
Шумахер У. Полупроводниковая электроника
.pdf
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 542 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
542 16. Глоссарий
Depletion-type (mode) FET |
|
DIFET (Dielectrically Isolated FET) |
|||
Полевой транзистор, работающий в режиме |
Полевой транзистор |
с диэлектрической |
|||
обеднения; обеднённый полевой транзис- |
изоляцией. |
|
|||
тор. |
|
|
DIL (Dual In-line) |
|
|
|
|
|
|
||
DFB (Distributed FeedBack) |
|
Двухрядное расположение выводов. Техно- |
|||
Распределённая обратная связь. Метод уве- |
логия размещения |
полупроводниковых |
|||
личения когерентности и уменьшения дли- |
компонентов в корпусе ИС с двумя парал- |
||||
ны волны для лазерных диодов. |
|
лельными рядами выводов. |
|||
DFM (Design for Manufacturability) |
DIMM (Dual In-line Memory Module) |
||||
Проектирование с учётом требований про- |
Микросхема памяти в корпусе с двухряд- |
||||
изводства. |
|
|
ным расположением выводов (с обеих сто- |
||
DFT |
|
|
рон корпуса). |
|
|
|
|
|
|
||
1. Design for Testability — проектирование с |
DIMOS (Double Diffused Ion Implanted |
||||
учётом тестопригодности. |
|
MOS) |
|
||
2. Discrete Fourier Transform — дискретное |
Ионно-имплантированная МОП-структу- |
||||
преобразование Фурье (ДПФ). Математи- |
ра с двойной диффузией. |
||||
ческая операция, используемая при цифро- |
DIN (Deutsches Institut fur Normung) |
||||
вой обработке сигналов (см. также FFT и |
|||||
Германский институт стандартизации. |
|||||
IFDT). |
|
|
|||
|
|
|
|
||
DG (Diode Gate) |
|
|
DIP (Dual In-line Package) |
||
|
|
Корпус с двухрядным расположением вы- |
|||
Диодный вентиль. |
|
|
|||
|
|
водов. |
|
||
|
|
|
|
||
DH (Double Heterostructure) |
|
Disable |
|
||
Двойная гетероструктура. Используется в |
|
||||
Отключено, запрещено, заблокировано, на- |
|||||
оптических полупроводниковых приборах. |
|||||
ходится в неактивном состоянии. |
|||||
|
|
|
|||
DIAC (DIode Alternating Current switch) |
DKE (Deutsche Elektrotechnische |
||||
Диодный переключатель переменного тока; |
|||||
Kommission) |
|
||||
динистор. Четырёхслойный диод или ти- |
|
||||
Германская комиссия по стандартизации в |
|||||
ристор (см. также TRIAC). |
|
||||
|
области электротехнических, электронных |
||||
|
|
|
|||
Die bonder |
|
|
и информационных технологий (подразде- |
||
Автоматизированная установка, предназна- |
ление DIN и VDE). |
|
|||
ченная для монтажа (посадки) полупровод- |
DL (Diode Logic) |
|
|||
никовых кристаллов электронных компо- |
|
||||
Диодная логика. |
|
||||
нентов в корпус компонента или на печат- |
|
||||
|
|
||||
ную плату (см. также Bonding). |
|
DMA (Direct Memory Access) |
|||
Die shrink |
|
|
Прямой доступ к памяти. Контроллер DMA |
||
|
|
берёт на себя управление работой систем- |
|||
Совершенствование процесса производства |
|||||
ной шины и осуществляет пересылку дан- |
|||||
полупроводниковых чипов (уменьшение |
|||||
ных между модулями памяти и/или пери- |
|||||
технологической нормы). При проектиро- |
|||||
ферийными устройствами с большей эф- |
|||||
вании электронных устройств часто необ- |
|||||
фективностью, чем это делалось бы с ис- |
|||||
ходимо уменьшить размеры уже существу- |
|||||
пользованием центрального процессорно- |
|||||
ющего модуля. Такую |
задачу |
можно ре- |
|||
го устройства. |
|
||||
шить, если полупроводниковые компонен- |
|
||||
|
|
||||
ты будут иметь меньшие габариты. Одним |
D-MESFET (Depletion Mode Metal |
||||
из апробированных |
методов |
является |
Semiconductor FET) |
|
|
уменьшение размеров отдельных структур |
Полевой транзистор с затвором Шоттки, |
||||
кристалла, что с технологической точки |
работающий в режиме обеднения (см. так- |
||||
зрения является далеко не тривиальной за- |
же E-MESFET). |
|
|||
дачей. |
|
|
DMF (Dielectric Multilayer Filter) |
||
|
|
|
Диэлектрический многослойный фильтр.
