
- •Лабораторная работа №1 опыты франка и герца
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №2 определение концентрации и подвижности носителей тока в полупроводнике методом эффекта холла
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №3 исследование температурной зависимости металлов и полупроводников
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №4 изучение бета-активности
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование:
- •Лабораторная работа №5 изучение спектра атома водорода
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №6 определение длины пробега альфа-частиц
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование:
- •Лабораторная работа №7 изучение абсолютно черного тела
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №8 изучение поглощения космического излучения в свинце
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №9 изучение углового распределения интенсивности космического излучения
- •Содержание работы
- •Лабораторная работа №10 снятие вольт-амперной характеристики
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование.
- •Лабораторная работа №11 сцинтилляционный счетчик ядерных излучений
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №12 изучение явления внешнего фотоэффекта
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа № 13 “Исследование и анализ γ -радиоактивных элементов”
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
Приборы и оборудование
Установка состоит из объекта исследования ОИ и устройства измерительного УИ, выполненных в виде конструктивно законченных изделий, устанавливаемых на лабораторном столе и соединяемых между собой кабелем 1 (рис. 4).
Рис 4
ОИ конструктивно выполнен в виде сборного корпуса 2, в котором установлены осветитель (спектральная ртутная лампа) с источником питания, блок интерференционных светофильтров 3 и устройство регулировки освещенности 4. Положение "0" блока светофильтров соответствует прохождению света без светофильтров и может применяться для снятия интегральных вольтамперных и люксамперных характеристик, а положение "5" – перекрывает лампу и используется для установки ноля. К корпусу с помощью кронштейна 5 крепится усилитель фототока 6, на верхнюю крышку которого устанавливаются сменные фотоприемники 7 с фотоэлементами. При установке фотоприемников их приемное окно совмещается с выходным окном осветителя и закрывают при помощи бленды 8.
На передней панели объекта исследования находятся сетевой выключатель с индикатором включения сети 9. На задней панели объекта исследования расположены клемма заземления, держатели предохранителей и сетевой шнур с вилкой. На боковой стенке расположено выходное окно осветителя 8 и устройства для смены интерференционных светофильтров 3 и регулировки освещенности 4. На боковых поверхностях усилителя фототока расположены соединительный шнур 1 с разъемом для подключения объекта исследования к устройству измерительному и регуляторы ГРУБО и ТОЧНО 10 установки ноля при отсутствии освещенности.
На передней панели устройства измерительного размещены следующие органы управления и индикации:
– кнопка 11 ПРЯМАЯ - ОБРАТНАЯ с соответствующими индикаторами - предназначена для включения прямого или обратного режимов измерения.
– кнопки "+", "-" 12 и СБРОС 13 - предназначены для регулировки напряжения на фотоэлементе и его сброса в ноль.
– индикаторы В 14 и мкА 15 - предназначены для индикации значений величин напряжения на фотоэлементе и фототока в процессе работы
На задней панели устройства измерительного расположены выключатель СЕТЬ, клемма заземления, держатели предохранителей (закрыты предохранительной скобой), сетевой шнур с вилкой и разъем для подключения объекта исследования .
Принцип действия установки основан на измерении тока через фотоэлемент при изменении полярности и величины приложенного к нему напряжения и изменения спектрального состава и величины освещенности катода фотоэлемента.
В процессе выполнения лабораторных работ снимаются зависимости тока через фотоэлемент от приложенного к нему напряжения. При этом меняется полярность напряжения ( т.е. раздельно снимаются прямая и обратная ветви вольтамперной характеристики фотоэлемента). Характеристики снимаются при различных значениях освещенности и при изменении длины волны освещения фотоэлемента. По результатам измерений строятся семейства вольтамперных характеристик и, используя соответствующие методы расчета, численно оценивается значение постоянной Планка.