3. Линии равной толщины
Условия: толщина пленки плавно изменяется (h ≠ const), представляя собой клин. Пучок параллельный.
Система полос равной толщины
|
12 2h n cos |
|
|
|
|
|
|
2 |
12 m |
- максимум (светлая полоса) |
|
12 (m 12) 
- минимум (темная полоса)
25
3. Линии равной толщины
Пример применения - определение качества обработки поверхностей
26
Кольца Ньютона
Картина в отраженном свете при освещении установки белым светом
Картина в отраженном свете при освещении установки монохроматическим светом
Пример применения – проверка качества шлифовки линз.
27
Применение интерференции
Для измерений:
Длины волны λ
Коэффициента преломления n
Длин эталонов
Малых перемещений
Деформаций
Качества обработки поверхностей
28
Дифракция света
• Дифракция света –отклонение от прямолинейности распространения света, т.е. свет попадает в область геометрической тени.
По законам геометрической оптики
Для наблюдения дифракции в лабораторных условиях необходимо, чтобы размеры препятствия были соизмеримы с длиной световой волны.
29
Метод зон Френеля
rm |
m |
- радиус m-ой зоны Френеля |
||
1 |
|
1 |
|
|
|
|
|||
|
a |
|
b |
|
30
Дифракция света на круглом отверстии
Амплитуда результирующей волны в точке Р будет определяться числом открытых зон Френеля (m):
а) m – четное |
I ≈ 0 |
б) m – нечетное 
I максимально
ПетрГУ. 2010. О.Я. Березина, С.А. Чудинова |
31 |
Изменение дифракционной картины при уменьшении расстояния от отверстия до экрана
Число открытых полуволновых зон увеличивается слева направо с 2 до 6.
Размер картины уменьшается, приближаясь к диаметру отверстия.
ПетрГУ. 2010. О.Я. Березина, С.А. Чудинова |
32 |
Дифракция на круглом экране (диске)
Диаметр и яркость пятна Пуассона увеличиваются при уменьшении диаметра диска.
33
4. Одномерная дифракция Френеля на вертикальной щели
m =1 |
m = 2 |
m = 3 |
m = 4 |
m = 5 |
Щель расширяется.
Начальная ширина соответствует примерно одной
открытой полуволновой зоне, конечная - пяти открытым зонам.
Вертикальный размер картины определяется диаметром пучка, падающего на щель.
34