Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Скачиваний:
89
Добавлен:
23.01.2017
Размер:
2.74 Mб
Скачать
Рис. 4.7

преломления среды, в которой распространяется луч. На участке АО луч 1 распространяется в воздухе, для которого nВ = 1. В формулу для оптической разности хода введено слагаемое λ0/2, так как вектор E напряженности луча 1 при отражении от

оптически более плотной среды изменяет свою фазу на π или луч 1 теряет полволны. λ0 – длина волны в вакууме. Подставляя параметры пленки и угол падения в формулу (4.3), для оптической разности хода можно окончательно записать:

 

2

 

2

 

0

 

2d n

 

sin

 

i

2 .

(4.4)

Для данного примера условия наблюдения максимумов и минимумов будут выглядеть таким образом:

максимумы: 2d

n2

sin2 i

0

m 0 , m 0,1,2,...

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

минимумы:

2d

n

2

sin

2

i

0

0

 

 

 

2

2m 1 2 , m 0,1,2,...

Отметим, что для наблюдения интерференционной картины нужно брать тонкую

пленку, чтобы для естественного света

лучи 1 и 2 после линии ОС были когерентными:

ОС rк (из за пространственной

когерентности) и ∆ ≤ lк (из за временной

когерентности).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Как видно из формулы (4.4), оптическую разность хода лучей можно изменять

либо изменением угла падения i, либо изменяя толщину пленки d. Рассмотрим полученные интерференционные картины.

Если на пленку одинаковой толщины d падает монохроматический свет под одним

и тем же углом i и выполняется условие максимума, то пленка в отраженных лучах будет светлой (имеющий цвет падающей длины волны). При выполнении условия минимума отраженных лучей не будет. Свет не отражаясь, проходит через пленку.

Если на пленку с линейно изменяющейся

толщиной d (клин) (рис. 4.7) падает монохроматический свет под одним и тем же

углом i, то в отраженных лучах будут наблюдаться полосы равной толщины. Если на

этот клин направить белый свет, то максимумы превратятся в спектры.

Впределах каждого максимума цвет будет плавно меняться от красного к фиолетовому.

4.4.Практическое применение явления интерференции. Интерферометры

Просветление оптики. На границе раздела воздух – стекло отражается 4% энергии световой волны. Поэтому при наличии в оптическом приборе достаточного количества линз, зеркал, преломляющих тел до наблюдателя доходит малая часть первоначальной энергии световой волны.

31

Рис. 4.8

Чтобы увеличить освещенность изображения с помощью интерференции убирают отраженные лучи. Для этого на поверхность линзы наносят тонкую пленку, у которой показатель преломления меньше, чем показатель преломления линзы. В этом случае, наряду с лучом 1, отраженным от поверхности линзы, возникает луч 2, отраженный от поверхности пленки (рис. 4.8а). Эти лучи должны быть когерентными, что бы отражаясь, они гасили дуг друга. Толщина пленки определяется из условия

2dnпл

0

(2m 1), d

0 (2m 1)

 

2

 

4nпл .

В этом случае происходит перераспределение световой энергии; она вся проходит в линзу, отраженной волны не будет.

Определение качества обработки поверхностей. На исследуемую поверхность кладут плоскопараллельную пластинку так, чтобы создать воздушный зазор между исследуемой поверхностью и пластинкой (рис. 4.8б). По искажению картины интерференции можно обнаружить дефекты ее обработки (царапины, шероховатость), так как в места нахождения дефекта искажена правильная картина чередования светлых и темных полос.

Интерферометры. Это приборы, в которых наблюдаемая картина интерференции служит для практических целей (для точных измерений длин волн, размеров малых предметов, показателей преломления газов, определения шероховатости поверхностей деталей и др.).

Картина интерференции получается пространственным делением пучка света на два или большее количество когерентных пучка, создания между ними оптической разности хода и затем наложения с целью

получения картины интерференции.

 

 

Существуют

различные виды

таких

 

приборов; здесь рассматривается двух лучевой

 

интерферометр Майкельсона (рис. 4.9).

