Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
teoriya-polupr-lazerov.pdf
Скачиваний:
31
Добавлен:
12.02.2016
Размер:
1.23 Mб
Скачать

8

лях на одномодовых гетеролазерах, ориентированные на исследование особенностей установления режима стационарной генерации в них, выяснение условий формирования предельно коротких оптических сигналов.

Для сложной динамики излучения инжекционных лазеров характерны следующие явления: жесткое самовозбуждение; гистерезис ватт-амперной характеристики; автомодуляция интенсивности излучения; генерирование одиночных импульсов когерентного излучения с временами нарастания и затухания не более 0.1 нс; испускание регулярной последовательности коротких импульсов излучения при синхронизации жесткого возбуждения лазера малым по величине периодическим сигналом; самосинхронизация продольных мод; конкуренция типов колебаний.

1.1.Спектральные свойства полупроводниковых кристаллов

Плотность квантовых состояний электронов в зоне проводимости в приближении изотропного параболического закона дисперсии записывается в виде

ρc(E) = 2 Z Z Z

d3ke

δ Ec0

 

~2ke2

E =

(2mc)3/2

1/2

 

 

 

+

 

 

(E Ec0)

 

.

(1.1)

(2π)3

2mc

2π2~3

 

Здесь E – энергия электронов, Ec0 – энергия дна зоны проводимости, ke

– волновой вектор электрона, mc – эффективная масса электрона, d3ke dkexdkeydkez. Множитель 2 учитывает две возможные ориентации спина. Интегрирование (1.1) по всем энергиям электронов с учетом заполнения квантовых состояний в приближении квазиравновесия дает для полной плотности электронов значение

 

ZEc0

 

c

e

 

 

c

 

1/2

 

 

kT

 

 

n =

ρ

(E) f

(E)dE = N

Φ

 

 

Fe Ec0

.

(1.2)

 

 

 

 

 

 

 

Здесь

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

f

 

(E) = 1 + exp

 

E Fe

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

e

 

 

 

kT

 

 

 

– функция Ферми-Дирака для электронов, Fe – квазиуровень Ферми для электронов, T – температура, k – постоянная Больцмана,

Nc = 2

(2π~)2

 

3/2

 

2πmckT

 

 

– эффективная плотность состояний в зоне проводимости,

2

x1/2dx

Φ1/2(ξ) =

 

Z0

 

 

π

1 + exp(x ξ)

9

– интеграл Ферми с индексом 1/2.

Рассматривая подзоны легких и тяжелых дырок в валентной зоне, получаем аналогичные выражения для плотности квантовых состояний:

ρvi(E) =

(2mvi)3/2

 

2~3 (Ev0 E)1/2 ,

(1.3)

где индекс i = h,l относится к тяжелым и легким дыркам, Ev0 – энергия потолка валентной зоны. Плотность дырок p записывается в виде

p = å

Ev0 ρv(E) fh(E)dE = å NviΦ1/2

Ev0 Fh

.

(1.4)

kT

i=h,l

Z

 

i=h,l

 

 

 

 

Здесь

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

f

(E) = 1 + exp

 

Fh E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

kT

 

 

 

 

 

 

h

 

 

 

 

 

– функция Ферми-Дирака для дырок, Fh – квазиуровень Ферми для дырок,

Nvi = 2

mvikT

 

3/2

 

 

 

(~)2

 

– эффективная плотность состояний в валентной зоне.

Взаимодействие электрона с электромагнитным полем описывается

оператором

e

 

 

 

ˆ

~

 

HEM = −m0c

(Apˆ ).

