
- •Общие понятия и определения ис
- •Основные разновидности систем измерения независимых входных величин
- •Обозначения функциональных блоков и преобразований в ис
- •Многоточечные ис с резистивными датчиками
- •Мультиплицированные ис
- •Сканирующие системы для расшифровки графиков
- •Акустическая система для измерения координат графических изображении
- •Голографические измерительные системы
- •Системы для раздельного измерения взаимосвязанных величин с выделением нужного компонента
- •Многомерные ис с раздельным измерением зависимых величин по методу составления и решения системы уравнений
- •Многомерные ис с раздельным измерением зависимых величин по методу моделей
- •Аппроксимирующие ис
- •Примеры реализации аис
- •Особенности измерения статистических характеристик случайных процессов
- •Cистемы для измерения законов распределения вероятностей случайных процессов
- •Корреляционные измерительные системы. Основные определения. Методические погрешности
- •Корреляционные ис с последовательным измерением коэффициентов корреляции
- •Корреляционные ис с параллельным и параллельно-последовательным измерением коэффициентов корреляции
- •Корреляционные ис с измерением коэффициентов многочлена, аппроксимирующего корреляционную функцию
- •Методы измерения спектральной плотности случайных процессов
- •Измерительный канал измерительной системы.
- •Метрологические характеристики средств измерений, подлежащие нормированию
- •Общие положения
- •Характеристики погрешности средств измерений
- •Характеристики преобразования измеряемой величины и сигналов измерительной информации
- •Характеристики взаимодействия с объектом и внешними средствами измерений
- •Метрологические характеристики измерительных приборов
- •Метрологические характеристики аналоговых измерительных приборов
- •Метрологические характеристики цифровых измерительных приборов
- •Метрологические характеристики аналоговых измерительных преобразователей
- •Метрологические характеристики аналого-цифровых и цифроаналоговых измерительных преобразователей
- •Метрологические характеристики однозначных и многозначных мер
- •Государственное управление обеспечением единства измерений
- •Метрологические организации
- •Государственные научные метрологические центры России
- •Международные метрологические организации
- •Передача размеров единиц величин рабочим средствам измерений от государственных эталонов
- •Метрологическое обеспечение разработки, производства и применения средств измерений
Методы измерения спектральной плотности случайных процессов
Рис. 14.28. Схема многоканального фильтрового спектрального анализатора
Существующие
методы спектрального анализа основываются
на применении частотных фильтров или
на использовании ортогональных
преобразований случайного процесса и
преобразований Фурье над известной
корреляционной функцией Rx(t).
При параллельном фильтровом анализе
(рис. 14.28) наибольшее применение
получили полосовые избирательные
фильтры-резонаторы. На выходе каждого
фильтра, пропускающего узкую полосу
частот ωф,
после возведения в квадрат и интегрирования
получается составляющая спектра
,
гдеA(ωф)
– частотная характеристика фильтра.
Рис. 14.29. Схема спектральных измерительных систем с перестраиваемыми фильтром (а) и гетеродином (б)
При последовательном анализе используются перестраиваемые фильтры и гетеродинные анализаторы (рис. 14.29). Гетеродинные анализаторы находят большее применение, так как они проще в технической реализации. В них с помощью генератора периодических колебаний с перестраиваемой частотой – гетеродина – происходят последовательный сдвиг частотного спектра исследуемой величины и выделение из него с помощью полосового (обычно резонансного) фильтра составляющих энергетического спектра.
Применяются также анализаторы последовательно-параллельного принципа действия.
Разрешающая способность фильтровых анализаторов определяется наименьшим частотным интервалом Δf в пределах которого смежные компоненты спектра различимы, и, который зависит обычно от полосы пропускания избирательного фильтра, взятой на уровне 0,7 максимального значения его амплитудно-частотной характеристики.
При параллельном анализе время анализа Тпар определяется временем установления колебаний в фильтрах с заданной степенью приближения амплитуды колебания фильтра к своему максимальному значению Аmах = 1: Тпар = Δt = А/Δf.
Разрешающая способность и время анализа связаны cоотношением ΔfΔt = A = const, показывающим, что нельзя одновременно улучшать обе эти характеристики.
При последовательном анализе, используемом для выявления составляющих дискретных спектров, время анализа (при полосе исследуемого спектра, равной f) будет равно: Тпосл = Δt/f = = Аf/(Δf)2.
Для
уменьшения времени последовательного
анализа широко используется изменение
частотного масштаба исследуемого
процесса, например скорости его
записи и воспроизведения, при этом
Sи(jω)
= kS(jωk),
Если k > 1, то время анализа уменьшается. Для изменения скоростей записи и воспроизведения используются магнитная запись, запоминающие электронно-лучевые трубки, рециркуляционные линии задержки и т.п. Отношение скоростей k от 100 до 10000 удается получить при анализе квантованных по времени дискретных последовательностей и кодоимпульсных сигналов.
При проектировании спектральных ИС все в большой мере используются принцип агрегатирования и средства микропроцессорной и иной вычислительной техники. В спектральном анализе все больше используется метод быстрого преобразования Фурье.
Бесфильтровые методы спектрального анализа в большинстве случаев основаны на определении коэффициентов ряда Фурье. Оценка спектральной плотности мощности при этом может быть получена из выражения:
Рис. 14.30. Схема спектральной измерительной системы
Структурная схема устройства, реализующего это выражение, приведена на рис. 14.30. При параллельном анализе анализатор состоит из набора таких устройств, а генераторы имеют разные фиксированные частоты.
Достоинства бесфильтровых анализаторов связаны с получением высокой разрешающей способности, что позволяет их использовать для детального анализа отдельных участков спектра.
=======================================================================================
ВОПРОСЫ:
Особенности измерения статистических характеристик случайных процессов
Системы для измерения законов распределения вероятностей случайных процессов
Корреляционные ИС. Основные определения. Методические погрешности
Корреляционные ИС с последовательным измерением коэффициентов корреляции
Корреляционные ИС с параллельным и параллельно-последовательным измерением коэффициентов корреляции
Корреляционные ИС с измерением коэффициентов многочлена, аппроксимирующего корреляционную функцию
Методы измерения спектральной плотности случайных процессов
МЕТРОЛОГИЯ ИС