- •Морозова н.К.
- •Введение
- •Глава I Основные понятия кристаллографии
- •1.1. Структура и структурный тип
- •1.2. Внешняя симметрия кристаллов
- •1.3. Внутренняя симметрия кристаллов
- •1.4. Сочетание элементов симметрии
- •1.5. Пространственная решетка
- •1.6. Кристаллические системы
- •1.7. Ячейки Бравэ
- •1.8. Условные обозначения и классификация кристаллов
- •1.9. Кристаллографические индексы
- •1.10. Некоторые формулы структурной кристаллографии
- •1.11. Понятие обратной решетки
- •1.12. Кристаллографическая зона
- •1.13. Кристаллографические проекции
- •1.14. Сетки Вульфа и Закса
- •Глава II Явление дифракции в кристаллах как основа методов структурного анализа
- •2.1. Спектральный состав рентгеновского излучения
- •2.2. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- •2.3. Поглощение и рассеяние рентгеновских лучей
- •2.4. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах
- •2.5. Общее интерференционное уравнение трехмерной решетки
- •2.6. Дифракция как отражение
- •2.7. Уравнение Вульфа - Брегга
- •2.8. Отражение рентгеновских лучей сложной элементарной ячейкой
- •2.9. Базис ячейки
- •2.10. Анализ интенсивностей дифракционных максимумов Атомный фактор и структурная амплитуда
- •2.11. Влияние тепловых колебаний решетки на интенсивность дифракционных пятен
- •Глава III Основные методы рентгеноструктурного анализа
- •3.1. Исследование поликристаллических веществ методом Дебая-Шеррера
- •3.2. Фазовый анализ вещества
- •3.3. Определение параметров кристаллической решетки по дебаеграмме
- •3.4. Точность определения параметров кристаллической решетки Систематические ошибки при оценке углов отражения
- •3.5. Съемки для целей прецизионного определения периодов
- •3.6. Метод Лауэ
- •3.6.1. Постоение дифракционной картины
- •3.6.2. Ориентация монокристалла по методу Лауэ
- •3.6.3. Применение метода Лауэ для изучения симметрии кристалла
- •3.7. Метод вращения кристалла
- •3.7.1. Принципы построения дифракционной картины
- •3.7.2. Определение периода идентичности вдоль оси вращения кристалла
- •3.7.3. Индицирование рентгенограммы вращения
- •3.8. Метод качания и развертки слоевой линии
3.4. Точность определения параметров кристаллической решетки Систематические ошибки при оценке углов отражения
Многие явления, протекающие в кристаллах: сплавах, металлах, соединениях, при их термообработке, обработке давлением, легировании - приводят к изменению периодов кристаллической решетки той или иной фазы. Например, введение большого числа атомов примеси в кристалл может привести к уменьшению или увеличению параметра a (межплоскостного расстояния d). Измеряя с большой степенью точности - прецизионно- период решетки, можно судить о пределе растворимости примесей в системах с ограниченной растворимостью, о неоднородности твердого раствора, кинетике процессов старения и других подобных явлениях.
Точность
определения параметров ячейки кристалла
зависит как от погрешности определения
углов , так и от
величины самих углов. Это следует из
выражения, полученного после
дифференцирования уравнения Вульфа-Брегга:
dsin=
;
dcos+ sind=0 (3.15)
=
- ctg(3.16)
Как видно из
(3.16), величина ошибки пропорциональна
, и кроме того, она
резко зависит от угладанной линии дебаеграммы. По мере
приближенияк 90котангенс угла стремится к нулю.
Следовательно, относительная ошибка
должна убывать с увеличениемпри условии, чтоне возрастает с ростом угла. Рассмотрим
главные факторы, которые приводят к
ошибкев оценке
углов скольжения. Такими факторами
являются:
1) ошибки измерения l;
2) ошибки за счет поглощения рентгеновских лучей в образце;
3) ошибки, обусловленные отклонениями в геометрии съемки.
Рассмотрим, как каждая из них влияет на величину погрешности в определении угла .
1. Ошибка при измерении lопределяется неточностью промера середины дифракционной линии. Она зависит от ширины кольца дебаеграммы и будет тем меньше, чем уже кольцо. Для одного и того же образца ширина дебаевских колец будет зависеть, в частности, от диаметра рентгеновского пучка и связанного с ним размера образца.
Если поглощение в образце мало и первичный пучек параллелен, то ширина линии равна диаметру 2образца. Следовательно, для точных определений параметров решетки желательно уменьшать 2, обычно не менее, чем до 0,1мм, т.к. при 20,1ммвозрастает экспозиция при съемке.
Аналогично сказывается изменение диаметра рентгеновского пучка, или ширина входной щели. Уменьшение ширины входной щели также приводит к сужению колец. Конечно, входная щель при этом всегда должна оставаться больше 2, чтобы рентгеновский пучек омывал весь образец.
Для уменьшения ошибки измерения многократно промеряют линию и пользуются усредненным значением. Ошибку при измерении lможно свести до минимума при использовании специального микроскопа - компаратора, позволяющего определять расстояния на рентгеновской пленке с точностью 0,01 - 0,02мм.
Ошибка измерения связана с ошибкой определения брегговского угла соотношением:
=
(3.17)
Эту формулу можно получить дифференцированием выражения (3.3), если не учитывать ошибки в определении радиуса R. Из соотношения (3.17) следует, что величинаможет быть уменьшена при использовании камер с большими радиусами. Однако сильно увеличивать радиус пленки не выгодно, т.к. при этом резко возрастает экспозиция и увеличивается расходимость первичного рентгеновского пучка.
2. Погрешность, связанная с поглощением рентгеновских лучей в образце, приводит к сдвигу дифракционной линии в сторону больших углов (рис.3.5). Это связано с тем, что при выводе формулы (3.4) предполагали точечный образец, а в действительности он имеет конечные размеры и в отражении принимает участие поверхность образца. Лучи, проходящие через толщу сильно поглощающего материала, полностью им поглощаются. Кроме того, рентгеновский луч отражает только небольшой участок поверхности АВ, ограниченный касательной ААи параллельной ей прямой ВВ.

