Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Скачиваний:
41
Добавлен:
31.03.2015
Размер:
167.94 Кб
Скачать

2. Описание установки и метода измерений

Источником света в данной работе служит гелий-неоновый лазер, излучение которого обладает высокой степенью монохроматичности и малой расходимостью. Схема установки приведена на рис. 5.

Рис. 5

На оптической скамье 1 установлены: гелий-неоновый лазер 2, рейтер с пластинкой 3 и фотоприемник 4 с достаточно узким входным окном. На одном участке пластинки 3 имеется одна щель, а на другом – две. Поперечным перемещением их можно вводить в зону лазерного луча.

Фотоприемник соединен с микроамперметром и может с помощью микрометрического винта перемещаться в плоскости дифракционной картины, что позволяет исследовать распределение интенсивности света в дифракционном спектре. Для упрощения оптической схемы за щелями нет линзы для фокусировки дифракционной картины, поэтому в случае двух щелей она представляет собой не узкие спектральные линии, а широкие полосы, повторяющие сечение лазерного пучка.

Запрещается уводить в сторону луч лазера!

3. Порядок выполнения работы

Исследование распределения интенсивности света при дифракции на одной щели

1. Ознакомьтесь с приборами на установке и заполните таблицу спецификации измерительных приборов.

Название прибора

Пределы

измерения

Цена деления

Инструментальная погрешность

2. Установите рейтер с пластиной 3 на расстоянии 10-15 см от лазера. Пользуясь регулировочным винтом державки пластины, поперечным перемещением введите в область лазерного луча участок пластины с одной щелью. Установите пластину перпендикулярно лучу, направив отраженный луч обратно в выходное отверстие лазера.

3. Фотоприемник 4 разместите на конце оптической скамьи, как можно дальше от щели.

4. Включите освещение шкалы микроамперметра. Поперечным перемещением фотоприемника подведите его входное окно к центру дифракционной картины. Подберите удобный передел измерения микроамперметра, при котором максимальное отклонение указателя составляет не менее 3/4 от шкалы прибора.

5. Перекройте входное окно фотоприемника и убедитесь, что указатель микроамперметра стоит на нуле. Перекройте луч лазера у его выходного отверстия и измерьте фоновый ток I0.

6. Перемещая с помощью винтовой рукоятки фотоприемник вдоль дифракционной картины, как в прямом, так и в обратном направлениях, снимите зависимость показаний I микроамперметра от координаты x фотоприемника. Результаты измерений запишите в таблицу 1.

7. Измерьте расстояние L от пластины 3 до фотоприемника 4.

Исследование распределения интенсивности света при дифракции на двух щелях

8. Не изменяя расстояния L, поперечным перемещением державки пластины 3 введите в область лазерного луча участок пластины с двумя щелями. Установите пластину перпендикулярно лучу, направив отраженный луч обратно в выходное окно лазера. Добейтесь того, чтобы световой пучок равномерно освещал обе щели. При этом дифракционная картина будет иметь наилучшую видимость.

9. Снимите зависимость показаний I микроамперметра от координаты фотоприемника x, повторив пункты 3 и 5. Шаг смещения Δx подберите так, чтобы можно было определить положение главных максимумов и дополнительных минимумов. Результаты измерений запишите в таблицу 2.