|
|
|
|
|
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 543 из 590 (September 4, 2010, 19:48) |
||
|
|
|
|
|
16. Глоссарий 543 |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
DMOS |
|
|
|
аудио, коммуникационных системах и в |
|||
1. Diffusion |
Metal Oxide Semiconductor — |
системах обработки изображений, а также |
|||||
диффузионная МОП-структура. |
|
для записи, хранения и управления данны- |
|||||
2. Double Diffused MOS — МОП-структура, |
ми. Применение DSP-процессоров позво- |
||||||
изготовленная методом двойной диффузии. |
ляет упростить выполнение операций, ко- |
||||||
DPL (Diode Pumped Solid State Laser) |
торые невозможно или очень сложно вы- |
||||||
полнить с использованием аналоговых тех- |
|||||||
Твердотельный лазер с диодной накачкой. |
|||||||
нологий. |
|||||||
|
|
|
|
|
|||
DPPM (Defective Parts per Million) |
DTL (Diode Transistor Logic) |
||||||
Дефектных частиц на миллион. |
|
||||||
|
Диодно-транзисторная логика. Логическая |
||||||
|
|
|
|
|
|||
DRAM (Dynamic RAM) |
|
схема, при которой логические операции |
|||||
Динамическая память с произвольным до- |
осуществляются с использованием диодных |
||||||
ступом. Ячейка памяти DRAM фактически |
вентилей, а транзисторные каскады служат |
||||||
представляет собой очень маленький кон- |
для усиления и инвертирования уровней |
||||||
денсатор, сформированный в полупровод- |
напряжений. |
||||||
никовом кристалле и управляемый через |
DTZL (Diode Transistor with Zener Diode |
||||||
МОП-транзистор. Состояние заряда кон- |
|||||||
Logic) |
|||||||
денсатора определяет открытое или закры- |
|||||||
Диодно-стабилитронно-транзисторная ло- |
|||||||
тое состояние |
транзистора (что соответ- |
||||||
гика. Вариант диодно-транзисторной логи- |
|||||||
ствует логическим 1 и 0). В случае спонтан- |
|||||||
ки, в котором для снижения уровня помех |
|||||||
ного разряда конденсатора информация, |
|||||||
используются стабилитроны. |
|||||||
хранящаяся в ячейке памяти, будет потеря- |
|||||||
|
|
||||||
на. Следовательно, содержимое ячеек па- |
Dummy |
||||||
мяти должно регулярно обновляться («реге- |
Макет, имитация. |
||||||
нерироваться»), |
поэтому память данного |
DVB (Digital Video Broadcasting) |
|||||
типа и называется динамической. Главным |
|||||||
Цифровое ТВ вещание. |
|||||||
достоинством технологии DRAM является |
|||||||
|
|
||||||
высокая плотность ячеек памяти (т.е. малая |
DWV (Dielectric Withstanding Voltage) |
||||||
площадь кристалла, приходящаяся на 1 бит |
Напряжение пробоя диэлектрика. |
||||||
хранимой |
информации), благодаря чему |
E/O (Electrical to Optical) |
|||||
стоимость ОЗУ этого типа оказывается са- |
|||||||
Электронно-оптический преобразователь. |
|||||||
мой низкой. К недостаткам следует отнести |
|||||||
|
|
||||||
необходимость |
использования |
специаль- |
E2PROM |
||||
ных логических схем регенерации памяти, а |
См. EEPROM. |
||||||
также большее, нежели у микросхем ОЗУ |
EACEM (European Association of Consumer |
||||||
других типов, время доступа к памяти. |
|||||||
Electronics Manufacturers) |
|||||||
|
|
|
|
|
|||
DRC (Design Rule Check) |
|
Европейская ассоциация производителей |
|||||
Контроль |
(за |
соблюдением) |
проектных |
бытовой электроники со штаб-квартирой в |
|||
норм. Проверка соответствия |
проектным |
Брюсселе, Бельгия. |
|||||
нормам в |
системах автоматизированного |
EAM (Electroabsorption Modulator) |
|||||
проектирования (см. также CAD, ERC). |
|||||||
Электроадсорбционный модулятор. |
|||||||
|
|
|
|
|
|||
DRTL (Diode Resistor Transistor Logic) |
EAP (Electroabsorption Avalanche |
||||||
Диодно-резисторно-транзисторная логика. |
|||||||
Photodiode) |
|||||||
Одна из архитектур, используемых при со- |
|||||||
Электроадсорбционный лавинный фото- |
|||||||
здании логических микросхем (см. также |
|||||||
диод. |
|||||||
TTL, DTL). |
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|||
DSL (Digital Subscriber Line) |
|
EAPLA (Electrically Erasable Programmable |
|||||
|
Logic Array) |
||||||
Цифровая абонентская линия. |
|
||||||
|
Электрически стираемая программируемая |
||||||
|
|
|
|
|
|||
DSP (Digital Signal Processor) |
|
логическая матрица. |
|||||
Процессор цифровой обработки сигналов. |
|
|
Интегральная схема, предназначенная для |
EAROM (Electrically Alterable ROM) |
|
Электрически перепрограммируемое ПЗУ |
||
быстрой обработки аналоговых сигналов в |
||
(ЭППЗУ). В отличие от EEPROM (ЭСП- |
||
|

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 544 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
544 16. Глоссарий
ПЗУ), позволяет осуществлять не полное, а |
ется более надёжное считывание данных. |
|||||
постраничное стирание данных (подобно |
Режим EDO |
фактически |
использовался |
|||
тому, как это делается в микросхемах флэш- |
только в микросхемах FPM DRAM. |
|||||
памяти); некоторые типы ЭППЗУ обеспе- |
EECA (European Electronic Component |
|||||
чивают управление доступом к отдельным |
||||||
Manufacturers Association) |
|
|||||
ячейкам памяти. |
|
|
||||
|
Европейская |
ассоциация производителей |
||||
|
|
|
||||
EBCDIC (Extended Binary Coded Decimal |
электронных компонентов. |
|
||||
Interchange Code) |
|
EEPROM (Electrically Erasable |
||||
Расширенный двоично-десятичный код, в |
||||||
Programmable ROM) |
|
|||||
котором для представления каждого деся- |
|
|||||
Электрически стираемое программируемое |
||||||
тичного разряда используются не 4, а 8 бит. |
||||||
ПЗУ (ЭСППЗУ). Операция стирания дан- |
||||||
|
|
|
||||
EBIC (Electron Beam Induced Current) |
ных воздействует на весь массив данных в |
|||||
Ток, индуцированный электронным лучом. |
целом. |
|
|
|||
ECIL (Emitter Coupled Injection Logic) |
EFL (Emitter Follower Logic) |
|
