
Гладков / Выдать 14 февраля 3013 / 1. Поверхность / 3.3. Исследование поверхности / Влияние поверхности на энергию связи электронов Ашкрофт и Мермин т1 с 354-359
.doc
Работа выхода, Ашкрофт и Мермин, т.1, с.354-359
ВЛИЯНИЕ ПОВЕРХНОСТИ НА ЭНЕРГИЮ СВЯЗИ ЭЛЕКТРОНА. РАБОТА ВЫХОДА
Чтобы продемонстрировать влияние поверхности на энергию, которая требуется для удаления электрона, сравним периодический потенциал бесконечного кристалла Uinf(r)1) с потенциалом Ufin(r), фигурирующим в одноэлектронном уравнении Шредингера для конечного образца того же материала. Для простоты будем рассматривать только кристаллы кубической системы, обладающие симметрией относительно инверсии. В бесконечном (пли периодически повторенном) кристалле потенциал Uinf образуется как сумма вкладов от всех элементарных ячеек Вигнера – Зейтца с центрами в точках решетки
Uinf(r) = Rv(r – R), (18.1)
где
v(r) = –eCdr'(r')[1/|r – r'|] (18.2)
Интегрирование в (18.2) ведется по ячейке Вигнера – Зейтца C с центром в начале координат; (r) – суммарная плотность заряда электронов и ионов2). На расстояниях от ячейки, больших по сравнению с ее размерами, можно воспользоваться мультипольным разложением, принятым в электростатике, и записать
1/|r – r'| = 1/r – (r')(1/r) + (r')2(1/r) 3) + ... =
= (1/r) + r'^r/r2 + [3(r' ^r)2 – r'2]/r3 + (1/r)O(r'/r)3, (18.3)
получая в результате
v(r) = –eQ/r – ep ^r /r2 + O(1/r3), (18.4)
где
Q = Cdr'(r') (18.5)
есть полный заряд в ячейке, а
р = Cdr'r'(r') – ее полный дипольный момент. (18.6)
Поскольку кристалл электрически нейтрален и (r) имеет периодичность решетки Браве, каждая элементарная ячейка должна также быть электрически нейтральной, а, следовательно, Q = 0. Кроме того, в кристалле с центром инверсии полный дипольный момент ячейки Вигнера – Зейтца равен нулю.
В силу кубической симметрии равен нулю4) и коэффициент при 1/r3 (квадрупольный потенциал).
А поскольку симметрия относительно инверсии требует обращения в нуль также и коэффициента при 1/r4, мы можем заключить, что вклад ячейки Вигнера – Зейтца в потенциал v(r) очень быстро (как 1/r6) спадает на больших удалениях от ячейки.
Поэтому ячейки, расположенные далеко (по атомным масштабам) от точки r, дают пренебрежимо малый вклад в потенциал Uinf(r), и он хорошо аппроксимируется суммой вкладов ячеек, удаленных лишь на несколько постоянных решетки от точки r.
Р
ассмотрим
теперь конечный кристалл. Пусть
ионы расположены таким образом, что
занимают некоторую конечную область V
решетки Бравэ бесконечного кристалла.
Предположим, кроме того, что плотность
электронного заряда во всех ячейках
Вигнера – Зейтца, даже вблизи поверхности,
всегда одинакова и имеет тот же вид, что
и для бесконечного кристалла (фиг.18.1,а).
Тогда каждая занятая ячейка по-прежнему дает в потенциал вклад v(r – R) и справедливо соотношение
Uinf(r) = R из Vv(r – R). (18.7)
Если бы результат (18.7) был верным, то в точках r, расположенных внутри кристалла и далеко (по атомным масштабам) от его поверхности, потенциал Ufin(r) отличался бы от Uinf(r) только из-за того, что в конечном кристалле отсутствуют ячейки с центрами в каких-то точках R, удаленных от r. Поскольку вклад таких ячеек в потенциал в точке г пренебрежимо мал, в точках r внутри кристалла, отстоящих от поверхности более чем на несколько постоянных решетки, потенциал Ufin(r) практически уже невозможно было бы отличить от Uinf(r).
Помимо того в точках г, которые лежат вне кристалла и удалены от его поверхности более чем на несколько постоянных решетки, потенциал Ufin(r) был бы пренебрежимо мал из-за быстрого (пропорционально 1/r5) спадания вкладов в Ufin(r) от каждой занятой ионом ячейки в кубическом кристалле (фиг.18.1,б).
