Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Шумахер У. Полупроводниковая электроника

.pdf
Скачиваний:
229
Добавлен:
28.03.2015
Размер:
8.01 Mб
Скачать

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 532 из 590 (September 6, 2010, 19:32)

532 15. Контроль качества полупроводниковых компонентов

Указанные испытания следует проводить

произведённых по данной технологии.

на как можно более раннем этапе разработ-

В Табл. 15.3 перечислены наиболее сущест-

ки новой технологии производства изде-

венные факторы, влияющие на характерис-

лий, и их результаты должны немедленно

тики надёжности полупроводниковых ком-

учитываться в обязательных проектных

понентов в течение всего периода эксплуа-

нормативах. Соблюдение этих норм позво-

тации и непосредственно определяющие

лит обеспечить длительный срок службы

срок службы этих компонентов.

всех полупроводниковых компонентов,

 

Таблица 15.3. Факторы надёжности, влияющие на срок службы полупроводниковых компонентов

Характеристики полупроводникового

Физические процессы

Воздействующие

компонента

факторы

 

 

 

 

Стабильность электрических параметров

– Захват заряда (эффект горячих носи-

E, T

активных переключательных элементов

телей)

 

 

 

 

 

– Дрейф ионных примесей

E, T

 

 

 

Временная зависимость пробоя

– Захват заряда

E, T

диэлектрических (оксидных) слоёв

 

 

 

 

 

Стабильность контактов и путей

– Взаимная диффузия различных ме-

T

протекания тока

таллов с образованием разрывов

 

 

 

 

 

– Электромиграция

J, T

 

 

 

Эксплуатационная надёжность

 

 

компонента:

– Образование трещин

T

– термомеханическая нестабильность

работы отдельных элементов

 

 

– Механическая усталость материалов

T, количество

– плотность отказов

в точках соединений

циклов

 

 

 

 

 

– Коррозия

Относительная

 

 

влажность

 

– Миграция механических напряже-

 

 

 

ний в материале

 

 

 

 

Примечание. T — температура; T — интервал температур; E — напряжённость электрического поля;

J — плотность тока.

 

 

 

 

 

Устойчивость к электрическим воздействиям

Данный аспект оценки надёжности полупроводниковых компонентов посвящён их поведению в условиях повышенных электрических нагрузок, вызванных воздействием электростатических полей и разрядов (ESD), а также возникающих как результат влияния внешних устройств (электромагнитные излучения, «тиристорный эффект» и т.п.).

Соответствующие характеристики компонентов определяются, прежде всего, их внутренней схемотехникой. Компания Infineon на ранних этапах разработки новых технологий производства полупроводниковой продукции использует общепринятые

международные методики компьютерного моделирования и испытаний. Результаты этих испытаний учитываются в обязательных проектных нормативах и позволяют прогнозировать характеристики надёжности вновь разрабатываемых полупроводниковых компонентов.

Модели ускоренных испытаний

Для того чтобы оценивать надёжность полупроводниковых компонентов в реальных рабочих условиях с помощью испытаний, результаты которых получены в условиях повышенных нагрузок, компания Infineon использует модели ускоренных испытаний. В Табл. 15.4 перечислены четыре основные ускоренные модели.

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 533 из 590 (September 6, 2010, 19:32)

15.3. Технологичность с точки зрения пользователя 533

Таблица 15.4. Модели ускоренных испытаний, используемые при испытаниях полупроводниковых компонентов

Воздействующий фактор и модель

Математическое выражение

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Температура

 

 

E

 

1

 

 

1

 

 

Модель Аррениуса

AF (T) = exp

 

 

 

 

×

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k

 

 

 

 

Tstress

 

 

 

 

Tuse

 

 

 

Температура и напряжение смещения

AF(V, T) = AF(T)expB(Vstress Vuse)

 

 

 

 

 

 

Модель Эйринга

Параметр B зависит от физического механизма работы

 

элемента или технологии. По умолчанию B = 1.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Температура и влажность

rh

 

 

n

× AF (T)

Модель Пека (применяется для учёта эффек-

AF (rh,T) =

stress

та коррозии в пластиковых корпусах)

 

rhuse

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n = 3, E = 0.9 эВ

 

 

Термоциклы

 

T

 

 

c

×

 

fc stress

 

 

Модель Коффина-Мэнсона (применяется

AF ( T) =

stress

 

 

 

 

 

для оценки эффекта усталости металла в пая-

 

 

Tuse

 

 

 

fc use

 

 

ных/сварных соединениях)

