10).
Если контур в резонанс настроить не удается, это означает, что емкость подключенного конденсатора больше С1. В таком случае необходимо использовать катушки с меньшей индуктивностью. При достаточно больших емкостях исследуемых конденсаторов (СХ > 425 пФ) используется следующая методика:
Из комплектующих катушек индуктивности подберите нужную (см. задание 2.1) и подключите ее к клеммам «LХ».
Установите частоту, на которой требуется измерить емкость и добротность конденсатора (см. задание 2.2).
Настройте измерительный контур в резонанс и зафиксируйте полученные величины Q1, С1.
С помощью перемычки из комплекта прибора присоедините исследуемый конденсатор последовательно с катушкой индуктивности к клеммам «LХ».
Настройте измерительный контур в резонанс и определите новые значения Q2, С2.
Определите емкость и добротность исследуемого конденсатора по формуле (4.1.11).
Задание № 3. Определение диэлектрической проницаемости исследуемых образцов с помощью лабораторного стенда по исследованию свойств диэлектрических радиоматериалов.
Порядок выполнения задания
Соберите электрическую схему, как показано на рис. 4.1.3.
Включите лабораторную установку и прогрейте ее в течение 5 мин.
Фиксируя показания вольтметров и частотомера, определите емкость конденсатора С с воздушным диэлектриком, используя формулы (4.1.6, 4.1.7). Результаты измерений занесите в табл. 4.1.1.
Выберите исследуемый диэлектрик и поместите его между обкладками плоского разборного конденсатора. Фиксируя показания вольтметров и частотомера, определите емкость конденсатора С с исследуемым диэлектриком аналогично п. 3. Результаты измерений занесите в табл. 4.1.1. Подобные измерения проделайте и с другими типами диэлектриков.
Используя формулу (4.1.9), вычислите диэлектрическую проницаемость ε для каждого из исследуемых диэлектриков. Полученные результаты занесите в табл. 4.1.1.
Используя полученные величины диэлектрической проницаемости диэлектриков (табл. 4.1.1), вычислите емкость конденсатора C* по его геометрическим размерам (формула (4.1.8)). Сравните полученные результаты емкостей C* и C.
Таблица 4.1.1. Экспериментальные данные
№ п/п |
Диэлектрик |
U1, В |
UR0, В |
UC,, В |
v, Гц |
d, мм |
C, пФ |
C*, пФ |
Ε, mV |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|