Рис.3.5. К выводу поправки на поглощение.
Тогда измеренные значения lизмбудут превышать истинное значениеlна какую-то величинуl(рис.3.5). В зависимости от того по внешнему краю, середине или внутреннему краю кольца рентгенограммы определяетсяlизм– погрешность эта равна:
lвн=;
lвнутр=ОС=cos2;
lсред=OC+AC/2=
(1+cos2)=cos2. (3.18)
Если не учитывать эту поправку, то ошибка, вносимая в измерение угла , равна:
=l/R . (3.19)
3. К ошибкам,
обусловленным отклонением от геометрии
съемки, относятся прежде всего погрешность
эксцентриситета. Эта ошибка (рис.3.6) в
общем случае связана со смещением
образца от центра камеры в точку N на
расстояние . Такое
смещение можно разложить на две компоненты
001=cosи 002=sin.
Смещение вдоль рентгеновского пучка
приводит к ошибке в определении длины
дуги (рис.3.6,б). В общем случае, когда
образец смещен из центра в точку N
(рис.3.6,а), это смещение также можно
разложить на две составляющие одна из
которых 002дает ошибкуС=0,
а другая 002даетl=АВ=001sin2=cossin2.
Смещение 002, перпендикулярное
пучку, даетl=0
(рис.3.6,в). Тогда=
sin2.
Откуда следует, что ошибка эксцентриситета
приводит к следующей ошибке в определении
межплоскостного расстояния:
![]()
=
sin2ctg=
cos2(3.20)

Рис.3.6. Смещение дифракционной линии при смещении образца от центра камеры: а – произвольно; б – вдоль рентгеновского луча; в – перпендикулярно лучу.
Еще одной причиной ошибок при определении углов скольжения является неточное знание эффективного радиуса пленки за счет отсутствия полного соответствия радиусов фотопленки и камеры, изменения размеров пленки в процессе ее проявления и сушки и т.п. Можно показать, что ошибка, вносимая в результате этого в измерение угла, равна:
=
(3.21)
Из соотношения 3.21 следует, что эта ошибка может быть сильно уменьшена при использовании камер большого радиуса и уменьшении R за счет точного промера радиуса рентгеновской пленки. Последнее возможно в случае асимметричной закладки пленки, когда R определяется с большой степенью точности. При симметричной съемке эффективный радиус пленки может быть точно измерен, если одновременно снимается эталон.
Анализ рассмотренных систематических ошибок показывает, что все они уменьшаются при увеличении угла и стремятся к нулю при90. Практически измерить линии при углах=90невозможно, т.к. таких линий может не быть на рентгенограмме. Кроме того, линии при углахбольше 81-83сильно размыты. При таких углах начинает сказываться преломление рентгеновских лучей и усиление диффузионного фона рентгенограммы.
Однако положение линии, соответствующее углу =90можно найти, используя тот или инойметод графической экстраполяции. Для этого на график наносят значения периодов решетки a, определенные по различным линиям рентгенограммы в зависимости от значения, в частности на рис.3.7 – сos2. Эти точки вырисовывают закон экстраполяции. Например, в последнем случае - это линейная зависимость (рис. 3.7). Прямая, проведенная через экспериментальные точки, при пересечении с осью ординат дает значение a, соответствующее углу=90и минимальной ошибке. Кроме того, уменьшить ошибку можно при использовании точной экспериментальной техники и прецизионных методов съемки рентгенограмм.

Рис.3.7. Графическое экстраполирование.