 

 

Источник

монохроматического

света

 

посылает луч на пластинку А, установленную

 

под углом 45о, которая покрыта слоем вещества,

 

пропускающего половину падающего на него

 

света, вторая полвина луча отражается. Луч 2

 

проходит пластину А, падает на зеркало 2,

 

отражается от него, проходит снова пластину А,

 

отражаясь, попадает в зрительную трубу. Луч 1,

 

после отражения от пластины А, проходит

Рис. 4.9

пластину В, отражается от зеркала 1, проходит

32

пластины В и А и попадает в зрительную трубу. Пластинка В необходима для того, чтобы создать одинаковые условия для лучей 1 и 2. Если зеркала 1 и 2 будут взаимно перпендикулярны, то на экране в зрительной трубе будет наблюдаться светлое или темное пятно. Для создания картины интерференции одно из зеркал немного наклоняют, это приводит к изменению оптической разности хода лучей, и на экране будут наблюдаться полосы равной толщины.

Если, например, вместо зеркала 1 поместить деталь, шероховатость которой надо определить, то по искажению линий интерференции можно определить степень шероховатости.

Если надо определить размер h малого предмета, то совместив один из концов этого предмета с зеркалом 2, перемещают это зеркало до другого конца предмета, считая число полос прошедших мимо указателя зрительной трубы. Тогда

h 0 N

2 ,

где N – число темных полос, прошедших мимо указателя.

Лекция 5

5.1. Дифракция света. Принцип Гюйгенса – Френеля. Метод зон Френеля

Под дифракцией света понимают явление непрямолинейного распространения света, проникновение его в область геометрической тени, огибание им препятствий. Основные закономерности явления дифракции можно понять на основе принципа Гюйгенса – Френеля.

Согласно принципу Гюйгенса – Френеля каждая точка фронта волны является источником вторичных когерентных волн. Этот принцип сводит явление дифракции к интерференции вторичных когерентных волн. Между явлениями интерференции и дифракции нет принципиального различия: если рассматривать наложение малого числа когерентных волн – это будет интерференция, если большого – дифракция.

Покажем, как можно объяснить явление дифракции с помощью принципа Гюйгенса – Френеля. Пусть на преграду, в которой имеется щель, падает плоская волна. На рис. 5.1 она изображена в тот момент времени t1, когда фронт волны занимает положение в этой щели. Найдем положение фронта волны в следующий момент времени t2 = (t1 + ∆t). Он отстоит от первоначального положения на достаточно малый интервал времени, за который вторичные волны проходят расстояние R, значительно меньшее размеров щели d (R = ct << d).

Рис. 5.1

Каждая точка фронта волны в соответствии с принципом Гюйгенса – Френеля является источником вторичных волн, которые за время ∆t проходят расстояние R, и фронт вторичной волы будет представлять собой сферу. Положение фронта волны в момент t2 можно найти как огибающую фронтов вторичных волн (рис.5.1). Учитывая, что скорость волны в каждой точке фронта волны перпендикулярна к ней, можно видеть, что имеются участки фронта волны, которые обеспечивают проникновение света в область геометрической тени. Если размеры этих участков фронта волны будут соизмеримы с

33

размерами щели, то тогда явление дифракции света будет наблюдаться; если же они будут существенно меньше размеров щели, то явление дифракции, хоть и будет существовать, но будет незаметным.

На рис. 5.2 показано в определенный момент времени положение фронта волны, излучаемой точечным источником S монохроматического излучения (λ0). Найдем результирующую амплитуду волн, приходящих от всех точек фронта волны в точку наблюдения Р. В этой точке будет иметь место результат сложения вторичных когерентных волн, испускаемых каждым малым участком фронта волны.

Рис.5.2

Для расчета результирующей амплитуды используем метод разбиения фронта волны на зоны, предложенный Френелем. Для этого из точки наблюдения проводят сферы

радиусов РС

0

, РС 2

0

, РС 3

0

и т.д. Эти сферы разбивают фронт волны на

2

2

2

зоны Френеля. При этом зоны Френеля обладают следующими свойствами.

1.Волны, приходящие в точку наблюдения от соседних зон Френеля имеют оптическую разность хода равную λ0/2 или разность фаз, равную π.

2.При не слишком больших значениях номера m зоны площади зон примерно одинаковы.

3.Для амплитуды волн, приходящих от разных зон Френеля, в точку наблюдения, справедливы следующие соотношения:

А1 > А2

> А3 > А4

> А5

…, А

Ai 1 Ai 1

.

 

 

 

 

i

2

 

C увеличением номера зоны будет уменьшаться амплитуда волны, приходящей в точку наблюдения, от рассматриваемой зоны.

