
Практическая часть
Ход работы
а) Определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
-
Установим элементы установки согласно рисунку. Добьёмся появления на экране чёткой дифракционной картины. Расстояние а должно лежать в пределах 0,4-0,6 м.
-
измерим с помощью миллиметровой линейки расстояние между решеткой и экраном (а) и расстояние Х1l , X2p, X1p, X2l. Результаты измерений занесем в таблицу I. m-порядок максимума.
№ |
m |
a, мм |
X1l, мм |
X1р, мм |
X1l, мм |
X1l, мм |
Х, мм |
λi нм |
λсp нм |
Δλ нм |
1 |
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
3 |
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
4 |
2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
-
Изменим расстояние а и выполним требования пункта 2. Результаты измерений занесём в таблицу I (строки 3,4).
-
Вычислим среднее значение Хi и занесём в таблицу I
-
Значение длины волны может быть определено из условия максимума:
-
Вычислим . Результат в нанометрах занесём в таблицу.
б) Определение периодов двухмерной структуры
-
Заменим дифракционную решетку на металлическую сетку (С). расстояние а должно лежать в пределах 0,6-1 м.
-
Измерим с помощью миллиметровой линейки расстояние между сеткой и экраном (а) и расстояние X1, X2, Y1, Y2. Результаты измерений занесём в таблицу 2.
№ |
M |
a, мм |
Хм, мм |
Yм, мм |
d1, мм |
d2, мм |
1 |
1 |
|
|
|
|
|
2 |
2 |
|
|
|
|
|
-
Значение d1 и d2 могут быть определены из условий максимума: