
Шумахер У. Полупроводниковая электроника
.pdf
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 552 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
552 16. Глоссарий
выбрасываются из кэша и заменяются вос- |
MCBF (Mean Cycles Between Failures) |
|||||||
требованными в текущий момент данными. |
Среднее количество рабочих циклов до от- |
|||||||
LSB (Least Significant Bit) |
|
каза компонента (см. также MTBF). |
||||||
|
|
|
|
|||||
Младший значащий бит двоичного числа |
MCM (Multi-Chip Module) |
|
||||||
(см. также LSD, MSB, MSD). |
|
Многокристальный модуль (тип гибрид- |
||||||
LSD (Least Significant Digit) |
|
ной ИС). |
|
|
||||
|
|
|
|
|||||
Младший значащий разряд числа. В пози- |
MCP (Multi-Chip Package) |
|
||||||
ционной системе счисления — разряд с |
Несколько чипов в одном корпусе (тип гиб- |
|||||||
наименьшим весовым коэффициентом (см. |
ридной ИС). |
|
||||||
также LSB, MSB, MSD). |
|
MCT (MOS Controlled Thyristor) |
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|||
LSI (Large Scale Integration) |
|
МОП-управляемый тиристор. |
|
|||||
Интегральная |
схема с |
большой |
степенью |
MCU (MicroController Unit) |
|
|||
интеграции |
(БИС), |
которая |
содержит |
|
||||
Микроконтроллер. |
|
|||||||
100…1000 транзисторов или других элемен- |
|
|||||||
|
|
|
||||||
тов (см. также ELSI, GLSI, MSI, VLSI, ULSI). |
MCVD (Modified Chemical Vapor Deposition) |
|||||||
LSL (Low Speed Logic) |
|
|
Усовершенствованный процесс химическо- |
|||||
|
|
го осаждения из газовой фазы. Технология |
||||||
ИС низкоскоростной логики; характеризу- |
||||||||
покрытия для оптоэлектронных полупро- |
||||||||
ется малым быстродействием, но повышен- |
||||||||
водниковых компонентов (см. также CVD). |
||||||||
ной помехозащищённостью. |
|
|||||||
|
|
|
|
|||||
LSTTL (Low power Schottky TTL) |
|
MDA |
|
|
||||
|
1. Monolithic Diode Array — монолитная ди- |
|||||||
Маломощные |
транзисторно-транзистор- |
|||||||
одная сборка (матрица). |
|
|||||||
ные логические схемы с диодами Шотки. |
|
|||||||
2. Monochrome Display Adapter — адаптер |
||||||||
Семейство быстродействующих маломощ- |
||||||||
монохромного дисплея. Графическая кар- |
||||||||
ных TTL-микросхем с использованием ди- |
||||||||
та, не поддерживающая возможность рабо- |
||||||||
одов Шотки. |
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
ты с цветом. Предшественник графических |
||||
|
|
|
|
|
||||
LTT (Light Triggered Thyristor) |
|
карт Hercules, выпускавшихся |
компанией |
|||||
Тиристор с прямым управлением светом |
IBM начиная с 1981 года. |
|
||||||
(фототиристор). |
|
|
|
MEMS (Micro Electro Mechanical System) |
||||
|
|
|
|
|
||||
LVC (Low Voltage CMOS) |
|
Микроэлектромеханическая система. |
||||||
Низковольтная (с |
напряжением |
питания |
MESC (Modular Equipment Standards |
|||||
3.3 В) КМОП ИС. |
|
|
|
|||||
|
|
|
Committee) |
|
||||
|
|
|
|
|
|
|||
LVTTL (Low Voltage TTL) |
|
Комитет |
по стандартизации |
модульного |
||||
Низковольтная TTL-логика. Интерфейс, |
оборудования. Подразделение SEMI, зани- |
|||||||
предназначенный |
для преобразования |
мающееся |
стандартизацией |
инструмен- |
||||
стандартного |
уровня |
питания микросхем |
тальных интерфейсов для оборудования по |
|||||
TTL (5 В) к пониженному напряжению пи- |
производству полупроводниковых компо- |
|||||||
тания 3.3 В. |
|
|
|
|
нентов. До сих пор предпринималось очень |
|||
MBE |
|
|
|
|
мало попыток реальной стандартизации в |
|||
|
|
|
|
данной области, хотя она представляет со- |
||||
1. Molecular Beam Epitaxy — молекулярная |
||||||||
бой огромный интерес для исследований. |
||||||||
(молекулярно-пучковая) эпитаксия. |
||||||||
|
|
|
||||||
2. Multi-Board Emulator — эмулятор, пред- |
MESFET (Metal Semiconductor FET) |
|||||||
назначенный для работы с системными |
Полевой транзистор с затвором (барьером) |
|||||||
платами различных типов. |
|
Шотки. |
|
|
||||
MC (Memory Controller) |
|
MFLOPS (Million FLoating point OPerations |
||||||
Контроллер памяти. Представляет собой |
per Second) |
|
||||||
набор интегрированных в чип программи- |
Миллион операций над числами с плаваю- |
|||||||
руемых контроллеров и разгружает ЦПУ от |
щей точкой в секунду. |
|
||||||
выполнения ряда специфических опера- |
|
|
|
|||||
ций при обращении к модулям DRAM. |
|
|
|
|
|
|
|
|
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 553 из 590 (September 4, 2010, 19:48) |
||
|
|
|
|
|
16. Глоссарий 553 |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
MIC |
|
|
|
MMU |
|||
1. Media Interface Connector — разъём опто- |
1. Mass Memory Unit — массовая память, за- |
||||||
волоконного сетевого интерфейса (FDDI); |
поминающее устройство (сверх)большой |
||||||
обеспечивает дуплексное соединение в со- |
ёмкости. |
||||||
ответствии со стандартом физического под- |
2. Memory Management Unit — диспетчер |
||||||
уровня (PMD). Разъём MIC снабжён меха- |
памяти. |
||||||
ническим ключом для защиты от случайно- |
MNOS (Metal Nitride Oxide Semiconductor) |
||||||
го неправильного соединения (переполю- |
|||||||
Структура типа металл — нитрид — оксид — |
|||||||
совки контактов). |
|
|
|||||
|
|
полупроводник, МНОП-структура. Полу- |
|||||
2. Microwave Integrated Circuit — ИС диапа- |
|||||||
проводниковая структура с двойным изоли- |
|||||||
зона СВЧ. Обычно, гибридная или много- |
|||||||
рующим слоем, выполненным из нитрида |
|||||||
кристальная ИС (см. также MMIC). |
|||||||
кремния и оксида кремния (см. также |
|||||||
|
|
|
|
|
|||
MIL-Spec |
|
|
SNOS/SONOS). |
||||
Предназначенный для военного примене- |
MNOS FET (Metal Nitride Oxide |
||||||
ния. |
|
|
|
||||
|
|
|
Semiconductor FET) |
||||
|
|
|
|
|
|||
MIM (Metal Insulator Metal) |
|
Полевой транзистор со структурой металл — |
|||||
Структура типа металл — диэлектрик — ме- |
нитрид — оксид — полупроводник, |
||||||
талл, МДМ-структура. |
|
|
МНОП-транзистор. |
||||
MIPS (Million Instructions Per Second) |
MNS FET (Metal Nitride Semiconductor |
||||||
Параметр (миллионов команд в секунду), |
FET) |
||||||
характеризующий |
производительность |
Полевой транзистор металл — нитрид — |
|||||
процессора. В качестве команд при расчёте |
полупроводник, МНП-транзистор. |
||||||
значения этого параметра для конкретного |
MNS |
||||||
процессора берутся его наиболее употреби- |
|||||||
1. Metal Nitride Semiconductor — полупро- |
|||||||
тельные |
со статистической точки зрения |
||||||
водниковая структура, состоящая из слоёв |
|||||||
команды. Отсутствие стандартизации при |
|||||||
металла и нитрида кремния. В отличие от |
|||||||
расчёте |
ограничивает |
реальную |
ценность |
||||
MNOS, не содержит оксидного слоя. |
|||||||
этого параметра. С его помощью можно |
|||||||
2. Multi-Numbering Scheme — многономер- |
|||||||
адекватно оценивать лишь производитель- |
|||||||
ная схема. Использование одним абонен- |
|||||||
ность процессоров одного семейства или |
|||||||
том телефонной сети нескольких телефон- |
|||||||
имеющих схожую архитектуру. |
|
||||||
|
ных номеров для различных сервисов. |
||||||
|
|
|
|
|
|||
MIS (Metal conductor Insulator |
|
MOCVD (Metal Organic Chemical Vapor |
|||||
Semiconductor) |
|
|
|||||
|
|
Deposition) |
|||||
Структура типа металл — диэлектрик — по- |
|||||||
Химическое осаждение из паровой (газо- |
|||||||
лупроводник, МДП-структура. |
|
||||||
|
вой) фазы металлоорганических соедине- |
||||||
|
|
|
|
|
|||
MISFET (Metal conductor Insulator |
|
ний (см. также MOVPE). |
|||||
Semiconductor FET) |
|
|
MODFET (MOdulation Doped FET) |
||||
Полевой транзистор со структурой металл — |
|||||||
Полевой транзистор, изготовленный по |
|||||||
диэлектрик — полупроводник, МДП-тран- |
|||||||
технологии с переменным (модулируемым) |
|||||||
зистор. |
См. также |
MOSFET, |
MESFET, |
||||
профилем примесей. Обладает чрезвычай- |
|||||||
MNSFET. |
|
|
|||||
|
|
но высоким быстродействием (см. также |
|||||
|
|
|
|
|
|||
MISS (Metal conducting Insulator |
|
HEMT, H1GFET, MESFET, TEGFET, SDHT). |
|||||
Semiconductor Switch) |
|
|
MOS (Metal Oxide Semiconductor) |
||||
Переключатель на МДП-транзисторе. |
|||||||
Структура типа металл — оксид — полупро- |
|||||||
|
|
|
|
|
|||
ML (MonoLayer) |
|
|
водник, МОП-структура. |
||||
Многослойный. |
|
|
MOSC (MOS Capacitor) |
||||
|
|
|
|
|
|||
MMIC |
|
|
|
МОП-конденсатор. |
|||
1. Millimeter Wave Integrated Circuit — ИС |
|
|
миллиметрового диапазона (СВЧ). |
MOSFET (Metal Oxide Semiconductor FET) |
|
Полевой транзистор с МОП (металл — ок- |
||
2. Monolithic Microwave IC — монолитная |
||
сид — полупроводник) структурой затвора. |
||
ИС диапазона СВЧ. |
||
|

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 554 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
554 16. Глоссарий
MOST (MOS Transistor) |
полярных транзисторов, с многоколлектор- |
|
МОП-транзистор (см. также MOSFET). |
ными n-p-n-транзисторами и боковыми p- |
|
MOV (Metal Oxide Varistor) |
n-p-транзисторами (см. также I2L). |
|
|
||
Металлооксидный варистор. |
MTNS (Metal Thick Nitride Semiconductor) |
|
MOVPE (Metal Organic Vapor Phase Epitaxy) |
Кремниевая МОП-структура с изоляцией |
|
нитридом кремния. |
||
Процесс эпитаксии металлоорганических |
||
|
||
соединений из паровой фазы. |
MTOS |
|
MPU (MicroProcessing Unit) |
1. Metal/Tunnel Oxide/Semiconductor — тун- |
|
нельный элемент, состоящий из слоя окси- |
||
Блок микропроцессора. Центральное про- |
||
да, обеспечивающий туннелирование элек- |
||
цессорное устройство на базе микросхемы |
||
тронов, который с одной стороны граничит |
||
микропроцессора. |
||
с металлом, а с другой — с полупроводни- |
||
|
||
MQFP (Metric Quad Flat Pack) |
ком. |
|
Плоский корпус ИС с четырёхсторонним |
2. Metal Thick Oxide Semiconductor — крем- |
|
расположением выводов, шаг которых со- |
ниевая МОП-структура с толстым изолиру- |
|
ответствует метрическим (а не американс- |
ющим слоем. |
|
ким) единицам длины. |
MTTF (Mean Time to Failure) |
|
|
||
MQW (Multiple Quantum Well) |
Средняя наработка на отказ (см. также |
|
Структура с несколькими квантовыми яма- |
MTBF). |
|
ми. Полупроводниковая структура, исполь- |
MTTR (Mean Time to Repair) |
|
зующаяся для полупроводниковых лазеров |
||
Средний срок службы до ремонта (или до |
||
(см. также SQW). |
||
утилизации). |
||
|
||
MRAM (Magnetic RAM) |
Multiuser operation |
|
Магнитное ОЗУ. Запоминающее устройство |
||
Многопользовательская операция. Обеспе- |
||
на магнитном носителе. |
||
чение нескольким рабочим станциям (або- |
||
|
||
MSB (Most Significant Bit) |
нентам) возможности сетевого доступа к та- |
|
Старший значащий бит. Разряд двоичного |
ким ресурсам, как данные или периферий- |
|
числа с наибольшим весовым коэффициен- |
ное оборудование. |
|
том (см. также LSB, LSD, MSD). |
MVL (Multi-Valued Logic) |
|
|
||
MSD (Most Significant Digit) |
Многозначная логика. Не двоичная, а, как |
|
Старший значащий разряд числа. В пози- |
минимум, троичная. |
|
ционной системе счисления — разряд с |
NA (Numerical Aperture) |
|
наибольшим весовым коэффициентом (см. |
||
Числовая апертура. Входная угловая апер- |
||
также LSB, LSD, MSB). |
||
тура световода. |
||
|
||
MSI (Medium Scale Integration) |
NEP (Noise Equivalent Power) |
|
ИС средней степени интеграции, кристалл |
||
Эквивалентная мощность шумов. Мощ- |
||
которой содержит от 10 до 100 активных |
||
ность на выходе усилителя или детектора, |
||
элементов (см. также LSI, VLSI). |
||
генерируемая входным сигналом, эквива- |
||
|
||
MSM (Metal Semiconductor Metal) |
лентная внутренним шумам усилителя или |
|
Металл — полупроводник — металл. После- |
детектора. |
|
довательность слоёв в специальном фото- |
Nesting |
|
диоде. |
||
Вложенная структура; чередование про- |
||
|
||
MTBF (Mean Time Between Failures) |
грамм. |
|
Среднее время между отказами (среднее |
NF (Noise Figure) |
|
время безотказной работы). Статистическая |
||
Коэффициент шума, шум-фактор. |
||
характеристика надёжности технического |
||
|
||
оборудования (см. также MTTF, MCBF). |
NMOS (N-channel Metal Oxide |
|
MTL (Merged Transistor Logic) |
Semiconductor) |
|
МОП-структура с каналом n-типа. |
||
Совмещённая транзисторная логика. Ин- |
||
|
||
тегральные логические схемы на основе би- |
|
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 555 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
|
|
|
|
16. Глоссарий |
555 |
||||
|
|
|
|
|
|
||||
NPN (Negative Positive Negative) |
скими |
производителями |
автомобильных |
||||||
n-p-n-структура. Последовательность слоёв |
двигателей. |
|
|
|
|
|
|||
для биполярного транзистора (см. также |
OSI (Open Systems Interconnection) |
|
|
||||||
PNP). |
|
|
|||||||
Модель взаимодействия открытых систем. |
|||||||||
|
|
||||||||
NRE (Non-Recurring Engineering) |
Определяет процесс взаимосвязи открытых |
||||||||
Единовременные затраты на разработку. |
систем в соответствии с эталонной моделью |
||||||||
NTC (Negative Temperature Coefficient) |
ISO (она же — семиуровневая модель). Се- |
||||||||
миуровневая структура протокола основа- |
|||||||||
Отрицательный температурный коэффици- |
|||||||||
на на стандарте ISO 7498 и базовой эталон- |
|||||||||
ент (см. также PTC). |
|||||||||
ной модели OSI, которые разрешают посто- |
|||||||||
|
|
||||||||
OBIC (Optical Beam Induced Current) |
янный и открытый обмен информацией. |
||||||||
Ток, индуцированный лучом света. Исполь- |
Интерфейсы взаимодействия между уров- |
||||||||
зуется для проверки электронных компо- |
нями |
стандартизированы, |
что позволяет |
||||||
нентов (см. также EBIC). |
осуществлять |
контролируемый |
доступ. |
||||||
OC (Open Collector) |
Функционирование любых |
индивидуаль- |
|||||||
ных устройств |
подчиняется |
требованиям |
|||||||
Открытый коллектор. Тип схемы, который |
|||||||||
данной модели. |
|
|
|
|
|
||||
позволяет объединять коллекторы несколь- |
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|||
ких биполярных транзисторов. |
OTP (One Time Programmable) |
|
|
|
|||||
OD (Open Drain) |
Однократно программируемое устройство |
||||||||
(к таким устройствам относятся некоторые |
|||||||||
Открытый сток. Тип схемы на полевом |
|||||||||
ПЗУ, см. также PROM). |
|
|
|
|
|||||
транзисторе, аналогичный схеме с откры- |
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|||
тым коллектором на биполярном транзис- |
Outsourcing (делегирование задач) |
|
|
||||||
торе (см. также OC). |
Передача тех или иных корпоративных за- |
||||||||
OE (Output Enable) |
дач на выполнение сторонним, обычно спе- |
||||||||
циализирующимся в определённой сфере, |
|||||||||
Сигнал разрешения выхода. |
|||||||||
подрядчикам. К числу подобных задач от- |
|||||||||
|
|
||||||||
OEIC (Opto Electronic Integrated Circuit) |
носятся ввод данных, изготовление печат- |
||||||||
Оптоэлектронная интегральная схема. |
ной платы, монтаж компонентов на ней, а |
||||||||
OFDM (Orthogonal Frequently Division |
часто и программирование. Делегирование |
||||||||
части задач позволяет клиентам сконцент- |
|||||||||
Multiplexing) |
|||||||||
рироваться на реализации наиболее важных |
|||||||||
Ортогональное мультиплексирование с раз- |
|||||||||
и относящихся к их компетенции задач. |
|||||||||
делением частот. |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|||
OIC (Optical Integrated Circuit) |
OVPO (Outside Vapor Phase Oxidation) |
||||||||
Процесс осаждения окислов металлов из |
|||||||||
Оптическая ИС. |
|||||||||
газовой фазы на поверхность стержня из |
|||||||||
|
|
||||||||
OIG (Optically Isolated Gate) |
графита. |
|
|
|
|
|
|||
Оптически изолированный затвор. |
Page mode RAM |
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|||
OPA (Optoelectronic Pulse Amplifier) |
ОЗУ с поддержкой страничного режима до- |
||||||||
Оптоэлектронный импульсный усилитель. |
ступа к данным. При этом уменьшается |
||||||||
OPAMP (OPerational AMPlifier) |
время обращения к последовательно распо- |
||||||||
ложенным ячейкам памяти. Данный метод |
|||||||||
Операционный усилитель. |
|||||||||
хорошо применим в устройствах видеопа- |
|||||||||
|
|
||||||||
OROM (Optical Read Only Memory) |
мяти, поскольку графическая информация |
||||||||
Оптическое ПЗУ. |
обычно записывается последовательно (см. |
||||||||
OSEK (Offene Systeme und deren |
также FPM). |
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|||
schnittstellen fur die Elektronik im |
PAL |
|
|
|
|
|
|
||
Kraftfahrzeug) |
1. Programmable Array Logic — программи- |
||||||||
Немецкая аббревиатура, означающая от- |
руемая |
матричная логика. Интегральная |
|||||||
крытые системы и соответствующие интер- |
схема, объединяющая в себе программируе- |
||||||||
фейсы для автомобильной электроники. |
мую матрицу элементов И и непрограмми- |
||||||||
Стандарт для открытых систем был разра- |
руемую матрицу элементов ИЛИ (см. также |
||||||||
ботан совместно германскими и француз- |
PGA, PLA). |
|
|
|
|
|

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 556 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
556 16. Глоссарий
2. Phase Alternating Line — построчное изме- |
применяется термин «электронная плата» |
|||||
нение фазы. Метод передачи цветового сиг- |
или просто «плата». |
|||||
нала в телевидении. Система цветного теле- |
PCD (Plasma Coupled Device) |
|||||
видения PAL (см. также NTSC, SECAM). |
||||||
Прибор с плазменной связью. |
||||||
|
|
|
|
|
||
Parity (чётность) |
|
|
|
PCMCIA (Personal Computer Memory Card |
||
Равенство, однородность. При дистанцион- |
||||||
International Association) |
||||||
ной передаче данных необходимость про- |
||||||
Международная ассоциация производите- |
||||||
верки данных на чётность устанавливается |
||||||
лей карт памяти для персональных компью- |
||||||
предварительным «соглашением» между от- |
||||||
теров. Объединяет производителей и диле- |
||||||
правителем и получателем данных; в наибо- |
||||||
ров, заинтересованных в создании и совер- |
||||||
лее простом варианте вместе с данными пе- |
||||||
шенствовании типовых стандартов для пе- |
||||||
редаётся дополнительный |
бит чётности. |
|||||
риферийного оборудования на базе PC- |
||||||
Однако существуют и более сложные мето- |
||||||
карт и соответствующих разъёмов для пор- |
||||||
ды контроля целостности данных (см. так- |
||||||
тативных компьютеров и т.п. Подобный |
||||||
же CRC). |
|
|
|
|
||
|
|
|
|
стандарт для PCMCIA-карт в версии 1 был |
||
|
|
|
|
|
||
Patch (патч) |
|
|
|
|
принят в 1990 году. |
|
В программировании |
— небольшая |
про- |
PCT (Photon Coupled Transistor) |
|||
грамма («заплатка»), предназначенная для |
||||||
Оптрон. |
||||||
исправления |
программной |
ошибки |
(см. |
|||
|
||||||
также Bug, Отладчик). |
|
|
|
PCVD (Plasma activated Chemical Vapor |
||
PBGA (Plastic BGA) |
|
|
|
Deposition) |
||
|
|
|
Химическое осаждение из плазменной фа- |
|||
Пластиковый корпус типа BGA. |
|
|||||
|
зы. Технология покрытия, используемая |
|||||
|
|
|
|
|
||
PC |
|
|
|
|
для световодов. |
|
1. Parity Check — контроль чётности. |
|
PD |
||||
2. Peak Clipping — ограничение по максиму- |
||||||
1. PhotoDiode — фотодиод. |
||||||
му. Ограничение максимальных (пиковых) |
||||||
2. Public Domain — государственная соб- |
||||||
значений тока или напряжения. |
|
|||||
|
ственность; общедоступный. |
|||||
3. PentaConta (Пентаконта) — координат- |
||||||
|
||||||
ная (коммутаторная) |
АТС |
производства |
PDA (PhotoDiode Array) |
|||
компании ITT. |
|
|
|
Матрица фотодиодов. |
||
4. Personal Communicator — |
персональное |
Peak-to-peak |
||||
устройство связи, коммуникатор. |
|
|||||
|
См. Размах. |
|||||
5. Personal Computer — персональный ком- |
||||||
|
||||||
пьютер. Термин, введённый в обращение |
PEEL (Programmable Electrically Erasable Logic) |
|||||
компанией |
IBM. Первый |
персональный |
Программируемая электрически стираемая |
|||
компьютер поступил в продажу в 1981 году. |
логическая схема. |
|||||
6. PhotoConductor — материал с фотопрово- |
PGA |
|||||
димостью, фоторезистор. |
|
|
||||
|
|
1. Pin Grid Array — матрица штыревых вы- |
||||
7. Physical Contact — физический контакт. |
||||||
водов. Тип корпуса ИС, предназначенный |
||||||
8. Pocket Calculator — карманный калькулятор. |
||||||
для монтажа микросхем на печатных платах |
||||||
9. Printed Circuit — печатная плата (см. так- |
||||||
с большим количеством требуемых соеди- |
||||||
же PCB). |
|
|
|
|
||
|
|
|
|
нений. |
||
10. Program Counter — счётчик команд. |
||||||
2. Programmable Gate Array — программиру- |
||||||
11. Programmable Controller — программи- |
||||||
емая вентильная матрица. Интегральная |
||||||
руемый (микро)контроллер. |
|
|
||||
|
|
схема, представляющая собой матрицу ло- |
||||
12. Protocol |
Converter |
— преобразователь |
||||
гических элементов, каждый из которых |
||||||
протоколов. |
|
|
|
|
||
|
|
|
|
может быть запрограммирован для выпол- |
||
13. Pulsating Current — пульсирующий ток. |
||||||
нения функций И или И-НЕ (см. также |
||||||
|
|
|
|
|
||
PCB (Printed Circuit Board) |
|
|
PAL, PLA). |
|||
Печатная плата, на которой монтируются |
PIC (Power Integrated Circuit) |
|||||
компоненты |
электронной |
схемы; |
часто |
|||
Силовая интегральная схема. |
||||||
|
|
|
|
|
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 557 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
|
|
|
|
|
|
16. Глоссарий |
557 |
|||
|
|
|
|
|
|
|
||||
PIL (Picosecond Injection Laser) |
|
POH (Power-on-Hours) |
|
|
|
|||||
Инжекционный лазер пикосекундного диа- |
Время нахождения во включенном состоя- |
|||||||||
пазона. |
|
|
|
нии. |
|
|
|
|
||
Pit |
|
|
|
Power-down |
|
|
|
|
||
Паз, желоб. |
|
|
|
Отключение; пониженное энергопотребле- |
||||||
PLA (Programmable Logic Array) |
|
ние. |
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|||||
Программируемая |
логическая |
матрица |
P-PGA (Plastic Pin Grid Array) |
|
|
|||||
(ПЛМ). Интегральная схема, представляю- |
Пластиковый корпус ИС с матрицей |
|||||||||
щая собой матрицу логических элементов, |
штырьковых выводов (см. также PGA, |
|||||||||
которые могут быть |
запрограммированы |
CPGA). |
|
|
|
|
||||
как элементы И/ИЛИ и могут различным |
ppm (Parts Per Million) |
|
|
|
||||||
образом коммутироваться друг |
с другом |
|
|
|
||||||
Промиль (миллионная часть). Распростра- |
||||||||||
(см. также PAL, PGA). |
|
|
||||||||
|
|
нённая единица измерения относительного |
||||||||
|
|
|
|
|
||||||
PLCC (Plastic Leaded Chip Carrier) |
|
содержания (концентрации или частоты). |
||||||||
Пластиковый корпус |
для поверхностного |
PQFP (Plastic Quad Flat Package) |
|
|
||||||
монтажа с J-образными выводами (см. так- |
|
|
||||||||
Пластиковый квадратный плоский корпус |
||||||||||
же CLCC). |
|
|
|
|||||||
|
|
|
ИС. |
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
PLD |
|
|
|
PRO Electron |
|
|
|
|
||
1. Pigtailed Laser Diode — лазерный диод с |
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
||||||
гибкими (волоконными) выводами. |
Принятая в Европе система обозначений |
|||||||||
2. Programmable Logic Device — программи- |
полупроводниковых приборов. |
|
|
|||||||
руемое логическое устройство (см. также |
Действующая под эгидой EECA междуна- |
|||||||||
EPLD). |
|
|
|
родная организация, задачей которой явля- |
||||||
3. Pulsed Laser Diode — импульсный лазер- |
ется стандартизация и регистрация обозна- |
|||||||||
ный диод. |
|
|
|
чений различных типов полупроводнико- |
||||||
PLL (Phase Locked Loop) |
|
вой продукции, произведённой в Европе. |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|||||
См. ФАПЧ. |
|
|
|
Process computer |
|
|
|
|
||
PM |
|
|
|
Технологический компьютер. |
|
|
||||
|
|
|
Компьютер, предназначенный для обработ- |
|||||||
1. Phase Modulation — фазовая модуляция. |
||||||||||
ки данных в режиме реального времени; ха- |
||||||||||
Изменение фазы опорного колебания в со- |
||||||||||
рактеризуется очень малым временем от- |
||||||||||
ответствии с изменениями амплитуды по- |
||||||||||
клика на внешние сигналы. |
|
|
||||||||
лезного сигнала. |
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
2. PhotoMultiplication |
— фотоумножение. |
PROM (Programmable Read Only Memory) |
||||||||
См также PMT. |
|
|
|
Программируемое ПЗУ (ППЗУ). Постоян- |
||||||
3. Physical Medium |
— |
физическая среда. |
ное запоминающее устройство, которое мо- |
|||||||
Нижний (физический) уровень в модели |
жет программироваться пользователем (как |
|||||||||
взаимодействия открытых систем OSI. |
правило, это однократно программируемое |
|||||||||
4. Preventive Maintenance — профилактичес- |
ПЗУ; см. также EEPROM, EPROM). |
|
|
|||||||
кое техническое обслуживание. |
|
PRTN (Piano della Regolomentazione |
|
|
||||||
5. Pulse Modulation — импульсная модуля- |
|
|
||||||||
Telefonica Nazionale) |
|
|
|
|||||||
ция. Способ модуляции, когда для передачи |
|
|
|
|||||||
Итальянская распорядительная (админист- |
||||||||||
полезного сигнала |
используется |
импуль- |
||||||||
ративная) организация |
в области |
нацио- |
||||||||
сный сигнал. |
|
|
|
|||||||
|
|
|
нальных телекоммуникаций. |
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
||||
PMOS (P-channel Metal Oxide |
|
PTC (Positive Temperature Coefficient) |
|
|
||||||
Semiconductor) |
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
Положительный температурный коэффи- |
|||||||
МОП-структура с |
каналом p-типа. См. |
|||||||||
циент (см. также NTC). |
|
|
|
|||||||
MOS. |
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
PNP (Positive Negative Positive) |
|
PVC |
|
|
|
|
||||
|
1. Permanent |
Virtual |
Circuit |
(также |
||||||
p-n-p-структура. Последовательность слоёв |
||||||||||
Connection) — постоянное виртуальное со- |
для биполярного транзистора (см. также |
единение в ATM. С точки зрения абонента, |
|
NPN). |
||
|

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 558 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
558 16. Глоссарий
данное соединение работает как постоян- |
Ramp-up |
|
ная выделенная линия. |
Запуск продукции в производство (вывод |
|
2. PolyVinylChloride — поливинилхлорид. |
производственного оборудования на рабо- |
|
Пластик, который относительно дёшев в |
чий режим). |
|
производстве и широко применяется в ка- |
Random |
|
честве изоляционного материала и/или для |
||
Произвольный — независимый; выбороч- |
||
оплётки кабелей. |
||
ный (доступ к ячейкам памяти). |
||
|
||
PVD |
RAS (Row Address Strobe) |
|
1. PhotoVoltaic Diode — фотодиод с запира- |
||
Строб адреса строки — управляющий сиг- |
||
ющим слоем. |
||
нал, разрешающий приём адреса строки |
||
2. Physical Vapor Deposition — конденсация |
||
при адресации микросхем DRAM (см. так- |
||
из паровой (газовой) фазы. |
||
же RE). |
||
|
||
PZT (PieZoelectric Transducer) |
RCEEA (Radio Communication and |
|
Пьезоэлектрический измерительный пре- |
||
Electronic Engineering Association) |
||
образователь. |
||
Британская ассоциация радиосвязи и элек- |
||
|
||
QA (Quality Assurance) |
тронной техники. |
|
Контроль (гарантия) качества. |
RCTL (Resistance Capacitance Transistor |
|
|
||
QCCN (Quad Chip Carrier Non leaded) |
Logic) |
|
Бессвинцовый корпус для поверхностного |
Резистивно-ёмкостная транзисторная логи- |
|
монтажа с четырёхсторонним расположе- |
ка. Архитектура логических ИС, в которой |
|
нием выводов. |
связь между транзисторными каскадами |
|
QE (Quantum Efficiency) |
осуществляется с использованием резисто- |
|
ров и конденсаторов. Обладает б¢ольшим |
||
Квантовая эффективность, квантовый вы- |
||
быстродействием, чем резисторно-транзис- |
||
ход. |
||
торная логика (RTL). |
||
|
||
QW (Quantum Well) |
RE (Row Enable) |
|
Квантовая яма. |
||
Выбор строки. Управляющий сигнал для |
||
|
||
Race condition |
микросхем памяти (вместо сигнала RAS). |
|
Состояние гонок. Неустойчивое состояние |
Read only |
|
логического элемента, когда данные посту- |
||
Доступный только для чтения. Параметр, |
||
пают на соответствующие входы быстрее |
||
относящийся, например, к атрибутам фай- |
||
(раньше), чем управляющий синхросигнал. |
||
лов, правам доступа или защищённым уст- |
||
|
||
RADAR (Radio Detection and Ranging) |
ройствам. |
|
Радар — устройство радиообнаружения и |
RHET (Resonance tunneling Hot Electron |
|
измерения расстояния до объекта. |
||
Transistor) |
||
|
||
RAM (Random Access Memory) |
Транзистор на горячих электронах с резо- |
|
Память с произвольным доступом для запи- |
нансным туннелированием. |
|
си и чтения данных. Как правило, исполь- |
RIBE (Reactive Ion Beam Etching) |
|
зуется в качестве ОЗУ в компьютерных сис- |
||
Реактивное травление пучком ионов (ион- |
||
темах. Основным недостатком устройств |
||
но-лучевое травление). |
||
памяти этого типа является их энергозави- |
||
|
||
симость, т.е. при отключении напряжения |
RIE (Reactive Ion Etching) |
|
питания содержимое памяти теряется (см. |
Реактивное ионное травление (см. также |
|
также Память, ROM, DRAM). |
RIBE). |
|
Ramp-down |
RIN (Relative Intensity Noise) |
|
Свёртывание производства продукции; |
Относительная интенсивность шума. |
|
снятие с производства. |
RISC (Reduced Instruction Set Computer) |
|
|
||
|
Архитектура компьютера с сокращённым |
|
|
набором команд. Данный тип компьютеров |
|
|
не обеспечивает особой гибкости програм- |
|
|
|
|
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 559 из 590 (September 4, 2010, 19:48) |
||
|
|
|
|
16. Глоссарий 559 |
||
|
|
|
|
|||
мирования, зато характеризуется повышен- |
SCEW |
|||||
ным быстродействием (см. также CISC). |
Тестовый сигнал, позволяющий определить |
|||||
RMOS (Refractory MOS) |
|
|
разность времени распространения сигна- |
|||
|
|
ла в различных направлениях вдоль полу- |
||||
МОП-структура с затвором из тугоплавкого |
||||||
проводникового кристалла. |
||||||
металла (молибдена, вольфрама). |
|
|||||
|
|
|
||||
ROM (Read Only Memory) |
|
|
SCFL (Source Coupled FET Logic) |
|||
|
|
Истоково-связанная логика на полевых |
||||
Память, доступная только |
для |
чтения |
||||
транзисторах. |
||||||
(ПЗУ). Запись информации в память, в за- |
||||||
|
|
|||||
висимости от типа ПЗУ, может осущест- |
SCH (Separate Confinement Heterostructure) |
|||||
вляться на этапе его производства, с ис- |
Гетероструктура с раздельным удержанием. |
|||||
пользованием механических, |
магнитных, |
SCL (Source Coupled Logic) |
||||
электрических или оптических методов. |
||||||
Истоково-связанная логика. Аналог ECL, |
||||||
|
|
|
|
|||
ROR (RAS Only Refresh) |
|
|
использующейся в биполярной технологии. |
|||
Построчная регенерация. Метод обновле- |
SCLA (SemiConductor Laser Amplifier) |
|||||
ния (регенерации) данных в ячейках памя- |
||||||
Усилитель сигнала полупроводникового ла- |
||||||
ти DRAM с использованием только сигнала |
||||||
зера (см. также TWSLA). |
||||||
RAS. |
|
|
||||
|
|
|
|
|||
RPC (Rigid Printed Circuit) |
|
|
SCLC (Space Charge Limited Current) |
|||
|
|
Ограничение тока пространственного заряда. |
||||
Жёсткая печатная плата (см. также FPC). |
||||||
|
|
|||||
RTD (Resonant Tunneling Diode) |
|
SCOS (Smart Card Operating System) |
||||
|
Операционная система смарт-карты. |
|||||
Резонансный туннельный диод (см. также |
||||||
|
|
|||||
RTT, TSRAM). |
|
|
SCR (Silicon Controlled Rectifier) |
|||
RTL (Resistor Transistor Logic) |
|
|
Кремниевый управляемый диод (тиристор), |
|||
|
|
тринистор. |
||||
Резисторно-транзисторная логика. Тип ло- |
||||||
|
|
|||||
гических ИС, в которых связь между тран- |
SCSOA (Short Circuit Safe Operating Area) |
|||||
зисторными каскадами (инверторами) осу- |
Область безопасной работы для режима ко- |
|||||
ществляется с помощью резисторов. |
|
роткого замыкания. В силовой электронике |
||||
RTT |
|
|
данный параметр описывает значения ос- |
|||
|
|
новных характеристик полупроводниково- |
||||
1. Resonant Tunnel Transistor — быстродейс- |
||||||
го компонента (напряжения, тока, мощнос- |
||||||
твующий транзистор с резонансным тун- |
||||||
ти рассеяния), при которых в режиме ко- |
||||||
нельным эффектом (см. также RTD). |
|
|||||
|
роткого замыкания компонент сохраняет |
|||||
2. Road Transport Telematics — система цент- |
||||||
свою работоспособность без риска выходя |
||||||
рализованного управления движением ав- |
||||||
из строя. |
||||||
тотранспорта. |
|
|
||||
|
|
|
|
|||
SAGMOS (Self Aligning Gate MOS) |
|
SCT (Surface Charge Transistor) |
||||
|
Транзистор с поверхностным зарядом. |
|||||
МОП-структура с самосовмещёнными за- |
||||||
|
|
|||||
творами. |
|
|
SDFL (Schottky Diode FET Logic) |
|||
SAMOS (Stacked gate Avalanche injection |
Логические схемы на полевых транзисторах |
|||||
с диодами Шотки. Семейство ИС на GaAs |
||||||
MOS) |
|
|
||||
|
|
MESFET. |
||||
Лавинно-инжекционная МОП-структура с |
||||||
|
|
|||||
многоуровневыми затворами |
(см. |
также |
SDHT (Selectively Doped Heterojunction |
|||
SIMOS). |
|
|
Transistor) |
|||
|
|
|
|
Селективно легированный (полевой) тран- |
SBD (Schottky Barrier Diode) |
зистор на гетеропереходе. |
|
Диод Шоттки. |
||
|
||
SCCD (Surface Charge Coupled Device) |
SDRAM (Synchronous DRAM) |
|
Синхронная DRAM. Архитектура микро- |
||
ПЗС с поверхностным каналом (см. также |
||
схем ОЗУ, в которой запись и считывание |
||
CCD). |
||
информации осуществляются в синхрон- |
||
|
||
|
ном режиме с использованием тактовых |
|
|
импульсов. Таким образом, при обращении |

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 561 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
|
|
|
|
|
|
16. Глоссарий |
561 |
|||
|
|
|
|
|||||||
SLA (Semiconductor Laser Amplifier) |
аналоговый (трансформаторный) источник |
|||||||||
Усилитель сигнала полупроводникового ла- |
с регулированием синфазного напряжения. |
|||||||||
зера. |
|
|
|
SMT (Surface Mounting Technology) |
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
||||
SLD (Superluminescent Diode) |
|
|
Технология поверхностного |
монтажа (см. |
||||||
Сверхлюминесцентный диод |
(см. также |
также SMD). |
|
|
|
|
||||
LED). |
|
|
|
SNOS (Silicon Nitride Oxide Semiconductor) |
||||||
|
|
|
|
|
||||||
SLED (Surface emitting LED) |
|
|
Полупроводники на основе нитрид-оксида |
|||||||
Плоскостной светодиод. |
|
|
кремния. Используются при производстве |
|||||||
SLSI (Super LSI) |
|
|
ячеек памяти |
EPROM |
(см. |
также |
||||
|
|
MNOS/SONOS). |
|
|
|
|
||||
Технология производства ИС, когда крис- |
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
||||||
талл содержит более 100 тысяч транзисто- |
SNR (Signal to Noise Ratio) |
|
|
|
||||||
ров. |
|
|
|
Отношение сигнал/шум. |
|
|
|
|||
SMD (Surface Mounted Device) |
|
|
SO (Small Outline) |
|
|
|
|
|||
Компонент, предназначенный для поверх- |
Малогабаритный корпус. |
|
|
|
||||||
ностного монтажа. Электронный компо- |
SOA |
|
|
|
|
|||||
нент, подключаемый в схему без использо- |
|
|
|
|
||||||
1. Semiconductor Optical Amplifier — полу- |
||||||||||
вания каких-либо соединительных провод- |
||||||||||
проводниковый оптический усилитель. |
||||||||||
ников путём |
непосредственного |
монтажа |
||||||||
2. Safe Operating Area — область безопасной |
||||||||||
(припаивания) на поверхность |
печатной |
|||||||||
работы. |
|
|
|
|
||||||
платы. |
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
SMH (Socicte suisse de Microelectronique et |
SoG (Sea-of-Gates) |
|
|
|
|
|||||
Технология «Море вентилей». |
|
|
|
|||||||
d'Horlogerie) |
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
Швейцарская |
корпорация микроэлектро- |
SOIC |
|
|
|
|
||||
ники и часовой промышленности. |
|
1. Secret Object Identification Code — секрет- |
||||||||
SMIF (Standard Mechanical Interface) |
ный код идентификации объекта. Исполь- |
|||||||||
зуется при авторизации доступа для провер- |
||||||||||
Стандартный |
механический |
интерфейс. |
||||||||
ки аутентичности пользователя (см. также |
||||||||||
Производственный стандарт, |
разработан- |
|||||||||
POIC). |
|
|
|
|
||||||
ный компанией Hewlett Packard для инже- |
|
|
|
|
||||||
2. Small Outline Integrated Circuit — малога- |
||||||||||
нерных работ в условиях особо чистых про- |
||||||||||
баритная интегральная схема. |
|
|
|
|||||||
изводственных помещений. |
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
||||
SMPGA (Surface Mount Pin Grid Array) |
SOJ (Small Outline J-leaded package) |
|
|
|||||||
Малогабаритный корпус с J-образными вы- |
||||||||||
Корпус ИС, выполненный в виде матрицы |
||||||||||
водами. |
|
|
|
|
||||||
штырьковых выводов и предназначенный |
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
||||||
для поверхностного монтажа. |
|
|
SONOS (Silicon Oxide Nitride Oxide |
|
|
|||||
SMPS (Switched Mode Power Supply) |
Semiconductor) |
|
|
|
|
|||||
Кремний-оксид-нитрид-оксидный |
полу- |
|||||||||
Импульсный источник питания. Принцип |
||||||||||
проводник. См. также SNOS/MNOS. |
|
|
||||||||
его работы основан на преобразовании, с |
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
||||||
помощью полупроводниковых ключей, вы- |
SOP (Small Outline Package) |
|
|
|
||||||
прямленного и сглаженного входного сете- |
Малогабаритный корпус. |
|
|
|
||||||
вого напряжения в импульсы тока, с после- |
SOS (Silicon on Sapphire) |
|
|
|
||||||
дующим выделением и фильтрацией посто- |
|
|
|
|||||||
Кремний на сапфире. Вариант КМОП-тех- |
||||||||||
янной составляющей. Поскольку (в идеаль- |
||||||||||
нологии, при котором вместо кремниевой |
||||||||||
ном случае) полупроводниковый ключ либо |
||||||||||
подложки используется сапфировая. |
|
|
||||||||
коммутирует большой ток, либо вообще не |
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
||||||
пропускает его, потери как при переключе- |
SOT (Small Outline Transistor) |
|
|
|
||||||
нии, так и в открытом состоянии ключа |
Малогабаритный |
корпус транзисторного |
||||||||
оказываются |
невелики. Благодаря этому |
типа. |
|
|
|
|
||||
импульсный источник питания характери- |
|
|
|
|
|
зуется гораздо более высоким КПД, чем |
SP (Stack Pointer) |
|
Указатель стека. |
||
|