- •1. Лазерная поверхностная обработка, как технологическая система.
- •2. Дать развернутый анализ всех факторов и параметров процесса лазерной поверхностной обработки, их причинно-следственные связи; управляющие факторы.
- •3. Разработать алгоритм управления процессом лазерной поверхностной обработки, как самообучающейся системы.
- •4. Основные факторы и параметры, определяющие процесс лазерной поверхностной обработки.
- •5. Способы и устройства измерения мощности лазерного излучения.
- •6. Мощность лазерного излучения. Проходные измерители мощности, конструкции, область применения.
- •7. Методы и устройства измерения энергетических параметров лазерных пучков. Измерители типа «рси».
- •8. Пространственная структура выходных лазерных пучков, способы ее изменения и измерения ее характеристик (формы, размеров, распределения интенсивности).
- •9. Способы управления формой, размерами и распределением интенсивности сфокусированных лазерных пучков, методы их измерения.
- •10. Фокусирование лазерных пучков с Гауссовым распределением интенсивности и методика расчета df и di(Li) с учетом аберраций сферической линзы.
- •11. Особенности фокусирования сферическими линзами многомодовых пучков, методика расчета df, di(Li) и величины перетяжки.
- •12. Фокусирование лазерных пучков сферическим зеркалом, определение параметров фокусирования.
- •13. Системы фокусирования со сферическими зеркалами (тороидальными, фокусаторами, интегральными, специальными и др.)
- •14. Применение сканирующих систем при лазерной поверхностной обработке, конструкция и характеристики устройств.
- •15. Физические процессы, протекающие в материалах при лазерной поверхностной обработке с причинно-следственными связями.
- •16. Процесс поглощения (закономерности, коэффициент поглощения, поглощательная способность).
- •17. Пространственная структура выходных лазерных пучков, способы ее изменения и измерения ее характеристик (формы, размеров, распределения интенсивности).
- •18. Поглощательная способность материалов, ее изменение в зависимости от параметров лазерной обработки, способы и устройства ее измерения.
- •19. Способы повышения поглощательной способности материалов при лазерной поверхностной обработке.
- •20. Основные факторы, определяющие поглощательную способность материалов при лазерной обработке с характеристикой взаимосвязей, способы ее измерения.
- •3.Шероховатость поверхности
- •4.Нанесение покрытий
- •21. Влияние свойств лазерного излучения и обрабатываемого материала на поглощение; методы его увеличения.
- •22. Определение температур в поверхностном слое материалов при действии импульсного лазерного излучения.
- •23. Определение глубины зоны термического влияния (закалки) в поверхностном слое материалов при действии импульсного лазерного излучения.
- •24. Определение температур в поверхностном слое материалов при действии непрерывно действующего движущегося теплового источника (лазерного луча). Способы упрощения расчетов.
- •25. Методика расчета режимов лазерной обработки для получения упрочненного слоя в конкретном материале заданной глубины, ширины и твердости.
- •26. Методика расчета режимов лазерной обработки для получения максимальной глубины упрочненного слоя.
- •27. Методика расчета режимов лазерной обработки сканирующим лучом.
- •28. Общая характеристика структурно-фазовых превращений в сталях при лазерном облучении: нагрев, охлаждение, критические точки, критические скорости охлаждения, влияние содержания углерода.
- •29. Структурно-фазовые превращения в высоколегированных сталях при лазерном нагреве.
- •30. Особенности структурных превращений в чугунах при лазерном нагреве.
- •31. Структурно-фазовые превращения в углеродистых сталях при лазерной обработке.
- •32. Структурно-фазовые превращения в малоуглеродистых сталях при лазерной обработке.
- •33. Структурно-фазовые превращения в среднеуглеродистых сталях при лазерной обработке.
- •34. Структурно-фазовые превращения в заэвтектоидных сталях при лазерной обработке.
- •35. Особенности структурно-фазовых превращений в низколегированных сталях.
- •36. Особенности структурно-фазовых превращений в высоколегированных сталях.
- •37. Механизм лазерного упрочнения сталей, чугунов, цветных сплавов.
- •38. Особенности структурно-фазовых превращений в титановых и алюминиевых сплавах при лазерном нагреве.
- •39. Механизм лазерного упрочнения металлов.
- •40. Применение сканирующих систем при лазерной поверхностной обработке. Достоинства, недостатки, конструкции.
- •41. Влияние исходного структурного состояния сталей на характеристики упрочненного слоя (глубина, твердость, структура…)
- •42. Технологические схемы лазерного упрочнения импульсным и непрерывным излучением.
- •43. Износостойкость, коэффициент трения и коррозионная стойкость материалов, упрочненных лазерным излучением.
- •44. Влияние лазерного облучения на характер и величину остаточных напряжений.
- •45. Теплостойкость и износостойкость материалов, упрочненных лазерным излучением.
- •46. Влияние лазерной обработки на механические характеристики материалов.
