- •Морозова н.К.
- •Введение
- •Глава I Основные понятия кристаллографии
- •1.1. Структура и структурный тип
- •1.2. Внешняя симметрия кристаллов
- •1.3. Внутренняя симметрия кристаллов
- •1.4. Сочетание элементов симметрии
- •1.5. Пространственная решетка
- •1.6. Кристаллические системы
- •1.7. Ячейки Бравэ
- •1.8. Условные обозначения и классификация кристаллов
- •1.9. Кристаллографические индексы
- •1.10. Некоторые формулы структурной кристаллографии
- •1.11. Понятие обратной решетки
- •1.12. Кристаллографическая зона
- •1.13. Кристаллографические проекции
- •1.14. Сетки Вульфа и Закса
- •Глава II Явление дифракции в кристаллах как основа методов структурного анализа
- •2.1. Спектральный состав рентгеновского излучения
- •2.2. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- •2.3. Поглощение и рассеяние рентгеновских лучей
- •2.4. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах
- •2.5. Общее интерференционное уравнение трехмерной решетки
- •2.6. Дифракция как отражение
- •2.7. Уравнение Вульфа - Брегга
- •2.8. Отражение рентгеновских лучей сложной элементарной ячейкой
- •2.9. Базис ячейки
- •2.10. Анализ интенсивностей дифракционных максимумов Атомный фактор и структурная амплитуда
- •2.11. Влияние тепловых колебаний решетки на интенсивность дифракционных пятен
- •Глава III Основные методы рентгеноструктурного анализа
- •3.1. Исследование поликристаллических веществ методом Дебая-Шеррера
- •3.2. Фазовый анализ вещества
- •3.3. Определение параметров кристаллической решетки по дебаеграмме
- •3.4. Точность определения параметров кристаллической решетки Систематические ошибки при оценке углов отражения
- •3.5. Съемки для целей прецизионного определения периодов
- •3.6. Метод Лауэ
- •3.6.1. Постоение дифракционной картины
- •3.6.2. Ориентация монокристалла по методу Лауэ
- •3.6.3. Применение метода Лауэ для изучения симметрии кристалла
- •3.7. Метод вращения кристалла
- •3.7.1. Принципы построения дифракционной картины
- •3.7.2. Определение периода идентичности вдоль оси вращения кристалла
- •3.7.3. Индицирование рентгенограммы вращения
- •3.8. Метод качания и развертки слоевой линии
2.5. Общее интерференционное уравнение трехмерной решетки
Три уравнения Лауэ, определяющие направление интерференционных максимумов, можно свести к одному, общему интерференционному уравнению, которое записывается в векторной форме.
Рассмотрим так же, как и раньше, дифракцию рентгеновских лучей на атомном ряде. Разность хода двух соседних лучей после дифракции от атомного ряда равна acos- acos0(рис.2.7). Для того, чтобы учесть направление падающего и рассеянного луча в пространстве, введем единичные вектораS0 иS. По абсолютной величине они равны 1, а по направлениюS0- совпадает с направлением первичного пучка, аS- направлением дифрагированных лучей. Разность хода двух соседних лучей определим какacos1 -acos01 = (a[S-S0]). Дифракционный максимум мы получим, когда на длине этого отрезка укладывается целое число длин волн, т.е.
(a[S-S0]) =m. (2.24 а)
Аналогичным образом можно преобразовать и другие уравнения Лауэ, записав их в векторной форме:
(b[S -S0]) =n, (c[S-S0) =p. (2.24 б)
Разделив левую и правую части этих уравнений на , получим:
(2.25)
![]()
![]()
Если в обратной решетке взять точку - узел с индексами m, n и p, то вектор H, проведенный в эту точку, запишется как
H=ma*+nb* +pc* . (2.26)
Тогда, умножив скалярно левую и правую части этого выражения на a, а затем последовательно наbис, будем иметь
(2.27)
Сопоставляя между собой систему уравнений (2.26) и (2.27), получим новое фундаментальное соотношение:
(S-S0)/= H (2.28)
которое полностью определяет направление дифракционных максимумов и содержит в себе все 3 уравнения Лауэ. Действительно, умножив левую и правую части уравнения (2.28) на вектор a, получим первое уравнение Лауэ и при умножении на вектораb иc соответственно второе и третье уравнения Лауэ.
Графическое выражение интерференционного уравнения. Сфера отражения или сфера Эвальда. Общее интерференционное уравнение можно выразить графически, используя построение обратной решетки кристалла (рис. 2.10).

Рис.2.10. Сфера Эвальда.
Построим обратную решетку кристалла. Для этого, проведем из какой-либо точки O, связанной с кристаллом, оси обратной решетки (см. построение обратной решетки). Зная направление осей и величины единичных векторов, строим координатную сетку. Узлы ее будут одновременно узлами обратной решетки кристалла. Для простоты на рис.2.10 представлена двухмерная сетка. Допустим, что направление падающего пучкаS0. Выбираем луч, который проходит через начало координат. Отложим от начала координат (точки O) вектор–S0/, конец которого будет какой-то точкой A. По абсолютной величине этот вектор равен 1/, т.к. |S0|=1. Опишем из точки A сферу радиусом 1/. По положению она жестко связана с направлением первичного пучка и всегда проходит через начало координат. Построенная сфера носит название сферы отражений илисферы Эвальда.
Замечательной особенностью этой сферы является то, что для любого узла обратной решетки, попавшего на ее поверхность, удовлетворяется общее интерференционное уравнение. Возьмем, например, узел M на сфере и рассмотрим векторный треугольник OAM. Согласно известным правилам сложения векторов сумма OA+AM =OM. Так как векторOMявляется не чем иным, как векторомH, аOA=–S0/можно записать
AM–S0/=H (2.29)
Из сравнения этого выражения с уравнением (2.28) следует, что вектор AM, равный 1/, по направлению должен совпасть сS. В результате получим соотношение, являющееся общим интерференционным уравнением трехмерной решетки:
S/–S0/= H (2.30)
Любой узел на сфере удовлетворяет общему интерференционному уравнению. В этом первое замечательное свойство сферы отражения. Кроме того, точки пересечения сферы отражения с узлами обратной решетки определяют направление дифракционного луча. Последнее, очевидно, совпадает с направлением вектораS/. Из сказанного следует, что при заданных параметрах элементарной ячейки кристалла a,b,c и известной длине волны падающего пучка рентгеновских лучейможно с помощью построения обратной решетки и сферы Эвальда установить направление всех интерференционных лучей в пространстве и, следовательно, установить вид рентгенограммы при том или ином положении рентгенопленки. Практически, однако, решают обратную задачу, рассчитывая по рентгенограмме, т.е. по положению интерференционных пятен, параметры ячейки кристаллаa,b, c. Пользуясь сферой Эвальда, легко показать, как меняется дифракционная картина при повороте кристалла или изменении длины волны излучения. Действительно, диаметр сферы отражения равен 2/. Поэтому при увеличенииразмер сферы уменьшается. Если диаметр сферы станет меньше любого вектораH, то ни один узел обратной решетки не попадет на поверхность сферы, и дифракция станет невозможной. Таким образом, дифракция возможна (при2d), если
|H|2/. (2.31)
Для изучения с =2Å, условие дифракции выражается |H|=1/d1Å. Следовательно, при d1Å для кристаллов с межплоскостным расстоянием меньше 1 Å, дифракции не будет.
