ti / Yarmolik / КиДСВТ_Лекции_2014 / Вопросы_КиДСВТ_2013

Вопросы по курсу «Контроль и диагностика средств вычислительной техники»

2013-2014 учебный год

1. Введение.

2. Модели неисправностей цифровых устройств.

3. Три множества тестовых последовательностей.

4. Общая методология построения тестов для заданной модели неисправностей.

5. Метод активизации одномерного пути.

6. Контр пример Шнейдера

7. Метод активизации многомерного пути. Кубическое описание логических элементов.

8. Метод активизации многомерного пути. D-алгоритм.

9. Булево-дифференциальный метод построения тестов.

10. Метод случайного поиска.

11. Комбинированный метод построения тестов.

12. Практические правила контролепригодного синтеза.

13. Практические правила контролепригодного синтеза.

14. Метод Рида-Маллера.

15. Метод контролепригодного синтеза в базисе 2 И-НЕ, НЕ.

16. Стэндфордский вариант.

17. Метод произвольного сканирования.

18. Метод LSSD.

19. Метод граничного сканирования. Стандарт реализации JTAG.

20. Метод счёта переходов.

21. Синдромное тестирование.

22. Генераторы тестовых воздействий. Генераторы псевдослучайных тестовых воздействий.

23. Генераторы M-последовательностей. Две альтернативные структуры.

24. Математическое описание генераторов M-последовательностей.

25. Свойства M-последовательностей.

26. Генератор последовательности де Брейна.

27. Генерация псевдослучайных последовательностей на клеточных автоматах.

28. Генератор Геффе (Geffe).

29. Генератор Stop&Go.

30. Каскадная схема Гольдмана (Goldman).

31. Пороговая схема генератора псевдослучайных чисел.

32. А5.1 алгоритм.

33. Синтез генераторов псевдослучайных тестовых наборов.

34. Вероятностное тестирование.

35. Алгоритм вычисления сигнальной вероятности произвольного полюса ЦС.

36. Определение длины вероятностного теста.

37. Псевдоисчерпывающее тестирование.

38. Сигнатурный анализ.

39. Достоверность сигнатурного анализа.

40. Синтез многоканальных сигнатурных анализаторов.

41. Сжатие в пространстве и во времени и мультиплексирование для многоканального сигнатурного анализа.

42. Применение структур типа BILBO.

43. Методика использования сигнатурного анализа для поиска неисправностей в кольце элементов, охваченных обратной связью.

44. Структура самотестируемого микропроцессора Intel 80386.

45. Циклическое тестирование, или BILBO-тестирование.

46. Самотестирование TMS32010.

47. S³ самотестирование.

48. STUMPS архитектура.

49. Microbit.

50. Примеры реализации самотестирования в современной практике.

51. Тестирование ОЗУ. Основные проблемы, возникающие при тестировании ОЗУ

52. Простейшие модели неисправности ОЗУ.

53. Модели сложных неисправностей ОЗУ. Неисправности взаимного влияния, кодочувствительные неисправности.

54. Обнаружение кодочувствительных неисправностей.

55. Тесты типа N². Тесты типа N^3/2.

56. Маршевые тесты.

57. Тесты для словоориентированных запоминающих устройств.

58. Самотестирование запоминающих устройств.

59. Неразрушающее тестирование ОЗУ. Процедура проведения неразрушающего тестирования ОЗУ.

60. Неразрушающие тесты ОЗУ, основанные на адаптивном сигнатурном анализе.

61. Свойства адаптивного сигнатурного анализа.

62. Симметричные неразрушающие тесты ОЗУ.

63. Параметрическое тестирование. Iddq тестирование.

64. Алгоритм построения Iddq тестов.

65. Псевдоисчерпывающие тесты.

66. Функциональные тесты. Тесты микропроцессоров.

67. Функциональные тесты. Системный граф.

68. Тест проверки механизма хранения и передачи данных.

69. Тесты программного обеспечения.

70. Неисправность, ошибка и неисправное поведение вычислительных систем.

71. Меры эффективности вероятностных тестов.

72. Вероятностные и антивероятностные тесты ПО.

73. Управляемые вероятностные тесты.

74. Антивероятностное тестирование.

75. Быстрое Антивероятностное Тестирование (FAR).

76. Упорядоченное Вероятностное Тестирование.

77. Оптимальные управляемые вероятностные тесты.

78. Оптимальные управляемые вероятностные тесты малой длины

79. Квази-случайные тестовые последовательности.

80. Модифицированные последовательности Соболя.