Дипломы / Андрей / Методика расчета надежности

Коэффициенты разделены на две группы:

1. коэффициенты общие для всех типов изделий, характеризует режимы и условия из применения, уровень качества производства.

2. включается в модели конкретных типов ЭРИ и характеризует конструкционные, функциональные и технологические особенности.

Коэффициент режима Кр – для пересчета исходной интенсивности отказов к требуемым режимам применения ЭРИ в аппаратуре.

Коэффициент приемки Кпр – отражает Ур-ни качества изготовления изделий с приемкой 5 и с приемкой. Для изделий с приемкой 5 принято значение Кпр=1.

Коэффициент эксплуатации Кэ показывает во сколько раз условия эксплуатации в требуемой аппаратуре жестче чем в аппаратуре гр. 1.1. (для этой группы Кпр=1)

Общие коэффициенты моделей:

Кр (Кт) – коэффициент режима. Величина электрической нагрузки и температура ОС

Ка – коэффициент качества производства аппаратуры. Уровень требований к разработке и изготовлению H”F/

Ку – коэффициент роста надежности – предполагаемое снижение интенсивности отказов за счет проведения мероприятий по повышению надежности.

Кии – коэффициент ионизирующих излучений. Степень жесткости внешних ионизирующих излучений.

Интегральные микросхемы:

Кст – сложность ИС и тем-ра Ос

Кv – снижение электрической нагрузки по напряжению

Ккорп – тип корпуса

Кис – степень освоенности технологий пр-ва.

Полупроводниковые приборы:

Кф – функциональное назначение прибора

Кд.н – максимально допустимая нагрузка по мощности рассеяния

Кs1 – отношение рабочего напряжения к максимально-допустимому по ТУ

Кf – частота и мощность в импульсе СВЧ транзистора

Конденсаторы:

Кс- величина емкости

Кпс – величина последовательно включенного с оксидно-полупроводниковым конденсатором активного сопротивления.

Резисторы:

Кr – величина оммиченского сопротивления

Км – величина номинальной мощности

Кs1 – отношение рабочего напряжения к максимально допустимому по ТУ

Ксл – количество элементов в схеме для резисторных микросхем

Кстаб – точность изготовления (допуск)

Корп- вид корпуса резисторных микросхем

Кис – степень освоенности технологий изготовления.

Коммутационные изделия:

Ккк – количество задействованных контактов

Кf – количество коммутаций в час

Соединители:

Ккк - количество задействованных контактов

Ккс – количество сочленений – расчленений в течении всего времени эксплуатации.

Расчет надежности блока ИП/АСВК.

Расчет интенсивностей отказов ЭРИ отечественного производства проведен в соответствии с методикой и рекомендациями по расчету надежности ЭРИ, изложенными в Справочниках [1,2].

Эксплуатационные интенсивности отказов э ЭРИ рассчитаны по математическим моделям следующего вида:

э = _б Кр_i=1^nКi ; э = _б.с.г. Кр_i=1ⁿ Кi ;

или

э = _б_i=1ⁿ Кi ; э = _б.с.г. _i=1ⁿ Кi ;

где

_б(_б.с.г.) – исходная интенсивность отказов типа ( группы) ЭРИ, приведенная к номинальной электрической нагрузке при температуре окружающей среды t= 25^оС;

_б (_б.с.г.) – исходная интенсивность отказов типа (группы) ЭРИ для усредненных режимов применения в аппаратуре группы 1.1 (аппаратура стационарных помещений, сооружений).

Кр – коэффициент режима для пересчета исходной интенсивности отказов к требуемым режимам применения ЭРИ в аппаратуре.

Кпр - коэффициент приемки отражает Ур-ни качества изготовления изделий с приемкой 5 и с приемкой. Для изделий с приемкой 5 принято значение Кпр=1.

Кэ - коэффициент эксплуатации показывает во сколько раз условия эксплуатации в требуемой аппаратуре жестче чем в аппаратуре гр. 1.1. (для этой группы Кпр=1).

Кст – учитывает сложность интегральной схемы и температуры окружающей среды.

Кs1 – определяется отношением рабочего напряжения полупроводникового прибора к максимально-допустимому напряжению по ТУ.

Кд.н – определяется максимально допустимой нагрузкой полупроводникового прибора по мощности рассеяния.

Кс – определяется величиной емкости конденсатора.

Кпс – определяется величиной последовательно включенного с оксидно-полупроводниковым конденсатором активного сопротивления.

Ккк - определяется количеством задействованных контактов соединителя.

Ккс – определяется количеством сочленений – расчленений соединителя в течении всего времени эксплуатации

n - число учитываемых факторов.