- •Предисловие
- •1. Общие вопросы конструирования авиационного радиоэлектронного оборудования
- •1.1 Возникновение проблемы надежности
- •1.2 Основные понятия и определения
- •1.3. Технические требования
- •2. Методы повышения надежности
- •2.1. Условия эксплуатации аэро
- •2.2. Методы повышения надежности элементов
- •2.3. Методы повышения надежности систем
- •3. Повышение надежности путем структурной избыточности
- •3.1 Виды резерва
- •3.2. Показатели надежности систем со структурной избыточностью
- •3.3. Оптимизация резервирования
- •4. Обеспечение надежности на этапах эксплуатации
- •4.1 Основные характеристики процесса эксплуатации
- •4.2 Изменения параметров в процессе эксплуатации.
- •4.3 Стратегия технического обслуживания по наработке
- •4.4 Прогнозирующий контроль технического состояния авиационного радиооборудования как основа стратегии технического обслуживания по состоянию
- •4.5. Стратегия технического обслуживания по состоянию.
- •4.6. Автоматизированные системы диагностирования и техническое обслуживание арэо.
- •5. Обеспечение стойкости и устойчивости аэро при температурных воздействиях
- •5.1. Общие вопросы тепловой защиты арэо.
- •5.2 Способы теплопередачи
- •5.3 Оценка способа охлаждения арэо.
- •5.4 Конструктивные приемы охлаждения аппаратуры
- •6. Защита арэо от механических воздействий.
- •6.1 Обеспечение виброустойчивости и вибропрочности арэо.
- •6.2 Расчет амортизационной системы
- •7. Элементная и конструктивная основа обеспечения эксплуатационной надежности.
- •7.1 Принципы модульного конструирования радиоэлектронной аппаратуры и базовые несущие конструкции
- •7.2 Применение интегральных микросхем при конструировании арэо
- •8. Обеспечение надежности типовых элементов замены путем конструирования гибридно-интегральных модулей на элементной базе функциональной микроэлектроники.
- •8.1 Оптоэлектроника и оптоэлектронные микросхемы
- •8.2 Элементы акустоэлектроники
- •8.3 Элементы магнитных сбис постоянных запоминающих устройств
- •Библиографический список
- •Оглавление
- •Рецензия
8.2 Элементы акустоэлектроники
Предметом акустоэлектроники являются акустоэлектронные радиокомпоненты (АРК) и устройства на их основе. Сами АРК достаточно сложны, выполняются технологическими методами микроэлектроники и подобны микросхемам, но не содержат традиционных элементов-транзисторов. Характерным для АРК является использование как электрических, так и акустических высокочастотных сигналов, причем первые – внешние (входные и выходные), а вторые – внутринние . Следовательно, АРК должны содержать преобразователи электрических сигналов в акустические и акустических сигналов в электрические и акустические тракты (звукопроводы), где происходит распростронение акустических сигналов.
Преобразователь электрического сигнала в акустический (излучатель) основан на обратном пьезоэлектрическом эффекте, состаящем в механической деформации пьезокристалла под действием внешнего электрического поля. Акустический сигнал представляет собой волну упругих механических возмущений, распространяющихся в твердом теле со скоростью звука vа кпорядка 105см/с. Преобразователь акустического сигнала в электрический (приемник) основан на прямом пьезоэлектрическом эффекте – появлении при механической деформации кристалла разделенных зарядов противоположного знака и связанных с ними электрических полей.
Для применения наиболее важны поверхностные акустические волны (ПАВ), распространяющиеся в поверхностном слое пьезокристалла. Толщина слоя порядка длины волны l а к= vа к/f. Длина волны мала лишь для достаточно высоких частот. Например, в диапазоне 10…1000МГц, наиболее приемлемом для АРК, она составляет 100…1 мкм. Поверхностные акустические волны могут генерироваться и управляться с помощью тонкопленочных структур, формируемых на поверхности подложки из пьезокристалла, что и позволяет создавать АРК методами микроэлектроники. Поверхностные акустические волны обладают свойством распространяться в виде направленного луча. Для этого размер излучателя в направлении, перпендикулярном направлению распространения (так называемая апертура), должен быть много больше длины волны. С помощью отражателей и направленных ответвителей можно добиться распространения ПАВ по сложной непрямолинейной траектории. ТО же достигается использованием акустических волноводов, расположенных на поверхности подложки.
