- •Министерство образования Российской Федерации
- •Устройство электронно-лучевой трубки.
- •Определение чувствительности электронно-лучевой трубки.
- •Метод отклонения электронного пучка в известных полях.
- •Метод фокусировки электронного пучка продольным магнитным полем.
- •Практическая часть.
- •Определение чувствительности электронно-лучевой трубки.
- •Метод отклонения электронного пучка в известных полях.
- •Метод фокусировки электронного пучка продольным магнитным полем.
Метод отклонения электронного пучка в известных полях.
В результате проведённого эксперимента были получены следующие результаты:
|
Ua (B) |
α0 |
k (мм) |
Ua (B) |
α0 |
k (мм) |
|
800 |
+90 |
6 |
600 |
+90 |
6 |
|
6 |
7 | ||||
|
7 |
6 | ||||
|
-90 |
9 |
-90 |
9 | ||
|
9 |
10 | ||||
|
9 |
9 |
Расчёт
производился по следующей формуле:
k2Ua\
Вз2L4
где k-смещение электронного пучка, Ua – потенциал второго анода, L – расстояние от второго анода до экрана (L = 146 мм).
Расчёт
погрешностей для численных значений
проводился по следующим формулам:

После подстановки численных результатов в данные формулы были получены следующие результаты:
|
Ua (B) |
α0 |
|
Ua (B) |
α0 |
|
|
800 |
+90 |
1.911 0.301 |
600 |
+90 |
1.286 0.283 |
|
-90 |
3.657 0.378 |
-90 |
2.893 0.362 |
Далее полученные значения были объединены по следующим формулам:
;
.
В результате чего было получено следующее численное значение отношения заряда электрона к его массе:
![]()
Метод фокусировки электронного пучка продольным магнитным полем.
В результате проведённого эксперимента были получены следующие результаты:
|
Ua (В) |
Пластина |
I (А) |
Ua (В) |
Пластина |
I (А) |
|
800 |
X |
2.2 |
600 |
X |
1.9 |
|
2.1 |
1.9 | ||||
|
2.2 |
1.9 | ||||
|
2.1 |
2.0 | ||||
|
2.1 |
1.9 | ||||
|
800 |
Y |
1.8 |
600 |
Y |
1.5 |
|
1.9 |
1.5 | ||||
|
1.8 |
1.6 | ||||
|
1.8 |
1.6 | ||||
|
1.8 |
1.5 |
Расчёт
производился по следующей формуле:
=
8
Ua/
Вх2L22=
8
Ua
/![]()
где
=4
10-7
Г/м - магнитная проницаемость вакуума,
I-
сила тока в катушке, n-
число витков в катушке на единицу длинны (n=673), L2 - расстояние от пластин до экрана.
В данную формулу подставлялись средние значения силы тока I.
Расчёт
погрешностей для численных значений
производился
по следующим формулам:

После
подстановки численных значений в данные
формулы были получены экспериментальные
значение
на Х пластине при различных значениях
анодного напряжения (L2=122
мм.).
|
Ua (В) |
Iср (А) |
|
|
600 |
1.9 |
1.363 0.278 |
|
800 |
2.1 |
1.478 0.248 |
Аналогичные
математические преобразования были
проведены для расчёта экспериментального
значения
на У пластине при различных значениях
анодного напряжения (L2=144
мм.)
|
Ua (В) |
Iср (А) |
|
|
600 |
1.5 |
1.554 0.275 |
|
800 |
1.8 |
1.476 0.272 |
Далее полученные значения были объединены по формулам, представленным в предыдущем задании.
В результате чего было получено следующее численное значение отношения заряда электрона к его массе:
![]()
Вывод:
нетрудно заметить, что полученные
результаты отношения заряда электрона
к его массе лежат очень близко друг к
другу (для обоих методов вычисления
данной величины), но интервалы их значений
не пересекаются. Скорее всего, это
расхождение произошло из-за случайных
погрешностей, допущенных при измерениях.
А также наши, экспериментально полученные,
значения отношения заряда электрона к
его массе лежат очень близко к табличному
значению данной величины, которая
составляет
![]()
