- •Морозова н.К.
- •Введение
- •Глава I Основные понятия кристаллографии
- •1.1. Структура и структурный тип
- •1.2. Внешняя симметрия кристаллов
- •1.3. Внутренняя симметрия кристаллов
- •1.4. Сочетание элементов симметрии
- •1.5. Пространственная решетка
- •1.6. Кристаллические системы
- •1.7. Ячейки Бравэ
- •1.8. Условные обозначения и классификация кристаллов
- •1.9. Кристаллографические индексы
- •1.10. Некоторые формулы структурной кристаллографии
- •1.11. Понятие обратной решетки
- •1.12. Кристаллографическая зона
- •1.13. Кристаллографические проекции
- •1.14. Сетки Вульфа и Закса
- •Глава II Явление дифракции в кристаллах как основа методов структурного анализа
- •2.1. Спектральный состав рентгеновского излучения
- •2.2. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- •2.3. Поглощение и рассеяние рентгеновских лучей
- •2.4. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах
- •2.5. Общее интерференционное уравнение трехмерной решетки
- •2.6. Дифракция как отражение
- •2.7. Уравнение Вульфа - Брегга
- •2.8. Отражение рентгеновских лучей сложной элементарной ячейкой
- •2.9. Базис ячейки
- •2.10. Анализ интенсивностей дифракционных максимумов Атомный фактор и структурная амплитуда
- •2.11. Влияние тепловых колебаний решетки на интенсивность дифракционных пятен
- •Глава III Основные методы рентгеноструктурного анализа
- •3.1. Исследование поликристаллических веществ методом Дебая-Шеррера
- •3.2. Фазовый анализ вещества
- •3.3. Определение параметров кристаллической решетки по дебаеграмме
- •3.4. Точность определения параметров кристаллической решетки Систематические ошибки при оценке углов отражения
- •3.5. Съемки для целей прецизионного определения периодов
- •3.6. Метод Лауэ
- •3.6.1. Постоение дифракционной картины
- •3.6.2. Ориентация монокристалла по методу Лауэ
- •3.6.3. Применение метода Лауэ для изучения симметрии кристалла
- •3.7. Метод вращения кристалла
- •3.7.1. Принципы построения дифракционной картины
- •3.7.2. Определение периода идентичности вдоль оси вращения кристалла
- •3.7.3. Индицирование рентгенограммы вращения
- •3.8. Метод качания и развертки слоевой линии
2.6. Дифракция как отражение
Пусть некоторый узел обратной решетки [[HKL]] попадает на сферу Эвальда. Соответствующая ему плоскость в кристалле с индексами (hkl) располагается нормальноH (рис.2.11).

Рис. 2.11. Дифракция как отражение.
Проведем в обратной решетке через центр сферы плоскость, параллельную (hkl). Поскольку векторHвсегда перпендикулярен плоскости (hkl), то угол при вершине OAM, будет разделен надвое. Из этого следует, что углы между падающим лучемS0 и плоскостью (hkl), а также между отраженным лучем и (hkl) всегда равны между собой. На основании этого (hkl) можно рассматривать как плоскость, отражающую рентгеновские лучи, и процесс дифракции можно описывать как отражение рентгеновских лучей от семейства соответствующих плоскостей кристалла.
Действительно, в кристалле всегда можно найти плоскость, которая ориентирована к лучу дифракции как плоскость отражения. Это относится и ко всей системе плоскостей, параллельных данной. Поэтому каждый дифракционный луч может рассматриваться как “отраженный” от системы параллельных атомных сеток - плоскостей. Сфера Эвальда в этом случае позволяет выделить в кристалле отражающие плоскости, которые сопоставляются узлам, лежащим на поверхности сферы.
2.7. Уравнение Вульфа - Брегга
Для определения углов, при которых возможны отражения рентгеновских лучей, рассмотрим систему кристаллографических плоскостей с расстоянием между ними равным d, т.е. представим кристалл как систему атомных плоскостей (рис.2.12).