Введение зон Френеля позволяет найти результирующую амплитуду в точке наблюдения через амплитуду волн от всех зон Френеля.

АР А1 А2 А3 А4 А5 ...

 

А

 

А

 

А

А

 

А

 

 

А

 

А А

 

 

А

 

А

 

А

 

 

1

 

1

 

1

3

 

3

 

 

3

 

3 5

 

...

1

 

N

 

1

.

(5.1)

2

 

2

 

2

 

2

 

 

2

 

2

 

 

2

 

2

 

 

2

 

 

 

34

В формуле (5.1) учтено, что при значении N, стремящемуся к бесконечности, вкладом зоны Френеля с номером N можно пренебречь, по сравнению с вкладом от первой зоны Френеля.

Итак, в точке наблюдения результирующая амплитуда всех вторичных волн, испущенных от всех точек фронта волны, равна половине амплитуды вторичной волны, приходящей в точку наблюдения от первой зоны.

Метод зон Френеля позволяет предложить способы для получения значений амплитуды в точнее наблюдения, превышающих значение А1/2. Так, если закрыть непрозрачным экраном все зоны Френеля, кроме первой, то тогда можно увеличить амплитуду результирующей волны в два раза (АР = А1), а интенсивность – в четыре раза.

Для дальнейшего увеличения АР можно на пути волны поставить зонную пластинку, которая закрывает все четные зоны Френеля, что приводит к следующему результату:

АР А1 А3 А5 А7 ...

Максимальное увеличение амплитуды АР можно получить с помощью фазовой зонной пластинки, которая изменяет фазу волн, идущих в точку наблюдения от четных зон Френеля на значение, равное π:

АР А1 А2 А3 А4 А5...

5.2. Дифракция Френеля на круглом отверстии

Рассмотрим конкретный пример расчета дифракционной картины с использованием метода зон Френеля. Точечный источник монохроматического излучения посылает волну на преграду, в которой имеется круглое отверстие (рис. 5.3а). Необходимо ответить на вопрос, что наблюдается на экране в точке О, расположенной против источника излучения.

Разобьем видимую часть фронта волны на зоны Френеля. Пусть отверстие открывает первые i зон. Суммируя знакопеременный ряд, получим следующее выражение для амплитуды результирующей волны

АО А1 А2 А3 А4 ...

A1

 

Ai

.

(5.2)

2

2

 

 

 

 

Рис. 5.3

35

Как видно из полученного выражения, здесь возможны два случая.

1. Если число i мало и нечетное, то тогда в точке О будет наблюдаться светлое пятно, так как Аi ≈ А1 и, следовательно, АО A21 A2i A1.На экране будет наблюдаться

дифракционная картина, состоящая из светлых (окрашенных в один цвет) и темных колец

(рис. 5.3б).

2. Если же число зон будет малым и четным, то тогда в точке будет наблюдаться темное пятно. На экране, как и первом случае, будет наблюдаться дифракционная картина с темным пятном в центре (рис. 5.3в).

Дифракционная картина будет отсутствовать, если отверстие открывает меньше чем одну зону Френеля. В этом случае на экране наблюдается монотонная картина падения интенсивности света от центра к краям (рис. 5.3г). Если же отверстие открывает достаточно большое число зон, то и в этом случае дифракционной картины практически не будет. На экране будет наблюдаться светлое изображение отверстия.

5.3. Дифракция Фраунгофера на одной щели

Пусть плоская монохроматическая волна (λ0) падает перпендикулярно на поверхность щели шириной а (АВ = а). Между экраном и щелью располагается собирающая линза, которая собирает все параллельные между собой лучи, идущие под углом φ к первоначальному направлению падения лучей на щель, в одну точку на поверхности экрана (рис. 5.4а).

Для расчета дифракционной картины, наблюдаемой на экране, используем метод зон Френеля. Отметим, что на линии АВ оптическая разность хода вторичных волн, испускаемых каждой точкой фронта волны, равна нулю, после линии АС она не изменится.

Рис. 5.4

36

Поэтому оптическая разность хода возникает при переходе от линии АВ к АС, то есть отрезок ВС определяет оптическую разность хода для крайних лучей, идущих под углом φ.

