Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Для заочников материаловедение_2013 / М у по ПОЛУпроводникам 2008.doc
Скачиваний:
110
Добавлен:
28.03.2015
Размер:
2.2 Mб
Скачать

Обработка результатов

Отчет формируется в любом текстовом редакторе.

Часть I «Исследование диодных структур» содержит:

- схемы диодных включений транзисторов с указанием их типов;

- графики ВАХ полупроводниковых диодов при различных температурах;

-сравнительные таблицы электрических параметров полупроводниковых диодов при различных температурах (см. таблицы 4 и 5), используя полученные в ходе лабораторной таблицы значений токов и напряжений. Для сравнения выберите 10 – 15 значений во всем измеряемом диапазоне.

Таблица 4. Сравнительная таблица значений тока и напряжения полупроводниковых диодов в прямом включении электрического поля при различных температурах

Прямая ветвь ВАХ

Iпр, мА

Uпр, В

T1= , °С

T2= , °С

Кремневый диод (указать тип)

Германиевый диод (указать тип)

Кремневый диод (указать тип)

Германиевый диод (указать тип)

Таблица 5. Сравнительная таблица значений тока и напряжения полупроводниковых диодов в обратном включении электрического поля при различных температурах

Обратная ветвь ВАХ

Uобр, В

Iобр, мкА

T1= , °С

T2= , °С

Кремневый диод (указать тип)

Германиевый диод (указать тип)

Кремневый диод (указать тип)

Германиевый диод (указать тип)

- значения напряжений отпирания и пробоя диодов с указанием их на увеличенных ВАХ соответственно прямой и обратной ветвей;

- расчет сопротивления прямой и обратной ветви при различных температурах и фиксированных значениях напряжений, соответственно, прямого и обратного включений, а также график зависимости прямого и обратного сопротивлений от температуры.

В выводах пояснить принцип действия полупроводникового диода, опираясь на его ВАХ, охарактеризовать напряжения отпирания и пробоя. По полученным данным сделать выводы об изменении свойств полупроводниковых материалов в зависимости от температуры и сравнить их с теоретическими данными.

Часть II «Исследование транзисторных структур» содержит:

- схемы измерения входных и выходных характеристик транзистора с указанием его типа;

- серии входных ВАХ транзистора при различных значениях напряжения коллектор-эмиттер и температурах;

- сравнительные таблицы входных ВАХ транзистора при двух различных значениях UКЭ и температуры (см. таблицы 6), используя полученные в ходе лабораторной таблицы значений токов и напряжений. Для сравнения выберите 10 – 15 значений во всем измеряемом диапазоне.

Таблица 6. Сравнительная таблица входных ВАХ транзистора (указать тип) при различных температурах

Входные ВАХ

Iб, А

UБЭ, В

Т= , °С

Т= , °С

UКЭ= , В

UКЭ= , В

UКЭ= , В

UКЭ= , В

- серии выходных ВАХ транзистора при различных значениях тока базы и температурах;

  • сравнительные таблицы выходных ВАХ транзистора при двух различных значениях Iб и температуры (см. таблицы 7), используя полученные в ходе лабораторной таблицы значений токов и напряжений. Для сравнения выберите 10 – 15 значений во всем измеряемом диапазоне.

Таблица 7. Сравнительная таблица выходных ВАХ транзистора (указать тип) при различных температурах

Выходные ВАХ

UКЭ, В

Iк, А

Т= , °С

Т= , °С

Iб = , А

Iб = , А

Iб = , А

Iб = , А

В выводах пояснить принцип действия полупроводникового транзистора опираясь на его входные и выходные ВАХ, а также выявить как изменяются электрические свойства транзистора при его нагреве.