Отличия в проектировании аналоговых сф-блоков и заказных сбис.
Разработка
аналоговых СФ-блоков для «систем на
кристалле» имеет много общих этапов с
разработкой обычных аналоговых микросхем.
Так, маршрут проектирования основывается
на анализе завершенных ранее проектов,
и решающую роль в принятии решений имеет
расчет-прогноз параметров устройства.
Самый трудный этап – это совместная
параметрическая оптимизация электрической
схемы и топологии.
Существует ряд
принципиальных отличий маршрута
проектирования СФ-блоков от маршрута
проектирования заказных микросхем:
-
Нет возможности
выбора технологии. Наоборот, СФ-блок
разрабатывается под заданный техпроцесс.
-
Поскольку реальное
окружение СФ-блока в составе СНК будет
меняться, то невозможно подготовить
реальную модель помех. Необходимо
обеспечить запас помехоустойчивости.
-
Так как
производственной основой СНК являются
КМОП-техпроцессы с субмикронными
размерами, то разброс параметров
элементов резко увеличивается.
-
Статистическое
моделирование блока с учетом разброса
технологических параметров становится
обязательным этапом.
-
Еще одним
обязательным этапом является разработка
поведенческой модели с использованием
языка высокого уровня (Verilog-AMS,
VHDL).
-
Аттестация СФ-блока
и измерение его параметров в условиях,
близких к условиям на кристалле СНК,
требуют разработки специального
тестового кристалла со встроенными
средствами контроля.
18
