Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
НАДЕЖНОСТЬ_3_ГРАДИРНИ / НАДЕЖНОСТЬ_ЭРИ_ГРАДИРНИ.pdf
Скачиваний:
534
Добавлен:
21.03.2016
Размер:
9.61 Mб
Скачать

Справочник "Надежность ЭРИ"

 

Оптоэлектронные полупроводниковые

 

 

 

 

 

 

приборы

 

 

 

 

 

 

 

Тип изделия

 

Номер ТУ

 

Тип изделия

 

Номер ТУ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тиристорные

 

 

3ОУ103А – Д

 

УЖ0.336.105ТУ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Резисторные

 

 

3ОР124А

 

аА0.339.246ТУ

 

3ОР125А

 

аА0.339.277ТУ

 

 

 

 

 

Микросхемы оптоэлектронные

 

 

 

 

Переключатели логических сигналов

 

 

249ЛП1А – В

 

ТТ0.343.000ТУ

 

249ЛП6

 

БК0.347.514ТУ

 

 

 

249ЛП4

 

БК0.347.346ТУ

 

249ЛП6А

 

БК0.347.514ТУ

249ЛП5

 

БК0.347.412ТУ

 

249ЛП8

 

АЕЯР.431270.004ТУ

 

 

Коммутаторы аналоговых сигналов

 

 

249КН1А – Е

 

БК0.347.149ТУ

 

415КТ1А, Б

 

БК0.347.218ТУ

 

 

 

249КП1

 

IХ3.438.000ТУ

 

434КП1А – В

 

БК0.347.585ТУ

249КП1А, 1Б, 1С

 

IХ3.438.000ТУ

 

434КП2А – Д

 

БК0.347.615ТУ

249КП3

 

БК0.347.384ТУ

 

 

 

 

ПОЯСНЕНИЯ К РАЗДЕЛУ

Математические модели для расчета эксплуатационной интенсивности отказов отдельных групп (типов) оптоэлектронных полупроводниковых приборов приведены в табл.1

 

 

Таблица 1

 

 

Группа изделий

Вид математической модели

 

 

 

Излучатели полупроводниковые

λэ=λ′бКрКэКпр

(1)

 

или

(2)

Оптопары

λэ=λ′бсгКрКэКпр

 

 

 

Микросхемы оптоэлектронные

λэ=λ′бКэКпр

(3)

или

(4)

 

λэ=λ′бсгКэКпр

 

 

 

Расчет эксплуатационной интенсивности отказов оптоэлектронных приборов, находящихся в режиме ожидания, проводится по моделям вида:

для неподвижных объектов:

λэ.хх.с.г ·К·Кусл·Кпр

или

(5)

λэ.х=λ′б Кх·К·Кусл·Кпр

для подвижных объектов:

λэ.хх.с.г ·К·Кэ·Кпр

или

(6)

λэ.х=λ′б Кх·К·Кэ·Кпр

167

Справочник "Надежность ЭРИ"

Оптоэлектронные полупроводниковые

 

приборы

Модели (2) и (4) используют для расчета интенсивности отказов тех типов оптоэлектронных полупроводниковых приборов, для которых из-за отсутствия или недостаточности информации не приведены значения интенсивности отказов λ′б. Кроме этого, модели (2) и (4) используют для оценки уровня интенсивности отказов групп в целом.

Определение составляющих (коэффициентов) моделей и других характеристик надежности приведено в разделе справочника "Методические указания".

Названия и номера таблиц, в которых помещены числовые значения составляющих (коэффициентов) моделей и другие справочные данные, приведены в табл. 2.

 

 

Таблица 2

 

 

 

Условные

Название таблицы

Номер

обозначения

таблицы

 

λ′б.с.г , λх.с.г, Кпр, Кз,

Характеристика надежности и справочные данные отдель-

3

Кх, d, dх, распреде-

ных групп оптоэлектронных полупроводниковых приборов

 

ление отказов по

 

 

видам

 

 

λ′б, d, Тнм, Трγ, Тхр

Характеристика надежности и справочные данные отдель-

4

 

ных типов оптоэлектронных полупроводниковых приборов

 

Кр

Значения коэффициента режима Кр в зависимости от

5

 

электрической нагрузки и температуры

 

t ºС, Uпр, Iпр./ср,

Значения параметров, применяемых при расчете коэффици-

6, 7

P0=Pмакс, RТ, tп0, m

ента режима Кр

 

К

Значения коэффициента Кtx в зависимости от температуры

8

 

окружающей среды

 

Кэ

Значения коэффициента Кэ жесткости условий эксплуатации

9

 

для оптоэлектронных полупроводниковых приборов

 

 

 

 

Значения коэффициента режима Кр для полупроводниковых излучателей и оптопар рассчитываются по математической модели (7).

 

 

I

m

 

 

 

 

1

 

 

 

1

 

 

 

Кр =

 

пр.ср

 

exp

Еа

 

 

 

 

,

(7)

 

I

 

К

 

t

п0

+ 273

t

п

+ 273

 

 

 

пр.ср.0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где Iпр.ср.0 – средний прямой ток излучателя в номинальном режиме;

Iпр.ср – средний прямой ток излучателя в рабочем режиме; tп0 – температура перехода в номинальном режиме, ºС; tп – температура перехода в рабочем режиме, ºС;

Еа – энергия активации процесса деградации, Еа=0,6 эВ; К – постоянная Больцмана, К=8,625·10-5 эВ/град;

m – показатель, зависящий от свойств полупроводникового кристалла и принимающий значения от 1 до 2.

168

Справочник "Надежность ЭРИ"

Оптоэлектронные полупроводниковые

 

приборы

При работе в непрерывном режиме величина m равна: для оптопар – 1,5;

для излучателей в зависимости от типа полупроводникового излучающего материала: 1,4 – для GаАs;

1,2 – для GаР;

1,5 – для GаАlАs; GаАsР.

При работе в импульсном режиме m = 2.

Температура р–n-перехода определяется по формулам: tп=Р·RT+t и tп0 = Р0·RT+25ºС,

где: Ро – рассеиваемая мощность в номинальном режиме, Вт; Р – рассеиваемая мощность в рабочем режиме, Вт;

RT – тепловое сопротивление, ºС/Вт;

t – температура окружающей среды, ºС.

При отсутствии значений тепловых сопротивлений при расчете коэффициента Кр температуру р–n-перехода принимают:

для излучателей полупроводниковых

tп = t +

Iпр.ср.

20;

tп0 = tн + 20°C = 25 + 20 = 45°C;

 

 

Iпр.ср.0

 

для оптопар

tп = t +

Iпр.ср.

15;

tп0 = tн +15°C = 25 +15 = 40°C;

 

 

Iпр.ср.0

 

где tн – нормальная температура окружающей среды (tн = 25ºС).

Параметры, применяемые при расчете коэффициента Кр оптоэлектронных полупроводниковых приборов, приведены в табл. 6, 7.

169

Соседние файлы в папке НАДЕЖНОСТЬ_3_ГРАДИРНИ