Скачиваний:
28
Добавлен:
26.01.2019
Размер:
180.22 Кб
Скачать
    1. Воздействие светового излучения

Световое излучение – вид лучистой энергии, источником которых является светящаяся область ядерного взрыва.

Световое излучение поражение людей и является причиной пожаров, которая, в свою очередь, являются одной из основных причин вывода из строя объектов.

Световое излучение может существенно изменить физические свойства материалов и элементов аппаратуры. В результате воздействия светового излучения на ЭВМ может произойти коробление, оплавление, растрескивание или воспламенение корпуса и элементов, входящих в аппаратуру.

Окраска корпуса в светлые тона являются надежной защитой приборов от светового излучения. Провода и кабели защищают от светового излучения при помощи металлической крышки и защитных экранов.

    1. Воздействие проникающей радиации

Ввиду малой проникающей способности альфа- и бета-частиц их воздействиями на радиоэлектронную аппаратуру обычно пренебрегают.

Наиболее подвержены действию проникающей радиации электронное оборудование, электроно-вычислительные машины.

В результате такого воздействия на аппаратуру повышается проводимость материалов, увеличивается утечка тока и снижается сопротивление. Эти изменения могут надолго вывести из строя ЭВМ (короткие замыкания, пробои и др.).

Если прибор работает в какой-либо системе, то его защита складывается из защиты системы и собственного прибора. По наиболее слабому элементу определяется коэффициент ослабления гамма-излучения, исходя из отношения критериальной поглощенной дозы гамма-излучения при радиоактивном заражении и поглощенной дозы гамма-излучения, который выдерживает данный элемент. Наиболее подвержены действию проникающей радиации в ЭВМ являются микросхемы, для которой Д = 104. Поэтому для устойчивости работы информационно-вычислительных центров уровень радиоактивного заражения не должен превышать 104 рад. Так как при этом уровне радиоактивности выходят из строя такие элементы как микросхемы и полупроводниковые приборы. Максимально возможная экспозиционная доза радиационного заражения составляет 106 рад. Здание (помещение) должно ослабить уровень радиоактивности в Косл раз, где Косл – коэффициент ослабления, находящийся по формуле:

;

должно выполняться условие:

Общий коэффициент защиты:

Кзащ = Кзд  Кпр;

где Кзд – коэффициент защиты здания;

Кпр - коэффициент защиты прибора.

Коэффициент ослабления дозы гамма – излучения для здания от радиоактивного заражения равен 7 [ ].

Чтобы защитить приборы от воздействия радиации, необходимо увеличить коэффциент защиты в 14 раз. При радиоактивном заражении с целью защиты выполняются следующие мероприятия:

  • эксплуатация ЭВМ в зданиях с коэффициентом защиты здания Кзащ >100;

  • не включать ЭВМ;

  • экранировать чувствительные элементы.

    1. Воздействие электромагнитного импульса

Электромагнитный импульс (ЭМИ) представляет собой электрические и магнитные поля, возникающие в результате воздействия гамма-излучения на атомы окружающей среды и образования потока электронов и положительных ионов. Продолжительность его действия составляет несколько десятков миллисекунд.

Наведенный в проводах ЭМИ может распространяться на большие расстояния и вызывать изменения электрических характеристик электронных приборов. При отсутствии специальных мер защиты ЭМИ может вызвать повреждение радиоэлектронной аппаратуры и нарушение работы электрических устройств. Особенно подвержены воздействию ЭМИ полупроводниковые приборы, конденсаторы, сопротивления.

Защитой от ЭМИ являются способы, подобные применяемым для защиты от грозовых разрядов:

  • системы автоматических устройств от перенапряжений (разрядники);

  • отключающие устройства;

  • экранирование электрических схем;

  • заземление.

Таким образом, в данной части дипломного проекта проведен анализ категории тяжести труда программиста; рассмотрены оптимальные условия труда инженера-системотехника, факторы, действующие на него в процессе работы. Рассмотрены параметры освещенности рабочего места.

Соседние файлы в папке моделировать АСУ производственными процессами на базе агрегативных систем