
- •Лабораторная работа №1 опыты франка и герца
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №2 определение концентрации и подвижности носителей тока в полупроводнике методом эффекта холла
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №3 исследование температурной зависимости металлов и полупроводников
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №4 изучение бета-активности
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование:
- •Лабораторная работа №5 изучение спектра атома водорода
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №6 определение длины пробега альфа-частиц
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование:
- •Лабораторная работа №7 изучение абсолютно черного тела
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №8 изучение поглощения космического излучения в свинце
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №9 изучение углового распределения интенсивности космического излучения
- •Содержание работы
- •Лабораторная работа №10 снятие вольт-амперной характеристики
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование.
- •Лабораторная работа №11 сцинтилляционный счетчик ядерных излучений
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа №12 изучение явления внешнего фотоэффекта
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
- •Лабораторная работа № 13 “Исследование и анализ γ -радиоактивных элементов”
- •Содержание работы
- •Приборы и оборудование
Лабораторная работа №9 изучение углового распределения интенсивности космического излучения
Цель работы: проверить феноменологическую формулу зависимости интенсивности падающего космического излучения от угла наблюдения.
Содержание работы
Вторичное космическое излучение на уровне моря обусловлено слабопоглощаемой жесткой компонентой, в состав которой входят -мезоны. Мезоны, идущие под углом к вертикали, проходят в атмосфере путь, в 1/cos раз больший, чем мезоны, идущие по вертикали, поэтому вероятность их распада больше и больше слой проходимого воздуха. А значит растет их поглощение, и, следовательно, уменьшается их интенсивность с ростом угла .
В настоящей работе предлагается проверить справедливость формулы зависимости интенсивности падающих космических лучей от угла наблюдения :
I = I0 cos2 (1),
где I0 - интенсивность вертикально падающих лучей ( = 0), - зенитный угол, отсчитываемый от вертикали. Интенсивность космических лучей будем рассматривать как количество зарегистрированных телескопом частиц в единицу времени.
Лабораторная работа №10 снятие вольт-амперной характеристики
P-N ПЕРЕХОДА
Цель работы: изучение свойств р-п перехода, снятие вольт-амперных характеристик при прямом и обратном направлении протекающего через переход тока и вольт-фарадной характеристики р-п перехода.
Содержание работы
По способу проводимости различают собственные и примесные полупроводники. Собственными называются чистые полупроводники типа Ge, Si, у которых число электронов в зоне проводимости равно числу дырок в валентной зоне и уровень Ферми находится в середине запрещенной зоны.
Каждый атом германия или кремния четырехвалентен, связан с четырьмя ближайшими соседями ковалентными связями.
При повышении температуры (Т > 0) эти связи могут разрываться, и часть электронов может стать свободной и передвигаться по кристаллу, участвуя в собственной проводимости.
Если в решетку германия ввести донорную примесь, например, мышьяк, валентность которого на единицу больше чем у основного атома, то возникнет незанятый электрон примеси, способный свободно передвигаться по кристаллу. Это электронная проводимость полупроводника n-типа.
Если же в решетку кремния ввести трехвалентную акцепторную примесь (бор), то носителями тока становятся дырки, и возникает дырочная проводимость. Такой полупроводник называется дырочным (p-типа)
Контакт двух полупроводников, один из которых имеет дырочную, а другой - электронную проводимость, называется электронно-дырочным (или p-n) переходом (рис.1)
Рис.1
p-n переходы лежат в основе работы многих полупроводниковых приборов.
Рассмотрим физические процессы на контакте полупроводников р и n-типа.
Если донорный полупроводник приводится в контакт с акцепторным, электроны из полупроводника n-типа, где их концентрация выше, устремляются в полупроводник р-типа, где их концентрация ниже. При этом в n-типе остается нескомпенсированный положительный заряд ионизованных доноров, а в р-типе - отрицательный заряд ионизированных акцепторов. Эти заряды образуют двойной электрический слой (ДЭС), препятствующий дальнейшему обмену зарядами, а при определенной толщине p-n перехода наступает равновесное состояние, характеризующееся выравниванием уровней Ферми в полупроводниках. Если к p-n переходу приложить внешнее электрическое поле, способствующее движению основных носителей заряда к границе (“+” на р-типе, “-” на n-типе), то толщина контактного слоя уменьшается, уменьшается его сопротивление, и сила тока растет. Это прямая ветвь на ВАХ (рис.2)
Рис.2
При обратном смещении ( “-” на р, “+” на n) основные носители зарядов стремятся удалиться от границы контакта вглубь, возникает запирающий слой. (обратная ветвь на ВАХ рис.2).
Дадим количественную оценку токам, протекающим через р-n переход.
Ток через р-n переход примерно равен числу электронов при температуре Т, способных преодолеть потенциальный барьер на контакте ΔW, и j, вследствие статистики Больцмана , определяется формулой:
(1)
где A=const, ΔW=qV0, k - постоянная Больцмана.
В равновесии jпрям. = jобр.
При прямом смещении V потенциальный барьер на контакте понижается, и соответствующий ток, следуя формуле (1), равен (1а):
(1a)
График этой функции приведен на рис.2,
при комнатной
температуре
=2,6*10-2B,
так
что при V~1B,
>>
1
(1б)
Однако столь малый обратный ток будет наблюдаться не всегда. При некотором значении обратного смещения V (см. рис.2) он начнет резко расти. Это явление называется электрическим пробоем p-n - перехода, при этом p-n - переход выходит из строя.