
- •О.С.Агеева, т.Н.Строганова, к.С.Чемезова
- •Предисловие
- •1.Элементы квантовой механики
- •1.1. Гипотеза де Бройля. Корпускулярно-волновой дуализм микрочастиц
- •Опыты Девиссона и Джермера (1927г.)
- •Опыты Тартаковского и Томсона (1928 г.)
- •1.2. Соотношение неопределенностей
- •1.3. Волновая функция
- •1.4. Уравнение Шредингера
- •1.5. Задача квантовой механики о движении свободной частицы
- •1.6. Задача квантовой механики о частице в одномерной прямоугольной потенциальной яме
- •1.7. Понятие о туннельном эффекте.
- •1.8. Атом водорода в квантовой механике. Квантовые числа
- •Состояния электрона в атоме водорода
- •1.9. 1S– состояние электрона в атоме водорода
- •1.10. Спин электрона. Принцип Паули
- •1.11. Спектр атома водорода
- •1.12. Поглощение света, спонтанное и вынужденное излучения
- •1.13. Лазеры
- •1.13.1. Инверсия населенностей
- •1.13.2. Способы создания инверсии населенностей
- •1.13.3. Положительная обратная связь. Резонатор
- •1.13.4. Принципиальная схема лазера.
- •1.14. Уравнение Дирака. Спин.
- •2. Зонная теория твердых тел.
- •2.1. Понятие о квантовых статистиках. Фазовое пространство
- •2.2. Энергетические зоны кристаллов. Металлы. Полупроводники. Диэлектрики
- •Удельное сопротивление твердых тел
- •2.3. Метод эффективной массы
- •3. Металлы
- •3.1. Модель свободных электронов
- •При переходе из вакуума в металл
- •3.2. Распределение электронов проводимости в металле по энергиям. Уровень и энергия Ферми. Вырождение электронного газа в металлах
- •Энергия Ферми и температура вырождения
- •3.3. Понятие о квантовой теории электропроводности металлов
- •3.4. Явление сверхпроводимости. Свойства сверхпроводников. Применение сверхпроводимости
- •3.5. Понятие об эффектах Джозефсона
- •4. Полупроводники
- •4.1. Основные сведения о полупроводниках. Классификация полупроводников
- •4.2. Собственные полупроводники
- •4.3.Примесные полупроводники
- •4.3.1.Электронный полупроводник (полупроводник n-типа)
- •4.3.2. Дырочный полупроводник (полупроводник р-типа)
- •4.3.3.Компенсированный полупроводник. Частично компенсированный полупроводник
- •4.3.4.Элементарная теория примесных состояний. Водородоподобная модель примесного центра
- •4.4. Температурная зависимость удельной проводимости примесных полупроводников
- •4.4.1.Температурная зависимость концентрации носителей заряда
- •4.4.2.Температурная зависимость подвижности носителей заряда
- •4.4.3. Температурная зависимость удельной проводимости полупроводникаn-типа
- •4.4.5. Термисторы и болометры
- •4.5. Рекомбинация неравновесных носителей заряда в полупроводниках
- •4.6. Диффузия носителей заряда.
- •4.6.1. Диффузионная длина
- •4.6.2. Соотношение Эйнштейна между подвижностью и коэффициентом диффузии носителей заряда
- •4.7. Эффект Холла в полупроводниках
- •4.7.1. Возникновение поперечного электрического поля
- •4.7.2. Применение эффекта Холла для исследования полупроводниковых материалов
- •4.7.3. Преобразователи Холла
- •4.8. Магниторезистивный эффект
- •5. Электронно-дырочный переход
- •5.1.Образование электронно-дырочного перехода
- •5.1.1. Электронно-дырочный переход в условиях равновесия (при отсутствии внешнего напряжения)
- •5.1.2.Прямое включение
- •5.1.3.Обратное включение
- •5.2.КласСификация полупроводниковых диодов
- •5.3. Вольт-амперная характеристика электроннно-дырочного перехода. Выпрямительные, детекторные и преобразовательные диоды
- •5.3.1.Уравнение вольт-амперной характеристики
- •Классификация полупроводниковых диодов
- •5.3.2.Принцип действия и назначение выпрямительных, детекторных и преобразовательных диодов
- •5.4. Барьерная емкость. Варикапы
- •5.5.Пробой электронно-дырочного перехода
- •5.6. Туннельный эффект в вырожденном электронно-дырочном переходе. Туннельные и обращенные диоды
- •6.Внутренний фотоэффект в полупроводниках.
