6.3. Приемники излучения
Фотоэлектрический приемник(сокращенно фотоприемник) – это оптоэлектронный прибор для преобразования энергии оптического излучения в электрическую энергию. Под действием оптического излучения происходит изменение электрофизических параметров фотоприемника, обусловленное образованием дополнительных свободных носителей заряда в полупроводнике. Этот процесс называется внутренним фотоэлектрическим эффектом или внутренним фотоэффектом. Для того чтобы поглощенный полупроводником фотон излучения создавал носители электрического заряда или фотоносители, его энергияWф должна быть достаточной для перевода электрона из валентной зоны (W1на рис. 6.1) в зону проводимости (W3на рис. 6.1), т.е. необходимо выполнение соотношения
,
(6.3)
где h– постоянная Планка,
–
ширина запрещенной зоны.
Из выражения (6.3) следует, что фотоэффект возникает в полупроводнике только при воздействии на него излучения с длиной волны, меньшей некоторого граничного значения
, (6.4)
где с– скорость света в вакууме.
Для широко распространенных
полупроводниковых материалов: кремния,
германия и арсенида галлия – значение
составляет
1,1; 1,8; 0,9 мкм соответственно.
Работа существующих приемников излучения основана на двух формах внутреннего фотоэффекта: фотогальваническом и эффекте фотопроводимости.
Фотогальванический эффект возникает в полупроводниках с внутренним потенциальным барьером, таких как p-n-переход, переход металл-полупроводник и др. В указанных структурах внутреннее электрическое поле перехода разделяет фотоносители, возникшие под действием оптического излучения, создавая фотоЭДС. Это явление лежит в основе работы основноймассы фотоприемников: фотодиодов, фототранзисторов, фототиристоров и др.
Явление фотопроводимости отличается от фотогальванического эффекта тем, что разделения фотоносителей не происходит, а изменение их концентрации влияет на проводимость полупроводника.
Фоторезистор– фотоприемник,
использующий для преобразования световой
энергии в электрическую явление
фотопроводимости. Чувствительным
элементомфоторезистора, устройство
которого показано на рис. 6.3,а,
является тонкий слой полупроводникового
материала, расположенный на диэлектрической
подложке. При включении фоторезистора
в электрическую цепь (рис. 6.3,б) в
отсутствии света по цепи течет темновой
ток. При воздействии оптического
излучения проводимость светочувствительного
слоя в
озрастает
и ток увеличивается.
З
ависимости
тока от светового потокаiФ
= f(Ф) и
зависимость тока от приложенного
напряженияiФ
= f(u)
(приведенные на рис. 6.4,аибсоответственно) представляют собой
энергетическую и вольт-амперную
характеристики фоторезистора.
Несмотря на большой коэффициент преобразования оптического сигнала в электрический ток, простоту, малые габаритные размеры и массу фоторезисторы находят ограниченное применение вследствие низкого быстродействия и значительной температурной нестабильности параметров.
Фотодиод – фотоприемник,
использующий для преобразования световой
энергии в электрическую фотогальванический
эффект. П
ростейший
фотодиод представляет собой обычный
полупроводниковый диод, в котором
обеспечивается возможность воздействия
оптического излучения наp-n-переход.
Отличие состоит в том, что его корпус
снабжен дополнительной линзой, создающей
внешний световой поток, направленный,
как правило, перпендикулярно плоскостиp-n-перехода.
Упрощенная структура фотодиода и его
УГО показаны на рис. 6.5. В равновесном
состоянии, когда поток излучения
полностью отсутствует, концентрация
носителей и распределение объемного
заряда фотодиода полностью соответствуют
обычнойp-n-структуре
(см. рис. 2.6). При воздействии облучения
в направлении, перпендикулярном плоскостиp-n-перехода, в результате поглощения
фотонов с энергией, большей, чем ширина
запрещенной зоны, вn-области
возникают электронно-дырочные пары.
При диффузии фотоносителей вглубьn-области основная
доля электронов и дырок не успевает
рекомбинировать и доходит до границыp-n-перехода.
