- •Міністерство освіти і науки україни
- •Основи системного аналізу
- •Задача поиска технических решений
- •Базовые термины и определения
- •Формализация описания процесса функционирования сложной технической системы
- •Обеспечение целостности и описание сложной технической системы (стс)
- •Форма представления стс
- •Эффективность стс определяется по схеме:
- •Типовой процесс решения системотехнической задачи
- •Среда или платформа автоматизированного проектирования
- •Управление проектированием
- •Информационный интерфейс
- •Образование уровней представления данных
- •Программирование сканера
- •Диаграмма состояний
- •Разработка семантических программ компилятора
- •Инструменты электронных платформ сапр
- •Инструменты системного проектирования системы сапр
- •Инструменты проектирования цифровых электронных схем.
- •Задачи сапр цифровых схем
- •Математическая модель цифровой схемы
- •Машинная модель
- •Событийный метод
- •Механизм динамических списков событий
- •Графические инструменты схемы
- •Стандарт iges разрабатывался в 50-60 гг, когда основным средством ввода была перфокарта, отсюда его и недостатки.
- •Средства черчения
- •Программный интерфейс платформы сапр
- •Порождаемые процессы (порожденные)
- •Типы атрибутов объекта
- •Описание атрибутов
- •Правила атрибутов
- •Связи между объектами
- •Описание динамического поведения объекта
- •Системы автоматизированного проектирования как открытые системы
- •Свойства открытых систем
- •Компоненты открытых систем
- •Обеспечение переносимости и масштабируемости
Машинная модель
Графы однозначно описываются с помощью матриц.
|
|
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
|
Э1 |
1 |
|
1 |
-1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Э2 |
-1 |
|
|
1 |
|
|
|
|
1 |
1 |
|
|
|
|
Э3 |
1 |
-1 |
1 |
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
|
Э4 |
|
1 |
-1 |
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
Э5 |
1 |
|
|
|
-1 |
1 |
|
|
1 |
|
|
|
|
|
Э6 |
|
1,1 |
|
|
1 |
-1 |
|
|
|
|
-1 |
|
|
|
Э7 |
|
|
|
|
1,1 |
|
-1 |
-1 |
|
1 |
|
|
|
|
Э8 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
-1 |
1 |
|
Э9 |
|
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
-1 |
|
Э10 |
|
|
|
|
|
|
|
|
-1 |
|
|
|
|
|
Э11 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
-1 |
|
|
|
Вход в Э обозначается знаком ”+”
Выход из Э обозначается знаком ”-”
Таким образом, мы получили матрицу инцидентности. Количество строк соответствует количеству элементов в схеме, а количество столбцов для каждого элемента будет переменным. Матрица инцидентности полностью определяет топологию схемы. Запоминаются только ненулевые элементы.
Если к этой сжатой матрице добавить матрицу столбец, количество строк которой равно количеству строк матрицы инцидентности:

и матрицу строку, количество столбцов которой равно количеству столбцов матрицы инцидентности:

таким образом, мы получим машинное представление схемы.
2-й способ: множество вершин графа можно представить списком или объектом. Количество узлов всегда будет больше количества элементов.
Как описать схему?
Существует два основных способа описания схемы:
алгоритмический
неалгоритмический
Часто применяется комбинация этих двух способов. Алгоритмическое описание становится неявным.
Рассмотрим пример:
а: Э1, 1;
в: Э1, 2;
с: Э1, 3;
d: Э1, 4; - узел d связан с Э1 по выходу 4.

Нумерация элемента при компиляции не имеет значения.
Необходимо отсканировать строку, провести синтаксический и семантический анализ, построить матрицы. После выполнения этих пунктов можно сказать, что мы построили математическую модель схемы.
|
1 |
2 |
3 |
4 | ||||
|
1 |
1 |
-3 |
-4 |
| |||
|
|
|
|
|
| |||
ТИ
|
Э10 |
1 |
|
|
|
|
а |
1 |
|
b |
2 |
|
c |
3 |
|
d |
4 |
Построив матрицы, закончили формирование математической модели. Пусть есть схема из RSFF тригера.
Схема элемента 1ТК 332
Входная строка Э10: 1ТК 332;

В итоге получим:
*SHIFT
OUT/SM;
INPUT/CLOCK, P1, P2;
LOGIC
E(E1, E2)=P2,P1,P1;
B=CLOCK*E1;
C=CLOCK*E2;
O(SM)=B,C,C;
ALLOCATE;
E=RSFF;
P=RSFF;
END;

*RSFF
OUT/TRUE, FALSE;
INPUT/IN1, IN2, IN3;
LOGIC/TRUE='(FALSE*IN1);
FALSE='(TRUE*IN1*IN2);
END;
Модель-система уравнений:
Где хi - входные переменные, аyi - выходные и внутренние переменные.
Если мы реализуем информационную модель, используем напрямую метод простой итерации, каждый элемент имеет свой логический уровень.

Решаем систему методом простой итерации:

Определяем входные сигналы
a = 0
b = 1
c = 1
d = 0
1-я итерация 2-я итерация 3-я итерация (контрольная)
e = 0 & 1 = 0 e = 0 & 1 = 0 e = 0 & 1 = 0
f = 1 & 0 = 0 f = 1 & 0 = 0 f = 1 & 0 = 0
h = x & x = x h = 0 & 0 = 0 h = 0 & 0 = 0
Сигналы установились, окончим процесс решения на первом векторе входных переменных.
|
|
0 |
I |
II |
III |
|
e |
x |
0 |
0 |
0 |
|
f |
x |
0 |
0 |
0 |
|
h |
x |
x |
0 |
0 |
Введем обратную связь.

Определяем входные сигналы
a = 0
b = 1
c = 1
1-я итерация 2-я итерация 3-я итерация (контрольная)
e = 0 & 1 = 0 e = 0 & 1 = 0 e = 0 & 1 = 0
f = 1 & х = х f = 1 & x = x f = c & h = 1 & 0 = 0
h = 1 & f = x h = e & f = 0 & x = 0 h = 1 & 0 = 0
Достоинство метода: модулируем переходной процесс схем.
Недостаток - на каждой итерации решаются все уравнения в схеме.
Метод Зейделя
Данный метод устраняет этот недостаток.
Решаем уравнение у1, если оно поменялось по сравнению с предыдущим решением, то решая уравнение у2 заменяем в нем у1 на только что полученное значение. Получаем решение за 1 проход.
Достоинства метода - время моделирования существенно уменьшается, т.к. уменьшается количество итераций.
Недостаток - разрываются обратные связи, ранжирует, соединяют, не отслеживается переходной процесс.
Метод Зейделя хорош:
когда модулируем тесты (тестовый набор), т.к. не надо отслеживать переходные процессы при тестировании.
2
.
Если f1, f2, f3 - сложные функции - эта внутренняя модель делается по методу Зейделя. Не надо знать переходной процесс микросхемы, счетчиков и узлов.
