СОДЕРЖАНИЕ

Предисловие редактора.............................. 10

От автора................................... 12

Раздел I

ОБЩИЕ МЕТОДЫ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА

Глава 1. Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом и рентгеновские спектры15

1-1. Характеристическое рентгеновское излучение............... 15

1-1а. Длины волн K-серии рентгеновского излучения (15). 1-1б. Длины волнL-серии рентгеновского излучения (18,19). 1-1в. Относительные интенсивности линийK-серии характеристического спектра (22). 1-1г. Ширина линий характеристического спектра (22). 1-1д. Индексы асимметрии линий характеристического спектра (23)..

1-2. Перевод kX-единиц в абсолютные ангстремы .............. 23

1-3. Соотношения между единицами коэффициентов поглощения........ 24

1-4. Рассеяние рентгеновских лучей...................... 24

1-4а. Рассеяние рентгеновских лучей различных энергий электронными оболочками и ядрами атомов (24). 1-4б. Рассеяние рентгеновских лучей в газах (25). 1-4в. Массовые коэффициенты рассеяния рентгеновских лучей (25). 1-4г. Массовые коэффициенты рассеяния σ_s/ρ (26). 1-4д. Коэффициенты рассеянияσ_эл(27). 1-4е. Сечения некогерентного рассеяния рентгеновских лучей (27).

1-5. Поглощение рентгеновских лучей.................... 28

1-5а. Скачок поглощения для некоторых элементов (28). 1-56. Вычисление коэффициентов поглощения (28). 1-5в. Номограмма для определения коэффициентов поглощения (30).

1-6. Суммарное ослабление рентгеновских лучей............... 31

1-6а. Атомные коэффициенты ослабления для элементов (31). 1-66. Массовые коэффициенты ослабления μ/ρ для элементов (33). 1-6в. Массовые коэффициенты ослабленияμ/ρ для больших длин волн (36). 1-6г. Массовые коэффициенты ослабленияμ/ρ для малых длин волн (36). 1-6д. Массовые коэффициенты ослабленияμ/ρ для некоторых соединений (37). 1-6е. Толщина слоя половинного ослабления рентгеновских лучей для некоторых элементов (37). 1-6ж. Толщина слоя половинного ослабления при различных углах падения лучей на образец (38).

1-7. Ионизирующее действие рентгеновских лучей.............. 40

1-8. Преломление рентгеновских лучей.................... 41

1-8а. Единичные декременты показателя преломления (41). 1-8б. Углы полного внутреннего отражения (42).

Глава 2. Получение и измерение рентгенограмм................. 43

2-1. Оборудование рентгеновских лабораторий................ 43

1. Рентгеновские установки (43). 2. Рентгеновские трубки и кенотроны (59). 3. Рентгеновские камеры (62). 4. Микрофотометры (63).

2-2. Получение сфокусированных линий ................... 66

2-3. Методы исследования превращений и состояния кристаллической решетки

при высоких и низких температурах.................. 69

2-4. Фотографический метод регистрации.................. 71

2-4а. Режимы съемки рентгенограмм некоторых материалов (71). 2-4б. Номограмма для установки рентгеновских камер обратной съемки (72). 2-4в. Номограмма для установки рентгеновских камер экспрессной съемки (72).

2-5. Ионизационный метод регистрации................... 73

2-5а. Свойства счетчиков излучения (73). 2-5б. Поглощение рентгеновских лучей в счетчиках Гейгера—Мюллера (76). 2-5в. Эффективность различных типов счетчиков излучения (76).

2-6. Селективно-поглощающие фильтры................... 77

2-7. Характеристики кристаллов-монохроматоров............... 77

2-7а. Характеристики отражений и свойства кристаллов-монохроматоров (77). 2-7б. Отражательная способность кристаллов-монохроматоров (79). 2-7в. Оптимальная толщина кристаллов-монохроматоров при съемке на прохождение (79). 2-7г. Свойства плоских кристаллов-монохроматоров (79). 2-7д. Углы отражения для изогнутых кристаллов-монохроматоров (80).

2-8. Параметры съемки с изогнутым кварцевым монохроматором....... 80

2-9. Измерение положения дифракционных линий на рентгенограммах .... 86 2-9а. Определение угла скольжения при съемке на плоскую пленку (86). 2-9б. Поправка на нестандартность диаметра рентгеновской камеры (87). 2-9в. Поправка на толщину образца (91). 2-9г. Поправка на эксцентриситет образца в рентгеновской камере (92).

2-10. Измерение интенсивности....................... 93

2-10а. Число импульсов, нужное для получения заданной вероятной ошибки на ионизационной установке (93). 2-10б. Поправка на статистическую ошибку счета (93). 2-10в. Поправка на размер частиц для неподвижного образца (94). 2-10г. Поправка на размер частиц при вращении образца (95). 2-10д. Поправка на просчет счетчика (96).

2-11. Междублетные расстояния....................... 97

2-12. Некоторые данные для расчета лауэграмм............... 98

2-12а. Сетка для расчета лауэграмм, снятых методом обратной съемки (98). 2-12б. Сетка для расчета лауэграмм, снятых на прохождение (100). 2-12в. Вспомогательная таблица для построения проекции кристалла по лауэграмме (102). 2-13. Определение ориентировки крупных кристаллов в поликристаллических образцах ............................... 103