||||
Эмиттерно-связанная инжекционная логика. |
Логические схемы на эмиттерных повтори- |
|||||
ECL (Emitter Coupled Logic) |
|
телях. |
|
|
||
|
|
|
|
|||
Интегральные схемы на основе эмиттерно- |
EFQM (European Foundation for Quality) |
|||||
связанной логики (ЭСЛ). Их применение |
Европейский фонд управления качеством. |
|||||
наиболее эффективно там, |
где требуется |
EI (Electron Impact Ionization) |
||||
высокая нагрузочная способность драйвера |
||||||
Электронная ударная ионизация. |
||||||
(например, в качестве драйверов шинных |
||||||
|
|
|
||||
интерфейсов). При данной технологии тре- |
EIA (Electronic Industries Association of |
|||||
буемая нагрузочная способность достигает- |
America) |
|
|
|||
ся за счёт использования дополнительных |
Американская |
ассоциация |
электронной |
|||
эмиттерных повторителей на биполярных |
промышленности со штаб-квартирой в Ва- |
|||||
транзисторах. |
|
шингтоне. |
|
|
||
ECMA (European Computer Manufactures |
EIAJ (Electronic Industries Association of Japan) |
|||||
Association) |
|
|
Ассоциация электронной промышленности |
|||
Европейская ассоциация производителей |
Японии. |
|
|
|||
компьютеров. |
|
EICTA (European Information and Communi- |
||||
|
|
|
||||
ECTF (Enterprise Computer Telephony Forum) |
cations Technology Industry Association) |
|||||
Форум по |
корпоративной компьютерной |
Европейская промышленная ассоциация в |
||||
телефонии |
(международный |
консорциум |
области информационных и коммуникаци- |
|||
производителей в области компьютерной |
онных технологий. |
|
||||
телефонии). |
|
EIL (Electron Injection Laser) |
|
|||
|
|
|
|
|||
ECTL (Emitter Coupled Transistor Logic) |
Лазер с инжекцией электронов. |
|||||
Эмиттерно-связанная транзисторная логика. |
ELD (Electroluminescent Diode) |
|||||
|
|
|
||||
EDA (Electronic Design Automation) |
Электролюминесцентный диод. |
|||||
Автоматизация проектирования электрон- |
ELPC (Electroluminescent Photoconductive) |
|||||
ных устройств. Программа автоматизиро- |
||||||
Электролюминесцентная |
фотопроводи- |
|||||
ванного проектирования печатных плат и |
||||||
мость. |
|
|
||||
полупроводниковых микросхем (см. также |
|
|
||||
|
|
|
||||
CAE, CAD). |
|
|
ELSI (Extremely Large Scale Integration) |
|||
EDO (Extended Data Out) |
|
Данный термин по отношению к электрон- |
||||
|
ным компонентам означает сверхвысокую |
|||||
Архитектура ОЗУ с расширенными (по вре- |
||||||
степень интеграции (см. также ULSI, VLSI). |
||||||
мени) возможностями вывода данных. Сиг- |
||||||
|
|
|
||||
нал на выходе данных удерживается в тече- |
EMC (ElectroMagnetic Compatibility) |
|||||
ние более длительного (по сравнению с |
Электромагнитная совместимость. Комп- |
|||||
первыми |
модификациями |
микросхем |
лексное понятие, включающее в себя как |
|||
DRAM) периода времени, чем обеспечива- |
способность электрической схемы проти- |
|
|
|
|
|
|
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 545 из 590 (September 4, 2010, 19:48) |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
16. Глоссарий 545 |
||||
|
|
|
|
|
|||||||
востоять воздействию внешних электромаг- |
EQA (European Quality Award) |
|
|
||||||||
нитных излучений, так и её характеристики |
Европейский приз качества. |
|
|
||||||||
с точки |
зрения |
собственных |
электромаг- |
ERA (Electrically Reconfigurable Array) |
|||||||
нитных |
излучений в окружающую |
среду |
|||||||||
Электрически реконфигурируемая матрица |
|||||||||||
(см. также Экранирование, EMS). |
|
||||||||||
|
элементов. |
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
E-MESFET (Enhancement-Mode Metal |
|
ERC (Electrical Rule Check) |
|
|
|||||||
Semiconductor FET) |
|
|
|
|
|||||||
|
|
В системах автоматизированного проекти- |
|||||||||
Полевой транзистор с затвором Шоттки, |
|||||||||||
рования — проверка соответствия разраба- |
|||||||||||
работающий в режиме обогащения (см. так- |
|||||||||||
тываемой схемы правилам проектирования |
|||||||||||
же D-MESFET). |
|
|
|
||||||||
|
|
|
электрических цепей (см. также DRC). |
||||||||
|
|
|
|
|
|
||||||
EMI (ElectroMagnetic Interference) |
|
ES (European Standard) |
|
|
|
||||||
Электромагнитное излучение (помехи) (см. |
|
|
|
||||||||
Европейский |
стандарт |
(см. |
также CEN, |
||||||||
также EMC). |
|
|
|
||||||||
|
|
|
CENELEC). |
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
EMR (ElectroMagnetic Radiation) |
|
ESD |
|
|
|
|
|||||
Электромагнитное излучение (см. также EMC). |
|
|
|
|
|||||||
1. ElectroStatic |
Discharge |
— |
электростати- |
||||||||
|
|
|
|
|
|
||||||
EMS (Electromagnetic Susceptibility) |
|
ческий разряд. Процесс быстрого «перете- |
|||||||||
Восприимчивость к воздействию электро- |
кания» электростатического заряда с одно- |
||||||||||
магнитных помех (см. также EMC). |
|
го объекта на другой. Даже если этот заряд |
|||||||||
Enable |
|
|
|
|
невелик, существует значительный риск |
||||||
|
|
|
|
повреждения отличающихся малыми раз- |
|||||||
Разрешено, разблокировано, переведено в |
|||||||||||
мерами полупроводниковых структур, осо- |
|||||||||||
активное состояние. |
|
|
|||||||||
|
|
бенно МОП-структур. Поэтому при работе |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
||||||
Enhancement-type FET (Enhancement-mode |
с незащищёнными от ESD полупроводни- |
||||||||||
field-effect transistor) |
|
|
ковыми компонентами очень важно соблю- |
||||||||
Полевой транзистор, работающий в режиме |
дать меры предосторожности. |
|
|
||||||||
обогащения; обогащённый полевой тран- |
2. Electrostatic Sensitive Device — устройс- |
||||||||||
зистор. |
|
|
|
|
тво, чувствительное к воздействию электро- |
||||||
EOL (End of Life) |
|
|
|
статического разряда. |
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