Поэтому энергия наивысшего заполненного электронного уровня в глубине кристалла оставалась бы равной энергии Ферми EF, рассчитанной для идеального бесконечного кристалла с периодическим потенциалом Uinf(r). Кроме того, наинизшая энергия электронного уровня вне кристалла была бы равна нулю (поскольку потенциал Ufin стремится к нулю снаружи кристалла, а кинетическую энергию свободного электрона можно сделать сколь угодно малой). Поэтому, если бы не было искажений распределения заряда в поверхностных ячейках, минимальная энергия, необходимая для перемещения электрона из глубины металла в точку снаружи металла вблизи его поверхности, была бы равна5)
W = 0 – EF = – EF. (18.8)
Этот результат неточен. Реальное распределение заряда в ячейках вблизи поверхности конечного кристалла отличается от распределения заряда в глубинных ячейках. Во-первых, положения поверхностных ионов в общем случае слегка смещены по отношению к их положениям в идеальной решетке Бравэ. Во-вторых, распределение электронного заряда в ячейках вблизи поверхности не обязательно подчиняется симметрии решетки Бравэ (фиг.18.2,а). Обычно эти ячейки имеют отличный от нуля электрический дипольный момент; кроме того, они могут даже создавать не равный нулю суммарный электрический заряд на поверхности.
Конкретный вид распределения заряда в ячейках вблизи поверхности (и следовательно, его отклонение от распределения в глубинных ячейках металла) зависит от многих обстоятельств и, в частности, от того, является ли поверхность металла гладкой или шероховатой; для гладкой поверхности распределение заряда зависит от ориентации ее плоскости по отношению к кристаллографическим осям. Определение искажений распределения заряда для поверхностей разного типа представляет собой сложную задачу физики поверхностей, и мы не будем ее здесь касаться. Нас интересуют главным образом последствия таких искаженней.
Сначала рассмотрим случай, когда искажение поверхностных ячеек не приводит к появлению отличного от нуля суммарного макроскопического заряда на поверхности металла.
Чтобы металл в целом был электрически нейтрален, все его поверхности должны иметь одинаковую структуру: либо потому, что они являются кристаллографически эквивалентными плоскостями, либо, грубо говоря, потому, что они приготовлены одинаковым образом.
На
больших (по атомным масштабам) расстояниях
от такой электрически нейтральной
поверхности распределение зарядов
в отдельных искаженных поверхностных
ячейках по-прежнему не создает суммарного
макроскопического электрического
поля6).
Однако в пределах поверхностного слоя,
где ячейки искажены, возникают
довольно большие электрические поля,
на преодоление которых при перемещении
электрона сквозь поверхностный слой
необходимо затратить определенную
работу Ws
= eEd.
Величина Ws зависит от того, как именно распределение заряда в поверхностных ячейках отличается от распределения в глубине металла; отличие в свою очередь зависит от характера рассматриваемой поверхности. В некоторых моделях (см. задачу 1, п. «а») искажения заряда в поверхностных ячейках описывают посредством постоянной макроскопической поверхностной плотности диполей; имея в виду такие модели, о поверхностном слое в общем случае часто говорят как о «двойном слое».
Работу Ws, совершаемую нолем двойного слоя, необходимо добавить к выражению (18.8), которое определяет работу выхода без учета искажения поверхностных ячеек. Истинная работа выхода дается поэтому выражением7)
W = – EF + Ws. (18.9)
Соответствующая форма кристаллического потенциала U(r) показана на фиг. 18.2,б.
Если грани кристалла не эквивалентны, на каждой грани помимо двойного слоя вполне может появиться и отличный от нуля макроскопический заряд – обращаться в нуль должен лишь суммарной заряд всех поверхностей металла. Следующие соображения показывают, что малый, но отличный от нуля поверхностный заряд обязательно должен возникнуть.
Рассмотрим
кристалл с двумя неэквивалентыми гранями
F и F'
- Отвечающие им работы
выхода W и W' могут не совпадать,
поскольку двойные слои, которые дают
вклады Ws
и Ws'
в работу выхода,
имеют различную внутреннюю структуру.
Будем теперь извлекать электрон с уровня
Ферми в металле через грань F
и возвращать его в металл на уровень
с энергией Ферми через грань F'
(фиг.18.3). Если
энергия сохраняется, то полная работа,
совершаемая в этом цикле, должна
равняться нулю. Однако работа,
совершаемая при извлечении и
«внедрении» электрона, есть W–
W' и может не
обращаться в нуль, если поверхности
не эквивалентны. Следовательно, вне
металла должно существовать
электрическое поле, работа против
которого при перемещении электрона
от грани F к грани F'
компенсирует разность работ
выхода. Это означает, что две
грани кристалла должны иметь различные
электростатические потенциалы
и ',
удовлетворяющие соотношению
–e ( – ') = W – W. (18.10)
Поскольку двойной слой не может создавать макроскопические поля вне кристалла, эти поля должны возникать благодаря наличию макроскопического распределения суммарного электрического заряда на поверхностях8). Величина заряда, перераспределенного между поверхностями и ответственного за создание таких внешних полей, чрезвычайно мала по сравнению с величиной заряда, перераспределенного между соседними поверхностными ячейками и ответственного за создание двойного слоя9).
Соответственно электрическое поле внутри двойного слоя достигает огромных значений по сравнению с величиной внешнего электрического поля, создаваемого суммарным поверхностным зарядом 10).