- •6.1.Фоторезистивный эффект. Фоторезисторы
- •6.1.1.Воздействие излучения на полупроводник
- •5.1.2.Устройство и характеристики фоторезисторов
- •6.2.Фотоэффект в электронно-дырочном переходе. Полупроводниковые фотодиоды и фотоэлементы.
- •6.2.1.Воздействие света наp-n-переход
- •7.Люминесценция твердых тел
- •7.1.Виды люминесценции
- •7.2.Электролюминесценция кристаллофосфоров
- •7.2.1. Механизм свечения кристаллофосфоров
- •7.2.2. Основные характеристики электролюминесценции кристаллофосфоров
- •7.2.3.Электролюминесцентный источник света
- •7.3.Инжекционная электролюминесценция. Устройство и характеристики светодиодных структур
- •7.3.1.Возникновение излучения в диодной структуре
- •7.3.2.Конструкция светодиода
- •7.3.3.Основные характеристики светодиодов
- •7.3.4.Некоторые применения светодиодов
- •7.4 Понятие об инжекционных лазерах
- •8. Транзисторы
- •8.1.Назначение и виды транзисторов
- •8.2.Биполярные транзисторы
- •8.2.1 Структура и режимы работы биполярного транзистора
- •8.2.2.Схемы включения биполярных транзисторов
- •8.2.3.Физические процессы в транзисторе
- •8.3.Полевые транзисторы
- •8.3.1.Разновидности полевых транзисторов
- •8.3.2.Полевые транзисторы с управляющим переходом
- •8.3.3. Полевые транзисторы с изолированным затвором. Структуры мдп-транзисторов
- •8.3.4.Принцип действия мдп-транзисторов с индуцированным каналом
- •8.3.5. Мдп-транзисторы со встроенным каналом
- •8.4. Сравнение полевых транзисторов с биполярными
- •Заключение
- •1.Элементы квантовой механики 4
- •2. Зонная теория твердых тел. 42
- •3. Металлы 50
- •4. Полупроводники 65
- •5. Электронно-дырочный переход 97
- •6.Внутренний фотоэффект в полупроводниках. 108
- •7.Люминесценция твердых тел 113
- •8. Транзисторы 123
1.7. Понятие о туннельном эффекте.
Туннельным эффектом называют прохождение частиц сквозь потенциальный барьер за счет волновых свойств частиц.
Пусть частица, движущаяся слева направо, встречает на своем пути потенциальный барьер высотой U0 и шириной l. По классическим представлениям частица беспрепятственно проходит над барьером, если ее энергия E больше высоты барьера (E>U0). Если же энергия частицы меньше высоты барьера (E<U0), то частица отражается от барьера и начинает двигаться в обратную сторону, сквозь барьер частица проникнуть не может.
Вквантовой механике учитываются волновые
свойства частиц. Для волны левая
стенка барьера – это граница двух сред,
на которой волна делится на две волны
– отраженную и преломленную.Поэтому
даже при E>U0
возможно (хотя и с
небольшой вероятностью) отражение
частицы от барьера, а при E<U0
имеется отличная от нуля вероятность
того, что частица окажется по другую
сторону потенциального барьера. В этом
случае частица как бы «прошла сквозь
туннель».