(1.5)

~

 

 

 

– оператор им-

Здесь A – векторный потенциал электромагнитного поля, pˆ

пульса. Рассмотрим плоскую электромагнитную волну, распространяющу-

~

~

~

~

юся в полупроводнике: E = ξEm sin(wt kp~r), где Em – амплитуда, kp – вол-

новой вектор, ~ξ – единичный вектор поляризации излучения, ~r – радиусвектор, задающий координаты. Тогда имеет место следующее соотношение:

~

~

~

A = (c/w)ξEm cos(wt kp~r). Согласно "золотому"правилу Ферми, вероят-

ность перехода электрона из состояния i в зоне проводимости в состояние f в валентной зоне в единицу времени ω f i под действием периодического

возмущения ˆ iwt равна

V e

ω f i =

<ψ f |Vˆ |ψi > 2 δ(Ei E f −~w),

(1.6)

~

 

где Ei и E f – энергии состояний

зоны проводимости

и валентной зоны со-

ответственно. Представляя векторный потенциал электромагнитного поля как

 

1

ei(wtk~p~r) + ei(wtk~p~r) ,

~A =

2w~ξEm

10

получаем

 

 

 

πe2E2

 

 

 

~

 

 

2

 

 

 

 

 

 

ω

f i

=

 

<ψ

f |

eikp~r~ξpˆ

|

 

δ(Ei

E

f −~

w).

(1.7)

2~m02w2

 

 

m

 

 

 

ψi >

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Вероятность обратных ωi f переходов из валентной зоны в зону проводимости отличается знаком перед ~w в дельта-функции.

1.1.1.Модель с выполнением правила отбора по волновому вектору

Используя блоховское представление волновых функций

ψ = r

V0

eikr~~ u(~r),

(1.8)

 

V

 

где функция u(~r) нормирована на 1 в объеме элементарной ячейки V0, V – объем полупроводника, преобразуем матричный элемент в (1.7):

<ψ f |eik~p~r~ξpˆ |ψi > 2

=

 

 

2

 

 

 

 

=

 

 

 

 

V

 

 

 

 

 

 

 

 

V

 

 

 

 

 

 

 

 

rV0 eik~ h~ru f

(~r) ·eik~p~r~ξpˆ ·rV0 eik~ e~rui(~r) dV

 

 

 

Z

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

(1.9)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

~

 

 

·Z

1

 

i(~ke ~kh ~kp)~r

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

u f (~r)ξpuˆ

i(~r) dV

 

 

e

− −

dV

 

 

 

 

 

 

V

 

 

 

 

 

 

Z

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

V0

 

 

 

 

 

V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(2π)

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

≈ |M~ cv| ·

 

 

 

δ(~ke ~kh ~kp).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

V

 

 

 

 

 

 

 

~

2

=

1

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Здесь |Mcv|

 

3

|~pcv| – усредненный квадрат матричного элемента зона-

зонных переходов. Для активного слоя из GaAs — типичного соединения AIII BV , значение |~pcv|2 приблизительно рассчитывается как

2

 

m02Eg

 

|~pcv|

 

,

2mc

где Eg = Ec0 Ev0 – ширина запрещенной зоны, m0 – масса электрона. Вви-

ду малости величины волнового вектора фотона~ по сравнению с вектором kp

обратной решетки и со средними значениями волновых векторов электро-

~

~

нов ke и дырок kh, вероятность переходов практически отлична от нуля толь-

~

~

ко в случае ke = kh, т.е. выполняется правило отбора по волновому вектору.

ω~w.

11

Интегрирование (1.7) по всем состояниям зоны проводимости и валентной зоны c учетом сохранения спина для полной вероятности переходов ω дает

 

 

ω

 

 

 

πe2Em2

 

 

 

1

 

2V

 

Z Z Z

 

d3ke

 

 

 

 

Z Z Z

d3kh

 

δ(Ec

 

Ev

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

·

 

 

·

 

 

 

·i=h,l

 

 

 

·

×

 

 

 

2~m0w

2

 

2

(2π)

(2π)

 

 

=

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

 

å 2V

3

 

 

 

 

~w)

 

 

×|M~ cv| ·

 

V

 

δ(~ke ~kh) ·

(fe

Ec0

+

2mc !+ fh Ev0

2mvi !1) =

 

 

 

2

(2π)3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

~2ke2

 

 

 

 

 

 

~2kh2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

V πe2Em2

 

 

 

 

~

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

å |Mcv

| ρri(~w) {fe(Eci) + fh(Evi) −1},

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

~

m2w2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

i=h,l

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(1.10)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(2mri)3/2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где ρri(~w) =

 

 

 

1/2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(~w Eg)

 

 

— приведенная плотность состояний,

 

 

 

 

 

2π2~3

 

 

 

 

1

=

 

1

+

1

 

 

 

 

— приведенная эффективная масса,

 

 

 

 

 

 

 

 

mri

 

mvi

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

mc

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

mri

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

mri

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Eci = Ec0 +

 

(~w Eg) ,

Evi = Ev0

 

(~w Eg) .