Когда поверхности твердого тела не эквивалентны, в работу выхода для каждой конкретной поверхности принято включать лишь работу, затрачиваемую на преодоление поля в ее двойном слое (которая представляет собой характеристику данной поверхности); при этом пренебрегают дополнительной работой, которую необходимо затратить на преодоление внешних полей, возникающих из-за перераспределения поверхностных зарядов (эта работа зависит от свойств других поверхностей металла). Поскольку подобные внешние поля чрезвычайно малы по сравнению с полями в двойном слое, работа выхода для данной поверхности будет учитывать лишь вклад от полей двойного слоя. При этом мы имеем в виду, что работа выхода определяется как минимальная работа, необходимая для того, чтобы удалить электрон из металла через эту поверхность и переместить в точку, которая расположена достаточно далеко от поверхности по атомным масштабам (чтобы электрон прошел весь двойной слой), но достаточно близко по сравнению с размерами макроскопических граней кристалла (чтобы поля, существующие вне кристалла, совершили над электроном лишь пренебрежимо малую работу 11).
1) Напоминаю, Uinf от infinite – бесконечный, безграничный. Для абстрактного неограниченного объекта. Ufin от finite – ограниченный, имеющий предел. В нашем случае U – для реального образца, конечных размеров. В.Г.
2) Следовательно, под одноэлектронным уравнением мы понимаем здесь самосогласованное уравнение Хартри, рассмотренное в гл.11 и 17
3) Возможно, здесь (1/r) должно быть не в первой степени, а в квадрате: (1/r2) ?. В.Г.
4) Это следует из того, что интеграл Cdr'r'i r'j(r') должен обращаться в нуль при С i j и должен равняться своему среднему значению 1/3Cdr'r'2(r') при i = j. Поэтому первое слагаемое в интеграле
Cdr'[3(r' ^r)2/r3 – r'2/r3](r')
сокращается со вторым.
Если кристалл не имеет кубической симметрии, наши общие выводы не меняются, но тогда требуется уделить гораздо большее внимание квадрупольному члену. Сама зависимость вида 1/r3 еще не дает достаточно быстрого спадания с расстоянием, чтобы гарантировать отсутствие взаимного влияния отдаленных ячеек, поэтому приходится учитывать также и угловую зависимость квадрупольного потенциала. Это делает рассмотрение технически более сложным и предпринимать его в наших целях не имеет смысла.
5) Поскольку электроны удерживаются в металле, для их извлечения необходимо совершить некоторую работу; следовательно, энергия EF должна быть отрицательной. Это не противоречит тому, что в теории свободных электронов мы считаем EF = 2kF2/2m. Просто в теориях, предназначенных для расчета объемных характеристик и использующих модель бесконечного металла, выбор аддитивной постоянной в электронной энергии остается совершенно произвольным; мы фактически совершили этот выбор, положив равной нулю энергию наинизшего электронного уровня. При таком выборе, чтобы электроны удерживались внутри металла, потенциальная энергия электрона снаружи кристалла должна быть большой положительной величиной (больше EF). В настоящей главе мы, однако, воспользовались традиционным в электростатике выбором аддитивной постоянной – потенциал считается равным нулю на больших расстояниях от конечного металлического образца. Чтобы добиться согласия с прежним описанием, к энергии каждого электронного уровня в металле необходимо добавить большую отрицательную константу. Можно считать, что эта отрицательная константа грубо учитывает притягивающий потенциал ионной решетки. Ее значение не существенно при определении объемных характеристик, но когда мы сравниваем энергии электронов внутри и снаружи кристалла, необходимо либо явно учесть такое слагаемое, либо отказаться от предположения, что потенциал равен нулю вдали от металла.
6) См., например, задачу 1, п. «а».
7) Подобно формуле (18.8), выражение (18.9) записано в предположении, что при расчете EF для бесконечного кристалла использовался определенный способ выбора аддитивной постоянной в периодическом потенциале. Этот выбор производится так, чтобы для конечного кристалла, для которого не учитывается искажение распределения заряда в поверхностных ячейках, потенциал U обращался в нуль на больших расстояниях от кристалла.
8) Условие нейтральности всего кристалла требует лишь, чтобы сумма макроскопических поверхностных зарядов на всех гранях равнялась нулю.
9) См. задачу 1, п. «б».
10) Разность потенциалов между гранями сравнима с падением потенциала внутри двойного слоя [см. (18.10)]. Однако в первом случае мы имеем разность потенциала между точками, расположенными на макроскопических расстояниях (порядка размеров граней кристалла), а во втором – между точками, находящимися на микроскопических расстояниях (порядка толщины двойного слоя, то есть на длине нескольких постоянных решетки).
11) Даже если все грани эквивалентны, взаимодействие извлеченного электрона с электронами, остающимися в металле, приводит к тому, что на его поверхности будут индуцироваться макроскопические поверхностные заряды (дающие то, что называют «изображением заряда» в электростатике). Согласно приведенному определению, вклад таких зарядов в работу выхода также пренебрежимо мал.