Технологический процесс изготовления тонкопленочной двухслойной гис (изделие 1 )

Подготовка подложек.Подложки из ситалла марки СТ50-1-1 размером 60х48х0,6поступают на отмывку. После отмывки спиртом, перекисью водорода, водным аммиаком и деионизованной водой их сушат в струе газообразного азота. Межоперационное время хранения отмытых ситалловых подложек не более 6часов в эксикаторе с отожженным силикагелем.

Напыление резистивного слоя.На установке вакуумного напы­ления УВН75П-1 напыляется резистивный слой PC-3710,толщиной ЗООА с поверхностным сопротивлением слоя 960 - 970Ом/Ь.Напыле­ние происходит в вакуумной камере в атмосфере азота и аргона пони­женного давления 6,65х10-²Па ( 5х10-⁶мм рт. ст. ).Подложки нагре­ваются до 300°С и стабилизируются 10-20мин. Напыление слоя PC-3710происходит 3-4мин. при контроле сопротивления по свидетелю до достижения поверхностного сопротивления 960-970 om/d .

Для стабилизации резистивного слоя его отжигают в диффузи­онной печи при температуре 350°С в течение 240± 10мин. При этом его поверхностное сопротивление увеличивается до 830 - 870Ом/а.

Контроль качества резистивной пленки PC-3710на травление производится в вытяжном шкафу травлением подложки-спутника.

Напыление проводящего слоя.Напыление ванадий-медь-ванадий производится на установке "Оратория -5⁵⁹методом магне-тронного распыления материала мишени в атмосфере инертного газа.

После загрузки в карусель подложки нагреваются в рабочей ка­мере до температуры 250± 10°С и выдерживаются 20мин. Подслой ванадия толщиной 0,05 - 0,1мкм напыляется в течение 25сек. Слой

меди напыляется за 250сек. толщиной 1,5-2мкм. Время между напы­лением V-Cuи Vне должно превышать 5мин.

После напыления слоя ванадий -медь проводится контроль его внешнего вида и адгезии.

Фотолитография по V - Си - V.На подложки центрифугирова­нием наносится фоторезист ФП-383. Частота вращения центрифуги1500об/мин, при нанесении и 2500об /мин. при растекании по по­верхности. Фоторезист сушится в продуваемой азотом камере при температуре 100°С. Вслед за экспонированием и проявлением он за-дубливается при температуре 130°С в продуваемой азотом камере 10 мин. Ванадий стравливается в растворе Н202 : HiO =1:1,медь -в рас­творе Н20 + NH4S20g +СгОз = 6:1:3.После снятия каждого из слоев V -Си - Vподложки промываются в проточной деионизованной воде. Оставшийся фоторезист удаляется в диметилацетамиде. Подложки от­мываются в проточной деионизованной воде при барботаже 2-3мин. Время между операциями экспонирования и травления не должно пре­вышать 4-х часов.

Фотолитография резистивного слоя.Подложки поступают на фотолитографию по слою PC-3710после контроля качества предыдущей фотолитографии. Операционный процесс тот же. Травле­ние PC-3710осуществляют в растворе HF:HNOs: HbO = 1:4:10.

Фотолитография по изоляционному слою.Изоляцией между нижним и верхним проводящими слоями служит фоторезист ФП-25, имеющий высокое сопротивление. Фоторезист наносится центрифуги­рованием при частоте вращения 1500об/мин, а сушится при темпера­туре 100°С в продуваемой азотом камере, затем задубливается при температуре 100°С в течение 2-х часов, затем при температуре 200°С в течение 1часа. Толщина слоя ФП-25 5мкм, при этом сопротивление его должно быть не менее 50МОм.

В образовавшихся при травлении окнах стравливается верхний слой ванадия и производится декапирование плат в 2%растворе НС1 и в растворе для травления меди, разбавленном деионизованной водой в соотношении 1:5 в течение 10 - 30с при комнатной температуре.

Напыление второго проводящего слоя.Напыление слоя ванадий-медь происходит в установке "Оратория -У\При напылении V-Cuна фоторезист подложки нагреваются до температуры 135 - 140°С.

Нанесение защитного слоя.После фотолитографии по слою V-­Cuнаносится фоторезист ФП-383. Частота вращения центрифуги 800 об/мин. После сушки, экспонирования и проявления фоторезист за-дубливаются в течение 40мин. при температуре 200°С.

Лужение.Предварительно подложки декапируют в двухпро­центном растворе соляной кислоты для освежения меди, сушат, про­мывают в проточной воде, облуживают в припое ПОСМ-0,5, исполь­зуя спирто-канифольный флюс, затем отмывают в толуоле.