Рис. 2.12. К выводу уравнения Вульфа - Брегга.
Пусть падающий луч идет по направлению S0и составляет уголс плоскостью (hkl), а отраженный дифракционный луч идет по направлению S также под угломк плоскости (hkl). Рассмотрим интерференцию отраженных волн от семейства параллельных плоскостей 1, 2, 3... с индексами (hkl). Рентгеновские лучи, проникая вглубь кристалла, будут отражаться не только от внешней 1-ой но и от внутренних 2, 3 и т.д. плоскостей. Отраженные от различных плоскостей лучи будут интерферировать между собой и усиливать друг друга, если разность хода лучей равна целому числу волн n. Эту разность хода легко вычислить из рисунка 2.12. Она равнаAB + BC= 2AB= 2d sin. Поскольку в направлении мы должны наблюдать луч дифракции, соответствующий максимуму интерференции, то
2dsin=n, (2.32)
где d - межплоскостное расстояние, n=1, 2, 3....
Это и есть формула Вульфа-Брегга. Угол , входящий в нее, обычно называют углом скольжения или углом отражения; целое число n - порядком отражения.
Формула Вульфа-Брегга указывает на селективность (избирательность) появления отраженных рентгеновских лучей. В этом заключается отличие между отражением рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристалла и отражением света от зеркала. Если для оптических лучей непрерывно менять угол между зеркалом и падающим лучем, то отраженный луч будет очень мало менять свою интенсивность. Для рентгеновских же лучей кривая интенсивности является кривой с резко выраженными максимумами. При этом условие дифракции выполняется только в том случае, когда
n/2d=sin1 иn2d. (2.33)
Индексы интерференций. В формуле Вульфа-Брегга число n, называемое порядком отражения, показывает, какое число длин волн составляет разность хода падающих и отраженных лучей.
Преобразуем уравнение Вульфа-Брегга (2.32) и, разделив обе части его на n, получим
2(dhkl / n) sin = . (2.34)
В этой формуле множитель dhkl / n можно рассматривать, как межплоскостное расстояние новой системы (HKL) плоскостей. Эти плоскости реально могут и не существовать, но они должны удовлетворять условию:
dhkl / n=dHKL , (2.35)
где H, K, L - индексы фиктивной плоскости.
Индексы плоскости, как известно, обратно пропорциональны отрезкам, отсекаемым на осях координат и, следовательно, обратно пропорциональны межплоскостному расстоянию. Используя коэффициент пропорциональности p, запишем h=1/pa=1/pdhkl
H= 1/pdHKL=n/dhklили H= nh.
Аналогично К= nk,
L=nl. (2.36)
Индексы H, K, L новой системы плоскостей называются индексами интерференции.Для системы (HKL) уравнение Вульфа-Брегга запишем как:
2dHKLsin=. (2.37)
В последнем виде формула очень часто используется при индицировании рентгенограмм. Индексы интерференции используются при обозначении рефлексов на.рентгенограммах.
Пользуясь соотношением (2.37), всегда следует помнить, что межплоскостное расстояние в этой формуле может отвечать некоторой фиктивной плоскости (HKL), индексы которой (индексы интерференции) всегда имеют общий множитель n. Реально же отражение происходит от плоскостей с индексами в n раз меньше и при разности хода в n раз больше.
Например, пусть разность хода между плоскостями (001) с межплоскостным расстоянием d001равна 4. Тогда 2d001sin=4или (2d001/4)sin=. Заменяя индексы реальных плоскостей (001) индексами интерференции, получим d/4=dи 2d004sin=, где d=d004. Таким образом, отражение от плоскости (001) с разностью хода, равной 4, можно рассматривать условно как отражение от плоскости с индексами (004) и разностью хода. Индексы содержат общий множитель, равный 4.