Решим задачу о прохождении частицы сквозь потенциальный барьердля наиболее простого случая одномерного прямоугольного барьера, изображенного на рис.1.6. Форма барьера задается функцией
. (1.7.1)
Запишем уравнение Шредингера для каждой из областей: 1(x<0), 2(0<x<l) и 3(x>l):
;
(1.7.2)
; (1.7.3)
. (1.7.4)
Обозначим
(1.7.5)
и
. (1.7.6)
Общие решения уравнений (1), (2), (3) для каждой из областей имеют вид:
; (1.7.7)
; (1.7.8)
. (1.7.9)
Решение
вида
соответствует волне,
распространяющейся в направлении оси
x,
а
волне, распространяющейся в противоположном
направлении. В области 1 слагаемое
описывает волну, падающую на барьер, а
слагаемое
волну, отраженную от барьера. В области
3 (справа от барьера) имеется только
волна, распространяющаяся в направлении
x,
поэтому
.
Волновая функция должна удовлетворять условию непрерывности, поэтому решения (6),(7),(8) на границах потенциального барьера необходимо «сшить». Для этого приравниваем волновые функции и их производные при x=0 и x = l:
;
;
;
. (1.7.10)
Используя (1.7.7) - (1.7.10), получимчетыреуравнения для определенияпятикоэффициентовА1 , А2, А3, В1 и В2:
А1+В1=А2+В2 ;
А2еxp( l) + В2еxp(- l)= А3еxp(ikl) ;
ik(А1– В1) = (А2–В2); (1.7.11)
(А2еxp(l)–В2еxp(-l) = ik А3еxp(ikl).
Чтобы получить пятое соотношение, введем понятия коэффициентов отражения и прозрачности барьера.
Коэффициентом отраженияназовем отношение
, (1.7.12)
которое определяет вероятностьотражения частицы от барьера.
Коэффициент прозрачности
(1.7.13)
дает вероятность того, что частица пройдетчерез барьер. Так как частица либо отразится, либо пройдет через барьер, то сумма этих вероятностей равна единице. Тогда
R+D =1; (1.7.14)
или
. (1.7.15)
Это и есть пятоесоотношение, замыкающее систему (1.7.11), из которой находятся всепятькоэффициентов.
Наибольший интерес представляет коэффициент прозрачностиD. После преобразований получим
,
(7.1.16)
где D0 – величина, близкая к единице.
Из (1.7.16) видно, что прозрачность барьера сильно зависит от его ширины l, от того, на сколько высота барьераU0превышает энергию частицыE, а также от массы частицыm.
Склассической точки зрения прохождение
частицы сквозь потенциальный барьер
приE<U0
противоречит закону сохранения энергии.
Дело в том, что если классическая частица
находилась бы в какой-то точке в области
барьера (область 2 на рис. 1.7), то ее полная
энергия оказалась бы меньше потенциальной
энергии (а кинетическая – отрицательной!?).
С квантовой точки зрения такого
противоречия нет. Если частица движется
к барьеру, то до столкновения с ним она
имеет вполне определенную энергию.
Пусть взаимодействие с барьером длится
время t,
тогда, согласно соотношению
неопределенностей, энергия частицы уже
не будет определенной; неопределенность
энергии
.
Когда эта неопределенность оказывается
порядка высоты барьера, он перестает
быть для частица непреодолимым
препятствием, и частица пройдет сквозь
него.
Прозрачность барьера резко убывает с его шириной (см. табл. 1.1.). Поэтому частицы могут проходить за счет туннельного механизма лишь очень узкие потенциальные барьеры.
Таблица 1.1
Значения коэффициента прозрачности для электрона при (U0 – E) = 5 эВ = const
l, нм |
0,10 |
0,15 |
0,20 |
0,50 |
1,00 |
D |
0,1 |
0,03 |
0,008 |
5.10-7 |
1,4.10-12 |
Мы рассмотрели барьер прямоугольной формы. В случае потенциального барьера произвольной формы, например такой, как показано на рис.1.7, коэффициент прозрачности имеет вид
. (1.7.17)
Туннельный эффект проявляется в ряде физических явлений и имеет важные практические приложения. Приведем некоторые примеры.
1. Автоэлектронная (холодная) эмиссия электронов.
В1922 г. было открыто явление холодной
электронной эмиссии из металлов под
действием сильного внешнего электрического
поля. График зависимости потенциальной
энергииUэлектрона
от координатыxизображен на рис. Приx
< 0 – область металла, в котором
электроны могут двигаться почти свободно.