 

 

 

 

 

 

 

mc

mvi

 

 

 

Так как плотность энергии плоской электромагнитной волны

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

εε0E2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

u =

 

 

 

m

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где ε0 – электрическая постоянная вакуума, ε – относительная диэлектрическая постоянная, то с помощью (1.10) можно найти коэффициент усиления K:

K =

vVu

Здесь v – групповая скорость света в кристалле. Используя коэффициент Эйнштейна

 

Acv =

e2~w

~

2

 

 

 

 

 

 

|Mcv|

 

πε0m02~2c2v

 

и плотность мод электромагнитного поля в кристалле

 

ρ(~w) = 2 Z Z Z

d3kp

 

 

(~w)2

 

 

δ (v~kp −~w) =

 

,

 

(2π)3

π2~3v3

 

получаем окончательное выражение для коэффициента усиления K [1]:

 

A

å ρri(~w) {fe(Eci) + fh(Evi) −1}.

 

K(~w) =

cv

 

(1.11)

( w)

~

 

i=h,l

 

 

 

 

 

На рис.1.1а показана зависимость коэффициента усиления K от энергии световых квантов ~w при различных уровнях возбуждения активной области, определяемых разностью квазиуровней Ферми для электронов Fe и

12

(а)

(б)

Рис. 1.1. Спектр усиления K(~w) в компенсированном GaAs при различных уровнях возбуждения (а). Зависимость длины волны излучения в максимуме коэффициента усиления от концентрации неосновных носителей при различных степенях легирования (б). Na – концентрация акцепторов, Nd – концентрация доноров в активной области, n + Na = p + Nd .

дырок Fh. При выполнении равенства ~w = Fe Fh коэффициент усиления равен нулю. Длина волны λ = 2πc/w, на которой коэффициент усиления имеет максимальное значение, уменьшается с увеличением уровня возбуждения (рис.1.1б). На фиксированной длине волны излучения коэффициент усиления испытывает насыщение, т.е. его рост с увеличением концентрации носителей n замедляется (рис.1.2а). Учет этого эффекта необходим при рассмотрении динамики генерации в сложных лазерных системах, например, в двухсекционном диоде. Зависимость усиления в максимуме спектра от концентрации носителей близка к линейной (рис.1.2б).

Как известно, между вероятностями спонтанных и вынужденных переходов существует связь

wsp f i kp

=

w f i

.

(1.12)

Np

 

 

 

 

Выражая число фотонов в моде как Np = Vu

и интегрируя (1.12) по всем

 

 

~w

 

состояниям зоны проводимости и валентной зоны с учетом их заполнения, а также по всем состояниям фотонов, находим скорость спонтанных переходов

rsp(~w) = Acv å ρri(~w) fe(Eci) fh(Evi).

(1.13)

i=h,l

 

На рис.1.3а приведены спектры спонтанного испускания при различных уровнях возбуждения. Чтобы получить скорость спонтанной рекомбинации Rsp, необходимо проинтегрировать (1.13) по всем энергиям испуска-

13

(а)

(б)

Рис. 1.2. Зависимость коэффициента усиления в компенсированном GaAs от концентрации носителей на различных длинах волн (а). Жирной линией показана огибающая максимального усиления. Зависимость коэффициента усиления в максимуме спектра от концентрации неосновных носителей при различных степенях легирования (б).

(а)

(б)

Рис. 1.3. Спектр спонтанного испускания rsp при различных уровнях возбуждения в компенсированном GaAs (а). Зависимость скорости спонтанной рекомбинации Rsp от концентрации неосновных носителей (б).

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]