Окончание срока службы (см. также |
ESDS (Electrostatic Discharge Sensitive Devices) |
||||||||||
Bathtub-кривая). |
|
|
|
Устройства, чувствительные к воздействию |
|||||||
EOLM (Electro-Optic Light Modulation) |
ESD. |
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|||||||
Электрооптическая модуляция. |
|
|
ESIA (European Semiconductor Industry |
||||||||
EOS (Electrical Overstress) |
|
|
Association) |
|
|
|
|
||||
|
|
Европейская ассоциация полупроводнико- |
|||||||||
Электрическое перенапряжение. |
|
||||||||||
|
вой промышленности. |
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
EPLD (Erasable (также Electrically) |
|
ETOM (Electron Trapping Optical Memory) |
|||||||||
Programmable Logic Device) |
|
|
|||||||||
|
|
Оптическая память на захваченных элект- |
|||||||||
Стираемое программируемое |
логическое |
||||||||||
ронах. |
|
|
|
|
|||||||
устройство или логическое устройство с |
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|||||||
электрическим |
программированием |
(см. |
ETSI (European Telecommunication |
||||||||
также PLD). |
|
|
|
Standards Institute) |
|
|
|
||||
EPROM (Erasable Programmable ROM) |
|
Европейский институт стандартов в облас- |
|||||||||
|
ти телекоммуникаций. |
|
|
|
|||||||
Стираемое программируемое ПЗУ (СП- |
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|||||||
ПЗУ). Модуль (микросхема) постоянной |
EVO (Elektrotechnischer Verein Oster-reichs) |
||||||||||
памяти с возможностью стирания данных |
Австрийское электротехническое общество |
||||||||||
путём ультрафиолетового облучения крис- |
со штаб-квартирой в Вене. |
|
|
||||||||
талла через специальное кварцевое окошко |
|
|
|
|
|
в корпусе ИС. При этом стиранию подвер- |
FAMOS (Floating Gate Avalanche MOS) |
|
МОП-транзистор с «плавающим» затвором |
||
гаются все данные; выборочное стирание |
||
и лавинной инжекцией заряда. Основной |
||
информации (в отдельных ячейках) невоз- |
||
компонент флэш-памяти. |
||
можно. |
||
|

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 546 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
546 16. Глоссарий
FC (Flip Chip) |
|
|
|
|
FIFO (First In, First Out) |
|
||||
Монтаж методом «перевёрнутого кристал- |
«Первым пришёл — первым вышел». Спо- |
|||||||||
ла», предусматривающий установку моно- |
соб обработки потоковых данных, когда |
|||||||||
литной безвыводной ИС в гибридной схеме |
первый элемент в очереди ожидания обслу- |
|||||||||
с помощью специальной технологии меж- |
живается первым (см. также FILO). |
|||||||||
соединений. |
|
|
|
|
FILO (First In, Last Out) |
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
||||
FCHI (Flip Chip Hybrid Integration) |
|
«Первым вошёл — последним вышел». Ос- |
||||||||
Гибридная ИС с использованием техноло- |
новополагающий принцип обработки пото- |
|||||||||
гии «перевёрнутого кристалла» (Flip Chip). |
ковых данных, в соответствии с которым |
|||||||||
FCT (Fast Cosine Transform) |
|
|
элемент данных, первым поступивший в ус- |
|||||||
|
|
тройство (например, в стек), отправляется в |
||||||||
Быстрое косинусное |
преобразование (см. |
|||||||||
конец очереди ожидания и обслуживается |
||||||||||
также FFT). |
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
последним (см. также FIFO). |
||||||
|
|
|
|
|
|
|||||
FDDI (Fiber Distributed Data Interface) |
|
Fine pitch |
|
|
|
|||||
Распределённый интерфейс передачи дан- |
|
|
|
|||||||
Технология корпусирования ИС, позволя- |
||||||||||
ных |
по волоконно-оптическим каналам. |
|||||||||
ющая уменьшить расстояние между выво- |
||||||||||
При |
использовании протокола |
ANSI |
||||||||
дами (шаг выводов) до величины менее чем |
||||||||||
X3T9.5 в сети с кольцевой топологией ско- |
||||||||||
0.1 мм. |
|
|
|
|||||||
рость |
передачи |
данных |
составляет |
|
|
|
||||
|
|
|
|
|||||||
100 Мбит/с (см. также CDDI). |
|
Firmware |
|
|
|
|||||
FEFET (FerroElectric FET) |
|
|
Микропрограммное |
обеспечение — про- |
||||||
|
|
грамма, предназначенная для управления |
||||||||
Полевой транзистор с сегнетоэлектричес- |
||||||||||
тем или иным аппаратным средством и пос- |
||||||||||
ким затвором. |
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
тоянно находящаяся («прошитая») в его |
||||||
|
|
|
|
|
|
|||||
FEL (Free Electron Laser) |
|
|
встроенной памяти (например, BIOS). |
|||||||
Лазер на свободных электронах. |
|
Fit (Failures in Time) |
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
FEM (Finite Element Method) |
|
|
Единица измерения интенсивности отказов |
|||||||
Метод конечных элементов. Алгоритмичес- |
компонентов («число отказов в единицу |
|||||||||
кий метод численного анализа сложных |
времени»). 1 fit = 1 отказ / 109 часов (см. |
|||||||||
систем, использующий их разделение на |
также Интенсивность отказов). |
|||||||||
большое количество |
элементарных |
моду- |
Flake |
|
|
|
||||
лей. Каждый из них затем анализируется |
|
|
|
|||||||
Фрагмент полупроводникового чипа. |
||||||||||
отдельно, а результаты комбинируются в |
||||||||||
|
|
|
|
|||||||
соответствии с определёнными правилами. |
FM (Frequency Modulation) |
|||||||||
Реализация данного метода требует приме- |
Частотная |
модуляция. Метод модуляции |
||||||||
нения больших вычислительных мощнос- |
путём изменения частоты сигнала несу- |
|||||||||
тей, |
однако |
возможности |
современных |
щей. Это изменение частоты прямо про- |
||||||
компьютеров этому вполне соответствуют. |
порционально амплитуде модулирующего |
|||||||||
FET (Field Effect Transistor) |
|
|
сигнала (см. также AM, PM, Модуляция). |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|||||
Полевой транзистор. |
|
|
|
Foundry |
|
|
|
|||
FFC (Flexible Flat Conductor) |
|
|