 

 

 

 

 

 

Параметр C зависит от физического механизма работы

 

 

элемента или технологии. По умолчанию C = 2.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E — кажущаяся энергия активации [эВ]

rh — относительная влажность [%]

 

 

 

 

k — постоянная Больцмана (8.617 10–5 эВ/К

T — температура [GC или K]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

или 1.381 10–23 Дж/К)

fc — количество циклов в единицу времени [1/ч]

T — температура кристалла [K]

AF — коэффициент ускорения

 

 

 

 

 

 

 

V — напряжение смещения [В]

Термическое напряжение (модель Аррениуса)

Среднее значение кажущейся энергии активации составляет 0.5…0.7 эВ.

Термическое и электрическое напряжение (модель Эйринга)

В данной модели в качестве дополнительного активирующего фактора, относящегося к эффекту пробоя оксидного слоя полупроводниковой МОП-структуры, служит рабочее напряжение. Введение эмпирического коэффициента B позволяет учесть толщину оксидного слоя.

Воздействие температуры и влажности (модель Пека)

Данная модель основана на статистической оценке результатов достаточно большого количества экспериментов с различными исходными данными. В качестве максимального значения здесь применяется рабочее напряжение. За контрольную точку обычно принимаются значения температуры +85GC и относительной влажности воздуха 85%, что соответствует типичным условиям испытаний.

Циклическое термическое воздействие (модель Коффина-Мэнсона)

Данная модель наиболее хорошо подходит для оценки долговечности полупроводниковых компонентов в пластиковых корпусах. Она описывает механизм отказов, который вызывается эффектом «усталости» материала в паяных или сварных контактах.

Итак, перечисленные в Табл. 15.4 основные модели ускоренных испытаний представляют собой важную часть системы оценки надёжности полупроводниковых компонентов. Большинство этих моделей опираются не на один конкретный физический механизм возникновения отказов, а позволяют учесть эффект совместного воздействия нескольких различных механизмов. Целью использования каждой из указанных моделей является определение так называемого коэффициента ускорения AF, который затем может быть пересчитан в ожидаемое время безотказной работы компонента с помощью следующего выражения:

Tuse = AF tstress.

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 534 из 590 (September 6, 2010, 19:33)

534 15. Контроль качества полупроводниковых компонентов

Из Рис. 15.315.4 видно, что расширение условий испытаний оказывает ускоряющий эффект на физические механизмы, потенциально «ответственные» за возникновение отказов полупроводниковых компонентов. Достижимый уровень ускорения зависит от параметров выбранной модели, значения которых обусловлены влиянием нескольких различных механизмов (при этом один из этих механизмов может быть доминирующим).

150 Температура кристалла [°C]

125

100

85

70

1/T

 

 

 

 

 

55

Шкала

 

 

 

 

1.2 эВ

 

 

 

 

 

 

 

0.2

0.4

0.6

0.8

 

 

1.0

40

 

 

 

 

 

 

25

 

 

 

 

1E + 0

1E + 1

1E + 2

1E + 3

1E + 4

Коэффициент ускорения, Относительный срок службы

Кривые постоянного коэффициента ускорения

(определяет относительный срок службы) Условия испытаний: +85°C, относит. влажность 85%

 

100

 

 

 

 

 

 

90

 

 

Опорная точка

[%]

 

 

 

(+85°C, 85%

80

 

 

 

отн. влажн.)

 

 

 

 

 

влажность

 

 

 

 

 

70

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

60

1000 100

10

1

0.1

Относительная

 

 

 

 

 

50

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

40

 

 

 

 

 

 

30

 

 

 

 

 

 

20

 

 

 

 

 

 

10

 

 

 

 

 

 

0

30

60

90

120

150

Температура [°C]

Рис. 15.4. Зависимость коэффициента ускорения и относительного срока службы испытуемых изделий от температуры и влажности (модель Пека).

Рис. 15.3. Температурная зависимость коэффициента ускорения и относительного срока службы испытуемых изделий

(модель Аррениуса).

 

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 535 из 590 (September 4, 2010, 19:48)

16. ГЛОССАРИЙ

16. Глоссарий 535

16.Глоссарий

Настоящий глоссарий содержит термины, которые частично объясняются в данной книге, просто упоминаются или часто встречаются в специальной литературе. Основное внимание в глоссарии уделено терминам из полупроводниковой технологии, оптоэлектроники, технологии производства, схемотехники, а также электроники.

3GPP (3rd Generation Partnership Project) Группа (консорциум), разрабатывающая спецификации для мобильной телефонии третьего поколения.