Основным материалом подложек является пьезокварц SiO2; кроме него используется ниобат лития LiNbO3, германат висмута Bi12GeO20и пьезокерамика. Главным параметром материала является скорость распростронения ПАВ, лежащая в пределах от 1,6 х 105(германат висмута) до 4 х 105см/с (ниобат лития).
Акустоэлектронными радиокомпонентами, получившими наибольшее распростронение, являются линии задержки (ЛЗ) и полосовые фильтры. Малая скорость ПАВ (на 5 порядков меньше, чем у электромагнитной волны) позволяет создавать малогабаритные интегральные ЛЗ радиосигналов. Линия задержки состоит из входного преобразователя, звукопровода и выходного преобразователя.
Традиционные методы задержки радиосигналов во времени основаны на использовании электромагнитных систем с распределенными или сосредоточенными параметрами. Первые имеют размеры порядка длины электромагнитной волны и применяются в основном в диапазоне СВЧ. Примерами служат ЛЗ на отрезках коаксиальных кабелей, волноводов, МПЛ и др. Их габаритные размеры велики, а задержка мала из-за высокой скорости распростронения электромагнитной волны, близкой к скорости света. Например, для получения задержки в 1 мкс требуется кабель длиной 300 м. Линии задержки на LC- элементах с сосредоточенными параметрами применяют на более низких частотах. Однако, если требуется большая задержка, их габаритные размеры велики. Возможности микроминиатюризации ограничены из-за сложности создания индуктивных элементов и конденсаторов в интегральном исполнении.
В ЛЗ на ПАВ задержка в 1 мкс соответствует длине звукопровода всего 1…2 мм. Используя сложную петлеобразную траекторию распростронения ПАВ, получаемую с помощью отражателей или волноводов, можно увеличить задержку на 1…2 порядка. Самая большая задержка (до 1 мс) реализуется в ЛЗ спиральной конструкции, где относительно толстая подложка имеет закругленные торцы, а ПАВ, направляемая волноводом, движется по спиральной траектории, многократно переходя с одной поверхности подложки на другую (акустический волновод как бы «намотан» на подложку).
Задержка зависит от температуры, что обусловлено температурным расширением кристалла и увеличением скорости ПАВ с ростом температуры. Знак температурного коэффициента может быть как положительным, так и отрицательным в зависимости от того, какой из этих факторов преобладает. Значения температурного коэффициента задержки заключены в интервале 10-5…10-4 0С-1.
Преобразователи ПАВ обладают частотной
изберательностью, а частотная
характеристика ЛЗ имеет максимум на
некоторой частоте f0, типичные
значения которой составляют десятки и
сотни мегагерц. При этом полоса пропускания
может
быть достаточно широкой, вплоть до
.
Помимо перечисленных параметров ЛЗ
характеризуются потерями. Из-за неполного
согласования входного преобразователя
ПАВ с источником электрического сигнала
не вся его энергия преобразуется в
энергию ПАВ. Точно так же на выходе не
вся энергия ПАВ преобразуется в
электрический сигнал. Согласование в
широкой полосе частот представляет
серьезную проблему. Кроме того, излучатель
ПАВ не обладает идеальной направленностью
и часть энергии ПАВ теряется в звукопроводе.
Возникают также потери из-за отражения
ПАВ и др. Потери имеют размерность дБ.
Они увеличиваются с ростом задержки.
Например, при tзд = 1мкс потери
составляют около 2 дБ, а при tзд =
1мс – 40 …50 дБ.
Преобразователи ПАВ. Наибольшее распростронение получили преобразователи ПАВ со встречно-штыревой структурой, вид сверху и поперечный разрез которой показаны на рис. 17 а,б соответственно. Штыри 1 и 2 объединяются шинами 3 и 4, подключенными к источнику электрического

.