Компания-субподрядчик. Ситуация, когда |
|||||||
|
|
компания-разработчик |
полупроводнико- |
|||||||
Гибкий плоский проводник. |
|
|
||||||||
|
|
вых компонентов размещает заказ на изго- |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|||||
FFT (Fast Fourier Transform) |
|
|
товление |
готовых |
полупроводниковых |
|||||
Быстрое преобразование Фурье (БПФ). |
пластин у стороннего производителя. |
|||||||||
Математическая операция, |
предложенная |
FPC (Flexible Printed Circuit) |
||||||||
знаменитым |
французским |
математиком |
||||||||
Гибкая печатная плата (см. также RPC). |
||||||||||
Фурье, которая позволяет «разложить» лю- |
||||||||||
|
|
|
|
|||||||
бую периодическую функцию в ряд отдель- |
FPGA (Field Programmable Gate Array) |
|||||||||
ных гармоник основной частоты. Подобная |
Вентильная |
матрица |
с |
эксплуатационным |
||||||
операция в процессорах цифровой обработ- |
программированием. Логический модуль, ко- |
|||||||||
ки сигналов (DSP) осуществляется в режи- |
торый может быть запрограммирован пользо- |
|||||||||
ме реального времени (см. также DFT). |
вателем самостоятельно (см. также FPLA). |
|
|
|
|
|
|
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 547 из 590 (September 4, 2010, 19:48) |
||
|
|
|
|
|
|
16. Глоссарий 547 |
||
|
|
|
|
|||||
FPLA (Field (или Fuse) Programmable Logic |
Full-custom IC |
|||||||
Array) |
|
|
|
|
Полностью заказная ИС. Интегральная |
|||
Логическая матрица, |
программируемая |
микросхема, разработанная по заказу поль- |
||||||
пользователем путём пережигания плавких |
зователя; весь цикл производства такой ИС |
|||||||
перемычек (см. также FPGA). |
|
осуществляется на заводе компании-произ- |
||||||
FPM (Fast Page Mode) |
|
|
|
водителя полупроводниковых компонен- |
||||
|
|
|
тов. |
|||||
Быстрый |
постраничный |
режим. |
Режим |
|||||
|
|
|||||||
быстрого постраничного обращения к мик- |
Fuzzy logic |
|||||||
росхеме динамического ОЗУ, обеспечиваю- |
Нечёткая логика. Концепция, в основе ко- |
|||||||
щий высокую производительность при пе- |
торой лежит принцип использования при- |
|||||||
редаче потоков данных. |
Необходимость |
близительных правил управления инфор- |
||||||
осуществлять последовательный опрос (об- |
мационными потоками, т.е. в зависимости |
|||||||
ращение) к содержимому целой страницы |
от обстоятельств. |
|||||||
противоречит принципу произвольного до- |
GaAs (Gallium Arsenide) |
|||||||
ступа к памяти, однако на практике это ска- |
||||||||
Химическое обозначение арсенида галлия. |
||||||||
зывается не сильно, так как обычно данные |
||||||||
Полупроводниковый материал с высокой |
||||||||
записываются в последовательные ячейки |
||||||||
подвижностью носителей заряда, который |
||||||||
памяти. |
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
хорошо подходит для применения в услови- |
||||
|
|
|
|
|
|
|||
FPU (Floating-Point Unit) |
|
|
|
ях ВЧ полей и в датчиках Холла. |
||||
Математический сопроцессор для операций |
GAL (Generic Array Logic) |
|||||||
с плавающей точкой. Входит в состав ЦПУ и |
||||||||
Типовая матричная логика. |
||||||||
специально предназначен для работы с чис- |
||||||||
|
|
|||||||
лами в формате с плавающей точкой. |
|
GBL (GigaBit Logic) |
||||||
FQFP (Fine pitch QFP) |
|
|
|
Гигабитная логика. Быстродействующая ло- |
||||
|
|
|
гическая схема, обеспечивающая скорость |
|||||
Корпус типа QFP с уменьшенным шагом |
||||||||
обработки данных более 1 Гбит/с. |
||||||||
выводов. |
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|||
FRAM (Ferro-electrical RAM) |
|
Ge (Germanium) |
||||||
|
Химическое обозначение германия — 32-го |
|||||||
Ферроэлектрическое ОЗУ. |
|
|
||||||
|
|
элемента периодической таблицы. Герма- |
||||||
|
|
|
|
|
|
|||
Front end |
|
|
|
|
ний использовался при изготовлении пер- |
|||
1. В полупроводниковой |
промышленнос- |
вых транзисторов, а затем был в основном |
||||||
ти — начальный этап производства полу- |
заменён кремнием (Si), который обладает |
|||||||
проводниковых компонентов. |
|
лучшими свойствами. |
||||||
2. Блок предварительной обработки данных. |
GLSI (Giant Large Scale Integration) |
|||||||
Компьютерный или процессорный |
блок, |
|||||||
Свербольшая интегральная схема (СБИС), |
||||||||
который |
обрабатывает |
и |
подготавливает |
|||||
кристалл которой содержит более 100 млн |
||||||||
данные для передачи в другой процессор. |
||||||||
транзисторов (см. также ULSI, ELSI). |
||||||||
3. В коммуникационных |
технологиях — |
|||||||
|
|
|||||||
входное устройство. Компьютер, располо- |
GMCF (Global Mobile Commerce Forum) |
|||||||
женный между линиями передачи сигнала |
Всемирный форум мобильной торговли. |
|||||||
и главным компьютером (хостом), и разгру- |
GMR (Giant Magneto Resistor) |
|||||||
жающий хост от задач управления процес- |
||||||||
Резистор, принцип работы которого осно- |
||||||||
сом передачи данных (см. также Back end). |
||||||||
ван на гигантском магнито-резистивном |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|||
FSA (Fabless Semiconductor Association) |
эффекте. Этот резистор чувствителен к маг- |
|||||||
Ассоциация фирм-производителей полу- |
нитным полям и состоит из множества |
|||||||
проводниковой техники, не имеющих собс- |
чрезвычайно тонких слоёв, изготовленных |
|||||||
твенных |
производственных мощностей |
из магнитного материала. |
||||||
(fabless). Организована в 1994 году в Нью- |
GPR (General-Purpose Register) |
|||||||
Йорке, с 2007 года переименована в GSA |
||||||||
Регистр общего назначения. |
||||||||
(Глобальный альянс производителей полу- |
||||||||
|
|
|||||||
проводников). |
|
|
|
GPS (Global Positioning System) |
||||
|
|
|
|
|
|
Глобальная (спутниковая) система навига- |
||
|
|
|
|
|
|
ции и определения местоположения. |

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 548 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
Graded-index fiber |
HIGFET (Heterostructure Insulated Gate Field |
|||
Градиентное волокно, волокно с плавно из- |
Effect Transistor) |
|
|
|
меняющимся (в поперечном сечении) по- |
Полевой транзистор с изолированным за- |
|||
казателем преломления (см. также Свето- |
твором на гетероструктуре. |
|
||
вод). |
HJBT (HeteroJunction Bipolar Transistor) |
|||
|
||||
GSM (Global System for Mobile Communication) |
Биполярный транзистор на гетеропереходах. |
|||
Глобальная система мобильной связи. |
H-LPBGA (High Temperature Low Profile BGA) |
|||
|
||||
GTO (Gate Turn-Off thyristor) |
Низкопрофильный и рассчитанный на ис- |
|||
Запираемый тиристор. |
пользование в условиях высоких темпера- |
|||
HBT (Heterojunction Bipolar Transistor) |
тур окружающей среды корпус типа BGA |
|||
для поверхностного монтажа ИС. |
||||
Биполярный гетеротранзистор. |
||||
|
|
|
||
HDGA (High Definition Gate Array) |
HMOS (High density Metal Oxide |
|
||
Semiconductor) |
|
|
||
Вентильная матрица высокого разрешения. |
|
|
||
Высококачественная МОП-структура. Ис- |
||||
|
||||
HDL (Hardware Description Language) |
пользуется для изготовления полевых тран- |
|||
Язык программирования для описания тех- |
зисторов. |
|
|
|
нических (аппаратных) средств интеграль- |
HNIL (High Noise Immunity Logic) |
|||
ных схем; в частности, поддерживает расчёт |
||||
Логическая схема с высокой помехоустой- |
||||
и согласование электрических процессов в |
||||
чивостью. |
|
|
||
ИС (см. также Verilog, VHDL). |
|
|
||
|
|
|
||
HDLC (High level Data Link Control) |
HTL (High Threshold Logic) |
|
||
Высокопороговая логическая схема. |
||||
Высокоуровневый протокол управления |
||||
|
|
|
||
каналом передачи данных. Этот стандарти- |
HTML (HyperText Markup Language) |
|||
зированный ISO бит-ориентированный |
Язык разметки гипертекста, позволяющий |
|||
синхронный протокол управляет передачей |
создавать в текстовых документах перекрёс- |
|||
данных на 2-м (канальном) уровне в модели |
тные ссылки на веб-страницы в Интернете. |
|||
взаимодействия открытых систем OSI. Пе- |
HVIC (High Voltage IC) |
|
||
редача осуществляется фреймами перемен- |
|
|||
Высоковольтная ИС. |
|
|||
ной длины и определённой организацион- |
|
|||
|
|
|
||
ной структуры. |
I2L (Integrated Injection Logic) |
|
||
HEMT (High Electron Mobility Transistor) |
Интегральные инжекционные логические схе- |
|||
мы (И2Л). Относятся к семейству БИС на ос- |
||||
Транзистор с высокой подвижностью элек- |
||||
нове биполярной логики (см. также IIL, И2Л). |
||||
тронов (см. также HJBT). |
||||
|
|
|
||
HEXFET (HEXagonal cell FET) |
ICE (In-Circuit Emulator) |
|
||
Внутрисхемный эмулятор. Встроенный ап- |
||||
Полевой транзистор с гексагональными р- |
||||
паратно-программный модуль, |
осущест- |
|||
областями. |
||||
вляющий функцию симуляции работы схе- |
||||
|
||||
HFET (Heterostructure FET) |
мы (см. также Эмуляция). |
|
||
Полевой транзистор на гетероструктуре. |
ICT (In-Circuit Testing) |
|
||
|
|
|||
HIC |
Внутрисхемное |
тестирование. |
Тестирова- |
|
1. High Voltage Integrated Circuit — высоко- |
ние с использованием целевой схемы (см. |
|||
вольтная ИС. |
также ICE). |
|
|
|
2. Hybrid Integrated Circuit — гибридная ИС. |
IEA (International Electrical Association) |
|||
|
||||
HIFET (Heterojunction Ion-implanted Field |
Международная электрическая ассоциация. |
|||
Effect Transistor) |
IEC (International Electrotechnical |
|||
Полевой транзистор, изготовленный мето- |
||||
Commission) |
|
|
||
дом ионной имплантации, с управляющим |
|
|
||
Международная |
электротехническая ко- |
|||
548 16. Глоссарий |
|
|
|
гетеропереходом. См. также HJBT. |
миссия. Ведущая международная организа- |
|
|
|
ция по разработке стандартов в области |
|
электротехники. |
|
|
|
|
|
|
|
|
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 549 из 590 (September 4, 2010, 19:48) |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
16. Глоссарий 549 |
|||
|
|
|
|
||||||||
IEEE (Institute of Electrical and Electronic |
IIL (Integrated Injection Logic) |
||||||||||
Engineers) |
|
|
|
|
|
См. I2L. |
|
|
|||
Институт инженеров по электротехнике и |
ILD (Injection Laser Diode) |
||||||||||
электронике со штаб-квартире в Нью-Йор- |
|||||||||||
Инжекционный лазерный диод. |
|||||||||||
ке. Организация, осуществляющая в США |
|||||||||||
|
|
|
|||||||||
те же функции, что VDE в Германии, а |
IMOS (Ion-implanted MOS) |
||||||||||
именно разработку стандартов в области |
МОП-структура с ионной имплантацией. |
||||||||||
электроники и подготовку их к законода- |
IMPATT (Impact Avalanche Transit Time |
||||||||||
тельному утверждению. |
|
|
|
||||||||
|
|
|
diode) |
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IEEE-488 |
|
|
|
|
|
|
Лавиннопролётный диод. |
||||
Предложенный компанией Hewlett Packard |
IOC (Integrated Optical Circuit) |
||||||||||
стандарт |
параллельного |
интерфейса, ис- |
|||||||||
Оптическая ИС. |
|
|
|||||||||
пользующегося, главным образом, для свя- |
|
|
|||||||||
|
|
|
|||||||||
зи компьютера с измерительным оборудо- |
IOLC (Integrated Optical Logic Circuit) |
||||||||||
ванием. Кроме него, могут применяться та- |
Оптическая логическая ИС. |
||||||||||
кие интерфейсы, |
как |
GPIB |
(General- |
IOM (ISDN-Oriented Modular interface) |
|||||||
Purpose Interface Bus — универсальная шина |
|||||||||||
Модульный интерфейс сети ISDN. Стан- |
|||||||||||
интерфейса) или IEC (с другими типами |
|||||||||||
дартный интерфейс, который разработан |
|||||||||||
разъёмов). |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
