
- •Лекция 4 Короткоканальные эффекты в мопт
- •4.3. Универсальная зависимость подвижности от эффективного электрического поля
- •4.4. Повышение подвижности с использованием технологии напряженного кремния
- •4.5. Короткоканальные эффекты в моп транзисторах и электростатическое качество
- •4.6. Оптимизация структуры истоков и стоков
- •4.7. Моделирование выходного сопротивления мопт
- •Литература:
- •Задание для срс
- •Вопросы для самопроверки
Лекция 4 Короткоканальные эффекты в мопт
План лекции
4.1. Эффективное прижимающее поле
4.2. Механизмы рассеяния носителей в канале
4.3. Универсальная зависимость подвижности от эффективного электрического поля
4.4. Повышение подвижности с использованием технологии напряженного кремния
4.5. Короткоканальные эффекты в МОП транзисторах и электростатическое качество
4.6. Оптимизация структуры истоков и стоков
4.7. Моделирование выходного сопротивления МОПТ
Для адекватности описания тока стока короткоканальных МОПТ необходимо учитывать также следующие факторы: деградацию подвижности носителей при воздействии сильного вертикального поля, влияние объемного заряда стока, неравномерное легирование канала, последовательное сопротивление истока и стока, эффекты горячих носителей.
4.1. Эффективное прижимающее поле
Эффективное
поперечное прижимающее поле
представляет собой среднюю напряженность
электрического поля, действующего на
носители в инверсионном слое (канале):
.
Из закона Гаусса
,
где
− заряд в обедненной области.
Отсюда находим:
Таким образом,
.(4.1.1)
4.2. Механизмы рассеяния носителей в канале
Физические
процессы, ответственные за зависимость
подвижности от
,
определяются, главным образом, тремя механизмами рассеяния: на заряженных центрах (кулоновское рассеяние), на фононах и на шероховатостях поверхности.
Значение
подвижности
,
связанной с кулоновским рассеянием,
определяется плотностью носителей в
инверсионном слое. В подпороговом режиме
величина
пропорциональна поверхностной
концентрации
и уменьшается с ростомNA
в диапазоне
см-3.
При концентрациях в подложке NA
<
см-3,
величина
определяется другими заряженными
центрами − заряженными поверхностными
состояниями и ловушками в окисле,
действие которых в обычных условиях
проявляется слабо. Однако их действие
усиливается, например, если происходит
инжекция горячих носителей в подзатворный
окисел.
Важно иметь ввиду, что механизм рассеяния на кулоновских центрах существенен только в том случае, если плотность электронов в канале мала. В надпороговом режиме потенциал заряженных примесей эффективно экранируется свободными носителями в канале, и роль рассеяния на примесях существенно уменьшается.
Рассеяние
на колебаниях решетки (фононах) зависит
от концентрации
фононов (NphonТ)
и
усиливается
с ростом температуры.
В отличие от кулоновского механизма,
рассеяние на фононах слабо зависит от
величины прижимающего электрического
поля и плотности носителей в канале и
одинаково проявляет себя как в
надпороговом, так и в подпороговом
режиме работы транзистора.
В надпороговом режиме (VGS >VT) доминирующим становится механизм рассеяния на шероховатостях поверхности. Идеальная поверхность (или граница раздела) отражает электроны зеркальным образом и не вносит вклад в рассеяние. Реальная поверхность раздела кремния с окислом имеет несовершенства («шероховатости»), которые обусловливают случайный характер рассеяния носителей, что приводит к «трению» системы носителей в канале о границу раздела. Рассеяние на шероховатости поверхности, возрастает с увеличением прижимающего электрического поля в канале.