Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Новая папка / Питання по курсу ЕЛМ (2014) (1)

.doc
Скачиваний:
4
Добавлен:
12.05.2015
Размер:
35.33 Кб
Скачать
  1. Назвіть характерні особливості електронів, що дозволяють застосувати їх для отримання зображень

  2. Намалюйте схему променів, що виходять з різних точок пробного об’єкту через збиральну лінзу. Позначте на малюнку:

  • предметну площину

  • задню фокальну площину

  • площину зображення

  • В який площині формується первинне зображення об’єкту (згідно теорії Аббе)? Які промені, що виходять з об’єкту, його формують? Позначте на малюнку.

  • В якій площині формується вторинне зображення об’єкту? В якій площині формується дифракційна картина об’єкту?

  • Результатом якого оптичного явища ‘ формування дійсного зображення об’єкту і в якій площині його слід шукати?

  • Види взаємодії високоенергетичних електронів з речовиною. Поясніть за допомогою малюнків

  • Головні характеристики електронного випроміненя

  • Види джерел електронів.

  • Призначення електронних лінз в електронному мікроскопі. Наведіть 4 пункти

  • Дві головні функції магнітних лінз

  • Призначення венельту та аноду. До якого типу лінз вони відноситься? Що таке еквіпотенціальні площини? Що таке кроссовер?

  • Наведіть розрахунок фокусної відстані магнітної лінзи виходячи з прискорюючої напруги

  • Сформулюйте закон Гаусса для лінз.

  • Види аберрацій лінз та іх параметри. Які чинники визначають дію кожного виду?

  • Що такое дисторсія і яка її відмінність від решти аберраций?

  • Різновиди контрасту на електронно-мікроскопичному зображенні

  • Формування зображення зразка на екрані просвічувающого електронного мікроскопу (хід променів, лінзи)

  • Чим відрізняється електронна мікроскопія високої роздільної здатності (HR TEM) від звичайного режиму роботи ТЕМ?

  • Вакуумна система електронного мікроскопу. Вимоги до вакууму. Засоби відкачки та який граничний вакуум вони забезпечують.

  • Основні методи підготовки зразків для електронно-микроскопичного аналіза.

  • Призначення електронних лінз в мікроскопі. Функціі кожної з них

  • Формування світлопольного та темнопольного зображень в електронному мікроскопі просвічуючего типу.

  • Принципи розрахунку електронограмм та мікроелектронограмм. Модифікація формули Вульфа-Брегга для випадку розсіяння електронів високої енергіі. Особливості дифракціі електронів високої енергіі порівняно з дифракцією характеристичних рентгенівських променів

  • Поняття про різновиди дифракційного контрасту зображень.

  • Фактори, що визначають роздільну здатність просвічуючого електронного мікроскопу.

  • Принцип роботи скануючого електронного мікроскопу