Здесь фотоносители разделяются
электрическим полемp-n-перехода,
причем дырки переходят вp-область,
а электроны не могут преодолеть поле
перехода и скапливаются у границыp-n-перехода
вn-области. Таким
образом, ток фотоносителей черезp-n-переход
обусловлен дрейфом неосновных носителей
– дырок. Дрейфовыйток
фотоносителей называется фототоком.
Фотоносители-дырки заряжаютp-область положительно
относительноn-области,
а фотоносители-электроны –n-область
отрицательно по отношению кp-области.
Возникающая разность потенциалов (ЕФ)
называется фотоЭДС.
Для обеспечения высокой чувствительности к излучению необходимо, чтобы в фотодиоде диффузионная составляющая тока была минимальной. Поэтому фотодиод работает или вообще без внешнего напряжения (фотогальванический режим), или при обратном внешнем напряжении (фотодиодный режим).
П
ри
использовании фотодиода в фотогальваническом
режиме источник внешнего напряжения
отсутствует, и диод работает как генератор
фотоЭДС, значение которой пропорционально
интенсивности светового потокаФ.
Значение фотоЭДС не может превысить
контактную разность потенциалов. Типовое
значение фотоЭДС кремниевого фотодиода
составляет 0,50,55 В,
а значение тока короткого замыкания
при среднем солнечном освещении равно
2025 мА/см2.
В фотодиодном режиме фотодиод работает совместно с внешним источником электрической энергии Uвн, положительный полюс которого подключается кn-слою, а отрицательный – кp-слою (рис. 6.6,а).
Под действием напряжения источника в цепи фотодиода, включенного в непроводящем направлении, при отсутствии освещения протекает небольшой темновой ток IТ. В этом случае фотодиод ничем не отличается от обычного диода. При освещении фотодиода поток неосновных носителей заряда черезp-n-переход возрастает, причем ток зависит как от величины освещенности, так и от величины внешнего приложенного напряжения. Семейство ВАХ фотодиода при таком включении (в зависимости от величины светового потокаФ2> Ф1 > Ф0 = 0) приведено на рис. 6.6,б. Как следует из принципа работы фотодиода, фототок суммируется с обратным током теплового происхождения:
. (6.5)
Значение фототока (см. обозначения на рис. 6.6, б) в первом приближении можно найти из выражения
, (6.6)
где
–
интегральная чувствительность.
Одной из главных характеристик фотодиода
является его частотная характеристика,
которая показывает изменение интегральной
чувствительности в зависимости от
изменения частоты светового потока.
Иногда инерционные свойства фотодиода
характеризуют граничной частотой, на
которой интегральная чувствительность
уменьшается в
раз
по сравнению со своим статическим
значением. Граничная частота
быстродействующих кремниевых фотодиодов
– порядка 107Гц.
Для повышения быстродействия и увеличения чувствительности разработаны некоторые типы фотодиодов со структурой, отличной от структуры фотодиода с p-n-переходом.
Фотодиоды, выполненные на основе p-i-n-структур, имеют значительно большую толщину области, обедненной основными носителями заряда, так как междуp- иn-областями имеется i-область с собственной электропроводностью. К переходу без риска пробить его можно приложить значительные напряжения. Возникает ситуация, когда световое излучение поглощается непосредственно в области, обедненной основными носителями заряда, в которой создано электрическое поле высокой напряженности. Электроны и дырки, возникающие в области перехода при световом облучении,мгновенно перекидываются в соответствующие области. В результате быстродействие резко возрастает, и граничная частота таких диодов достигает 1091010 Гц.
Аналогичными по быстродействию являются фотодиоды на основе барьера Шоттки. Они выполняются из кремния, на поверхность которого нанесено прозрачное металлическое покрытие из пленок золота (d= 0,01 мкм) и сернистого цинка (d= 0,05 мкм), создающее барьер Шоттки. Благодаря минимальному сопротивлению базы и отсутствию процессов накопления и рассасывания избыточных зарядов, быстродействие этих структур получается достаточно высоким (граничная частота достигает 1010Гц).
М
+ Rд
+
Iн Uвх VD Uвых Rн Iд
– –
Свет
Стеклянная подложка
Полупроводниковый
слой
Выводы а) Рис. 6.3.