ACI (Advanced Chip Interconnect) Усовершенствованная шина связи ИС с внешними устройствами (открытая шина).

ACL (Advanced CMOS Logic) Усовершенствованная КМОП-логика. Новая КМОП-технология, предназначенная для использования в логических устройствах.

ACTFEL (Alternating Current Thin Film ElectroLuminescence)

Тонкоплёночные электролюминесцентные излучатели переменного тока.

Add-in

Дополнительное аппаратное средство (оборудование), встраиваемое в компьютер (см. также Add-on).

Add-on

1.Дополнительное внешнее аппаратное средство (оборудование), подключаемое к компьютеру (см. также Add-in).

2.Дополнительная программа, расширяющая функциональные возможности прикладной программы.

ADSL (Asymmetrical Digital Subscriber Line) Асимметричная цифровая абонентская линия.

AIM (Avalanche Induced Migration) Миграция, вызванная лавинным процессом.

ALE (Address Latch Enable)

1.Сигнал «разрешение защёлки адреса», управляющий работой полупроводниковых устройств памяти.

2.Резервный буфер хранения адреса.

AMC (Analog MicroController)

Аналоговый микроконтроллер — цифровой микроконтроллер со встроенными аналоговыми функциями.

Angled cut

Метод, используемый в соединителях оптических волноводов, позволяющий устранить отражения.

ANSI (American National Standards Institute) Американский национальный институт стандартизации в г. Нью-Йорк, США

APD (Avalanche Photo Diode)

Лавинный фотодиод — фотодиод, в котором фототок, генерируемый вторичными носителями заряда, приводит к возникновению лавинного эффекта. Данный эффект происходит только при высокой напряжённости поля, которое может создаваться лишь в однородном граничном слое, что представляет весьма сложную технологическую задачу. Поэтому лавинные фотодиоды большой площади встречаются достаточно редко и довольно дороги.

AR coating

Антиотражающее покрытие (см. также Покрытие).

ARIB (Association Radio Industries and Businesses)

Японская ассоциация радиовещания и бизнеса.

AROM

1.Alterable ROM — программируемое ПЗУ (см. также EEPROM, EAROM).

2.Associative ROM — ассоциативное ПЗУ: Постоянная память с адресацией по содержанию.

ASBC (Advanced Standard Buried Collector) Усовершенствованная стандартная структура со скрытым коллекторным слоем — усовершенствованный эпитаксиальный процесс двойной диффузии для производства биполярных ИС.

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 536 из 590 (September 4, 2010, 19:48)

ASCII (American Standard Code for

2. В

клиент-серверных приложениях —

Information Interchange)

 

внутренний программный модуль, выпол-

Американский стандартный код для обмена

няемый на сервере.

 

 

информацией. Чрезвычайно широко рас-

3. В программировании — часть програм-

пространённый во всём мире (особенно

мы-компилятора, которая преобразует ис-

когда речь идёт о небольших и персональ-

ходный код в машинный код (см. также

ных компьютерах)

способ

представления

Компилятор,

Интерпретатор,

Исходный

символов в виде набора кодов. Стандарт-

код, Front end).

 

 

ный набор включает в себя 128 символов (7-

Back lash

 

 

 

 

битное кодирование). ASCII-код принят в

 

 

 

 

Резонансные автоколебания в импульсной

качестве стандарта CCITT как код №5. Ис-

системе;

гистерезис;

остаточные колеба-

пользование расширенной кодовой табли-

ния.

 

 

 

 

 

цы ANSI обеспечивает возможность коди-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ровки 256 символов.

 

 

BARITT (BARrier Injected Transit Time diode)

ASE (Amplified Spontaneous Emission)

Инжекционно-пролётный диод — то же,

что и туннельный диод и IMPATT-диод.

Усиленное

спонтанное излучение. Спон-

Полупроводниковый диод, имеющий на от-

танное излучение света в усилителях воло-

дельных участках ВАХ отрицательное диф-

конно-оптических

систем

(значительная

ференциальное сопротивление.

 

составляющая коэффициента шума).

 

 

 

 

 

 

 

ASER (Accelerated Soft Error Rate)

Basic (Beginner's Ail-purpose Symbolic

Instruction Code)

 

 

Методика ускоренного выявления програм-

 

 

Бэйсик — простой и доступный для освое-

мных ошибок ИС. Оценка чувствительнос-

ния

язык

программирования

высокого

ти полупроводниковых модулей к ошибкам

уровня (его название переводится как уни-

производится на основе стандартного мето-

версальный

код символических

инструк-

да SER (отношение сигнал/ошибка), до-

ций для начинающих), разработанный в се-

полненного воздействием радиоактивного

редине 1960-х годов Джоном Кемени (John

излучения на ИС.

 

 

 

 

G. Kemeny) и Томасом Курцем (Thomas E.

 

 

 

 

ASIC (Application Specific Integrated Circuit)

Kurtz).

 

 

 

 

Специализированная заказная интеграль-

Bathtub-кривая

 

 

ная схема, предназначенная для работы в

 

 

U-образная

кривая интенсивности отка-

конкретных приложениях (см. также Вен-

зов. Описывает статистическое распределе-

тильная матрица).

 

 

 

 

ние интенсивности отказов компонентов в

 

 

 

 

ASM (Application Specific Memory)

течение срока их службы. На начальном

Специализированная ИС памяти.

этапе работы компонентов (в течение так

ATM (Asynchronous Transfer Mode)

называемого периода приработки) наблю-

дается определённое

количество

отказов.

Асинхронный режим передачи данных (тех-

Затем их интенсивность снижается, а по

нология коммутации пакетов данных фик-

мере приближения к концу срока службы

сированной длины).

 

 

 

 

компонентов — вновь возрастает. По своей

 

 

 

 

ATM-F (ATM Forum)

 

форме кривая распределения отказов напо-

Форум АТМ (международная некоммерчес-

минает

продольный

профиль

ванной

кая организация, которая занимается, в

(bathtub).

 

 

 

 

частности,

разработкой

спецификации

BCD (Binary Coded Decimal)

 

АТМ).

 

 

 

 

 

 

 

Двоично-десятичное представление чисел.

 

 

 

 

AVLSI (Analog Very Large Scale Integration)

Для записи каждой десятичной цифры чис-

Аналоговая

сверхбольшая

интегральная

ла используются четыре двоичных разря-

схема (СБИС).

 

 

да — так называемые тетрады или полубай-

536 16. Глоссарий

 

 

ты. Такой способ представления чисел поз-

 

 

 

 

 

 

 

 

Back end

воляет предотвратить ошибки округления

1. В производстве полупроводниковых ком-

при преобразовании в двоичный код (см.

понентов — завершающая стадия производ-

также EBCDIC).

ства, включающая в себя финальные испыта-

 

ния компонентов и размещение их в корпусе.

 

 

 

 

 

 

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 537 из 590 (September 4, 2010, 19:48)

 

 

 

 

 

 

 

16. Глоссарий 537

 

 

 

 

 

 

 

 

BDI (Base Diffusion Isolation)

 

Big-endian

 

 

 

 

Изоляция (элементов ИС) методом базовой

Способ записи данных в регистры или уст-

диффузии.

Технология

диэлектрической

ройства памяти, когда первым (в ячейку па-

изоляции для биполярных ИС.

 

мяти с меньшим адресом) записывается

Bellcore

 

 

 

старший значащий бит данных (MSB). По-

 

 

 

добный формат поддерживается компанией

Компания Bell Communications Research (в

Motorola, в отличие от формата little-endian,

настоящее время носит название Telcordia

поддерживаемого компанией Intel, в соот-

Technologies).

 

 

 

 

ветствии с которым первым записывается

 

 

 

 

 

BER

 

 

 

младший значащий бит (LSB).

 

 

1. Basic Encoding Rules — базовые правила

BiMOS (Bipolar MOS)

 

 

 

кодировки.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Технология производства ИС, когда на од-

2. Bit Error Rate — интенсивность (частота)

ном полупроводниковом кристалле созда-

битовых ошибок (см. также BERT). Важная

ются как биполярные, так и полевые МОП-

количественная характеристика надёжнос-

транзисторы (см. также BiCMOS).

 

 

ти систем передачи данных, представляю-

 

 

 

 

 

 

 

 

щая собой отношение числа ошибочных

BIOS (Basic Input Output System)

 

 

битов к общему числу принятых битов.

Базовая система ввода/вывода — операци-

BERT (BER Test(er)

 

 

онная

система,

реализующая

основные

 

 

функции компьютера.

Инициализация

Устройство,

используемое для

тестирова-

BIOS обычно должна предшествовать за-

ния коммуникационных устройств на пред-

грузке

рабочей

операционной

системы

мет определения числа ошибочных битов в

компьютера.