Разделим отрезок ВС на участки длиной λ0/2, затем проведем через границы этих участков прямые, параллельные линии АС. Это приведет к делению фронта волны на прямоугольные полоски одинаковой ширины, которые и представляют собой зоны Френеля. Для соседних зон оптическая разность хода волн будет равна λ0/2, что и является главным свойством зон Френеля.

Если на отрезке АВ укладывается четное число зон Френеля, то на экране в точке М наблюдается темная полоска, то есть условием наблюдения минимумов дифракционной картины является уравнение:

BC

a sin

2m a sin m 0 , m 1,2,...

0 / 2

0 / 2

 

(5.3)

Если на отрезке АВ укладывается нечетное число зон Френеля, то в точку наблюдения приходит свет только от одной зоны, которая и дает на экране светлую полосу. Условия наблюдения максимумов дает уравнение:

 

0

(5.4)

a sin

2 (2m 1), m 0,1,2,...

 

На рис. 5.4б приведена дифракционная картина, отражающая зависимость интенсивности I не от координаты точек экрана, а от значения sin φ. В центре картины, для угла φ = 0, наблюдается центральный максимум нулевого порядка. Как показывают

расчеты, интенсивность первых (m = 1) максимумов в 22 раза меньше центрального максимума.

Представляет интерес рассмотреть влияние ширины щели на дифракционную картину. Если ширина щели а меньше длины волны λ0, то картина дифракции не наблюдается (рис. 5.4в), так как λ0/a >1 (условия минимумов не выполняются).

Если ширина щели значительно превышает длину волны падающего излучения, то на экране наблюдается изображение этой щели (рис. 5.4г), а по краям этого изображения наблюдаются чередование близко прилегающих друг к другу полосок малой интенсивности.

5.4. Дифракционная решетка

Рассмотрим плоскую периодическую структуру из параллельных щелей, разделенных непрозрачными промежутками. На практике обычно роль щелей выполняют прозрачные участки стеклянных пластинок, разделенных непрозрачными штрихами, наносимыми с помощью алмазных резцов.

Такие структуры и называют дифракционными решетками. Современные технологии позволяют изготовлять решетки, лучшие из которых имеют свыше 1000 штрихов на длине в 1 мм при полном числе штрихов до 200000. Суммарная ширина щели а и непрозрачного промежутка b называется периодом решетки d = (a + b).

Пусть на решетку с N щелями (рис. 5.5) падает плоская монохроматическая

Рис. 5.5

37

волна. За решеткой располагается линза, в фокальной плоскости которой находится экран. Каждая из щелей дает на экране картину, описываемую кривой, изображенной на рис. 5.4б. Картины от всех щелей придут на одно и то же место экрана. Если бы колебания, приходящие в точку М от разных щелей, были не когерентными, результирующая картина от N щелей отличалась бы от картины, созданной одной щелью, лишь тем, что интенсивности во всех точках возросли бы в N раз.

В дальнейшем мы будем полагать, что радиус когерентности падающей волны превышает длину решетки, поэтому колебания от всех щелей можно считать когерентными. Волны же идущие от двух соседних щелей будут отличаться по фазе колебаний на величину

2 d sin ,

где λ – длина волны в данной среде, d sin φ – разность хода для лучей, идущих под углом φ, например, от крайних точек соседних щелей (рис. 5.5). При наложении когерентных волн происходит перераспределение световой энергии в фокальной плоскости линзы

(рис. 5.5).

Рис. 5.6

Основная часть световой энергии попадает в главные максимумы. Условие главных максимумов определяет выражение:

d sin n n 0, 1, 2,... .

Интенсивность главных максимумов в N2 раз больше чем интенсивность в этом направлении φ от одной щели. Между главными максимумами наблюдаются вторичные максимумы, разделенные добавочными минимумами. В дифракционной картине для

направлений φ, удовлетворяющих условию asinφ = mλ0, наблюдаются главные минимумы.

На рис. 5.6 приведено распределение интенсивности света решеткой с N = 4 и

d/a = 3. При весьма большом числе щелей картина на экране будет представлена узкими очень яркими полосками, разделенными почти темными промежутками, ибо вторичные максимумы очень слабы по сравнению с главными. Расстояние между главными максимумами возрастает с уменьшением периода решетки d = (a + b).

