
- •Атомная физика
- •© СПбГэту«лэти», 2006 Работа 1 (1.4). Исследование закономерностей теплового излучения нагретого тела
- •1.1. Общие сведения
- •1.2. Исследуемые закономерности
- •1.3. Экспериментальная установка
- •1.4. Задание по подготовке к работе
- •1.5. Указания к выполнению работы
- •1.6. Указания для обработки результатов
- •1.7. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 2 (3.4). Исследование внешнего фотоэффекта
- •2.1. Общие сведения
- •2.2. Исследуемые закономерности
- •2.3. Задание для подготовки к работе
- •2.4. Указания к выполнению работы
- •2.5. Указания по обработке результатов
- •2.6. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 3 (8.4). Исследование эффекта зеемана методом индуцированных квантовых переходов электронов в атоме
- •3.1. Общие сведения
- •3.2. Исследуемые закономерности
- •3.3. Установка исследования эффекта резонансного поглощения, индуцированного магнитным полем
- •3.4. Задание для подготовки к работе
- •3.5. Указания по выполнению наблюдений
- •3.6. Указания по обработке результатов
- •3.7. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 4 (16.4). Исследование ядерного магнитного резонанса и определение магнитного момента ядра атома
- •4.1. Общие сведения и исследуемые закономерности
- •4.2. Экспериментальная установка и методика наблюдения ямр
- •4.3. Задание по подготовке к работе
- •4.4. Указания по выполнению наблюдений
- •4.5. Указания по обработке результатов
- •4.6. Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Работа 5 (9.4). Исследование внутреннего фотоэффекта
- •5.1. Общие сведения
- •5.2. Исследуемые закономерности
- •5.3. Экспериментальная установка
- •5.4. Указания по выполнению работы и содержанию отчета
- •Список литературы
- •Работа 6 (11.4). Исследование туннельного эффекта в вырожденном p–nПереходе
- •6.1. Общие сведения
- •6.2. Исследуемые закономерности
- •6.3. Экспериментальная установка
- •6.4. Указания по подготовке к работе
- •6.5. Указания по выполнению наблюдений
- •6.6. Указания по обработке результатов и содержанию отчета
- •Список литературы
- •Работа 7. Компьютерное моделирование туннельного эффекта
- •Моделируемые закономерности
- •Задание на подготовку к работе
- •Указания к выполнению работы
- •Указания по обработке результатов
- •Контрольные вопросы
- •Список литературы
- •Содержание
- •197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5
2.2. Исследуемые закономерности
Для исследования внешнего фотоэффекта в работе используется вакуумный диод (фотоэлемент СЦВ-4), содержащий два металлических электрода (анод и катод) внутри стеклянной оболочки. При комнатной температуре в вакуумном промежутке между электродами содержится незначительное количество электронов, возникающее за счет эффекта термоэлектронной эмиссии металла. Освещение поверхности катода приводит к увеличению числа свободных электронов в этой области.
Зависимость силы тока Iот напряженияUна фотоэлементе имеет нелинейный характер. Причина нелинейности вольтамперной характеристикиI(U) – неоднородность распределения по скоростям вышедших из катода электронов вследствие их теплового движения. В случае отрицательной полярности подключения внешнего источника к электродам фотоэлемента с ростом напряженияUуменьшается доля электронов, имеющих кинетическую энергию, достаточную для достижения анода и, соответственно, уменьшается токI. При некотором значении обратного напряженияU = Uзполученной при фотоэлектронной эмиссии кинетической энергии электронов оказывается недостаточно, чтобы преодолеть тормозящее действие поля и сила тока, протекающего через фотоэлемент, обращается в ноль I(Uз) = 0. Это условие достигается при равенстве кинетической энергией фотоэлектрона изменению его потенциальной энергии при перемещении от катода к аноду:
.
Запирающее напряжение Uзв эксперименте измеряется прямым методом и с точностью до постоянного множителяе(элементарный заряд) совпадает с кинетической энергией фотоэлектрона . Теория Эйнштейна прогнозирует линейную зависимость запирающего напряжения от частотыэлектромагнитного излучения:
,
где 0 = A/h– минимальная частота излучения, при которой возможен выход электрона из исследуемого металла. Аппроксимация результатов измеренияUз() линейной функцией позволяет измерить ее параметры (рис. 2.1): работу выхода электронаA, граничную частотуи отношение физических константh/e.
Рис. 2.1. Зависимость запирающего напряжения на фотоэлементе от частоты электромагнитного излучения
Сила тока сквозной проводимости
фотоэлемента при большом положительном
напряжении определяется только током
фотоэлектронной эмиссии, величина
которого не зависит от приложенного
напряжения и представляет собой ток
насыщения
– асимптоту вольтамперной характеристикиI(U)
фотоэлемента.
Рис. 2.2 Электрическая схема установки для исследования внешнего
фотоэффекта.
Электрическая схема экспериментальной установки представлена на рис. 2.2. Переключатель S3 предназначен для управления освещенностью Ф фотокатода. Он обеспечивает протекание тока разной величины в нити лампы накаливания Л1. С помощью переключателя S2 обеспечивается прямое или обратное подключение фотоэлемента ФЭ к источнику напряжения. Для изменения прямого и обратного напряжения между электродами ФЭ электрическая схема содержит, соответственно, потенциометры R1 и R2–R3. Сила тока сквозной электропроводности фотоэлемента измеряется микроамперметром PA, а напряжение между его электродами контролируется вольтметром PU.