 

 

 

 

единицу времени.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

BFL (Buffered FET Logic)

 

 

Bit width

 

 

 

 

 

 

Битовая ширина — количество байтов, ко-

Логика на буферных полевых транзисторах.

торое

процессор

может

последовательно

Семейство ИС, выполненных по GaAs D-

обрабатывать в ходе исполнения команды.

MESFET-технологии.

 

 

 

 

Может находиться в диапазоне от полубай-

 

 

 

 

 

BGA (Ball Grid Array)

 

 

та до 32 байт или более.

 

 

 

Матрица шариковых выводов — тип корпу-

BJT (Bipolar Junction Transistor)

 

 

са ИС для поверхностного монтажа.

 

 

Биполярный плоскостной транзистор.

 

 

 

 

 

BH (Buried Hetero (laser))

 

 

Обычный транзистор, который был разра-

Скрытый гетеро-лазер. Структура полупро-

ботан в1947 году Бардином (Bardeen), Бри-

водниковых лазеров, которая располагается

таном (Brittan) и Шокли (Shockley).

не на поверхности подложки, а «скрыта» на

Blackout

 

 

 

 

определённой глубине.

 

 

 

 

 

 

 

 

Состояние, когда вследствие аварии источ-

 

 

 

 

 

BICFET (Bipolar Inversion Channel Field

ника питания напряжение в сети падает до

Effect Transistor)

 

 

нуля. Данный термин означает также сбой в

Полевой транзистор с биполярным обрат-

работе электронного устройства (см. также

ным каналом (с p-n-переходом).

 

Brounout).

 

 

 

 

BiCMOS (Bipolar CMOS)

 

 

Bluetooth

 

 

 

 

Технология производства ИС, когда на од-

Технология беспроводной передачи голоса

ном полупроводниковом кристалле созда-

и данных (по радиоканалу).

 

 

ются как

биполярные,

так

и полевые

BNC

 

 

 

 

 

КМОП-транзисторы (см. также BiMOS).

 

 

 

 

 

Штыревой тип разъёма для коаксиальных

 

 

 

 

 

BiFET (Bipolar FET)

 

 

кабелей («джек»), разработанный несколь-

Технология производства ИС, когда на од-

ко десятилетий назад и по настоящее время

ном полупроводниковом кристалле созда-

часто применяемый в измерительном обо-

ются как биполярные, так и полевые тран-

рудовании. Аббревиатура BNC расшифро-

зисторы с p-n-переходом (см. также

вывается различными способами (Bayonet

BiCMOS).

 

 

 

Nut Coupling, Bayonet Neill Concelman,

 

 

 

 

 

British Naval Connector или British National

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 538 из 590 (September 4, 2010, 19:48)

538 16. Глоссарий

Connector); при этом все эти транскрипции

быть временно устранена путём использо-

относятся к одному и тому же типу разъёма.

вания перемычек («патча»). Программная

Board

 

 

 

 

ошибка представляет собой ошибку в запи-

 

 

 

 

си кода или логическую ошибку и может

Печатная плата

электронного

устройства,

приводить к сбоям программы или к некор-

предназначенная для размещения его ком-

ректности результатов её работы.

 

понентов (см. также Печатная плата, PCB).

 

 

 

 

 

BOL

 

 

 

 

Burrus diode

 

 

 

 

 

 

 

Светодиод Барраса.

 

 

 

1. Beginning of Life — период приработки

 

 

 

 

 

 

 

(см. также Bathtub-кривая).

 

BZT (Bundesamt fur Zulassungen in der

 

2. Behorden

Online

(Public

Authorities

Telekommunikation)

 

 

 

Online). Действующий с 1998 года совмест-

Германское центральное бюро по оценке

ный проект компании Viag Interkom и IZB

качества телекоммуникаций.

 

(Баварский центр информационных техно-

C (Си)

 

 

 

логий), целью которого является организа-

 

 

 

Язык программирования высокого уровня,

ция связи между министерствами, муници-

разработанный в 1972 году Деннисом Ритчи

пальными и местными органами власти в

(Dennis Ritchie)

из

компании

Bell

Баварии с помощью цифровой телефонной

Laboratories. Язык

получил название

Си

сети компании Viag Interkom.

 

 

(англ. C) просто потому, что его предшест-

 

 

 

 

 

BOM (Bill of Material)

 

 

венник назывался языком B.

 

Ведомость покупных материалов.

C++

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Bonder

 

 

 

 

Усовершенствованная объектно-ориенти-

Установка (как правило, автоматизирован-

рованная версия языка программирования

ная), предназначенная для монтажа.