На этой частоте шаг совпадает с длиной
акустической волны
и электрический сигнал преобразуется
в ПАВ наиболее эффектно.
Пусть входной сигнал uвх(t) изменяется во времени по гармоническому закону и в данный момент положителен, так что у поверхности кристалла в зазорах между штырями возникают электрические поля, силовые линии которых показаны стрелками на рис.17б. Тангенциальные составляющие векторов напряженности электрического поля в соседних зазорах имеют противоположные направления и вызывают упругие возмущения в кристалле, соответствующие противоположным фазам акустической волны. Условно назавем эти фазы положительными для нечетных зазоров (I, III, …) и отрицательными – для четных (II, IV, …).
Возбуждаемая ПАВ распространяется
вдоль преобразователя. Так как
расстоянияния между соседними зазорами
равны
то через время
где Т – период колебаний, положительная
фаза ПАВ будет под четными зазорами, а
отрицательная - под нечетными. Но за это
время и фаза входного сигнала, а значит,
и направления тангенциальных составляющих
векторов напряженности электрического
поля в зазорах изменяются на противоположные.
Теперь в четных зазорах будет электрическое
поле, возбуждающее ПАВ с положительной
фазой. В результате волна усиливается
по мере прохождения под преобразователем.
Если условие акустического синхронизма
не выполняется, то волна будет затухать.
Для некоторых частот возбуждение ПАВ
вообще невозможно. Например, при
и
время движения фазового фронта между
соседними зазорами равно периоду
колебаний. Через время Т после подачи
входного сигнала в зазорах установятся
электрические поля, фаза которых
противоположна фазе ПАВ, что приведет
к уничтожению первоначально возникших
упругих возмущений.
Преобразователь представляет собой
частотно-избирательный элемент. Его
амплитудно-частотная характеристика
(АЧХ) имеет максимум на чистоте
акустического синхронизма f0. Под
АЧХ входного преобразователя понимают
зависимость амплитуды колебаний ПАВ
от частоты подаваемого электрического
сигнала, а выходного преобразователя
-– зависимость амплитуды выходного
сигнала от частоты ПАВ. Из сказанного
выше следует, что избирательность
увеличивается, а полоса пропускания
(на уровне 0,7 от максимума АЧХ) уменьшается
с ростом числа штырей N. Анализ показывает,
что полоса пропускания может быть
вычислена по формуле
где N>>2.
Если известны скорость распространения
ПАВ, рабочая частота и полоса пропускания,
то можно легко определить необходимый
шаг и число штырей. С ростом частоты
длина волны lак
, а значит, и требуемый шаг уменьшаются.
Максимально достижимая рабочая чистота
определяется разрешающей способностью
применяемой литографии. Обычно ширина
штырей равна зазору между ними. В
предельном случае шаг h = 4
мин,
где
мин– минимальный топологический размер
.
Полагая для фотолитографии
мин= 0,5 мкм, получаем f0 макс= 0,75…1,5
ГГц. Применение субмикронной литографии
позволяет увеличить частоту на порядок.
Площадь, занимаемая преобразователем
на кристалле, увеличивается при снижении
требуемой полосы пропускания из-за
роста числа штырей. Площадь зависит
также от длины перекрытия штырей А. В
случае простейшего преобразователя
длина перекрытия всех штырей одинакова,
однако в более сложных преобразователях
(см. ниже) она может изменяться в
направлении распространения волны.
Максимальное перекрытие А макс ,
т.е. апертура преобразователя, для
снижения потерь из-за разходимо8,сти
луча ПАВ должно быть достаточно большим:
Амакс
,
где L – длина прямолинейного участка
распростронения ПАВ. На расстоянии L
может находиться либо выходной
преобразователь, либо элемент, изменяющий
направление распростронения. Площадь
преобразователя S = Aмакс х 2 Nh
увеличивается при снижении рабочей
частоты. Большая площадь ограничивает
частоту снизу (не менее 1…10 МГц).