- •47. Лазерное легирование и наплавка. Способы введения легирующих и наплавляемых материалов в злн. Характеристики, достоинства, недостатки.
- •48. Способы лазерного легирования и наплавки из предварительно нанесенного слоя. Принцип, область применения, достоинства, недостатки.
- •49. Инжекционный способ легирования и наплавки (лазерная газопорошковая наплавка (гплн)). Особенности, схемы процесса, характеристики, технологические возможности.
- •51. Лазерное микролегирование и наплавка из предварительно нанесенного слоя. Механизмы движения расплавленного металла.
- •52. Механизм лазерного микролегирования материалов.
- •53. Материалы (порошки), применяемые для лазерного микролегирования и наплавки.
- •54. Оборудование для поверхностной (упрочнение, легирование, наплавка) лазерной обработки (структурные схемы, типы и характеристики лазеров и других узлов лтк).
18. Поглощательная способность материалов, ее изменение в зависимости от параметров лазерной обработки, способы и устройства ее измерения.
Способы измерения поглощательной способности материалов
Для оценки поглощающей способности применяются способы, базирующиеся на измерении энергии поглощенного излучения, а также способы, базирующиеся на измерении отраженного ЛИ. Самым простым способом измерения поглощенной энергии является калориметрический.

![]()
Образец нагревается ЛИ мощностью Р в течении времени t. Измеряя температуру жидкости в которую помещается образец после облучения, ее теплоемкость и ее массу можно определить количество энергии поглощенной образцом. Ее отношение к энергии падающего излучения является поглощающей способностью. Если требуется точное определение, то для этого надо знать теплоемкость калориметра, массу сосуда и температуру сосуда. Несмотря на простоту, способ достаточно точен и его можно применять для калибровки приборов с относительной схемой измерения.
![]()
Измерение отраженного излучения с помощью системы термопар или переотражением отраженного излучения с помощью зеркальной пластины являются простыми способами, но имеют недостаточную точность в виду того, что поверхности изменяют свои оптические свойства.
Способ измерения поглощающей способности калориметрической полусферой
Устройство в виде полусферы с центральным отверстием крепится на фокусирующей системе и устанавливается над облучаемой поверхностью. Полусфера состоит из материала с высокой теплопроводностью (медь, алюминий). Полость между полусферами заполняется воздухом (большие мощности излучения), спирт+вода (средние мощности), спирт (малые мощности).
Нижняя полусфера имеет поглощающее покрытие. Для исключения теплообмена с окружающей средой на наружную полусферу нанесено теплоизолирующее покрытие. ЛИ, отраженное от облученной поверхности поглощается нижней полусферой и нагревает среду полости. Датчик давления (например, ДД6 с электрическим выходом) измеряет изменение давления как на этапе нагрева так и на этапе охлаждения. Осциллограмма изменения напряжения на выходе датчика от времени имеет три характерных участка:
нагрев полусферы
охлаждение полусферы нижней
охлаждение полусферы со средой
Точка пересечения касательных ко второму и третьему участку соответствует напряжению пропорциональному давлению среды, пропорциональному температуре среды и пропорциональному количеству поглощенной энергии.
По тарированному графику который получают облучением полусферы пучком известной мощности в течении определенного диапазона времени, определяют энергию поглощенного излучения, а значит и поглощательную способность поверхности.
![]()
Устройство позволяет с высоким быстродействием (постоянная времени τ ≈ 10-2 с) определять поглощательную способность поверхности в различные моменты времени при различных режимах обработки. Кроме этого устройство может быть применено в качестве датчика обратной связи для системы стабилизации температуры облучаемой поверхности.
Значительно более эффективным является устройство – пироэлектрическая полусфера.
Пироэлектрическая полусфера
Главной особенностью пироэлектрического приемника является большое быстродействие (постоянная времени τ = 10-5…10-6 с), что позволяет применять данную систему для управления процессом лазерной ПО со стабилизацией температуры поверхности в реальном масштабе времени. Основным элементом устройства является пироэлектрическая полусфера, в центральном отверстии которой располагается зеркальный медный конус с отверстием. Резьбовое соединение позволяет изменять положение отверстия конуса относительно облучаемой поверхности. Полусфера размещена в водоохлаждаемом корпусе. Наружная и внутренняя пленка полусферы из Ni с помощью специальных электродов выведена из корпуса и подключена к измерительному блоку или компьютеру. Измерительный блок определяет скорость изменения температуры, облучаемой отраженным излучением поверхности, а значит и интегральное значение энергии отраженного излучения и определяет текущее значение поглощающей способности (динамику ее изменения).
Для научных исследований этот прибор может быть усовершенствован путем разделения наружной пленки никеля на отдельные участки электрический изолированные друг от друга. Такая схема позволяет оценивать пространственную диаграмму распределения отраженного излучения.
Устройство позволяет оценивать соотношение зеркально-отраженной и дифузно-рассеяной компонент.