Скрайбированиепроизводится на установке скрайбирования "Алмаз".

Подгонка резисторовдо номинала производится на установке лазерной подгонки УПР-1, имеющей рабочий ход столика, на который устанавливается подгоняемая плата 150х200мм. Диаметр луча лазера40мкм. Щупы контактирующего устройства фиксируются на кон­тактных площадках платы. Подгонка осуществляется перемещением стола с платой относительно головки лазера до тех пор, пока сопро­тивления каждого из резисторов, сравниваемые с перестраиваемым по программе сопротивлением эталонного резистора, не будут равны но­минальным значениям. На рис. 1.П2. показаны участки грубой и точ­ной подгонки резисторов.

После этого следует контроль сопротивлений резисторов и меж-слойной изоляции.

Монтажные операции.Платы приклеивают к корпусу клеем ВК-9. Затем наклеивают навесные компоненты к плате, после чего су­шат в сушильном шкафу при температуре 60°С в течение 2-х часов. Разваривают выводы навесных компонентов к контактным площад­кам платы. Выводы корпуса приваривают к контактным площадкам платы. Выводы корпуса приваривают к контактным площадкам платы медной луженой проволокой припоем ПрЗ ПОС-61.

Открытые микросхемы проверяются на функционирование и подвергаются вакуумной сушке в вакуумном сушильном шкафу.

Герметизация.Для фиксации крышки к основанию корпуса ее прихватывают в нескольких точках на установке контактно-точечной сваркой, затем приваривают на установке шовной сварки "Квант-12⁹⁵ в атмосфере аргона.

Герметичность готовой микросхемы проверяют погружением в этиленгликоль. После проверки и маркировки поверхность корпуса покрывают защитным лаком УР-231.

а - ширина резистора;

b - глубина реза 150-200 мкм;

с - расстояние между линией реза и контактной площадкой, 50 мкм;

d - диаметр лазерного луча.

Рис. 1. П.2. Варианты грубой и точной подгонки резисторов различной фор-

Технологический маршрут изготовления тонкопленочной двух­слойной ГИС (изделие 1)

Номер операции в мар­шрутной карте	Содержание операции
1	2
1.	Очистка подложки
2.	Напыление резистивного слоя PC-3710
3.	Стабилизация резистивного слоя PC-3710
4.	Измерение удельного поверхностного сопротивления слоя PC-3710
5.	Контроль качества слоя PC-3710на травление (на дополни­тельной подложке)
6.	Напыление первого проводящего слоя ванадий-медь-ванадий
7.	Контроль адгезии слоя ванадий-медь-ванадий
8.	Фотолитография 1по проводящему слою ванадий-медь-ванадий
9.	Контроль качества ФЛ1
10.	ФЛ2 по резистивному слою PC-3710
11.	Контроль качества ФЛ2
12.	Нанесение изоляционного слоя (фоторезист ФП-25)
13.	ФЛЗ по изоляционному слою (фоторезист ФП-25)
14.	Контроль качества ФЛЗ
15.	Декапирование платы
16.	Напыление второго проводящего слоя ванадий-медь
17.	ФЛ4 по слою ванадий-медь
18.	Контроль качества ФЛ4
19.	Нанесение защитного покрытия (фоторезист ФП-383)
20.	ФЛ5по слою ФП 383.Вскрытие контактных площадок для контроля и монтажа
21.	Контроль качества ФЛЗ
22.	Декапирование платы перед лужением
23.	Лужение открытых контактных площадок
24.	Отмывка плат после лужения
25.	Контроль качества лужения
30.	Скрайбирование (резка подложки на платы)
31.	Контроль резисторов

1	2
32.	Подгонка резисторов лазером
33.	Контроль электрических параметров
34.	Монтаж навесных компонентов
35.	Контроль качества монтажа
36.	Приклейка платы к основанию корпуса
37.	Пайка выводов корпуса к внешним контактным площадкам
38.	Контроль на функционирование
39.	Вакуумная сушка перед герметизацией
40.	Прихватка крышки к корпусу контактно-точечной сваркой
41.	Герметизация лазерной сваркой
42.	Контроль герметичности
43.	Маркировка
44.	Защита поверхности корпуса лаком УР-231
45.	Упаковка в тару

Примечание:При изготовлении однослойной ГИС на операции 6про­водится напыление проводящего слоя V-Cu.Исключаются операции№№12, 13, 14,15, 16, 17, 18.

Рис. 2 IL2.Электрическая схема изделия 1.

Рис. 3 П.2.Топология изделия 1.