C, разработанная в начале 1980-х годов

Bonding

 

 

 

 

Бьёрном Строструпом (Bjarne Stroustrup) из

 

 

 

 

Bell Laboratories.

 

 

 

Разварка — технология осуществления со-

 

 

 

 

 

 

 

единений между кристаллом и выводами

C3L (Complementary Constant Current Logic)

корпуса в ИС и в других полупроводнико-

Комплементарная логическая схема с пере-

вых компонентах (см. также Проволочное со-

ключением сигналов

постоянного тока.

единение).

 

 

 

 

Представляет собой усовершенствованную

BORSCHT (Battery feed – Overvoltage

схему диодно-транзисторной логики (ДТЛ)

с диодами Шотки и повышенной степенью

protection – Ringing – Signaling – Coding –

интеграции.

 

 

 

Hybrid – Testing)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Аббревиатура,

описывающая

основные

CACA (Computer-Aided Circuit Analysis)

 

функции абонентских устройств в системах

Компьютерный схемотехнический анализ.

телефонии

(Питание

абонентского уст-

CAD (Computer Aided (Assisted) Design)

 

ройства от центральной телефонной стан-

 

Система автоматизированного проектиро-

ции / Защита от перенапряжения / Посыл-

вания.

 

 

 

ка вызова / Сигнализация/ Кодирование /

 

 

 

 

 

 

 

Дифсистема — согласование двухпровод-

CAE (Computer Aided Engineering)

 

ной и четырёхпроводной линии / Тестиро-

Система автоматизированного конструиро-

вание).

 

 

 

 

вания (разработки).

 

 

 

Brownout

 

 

 

 

CAMP (Computer Aided Mask Preparation)

Состояние,

когда напряжение питания

Автоматизированное изготовление шабло-

электронного устройства на некоторое вре-

нов (масок) при производстве ИС.

 

мя падает ниже нормы (см. также Blackout,

CAN (Control Area Network)

 

SAG).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Разработанный Робертом Бошем (компа-

 

 

 

 

 

Bug

 

 

 

 

ния Bosch) протокол и шина передачи дан-

Ошибка в программном или аппаратном

ных, которые первоначально были предна-

обеспечении. Аппаратная ошибка (контак-

значены для использования в системах ав-

тная или в

разводке

соединений) может

томобильной электроники.

 

 

 

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 539 из 590 (September 4, 2010, 19:48)

 

 

16. Глоссарий 539

 

 

 

 

CAPI (Common Application Programming

CCIR (Comite Consultatif International des

Interface)

Radiocommunications)

Программный интерфейс общего назначе-

Международный консультативный коми-

ния. Стандартный интерфейс, используе-

тет по радиовещанию.

мый при программировании линейных карт

CCITT (Comite Consultatif International

ISDN.

Telegraphique et Telephonique)

 

 

Carrier

Международный консультативный коми-

1. Несущая частота.

тет по телеграфии и телефонии.

2. В системах телекоммуникации — опера-

CCL (Composite Cell Logic)

тор местной связи (поставщик услуг); канал

Метод разработки специализированных за-

связи.

казных ИС (ASIC) на основе библиотек ба-

3. В микроэлектронике — кристаллодержа-

зовых элементов.

тель.

 

 

CAS (Column Address Strobe)

CCMD (Chip Carrier Mounting Device)

Устройство для монтажа кристаллодержате-

Строб адреса столбца — управляющий сиг-

ля.

нал, разрешающий приём адреса столбца

 

 

при адресации микросхем DRAM (см. так-

CCPD (Charge Coupled Photodiode Array)

же CE).

Фотодиодная матрица с ПЗС-регистрами.

CB (Complementary Bipolar)

CDI (Collector Diffusion Isolation)

Комплементарная биполярная структура

Изоляция методом коллекторной диффу-

(для транзисторов).

зии.

CBEMA (Computer and Business Equipment

CD-ROM (Compact Disc Read-Only

Manufacturers Association)

Memory)

Американская ассоциация производителей

Постоянное запоминающее устройство на

компьютерного и офисного оборудования.

компакт-диске. Объём памяти такого ПЗУ

Осуществляет работу по стандартизации

превышает 650 Мбайт, а запись данных осу-

как процессов обработки информации, так

ществляется однократно тем же способом,

и соответствующего оборудования.

что и запись звуковых CD.

CBIC (Cell-Based IC)

CE

Интегральная схема с архитектурой на ос-

1. Chip Enable — сигнал выбора микросхе-

нове стандартных ячеек.