Устройство, УГО и схема включения
фоторезистора iФ RФ











аркировка
фотодиода содержит буквы ФД (фотодиод)
и цифру (порядковый номер разработки),
например ФД3.
Ф
ототранзисторимеет структуру, аналогичную структуре
биполярного транзистора (рис. 6. 7,а).
Как и у обычного биполярного транзистора,
здесь есть дваp-n-перехода:
эмиттерный и коллекторный. Напряжение
питания на транзистор подают так же,
как и на обычный биполярный транзистор,
т.е. эмиттерный переход смещают в прямом
направлении, а коллекторный – в обратном.
Часто применяют включение, когда
напряжение прикладывается только между
коллектором и эмиттером, а вывод базы
остается оторванным (рис. 6.7,б). На
этом же рисунке использовано стандартное
УГО фототранзистора. Такое включение
называютвключением с плавающей базой,
и оно характерно только для фоторезисторов.
При включении с плавающей базой
фототранзистор всегда находится в
активном режиме, однако приФ= 0 (и
невысокой температуре) протекающий
через него ток невелик. Это темновой
ток коллектора транзистора при заданной
температуре.
Рассмотрим явления в фототранзисторе на примере n-p-n-структуры. Конструктивно фототранзистор выполнен так, что световой поток облучает область базы. В результате поглощения энергии в ней генерируются электронно-дырочные пары. Неосновные носители заряда в базе (электроны) диффундируют к коллекторному переходу и перебрасываются электрическим полем перехода в коллектор, увеличивая ток последнего. Этот процесс аналогичен процессу в фотодиоде. Если база разомкнута, то основные носители заряда (дырки), образовавшиеся в процессе облучения, не могут покинуть базу и накапливаются в ней. Объемный заряд этих дырок снижает потенциальный барьер эмиттерного перехода, в результате чего увеличивается диффузионное движение электронов через эмиттерный переход. Дырочный ток из базы в эмиттер равноценен обычному базовому току биполярного транзистора, поэтому он вызывает встречный поток (ток) электронов из эмиттера в базу, по величине превышающий базовый ток враз. Инжектированные электроны, попав в базу, движутся, как и в обычном транзисторе, к коллекторному переходу и, переходя в область коллектора, увеличивают его ток. Таким образом, носители заряда, генерируемые в результате облучения светом, непосредственно участвуют в создании фототока. Особенностью фототранзистора является то, что относительно малые значения фототока базы за счет усиления транзистора по току приводят к значительно большему (враз) изменению коллекторного тока.
Режим работы фототранзистора с плавающей базой является достаточно нестабильным, поэтому в ряде случаев на базу фототранзистора подают внешнее напряжение, спрямляющее его ВАХ и частично компенсирующее зависимость режима от температуры.
К основным параметрам фототранзисторов, приводимым в технической документации и справочной литературе, относятся:
вольт-амперные характеристики(рис. 6.7,в) – напоминают выходные характеристики биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером, только параметром служит не ток базыIб, а световой потокФ;
токовая чувствительность– это отношение изменения тока коллектора фототранзистора к вызвавшему его изменению «входного» светового потока при холостом ходе на входе и коротком замыкании на выходе;
коэффициент усиления по фототокуКуф = (1+h21Э).В промышленных фототранзисторах он достигает (15)102и определяется как отношение фототока коллектора транзистора со свободной базой к фототоку коллекторного переходаp-n-перехода, измеренному в диодном режиме (при отключенном эмиттере) при том же значении светового потока.
Ширина полосы пропускания у биполярных фототранзисторов достигает 104105Гц.
Внутренний фотоэффект в полупроводнике может быть использован для построения и других полупроводниковых приборов: фототиристора, однопереходного фототранзистора и др. Следует отметить, что широкого самостоятельного применения приборы с внутренним фотоэффектом не получили. Объясняется это тем, что значение фототока зависит не только от интенсивности светового потока, но и от его спектрального состава. Изменение спектрального состава приводит к неоднозначным результатам в работе устройств, содержащих указанные приборы. Этого недостатка лишены оптоэлектронные приборы – оптроны.