38

5.5. Дифракция рентгеновских лучей

Рентгеновские лучи представляют собой ЭМВ с длиной волны λ ≈ 1· 10-10 м. Для наблюдения дифракционной картины необходимо, чтобы размеры препятствий были сопоставимы с длиной волны падающего излучения. Искусственное изготовление решеток для рентгеновских лучей путем нанесения алмазным резцом на поверхности стекла штрихов невозможно. В качестве дифракционной решетки для рентгеновских лучей используют монокристаллы – это кристаллы, в которых атомы расположены упорядоченно в узлах кристаллической решетки (рис. 5.7а). Расстояние между слоями

Рис. 5.7

такой пространственной решетки называют периодом решетки d. Атомы, расположенные в одной плоскости, отражают часть потока, падающего на него. Поэтому совокупность атомов, лежащих в одной плоскости, является аналогом одномерной дифракционной решетки, а сам кристалл можно рассматривать как двухмерную и трехмерную дифракционную решетку.

Рассмотрим дифракцию рентгеновского излучения при отражении от кристалла. Пусть на кристалл под углом скольжения θ падает рентгеновское излучение с длиной волы λ0. От каждой из плоскостей будет наблюдаться частичное отражение падающего излучения. Лучи 1 и 2 после отражения останутся когерентными, если у них оптическая разность хода не превысит длину когерентности. На линии ОА оптическая разность хода была равна нулю. После линии ОС она не изменяется, поэтому возникшая оптическая разность хода для лучей 1 и 2 будет равна

∆ = (АО' - О'С) = 2d sin θ.

Условие максимального усиления когерентных волн при дифракции рентгеновских лучей на монокристалле запишем в виде:

2d sin θ = m λ0, m = 0, 1, 2, 3, … (формула Вульфа - Брэгга)

Дифракционную картину наблюдают следующим образом. Источник рентгеновского излучения посылает лучи на поверхность кристалла под углом скольжения θ, приемник регистрирует интенсивность отраженного луча (рис. 5.7б). Непрерывно изменяя (сканируя) угол скольжения строят график зависимости интенсивности I отраженного излучения от угла скольжения (рис. 5.7в). На графике углы θ1, θ2, θ3 определяют положение максимумов дифракционной картины.

Рентгенограммы по известной длине волны падающего рентгеновского излучения позволяют определять структуру кристаллов.

39

Лекция 6

6. 1. Взаимодействие света с веществом

Понимание многих явлений взаимодействия ЭМВ с веществом возможно в рамках классической электронной теории. Согласно этой теории внутри атомов находятся электроны, которые могут совершать затухающие колебания около своих положений

равновесия. Для каждого атома существуют собственные частоты ωколебаний электронов.

Поглощение света. Под поглощением понимают процесс уменьшения интенсивности света, связанный с переходом энергии волны во внутреннюю энергию вещества (вещество нагревается, ионизируются и возбуждаются атомы и молекулы и т.

д.).

Световая волна возбуждает в веществе вынужденные колебания электронов внутри атомов. Эти вынужденные колебания приводят к возникновению вторичных волн, которые частично возвращают энергию первичному потоку, а часть энергии превращается во внутреннюю энергию вещества.

Поглощающие свойства вещества зависят от частоты (длины волны) движущегося в веществе света. Действительно, наибольшая энергия затрачивается волной на раскачку

электронов при совпадении частоты падающей волны ω с собственными частотами

колебаний электронов в атомах (ω = ω). В этих случаях амплитуда колебаний электронов будет максимальной, максимальным будет и поглощение света.

Найдем зависимость интенсивности I проходящей через вещество волны от расстояния х.

Рис. 6.1

Пусть плоская световая волна интенсивности I падает нормально на поверхность пластинки толщиной dx (рис. 6.1а). На выходе из нее, за счет поглощения, уменьшится и станет равной (I - dI). Причем dI будет пропорциональной I, dx, и поэтому можно записать следующее равенство:

dI = - αIdx, где α – коэффициент поглощения.

Интегрируя это выражение, получим закон Бугера – Ламберта:

I I0e x .

На рис. 6.1б приведен спектр поглощения для разреженного газа, паров металлов

при не высоком давлении. На рис. 6.1в приведен спектр разреженного газа с многоатомными молекулами. Он представляет собой набор полос поглощения (систем близко расположенных линий), обусловленных строениями молекул, колебательными и

40

Соседние файлы в папке Методические материалы и лекции