Дипломы2 / Диплом(мои наработки) / Методика расчета надежности

Коэффициенты разделены на две группы:

1. коэффициенты общие для всех типов изделий, характеризует режимы и условия из применения, Ур-нь качества производства.

2. включается в модели конкретных типов ЭРИ и характеризует конструкционные, функциональные и технологические особенности.

Коэффициент режима Кр – для пересчета исходной интенсивности отказов к требуемым режимам применения ЭРИ в аппаратуре.

Коэффициент приемки Кпр – отражает Ур-ни качества изготовления изделий с приемкой 5 и с приемкой. Для изделий с приемкой 5 принято значение Кпр=1.

Коэффициент эксплуатации Кэ показывает во сколько раз условия эксплуатации в требуемой аппаратуре жестче чем в аппаратуре гр. 1.1. (для этой группы Кпр=1)

Общие коэффициенты моделей:

Кр (Кт) – коэффициент режима. Величина электрической нагрузки и температура ОС

Ка – коэффициент качества производства аппаратуры. Ур-нь требований к разработке и изготовлению H”F/

Ку – коэффициент роста надежности – предполагаемое снижение интенсивности отказов за счет проведения мероприятий по повышению надежности.

Кии – коэффициент ионизирующих излучений. Степень жесткости внешних ионизирующих излучений.

Интегральные микросхемы:

Кст – сложность ИС и тем-ра Ос

Кv – снижение электрической нагрузки по напряжению

Ккорп – тип корпуса

Кис – степень освоенности технологий пр-ва.

Полупроводниковые приборы:

Кф – функциональное назначение прибора

Кд.н – максимально допустимая нагрузка по мощности рассеяния

Кs1 – отношение рабочего напряжения к максимально-допустимому по ТУ

Кf – частота и мощность в импульсе СВЧ транзистора

Конденсаторы:

Кс- величина емкости

Кпс – величина последовательно включенного с оксидно-полупроводниковым конденсатором активного сопротивления.

Резисторы:

Кr – величина оммиченского сопротивления

Км – величина номинальной мощности

Кs1 – отношение рабочего напряжения к максимально допустимому по ТУ

Ксл – количество элементов в схеме для резисторных микросхем

Кстаб – точность изготовления (допуск)

Корп- вид корпуса резисторных микросхем

Кис – степень освоенности технологий изготовления.

Коммутационные изделия:

Ккк – количество задействованных контактов

Кf – количество коммутаций в час

Соединители:

Ккк - количество задействованных контактов

Ккс – количество сочленений – расчленений в течении всего времени эксплуатации.