Здесь потенциальную энергию можно
считать постоянной. На границе металла
возникает потенциальная стенка, не
позволяющая электрону покинуть металл,
он может это сделать, лишь приобретя
добавочную энергию, равную работе выходаA.За пределами
металла (приx >0) энергия свободных электронов не
меняется, поэтому приx>
0 графикU(x)идет горизонтально. Создадим теперь
вблизи металла сильное электрическое
поле. Для этого возьмем металлический
образец в форме острой иглы и подсоединим
его к отрицательному полюсу источни
Рис. 1.9 Принцип действия туннельного
микроскопа
ка напряжения, (он будет катодом); поблизости расположим другой электрод (анод), к которому присоединим положительный полюс источника. При достаточно большой разности потенциалов между анодом и катодом можно создать вблизи катода электрическое поле с напряженностью порядка 108В/м. Потенциальный барьер на границе металл – вакуум становится узким, электроны просачиваются сквозь него и выходят из металла.
Автоэлектронная эмиссия использовалась для создания электронных ламп с холодными катодами (сейчас они практически вышли из употребления), в настоящее время она нашла применение в туннельных микроскопах, изобретенных в 1985 г. Дж. Биннингом, Г. Рорером и Э. Руска.
В туннельном микроскопе вдоль исследуемой поверхности перемещается зонд - тонкая игла. Игла сканирует исследуемую поверхность, находясь так близко от нее, что электроны из электронных оболочек (электронных облаков) поверхностных атомов за счет волновых свойств могут попасть на иглу. Для этого на иглу подаем “плюс” от источника, а на исследуемый образец - “минус”. Туннельный ток пропорционален коэффициенту прозрачности потенциального барьера между иглой и поверхностью, который согласно формуле (1.7.16) зависит от ширины барьера l. При сканировании иглой поверхности образца туннельный ток изменяется в зависимости от расстоянияl, повторяя профиль поверхности. Прецизионные перемещения иглы на малые расстояния осуществляют с помощью пьезоэффекта, для этого закрепляют иглу на кварцевой пластине, которая расширяется или сжимается, когда к ней прикладывается электрическое напряжение. Современные технологии позволяют изготовить иглу столь тонкую, что на ее конце располагается один единственный атом.
Изображение
формируется на экране дисплея ЭВМ.
Разрешение туннельного микроскопа так
высоко, что позволяет “увидеть”
расположение отдельных атомов. На
рис.1.10 приведено в качестве примера
изображение атомной поверхности кремния.
2. Альфа-радиоактивность (– распад). В этом явлении происходит спонтанное превращение радиоактивных ядер, в результате которого одно ядро (его называют материнским) испускает– частицу и превращается в новое (дочернее) ядро с зарядом, меньшим на 2 единицы. Напомним, что– частица (ядро атома гелия) состоит из двух протонов и двух нейтронов.
Если
считать, что- частица
существует как единое образование
внутри ядра, то график зависимости ее
потенциальной энергии от координаты в
поле радиоактивного ядра имеет вид,
показанный на рис.1.11. Он определяется
энергией сильного (ядерного) взаимодействия,
обусловленного притяжением нуклонов
друг к другу, и энергией кулоновского
взаимодействия (электростатического
отталкивания протонов).
В результате - частица в ядре, имеющая энергиюЕ, находится за потенциальным барьером. Вследствие ее волновых свойств есть некоторая вероятность того, что- частица окажется за пределами ядра.
3. Туннельный эффект в p-n - переходеиспользуется в двух классах полупроводниковых приборов:туннельныхиобращенных диодах. Особенностью туннельных диодов является наличие падающего участка на прямой ветви вольт-амперной характеристики - участка с отрицательным дифференциальным сопротивлением. В обращенных диодах наиболее интересным является то,что при обратном включении сопротивление оказывается меньше, чем при обратном включении. Подробнее о туннельных и обращенных диодах см. раздел 5.6.