компанией Siemens и позволяет абоненту |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
IEGT (Injection Enhanced Gate Transistor) |
сети ISDN подобрать наилучшую конфигу- |
||||||||||
Биполярный транзистор с изолированным |
рацию оборудования. |
|
|
||||||||
затвором с увеличенной инжекцией. |
IP (Instruction Pointer) |
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IFL (Integrated Fuse Logic) |
|
|
|
Указатель текущей команды. |
|||||||
Интегральные логические схемы с плавки- |
IPC (Institute for interconnecting and |
||||||||||
ми перемычками. Предназначены для реа- |
|||||||||||
Packaging electronic Circuits) |
|||||||||||
лизации |
концепции |
вентильных |
матриц, |
||||||||
Институт по реализации межсоединений и |
|||||||||||
программирование функций которых осу- |
|||||||||||
корпусированию интегральных электрон- |
|||||||||||
ществляется пользователем. |
|
|
|||||||||
|
|
ных схем. |
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IFU (Instruction Fetch Unit) |
|
|
IPG (In-Plan Gate) |
|
|
||||||
Блок выборки команд. |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
Транзисторы с планарным затвором; в тех- |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) |
нологии цифровых ИС могут использовать- |
||||||||||
Биполярный транзистор с изолированным |
ся как альтернатива КМОП. |
||||||||||
затвором. MOSFET, разработанный компа- |
IPLSI (Intelligent Power Large Scale |
||||||||||
нией Siemens. Объединяет |
преимущества |
||||||||||
Integration) |
|
|
|||||||||
MOSFET |
и |
биполярных |
транзисторов. |
|
|
||||||
Интеллектуальная силовая большая интег- |
|||||||||||
Имеет чрезвычайно низкое сопротивление |
|||||||||||
ральная схема. |
|
|
|||||||||
в открытом состоянии и поэтому хорошо |
|
|
|||||||||
|
|
|
|||||||||
подходит для работы в качестве силового |
IrDA (Infrared Data Association) |
||||||||||
ключа. |
|
|
|
|
|
|
Ассоциация по инфракрасным технологи- |
||||
IGCT (Integrated Gate Commutated Thyristor |
ям передачи данных. Созданная в 1993 году, |
||||||||||
эта организация объединяет поставщиков |
|||||||||||
(Transistor)) |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
компьютеров, полупроводниковых компо- |
||||||
Запираемые |
тиристоры |
с |
интегрирован- |
||||||||
нентов и телекоммуникационного оборудо- |
|||||||||||
ным блоком управления. |
|
|
|
||||||||
|
|
|
вания с целью выработки стандартов по ин- |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
IGFET (Insulated Gate FET) |
|
|
фракрасным системам |
обмена данными |
|||||||
Полевой транзистор с изолированным за- |
между компьютерами |
и периферийным |
|||||||||
твором. |
|
|
|
|
|
|
оборудованием. |
|
|
||
IGT (Insulated Gate Transistor) |
|
IRED (InfraRed Emitting Diode) |
|||||||||
Полевой транзистор с изолированным за- |
Инфракрасный светодиод. |
||||||||||
твором. Компонент силовой электроники в |
IRLD (InfraRed Laser Diode) |
CMD-технологии (см. также IGBT). |
Инфракрасный лазерный диод. |
|

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 550 из 590 (September 4, 2010, 19:48)
550 16. Глоссарий
ISAM (Indexed-Sequential Access Method) |
ITU-T |
|
|
|
Индексно-последовательный метод поиска |
Подразделение |
ITU, |
разрабатывающее |
|
или доступа к данным, когда каждая запись |
международные стандарты в области теле- |
|||
(«порция» данных) в файле снабжена собс- |
коммуникаций (ранее называлось CCITT). |
|||
твенным ключом, обращение к которому |
JCCD (Junction Charge Coupled Device) |
|||
реализуется с помощью индексов. Этот ме- |
||||
ПЗС с p-n-переходами. |
|
|||
тод применяется при работе с базами дан- |
|
|||
|
|
|
||
ных или подобными им программами, ко- |
JEDEC (Joint Electronic Device Engineering |
|||
торые предполагают ввод и сохранение не- |
Council) |
|
|
|
сортированных данных. |
Объединённый технический совет по элек- |
|||
ISDN (Integrated Services Digital Network) |
тронным приборам. Организация, базиру- |
|||
ющаяся в США и занимающаяся стандар- |
||||
Цифровая сеть с интеграцией услуг. Обще- |
||||
тизацией электронных компонентов. |
||||
доступная телефонная сеть, базирующаяся |
||||
|
|
|
||
на цифровых технологиях передачи дан- |
JFET (Junction FET) |
|
||
ных, благодаря чему имеется возможность |
Полевой транзистор с управляющим р-n- |
|||
предоставления пользователям целого на- |
переходом. Был предложен Шокли (W. |
|||
бора дополнительных услуг. Базовая ско- |
Shockley) в 1952 году и впервые изготовлен |
|||
рость передачи данных по одному ISDN- |
Дэси (G. C. Dacey) и Росом (I. M. Ross) в |
|||
каналу составляет 64 Кбит/с. Все услуги, |
1953 году. |
|
|
|
обеспечивающие передачу голоса, тексто- |
KEMA (Keuring van Elektrische Materialen) |
|||
вой и цифровой информации, объединены |
||||
Голландская организация, имеющая право |
||||
в рамках одной коммуникационной сети, и |
||||
официально испытывать электрические ма- |
||||
доступ к ним осуществляется по одному и |
||||
териалы, со штаб-квартирой в г. Арнем. |
||||
тому же запросу. |
||||
|
|
|
||
ISFET (Ion-Sensitive FET) |
LBIC (Laser Beam Induced Current) |
|||
Ток, наведённый лазерным излучением. |
||||
Полевой транзистор с изменением концен- |
||||
|
|
|
||
трации ионов (ионно-селективный полевой |
LCA (Logic Cell Array) |
|
||
транзистор). Полевой транзистор со специ- |
Матрица логических элементов. |
|||
альным изолирующим слоем. |
LCC: |
|
|
|
|
|
|
||
ISL (Integrated Schottky Logic) |
1. Lateral Charge Control — боковое управле- |
|||
Интегральные логические схемы с диодами |
ние зарядом (термин, относящийся к тех- |
|||
Шотки; данная технология используется в |
нологии создания МОП-структур). |
|||
заказных ИС. |
2. Leaded Chip Carrier — кристаллодержа- |
|||
ISO (International Standardization Organization) |
