- •Исследование характеристик полупроводниковых лазеров
- •Полупроводниковые лазеры на гетеропереходах
- •Полупроводниковый гетеропереход
- •Анизотропный гетеропереход
- •Энергетическая зонная диаграмма анизотропного гетероперехода
- •Квазиуровни Ферми в анизотропных гетеропереходах
- •Излучательная рекомбинация в p-n-гетеропереходах
- •Условие вынужденного излучения в p-n-гетеропереходе (условие бкп)
- •Условие для усиления света в активной области.
- •Двусторонний гетеропереход
- •Условие возникновения генерации в гетеропереходах
- •Экспериментальное измерение зависимости коэффициента поляризации лазерного диода от тока накачки Iн
- •Исследование степени когерентности лазерного диода
- •Измерение ватт-амперной характеристики лазерного диода
Энергетическая зонная диаграмма анизотропного гетероперехода
Как уже отмечалось
выше, в условиях термодинамического
равновесия уровень Ферми во всем
кристалле должен быть постоянным. Из
этого условия следует, что в области
ОПЗ дно зоны проводимости и, соответственно,
потолок, валентной зоны искривляются
в сторону понижения энергии, как показано
на рисунке 1. При отсутствии внешних
полей искривления начинаются с точки
и в точке
смещение дна зоны проводимости, а также
и потолка валентной зоны N-типа
полупроводника, составляет
по отношению к первоначальным значениям
(т.е. до соприкосновения).
В ОПЗ изменение с
расстоянием значения энергии дна зоны
проводимости (градиент дна зоны
проводимости
)
связан с электрическим полем соотношением:
![]()
В свою очередь
![]()

Рисунок 1 - Энергетическая зонная диаграмма анизотипного гетероперехода
где
-
потенциал, и как следует из (4) положителен
при всех x
и имеет квадратичную зависимость от
координаты.
растет
от нуля при
до
значения VK
при
.
В точке x=0
дно зоны проводимости и потолок валентной
зоны претерпевают разрывы по энергетической
шкале
и
,
связанные с различием между электронным
сродством
и шириной запрещенной зоны
рассматриваемых p-типа
и N-типа полупроводников (рис. 1).
Значения разрывов
краев зон
и
определяются по формулам:
![]()

Например, для
гетероперехода
[2]
значения
и
составляют:

Предположительно
эти выражения справедливы и для других
составов
вплоть
до![]()
Рассмотрим p-N-гетеропереход при прямом смещении, т.е. когда к кристаллу приложено внешнее электрическое поле со знаком противоположным знаком поля в ОПЗ.
Приложенный внешний потенциал распределяется между p- и N-областями:
![]()
При наличии смещения U диаграмма на рис. 1 изменяется. Положения края валентной зоны в зависимости от расстояния x определяются выражениями:

Для N- стороны:

Для краев зоны
проводимости имеем:
соответственно
для p-стороны
и N-стороны.
При приложении
прямого напряжения смещения (U)
энергетические уровни
и
смещаются вверх по энергетической шкале
по сравнению с равновесным состоянием.
Разность между
и
становится меньше по сравнению с
равновесным состоянием и составляет:
![]()
Если принять для
удобства
= 0 при x
>xN,
то используя (17) и (18), и имеем:
,
где ![]()
Из этой формулы
следует, что с ростом приложенного
напряжения U
уменьшается разность между
и
,
т.е. потенциальный барьер
,
препятствующий диффузии электронов.
Когда
энергетический
барьер составляет:
![]()
При достижении величины U значения:
![]()
барьер
для электронов исчезает.
В отличие от обычного p-n-перехода (гомоперехода) в p-N гетеропереходах диффузионный ток определяется главным образом инжекцией из широкозонного полупроводника в узкозонный. Через p-N-гетеропереход протекает диффузионный ток, состоящий в основном из потока электронов, и отличие от гомоперехода, где протекающий ток имеет также значительную дырочную составляющую через p-n-переход.
Квазиуровни Ферми в анизотропных гетеропереходах
Приложенное к p-N-гетеропереходу внешнее напряжение прямой полярности уменьшает величину барьера, образованного контактной разностью потенциалов, приводя к увеличению диффузии носителей из одной области в другую, по сравнению с равновесным случаем.
При этом изменение
концентрации носителей заряда по
сравнению с равновесным происходит
лишь в областях, равных диффузионным
длинам электронов (
)
и дырок (
)
и расположенных по обе стороны
гетероперехода в p-области
и N-области, соответственно. Эти изменения
происходят за счет существенного
увеличения концентрации неосновных
носителей в каждой области вблизи
гетероперехода. Концентрации неосновных
носителей больше не являются
равновесными.
Концентрация же основных носителей в каждой из этих областей лишь незначительно отклоняется от своего равновесного значения при протекании электрического тока.
При приложении
внешнего положительного напряжения
величины U, значение контактной
разности потенциала уменьшается на
величину qU
на диаграмме, приведенной на рис. 1,
происходит смещение энергетических
уровней N-типа полупроводника вверх по
энергетической шкале на величину равную
qU.
В областях вблизи гетерограницы, по обе
стороны от нее, происходит увеличение
концентрации неосновных носителей.
Границы этих областей определяются
значениями диффузионных длин (
)
и (
)
для электронов в p-области
и дырок в N-области соответственно.
Увеличение числа
неосновных носителей вблизи гетерограницы
можно определить потенциалами
неравновесных уровней Ферми
введенными
для электронов в зоне проводимости и в
валентной зоне, соответственно:
![]()
![]()
Квазиуровни Ферми
и
разделяются вблизи гетерограницы на
два уровня
и
,
как показано на рис. 2. Область гетероперехода
с разделенными квазиуровнями Ферми
можно рассматривать как двухуровневую
систему с верхним
-уровнем
(уровень 2) и с нижним
-уровнем
(уровень 1) и пользоваться теорией
двухуровневых квантовых систем.
Концентрации неосновных носителей определяются по формулам (20) и (21);

Где
- собственная концентрация носителей,
-
потенциал для уровня Ферми в собственном
полупроводнике:

Рисунок 2 - Квазиуровни Ферми в анизотипных гетеропереходах
Перемножение выражений в (20) дает
![]()
Предполагается,
что уровень
- расположен в середине запрещенной
зоны и не зависит от характера легирования.
Его можно рассматривать в качестве
эталонного уровня на всем протяжении
гетероперехода.
В отсутствие внешнего напряжения для всего кристалла имеет место равенство:
![]()
На рис. 2 показано
разделение квазиуровней Ферми при
прямом смещении вблизи ОПЗ
и
в объеме N- и p-полупроводников
где
,
определяются степенью легирования
полупроводников и диффузионными длинами
.
Для удобства на
рис. 2 рассмотрен случай непрерывных
.Не
показаны разрывы
при
х = 0, по следующей причине. При большом
прямом смещении, что всегда имеет место
в излучателях, значения энергетических
барьеров для носителей в активной зоне
гетероперехода сохраняются независимо
от значений разрывов
.