мы, разрешающий доступ к ней со стороны

CBR (CAS Before RAS)

внешних устройств.

2. Column Enable — сигнал разрешения вы-

Режим обновления памяти. Обеспечивает

бора столбца в современных микросхемах

циклическую регенерацию данных в ячей-

памяти (соответствует ранее употреблявше-

ках динамической памяти DRAM.

муся сигналу CAS).

 

 

CC

CECC (Cenelec Electronic Components

1. Chip Card — микропроцессорная чип-

Committee)

карта.

Комитет по стандартизации в области элек-

2. Chip Carrier — кристаллодержатель.

тронных компонентов. Подразделение

3. Continuity Check — проверка целостности

CENELEC со штаб-квартирой в Брюсселе

данных.

(см. также ECQAC).

 

 

CCC (Ceramic Chip Carrier)

CEN (Comite Europeen de Normalisation)

Керамический кристаллодержатель.

Европейский комитет по стандартизации.

 

 

CCD (Charge Coupled Device)

CENELEC (Comite Europeen de

Прибор с зарядовой связью (ПЗС).

Normalisation Electrotechnique)

 

 

CCFL (Capacitor Coupled FET Logic)

Европейский комитет по электротехничес-

Логика на полевых транзисторах с зарядо-

ким стандартам. Некоммерческая органи-

вой (ёмкостной) связью. Семейство ИС,

зация со штаб-квартирой в Брюсселе, со-

выполненных по GaAs MESFET-техноло-

зданная в 1973 году в результате слияния

гии.

двух европейских организаций: CENEL-

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 540 из 590 (September 4, 2010, 19:48)

540 16. Глоссарий

COM и CENEL и объединяющая национальные комитеты по стандартизации в области электротехники и электроники 28 европейских стран, а также (в качестве ассоциированных членов) 8 национальных комитетов из Восточной Европы и стран балканского полуострова.

CEPT (Conference of European Postal and Telecommunication Administrations) Европейская конференция администраций почт и электросвязи.

CerDIP

Керамический плоский корпус ИС с двухрядным расположением выводов.

Cerpack

Керамический корпус для электронных компонентов.

CFT (Chirp Fourier Transform) Преобразование Фурье, которое используется для анализа характеристик лазерных диодов при линейно-частотной модуляции.

Chirp

1 Импульс с линейной частотной модуляцией. Сдвиг центральной частоты лазера путём изменения инжекционного тока (см. также CFT).

2. Паразитная частотная модуляция сигнала радара.

CIC (Customized Integrated Circuit) Заказная интегральная схема (см. также

ASIC).

CICC (Contactless IC Card) Бесконтактная чип-карта.

CID (Charge Injection Device) Прибор с инжекцией заряда.

CIM (Computer Integrated Manufacturing) Комплексное автоматизированное производство. Использование компьютерных технологий как при разработке, так и в процессе производства полупроводниковых компонентов.

CISC (Complex Instruction Set Computer) Архитектура процессора с полным набором команд (см. также RISC).

C-LCC (Ceramic Leaded Chip Carrier) Керамический выводной кристаллодержатель (см. также PLCC).

CLIW (Configurable Long Instruction Word) Архитектура DSP-процессоров, предусматривающая поддержку конфигурируемых команд с повышенной разрядностью.

CLSI (Custom Large Scale Integration) Заказная полупроводниковая ИС высокой степени интеграции.

CMFS (Ceramic Multilayer Functional Substrate)

Керамическая многослойная функциональная подложка.

CML (Current Mode Logic)

Логическая схема на переключателях тока (ТПЛ-логика), основанная на использовании биполярной технологии (например, ЭСЛ). Высокая скорость переключения достигается за счёт того, что полупроводниковые ключи остаются в ненасыщенном состоянии.

CMMU (Cache Memory Management Unit) Блок управления кэш-памятью.

CMOS (Complementary MOS) Комплементарная МОП-технология. См.

КМОП.

CMRR (Common Mode Rejection Ratio) Коэффициент ослабления синфазного сигнала.

CoB (Chip on Board)

«Кристалл-на-плате» — технология разработки гибридных схем, когда полупроводниковые чипы размещаются без корпусов непосредственно на печатной плате устройства.

CODEC

1.COder/DECoder (Кодер/Декодер) — важнейший модуль, входящий в состав устройств цифровой телефонии и предназначенный для преобразования голосового сигнала из аналоговой формы в цифровую и наоборот.