тель с выводной рамкой. |
|
||
3. Leadless Chip |
Carrier |
— безвыводной |
||
Международная организация по стандар- |
||||
кристаллодержатель. |
|
|||
там со штаб-квартирой в Женеве (см. также |
|
|||
4. Liquid Crystal Cell — жидкокристалличес- |
||||
OSI). |
||||
кая ячейка. |
|
|
||
|
|
|
||
ITG (InformationsTechnische Gesellschaft) |
5. Logic Control Cell — управляющая логи- |
|||
Общество по информационным технологи- |
ческая ячейка. |
|
|
|
ям (подразделение VDE). |
LCCC (Leadless Ceramic Chip Carrier) |
|||
|
||||
ITO (Indium Tin Oxide) |
Керамический кристаллодержатель без вы- |
|||
Оксид индия и олова. Прозрачный матери- |
водной рамки. |
|
|
|
ал для оптоэлектронных компонентов. |
LCD (Liquid Crystal Display) |
|||
|
||||
ITU (International Telecommunication Union) |
Жидкокристаллический дисплей. Устройс- |
|||
Международный союз электросвязи. Все- |
тво вывода визуальной информации, кото- |
|||
мирная организация, занимающаяся общи- |
рое представляет собой тонкий слой поля- |
|||
ми вопросами развития телекоммуникаци- |
ризованных жидких кристаллов, размещён- |
|||
онной индустрии. |
ных между двумя плоскими прозрачными |
|||
|
электродами. Управление ячейкой (пиксе- |
|||
|
лем) дисплея осуществляется с помощью |
|||
|
сетки из электродов. Под воздействием |
|
|
|
|
INFSEMI_2-Text.fm, стр. 551 из 590 (September 4, 2010, 19:48) |
||||
|
|
|
|
|
16. Глоссарий 551 |
|||
|
|
|
|
|
||||
приложенного к выбранной ячейке элект- |
LIW (Long Instruction Word) |
|
|
|||||
рического поля молекулы жидкого кристал- |
Микропроцессорная команда повышенной |
|||||||
ла «разворачиваются» вдоль силовых ли- |
разрядности. |
|
|
|
||||
ний электрического поля; при этом образу- |
LLCC (LeadLess Chip Carrier) |
|
|
|||||
ется структура, которая поляризует входя- |
|
|
||||||
Кристаллодержатель без выводной рамки |
||||||||
щий свет. Поляризационный фильтр, вы- |
||||||||
(см. также LC, LCCC). |
|
|
||||||
полненный в форме пластины и располо- |
|
|
||||||
|
|
|
|
|||||
женный над электродами, блокирует про- |
LNA (Low Noise Amplifier) |
|
|
|||||
хождение |
поляризованного |
света. Таким |
Малошумящий усилитель. |
|
|
|||
образом, |
данный пиксель |
будет отобра- |
LOC |
|
|
|
||
жаться как чёрная (неотражающая) точка |
|
|
|
|||||
1. Large Optical Cavity — структура полупро- |
||||||||
на экране. |
|
|
||||||
|
|
водникового лазера с широким оптичес- |
||||||
|
|
|
|
|||||
LCDTL (Low Current DTL) |
|
ким резонатором. |
|
|
||||
Интегральная схема диодно-транзистор- |
2. Lead on Chip — рамка-на-кристалле. Тех- |
|||||||
ной логики с малым током потребления. |
нология сборки полупроводниковых чипов, |
|||||||
LCOS (Liquid Crystal on Silicon) |
когда направляющая (выводная) рамка кор- |
|||||||
пуса размещается поверх кристалла. |
||||||||
«Жидкий кристалл-на-кремнии». Техноло- |
||||||||
3. Line of Code — строка кода. Строка про- |
||||||||
гия производства микродисплеев, когда |
||||||||
граммы или строка команды в исходном |
||||||||
ЖК-модуль интегрируется непосредствен- |
||||||||
программном коде. |
|
|
||||||
но в чип микроконтроллера. |
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
||||
LD (Laser Diode) |
|
LOCMOS (Locally Oxidized CMOS) |
||||||
|
КМОП-структура с использованием ло- |
|||||||
Лазерный диод. |
|
|||||||
|
кального окисления. Технология, обеспечи- |
|||||||
|
|
|
|
|||||
LDD (Lightly Doped Drain) |
|
вающая электрическую изоляцию располо- |
||||||
Сток со слабым легированием. |
женных на кристалле ИС отдельных |
|||||||
LDR (Light Dependent Resistor) |
КМОП-структур путём добавления локаль- |
|||||||
ных оксидных слоёв. |
|
|
||||||
Фоторезистор. |
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
||||
LED (Light Emitting Diode) |
|
LOCOS (LOCal Oxide of Silicon) |
|
|
||||
|
Технология МОП ИС с толстым защитным |
|||||||
Светодиод. |
|
|||||||
|
слоем оксида кремния. |
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|||
LEOS (Lasers and Electro-Optics Society) |
LPLD (Low Power Laser Diode) |
|
|
|||||
Общество «Лазеры и Электрооптика». Со- |
|
|
||||||
Маломощный лазерный диод. Обычно, не |
||||||||
здано институтом IEEE. |
|
|||||||
|
оказывающий вредного воздействия на зре- |
|||||||
|
|
|
|
|||||
LEP (Light Emitting Polymers) |
|
ние человека. |
|
|
|
|||
Светоизлучающий полимер. |
|
LQ (Limiting Quality) |
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|||
LFBGA (Low Fine pitch BGA) |
|
Предельный уровень качества. Процент де- |
||||||
Корпус BGA для поверхностного монтажа с |
фектов, вероятность обнаружения которых |
|||||||
низким профилем и уменьшенным шагом |
при эксплуатационных испытаниях полу- |
|||||||
выводов. |
|
|
проводниковых |
компонентов |
составляет |
|||
LGA (Land Grid Array) |
|
10%. Данный параметр иногда также назы- |
||||||
|
вают «риск покупателя» или «допустимый |
|||||||
Корпус для поверхностного монтажа типа |
||||||||
процент брака». |
|
|
|
|||||
BGA, в котором вместо шариковых выводов |
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|||||
сделаны контактные площадки для пайки. |
LQFP (Low profile QFP) |
|
|
|||||
LIF (Laser Induced Fluorescence) |
Низкопрофильный корпус типа QFP. |
|||||||
|
|
|
|
|||||
Люминесценция с лазерным возбуждением. |
LRU (Least Recently Used) |
|
|
|||||
Little-endian |
|
«Наиболее давний по использованию». Ал- |
||||||
|
горитм кэширования памяти, |
позволяю- |
||||||
Способ записи данных в регистры или уст- |
||||||||
щий повысить скорость обращения к дан- |
||||||||
ройства памяти, когда первым записывает- |
||||||||
ным. Байты данных, к которым давно не |
||||||||
ся младший значащий бит данных (LSB), |
||||||||
производилось |
обращения программой, |
|||||||
см. также Big-endian. |
|
|||||||
|
|
|
|
|