- •Морозова н.К.
- •Введение
- •Глава I Основные понятия кристаллографии
- •1.1. Структура и структурный тип
- •1.2. Внешняя симметрия кристаллов
- •1.3. Внутренняя симметрия кристаллов
- •1.4. Сочетание элементов симметрии
- •1.5. Пространственная решетка
- •1.6. Кристаллические системы
- •1.7. Ячейки Бравэ
- •1.8. Условные обозначения и классификация кристаллов
- •1.9. Кристаллографические индексы
- •1.10. Некоторые формулы структурной кристаллографии
- •1.11. Понятие обратной решетки
- •1.12. Кристаллографическая зона
- •1.13. Кристаллографические проекции
- •1.14. Сетки Вульфа и Закса
- •Глава II Явление дифракции в кристаллах как основа методов структурного анализа
- •2.1. Спектральный состав рентгеновского излучения
- •2.2. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- •2.3. Поглощение и рассеяние рентгеновских лучей
- •2.4. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах
- •2.5. Общее интерференционное уравнение трехмерной решетки
- •2.6. Дифракция как отражение
- •2.7. Уравнение Вульфа - Брегга
- •2.8. Отражение рентгеновских лучей сложной элементарной ячейкой
- •2.9. Базис ячейки
- •2.10. Анализ интенсивностей дифракционных максимумов Атомный фактор и структурная амплитуда
- •2.11. Влияние тепловых колебаний решетки на интенсивность дифракционных пятен
- •Глава III Основные методы рентгеноструктурного анализа
- •3.1. Исследование поликристаллических веществ методом Дебая-Шеррера
- •3.2. Фазовый анализ вещества
- •3.3. Определение параметров кристаллической решетки по дебаеграмме
- •3.4. Точность определения параметров кристаллической решетки Систематические ошибки при оценке углов отражения
- •3.5. Съемки для целей прецизионного определения периодов
- •3.6. Метод Лауэ
- •3.6.1. Постоение дифракционной картины
- •3.6.2. Ориентация монокристалла по методу Лауэ
- •3.6.3. Применение метода Лауэ для изучения симметрии кристалла
- •3.7. Метод вращения кристалла
- •3.7.1. Принципы построения дифракционной картины
- •3.7.2. Определение периода идентичности вдоль оси вращения кристалла
- •3.7.3. Индицирование рентгенограммы вращения
- •3.8. Метод качания и развертки слоевой линии
3.5. Съемки для целей прецизионного определения периодов
Фокусирующая съемка. Фокусирующая съемка осуществляется в цилиндрических камерах, например, симметричной камере Престона, показанной на рис.3.8. На вставку, которая имеет внутреннюю кривизну, такую же, как и пленка в кассете наносится порошок. В таких камерах выполняется условие фокусировки, которое требует, чтобы образец, источник излучения и рентгеновская пленка располагались на одной окружности. Это расположение приводит к тому, что лучи, отраженные от одних и тех же плоскостей по всей поверхности образца, будут фокусироваться в одну линию (рис.3.8). Благодаря фокусировке ширина линий не изменяется и при использовании расходящихся пучков1. Это повышает точность съемки в фокусирующих камерах по сравнению с обычными. Вследствие фокусировки лучей с большой поверхности образца, сокращается время экспозиции при съемке.

Рис.3.8. Съемка в фокусирующей камере.
Кроме того, разрешающая способность этих камер в 2 раза выше, чем в обычных камерах равного радиуса. Действительно, поскольку в них угол между падающим пучком и лучем дифракции, равный -2, опирается на диаметр окружности камеры, то
2L
= 8R(
-)
(3.22)
Съемка в фокусирующих камерах используется для точного (прецизионного) определения параметров решетки. При очень точных измерениях съемку нужно вести при постоянной температуре, т.к. колебания температуры приводят к изменению параметров. У алюминия, например, увеличение температуры на 10приводит к увеличению a на 0,001 Å.
Угол определяется из соотношения (3.22). Для этого 2L промеряется между симметричными линиями на рентгенограмме, а величина R определяется по снимку в той же камере эталона, с точно известным периодом решетки. Камера позволяет регистрировать линии в пределах углов 6088.
Поскольку для расчета периода решетки a из (3.8) необходимо знание индексов линии, то промеряемые кольца рентгенограммы индицируют. Для этого пользуются данными таблиц, которые дают индексы линий, соответствующие наибольшим углам скольжения. Например, для Cu и Al, снятых на KCu- излучении, это линии 024 (7221) и 511(8116) соответственно.
Съемка в фокусирующих камерах позволяет определять a с большой точностью, например, до четвертого, пятого знака после запятой в Å.
Съемка на плоскую пленку.Для получения последних линий поликристаллы исследуют также в специальной камере КРОС (камера для рентгеноструктурного анализа обратной2съемки), показанной на рис.3.9,a. Рентгеновский пучек проходит через отверстие 4 в плоской кассете и попадает на образец 3. Пучек дифракции фокусируется на пленке 2 и дает узкую линию в том случае, если входная щель 5, центр образца и кольцо рентгенограммы располагаются на одной окружности (рис.3.9,б). Это удовлетворяется, когда
L=A tg(180-2) (3.23)
B=L tg(180-2) (3.24)

Рис.3.9. Съемка в камере КРОС.
Для выполнения условия фокусировки предусмотрена возможность менять расстояния B щель-пленка и A пленка-образец. Обычно задаются углом расчсоответствующим линии HKL рентгенограммы, по которой предполагается определить параметр решетки a. Далее задаются удобным для промера и установки камеры значением Lрасч, после чего находят установочные данные для камеры Bрасчи Aрасчи производят съемку. Величину угла для прецизионного определения параметра вычисляют из соотношения (3.23) по значению A, рассчитанному из рентгенограммы эталона, снятого на ту же пленку и измеренному значению L. Тогда величина параметра ячейки a вычисляется, как обычно из соотношения (3.8) по известным индексам линии HKL,и углу.