2.COmpressor/DECompressor (Компрессор/Декомпрессор) — устройство, которое предназначено для сжатия динамического диапазона (компрессии) сигнала и/или для декомпрессии сигналов.

COG (Chip on Glass)

Полупроводниковый кристалл на стеклянной подложке.

INFSEMI_2-Text.fm, стр. 541 из 590 (September 4, 2010, 19:48)

 

 

 

16. Глоссарий

541

 

 

 

 

 

COMFET (Conductivity Modulated FET)

CTD (Charge Transfer Device)

 

 

Полевой транзистор с модуляцией прово-

Прибор с зарядовой связью (ПЗС), см. так-

димости (см. также IGBT).

же CCD.

 

 

 

C-PGA (Ceramic Pin Grid Array)

CTR (Current Transfer Ratio)

 

 

Керамический корпус ИС с матричным

Коэффициент передачи тока.

 

 

расположением штырьковых выводов.

CVD (Chemical Vapor Deposition)

 

 

 

 

 

 

Cpi (Clock cycles Per average Instruction)

Процесс химического осаждения из газовой

Среднее количество циклов тактовой час-

фазы.

 

 

 

тоты на одну команду (одна из характерис-

CW (Continuous Wave)

 

 

тик процессора).

 

 

Незатухающая гармоническая волна.

 

 

 

 

 

 

CPLD (Complex Programmable Logic Device)

DAM (Direct Access Memory)

 

 

Многофункциональное программируемое

 

 

Память с прямым доступом.

 

 

логическое устройство.

 

 

 

 

 

 

CPU (ЦПУ)

DC

 

 

 

1. Dark Current — темновой ток.

 

 

Центральное процессорное устройство (см.

 

 

2. Direct Current — постоянный ток.

 

 

также MPU).

 

 

3. Duty Cycle — коэффициент заполнения

 

 

CRC (Cyclic(al) Redundancy Check)

импульсного сигнала.

 

 

Контроль при помощи циклического избы-

DCFL (Direct Coupled FET Logic)

 

 

точного кода. Метод определения ошибок

 

 

Логические схемы на полевых транзисторах

при передаче данных. Устройство-отправи-

с непосредственными связями. Использу-

тель посылает совместно с данными пред-

ются в GaAs E-MESFET-технологии и/или

варительно вычисленную контрольную

в D-MESFET или HEMT.

 

 

сумму. Устройство-получатель, в свою оче-

 

 

 

 

 

 

редь, после приёма данных вычисляет конт-

DCPBH (Double Channel Planar Buried

рольную сумму и сравнивает её с исходной;

Heterostructure)

 

 

если совпадения нет, то генерируется сооб-

Двухканальная планарная скрытая гетеро-

щение об ошибке передачи данных (см.

структура.

 

 

 

также Чётность).

DCTL (Direct Coupled Transistor Logic)

 

 

CRD (Capacitor Resistor Diode)

Транзисторные логические схемы с непос-

Цепь (например, в выпрямителях), состоя-

редственными связями. Одна из наиболее

щая из резистора, конденсатора и диода.

«древних» архитектур цифровых ИС, в ко-

CS (Chip Select)

торой транзисторные каскады связаны

между собой гальванически.

 

 

Сигнал выбора микросхемы.

 

 

 

 

 

 

CSIC (Customer Specific IC)

DDR (Double Data Rate)

 

 

Двойная скорость передачи данных. Архи-

Заказная специальная интегральная микро-

тектура микросхем ОЗУ, обеспечивающая

схема (см. также ASIC).

увеличенную производительность,

пос-

 

 

CSP

кольку чтение или запись данных в ячейки

1. Channeled Substrate Planar — канальчатая

памяти осуществляется как по спадающему,

планарная подложка. Полупроводниковая

так и по нарастающему фронту тактового

структура, лежащая в основе большинства

сигнала.

 

 

 

оптополупроводниковых компонентов.

DECT (Digital European Cordless

 

 

2. Chip Scale Package — корпус, размеры ко-

 

 

Telecommunications)

 

 

торого изменяются в соответствии с разме-

 

 

Европейский стандарт на цифровую бес-

ром кристалла.

проводную связь.

 

 

3. Chip Size Packaging —технология изготов-

 

 

 

 

 

 

ления корпусов, размеры которых практи-

DEK (Doppel-EuropaKarte)

 

 

чески совпадают с размерами кристалла

Печатная плата, размер которой в два раза

ИС.

превышает

размер стандартной

платы

 

 

europecard

(100 160 мм); используется в

 

 

промышленных компьютерах и т.п.

 

 

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]