Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Лаб 4 / Вопросы

.docx
Скачиваний:
0
Добавлен:
05.06.2026
Размер:
256.07 Кб
Скачать

1. Каковы конструктивные особенности МДП структур?

рисунок 1

Это контакт, образованный тремя слоями: металлом, диэлектриком, полупроводником. Такие структуры чаще всего изготавливают на основе кремния (Si). В качестве диэлектрика обычно используется собственный окисел кремния - SiO2. Поэтому часто эта структура называется и как МОП - структура (металл-оксид-полупроводник).

2. Почему МДП–структура обладает емкостью?

МДП - структура напоминает конденсатор, у которого один из слоёв не металл, а полупроводник.

Удельная ёмкость C0 затвор-канал определяет управляющую способность затвора.

Заряд и разряд ёмкости затвор – канал МДП–транзистора является

главным фактором инерционности. Из (1) и (5) следует, что не в ущерб U0(пороговое напряжение) и B (удельная крутизна) быстродействие МДП–транзистора можно улучшить, только уменьшив площадь канала W⋅L. Именно поэтому успехи в увеличении быстродействия цифровой электроники связаны, в основном, с уменьшением размеров транзисторов.

3. В чем заключается полевой эффект?

Эффект поля - основное свойство МДП–структуры. Он позволяет управлять проводимостью подзатворного полупроводника за счет электрического поля, создаваемого затвором.

4. Перечислите режимы МДП–структур?

рисунок 2

1. При подаче на затвор отрицательного напряжения дополнительные дырки из объема полупроводника втягиваются в подзатворную область. Концентрация дырок здесь возрастает (режим обогащения).

2. При подаче положительного напряжения, напротив, дырки вытесняются из подзатворной области (режим обеднения).

3. При увеличении положительного напряжения на затворе до порогового U0 концентрация дырок и электронов сравниваются (пороговое состояние).

4. При напряжении на затворе U3 > U0 в подзатворной области концентрация свободных электронов превышает концентрацию дырок (режим инверсии). Появляющийся при этом слой полупроводника с электронной проводимостью используется, как канал в МДП - транзисторе. Канал соединяет исток и сток (островки кремния n + - типа, рис. 1, б). Становится возможным протекание тока между истоком и стоком. Ток в канале протекает, если к нему приложено напряжение Uси. В отсутствие канала тока между истоком и стоком нет, транзистор заперт (состояние отсечки). Такой транзистор называется МДП-транзистором с индуцированным (появляющимся) каналом n- типа.

5. Что такое пороговое напряжение МДП–структуры и от чего оно зависит?

Пороговое напряжение - напряжение, при котором образуется канал (выравнивается концентрация дырок и электронов)

6. Каково устройство полевого МДП–транзистора с индуцированным каналом?

Затвор отделен от полупроводника n-типа не диэлектриком, как в случае МДП-транзисторов, а обедненным слоем p-n-перехода. На переход задается обратное напряжение

7. Для чего предназначен МДП–транзистор?

За счёт того, что полевые транзисторы управляются полем (величиной напряжения приложенного к затвору), а не током, протекающим через базу (как в биполярных транзисторах), полевые транзисторы потребляют значительно меньше энергии, что особенно актуально в схемах ждущих и следящих устройств, а также в схемах малого потребления и энергосбережения (реализация спящих режимов).

8. В чем преимущества МДП–транзисторов с индуцированным каналом n-типа?

Если напряжение на затворе отсутствует, то в исходном состоянии канал не существует

9. Перечислите схемы включения МДП–транзистора как четырехполюсника.

Полевые транзисторыы могут включаться по схемам с общим истоком, общим затвором или общим стоком.

Наиболее распространенным является схема с общим истоком рисунок д - с общим истоком для каналов n-типа; е - для каналов p-типа

10. Каковы особенности ВАХ МДП–транзисторов с индуцированным каналом?

Вначале ток Iси растет прямопропорционально росту напряжения Uси. Этот участок называют омическая область (действует закон Ома), или область насыщения (канал транзистора насыщается носителями заряда ). Потом, когда канал расширяется почти до максимума, ток Iси практически не растет. Этот участок называют активная область.

Когда Uси превышает определенное пороговое значение (напряжение пробоя PN-перехода), структура полупроводника разрушается, и транзистор превращается в обычный проводник. Данный процесс не восстановим, и прибор приходит в негодность.

Как мы видим, МДП-транзистор с индуцированным каналом способен работать только в режиме обогащения.

11. Чем определяется удельная крутизна МДП–транзистора?

Удельная крутизна B определяет степень влияния UЗ на состояние канала и ток МДП–транзистора. Чем больше B, тем при меньшем изменении UЗ управляется транзистор (в ключе – замыкается и размыкается).

или

В обоих случаях степень влияния UЗ на IC определяет удельная крутизна

, где μ– коэффициент подвижности носителей в канале.

1. Увеличение B, т.е. улучшение управляемости МДП–структуры достигается, прежде всего, уменьшением толщины диэлектрического слоя. Естественным ограничением при этом является уменьшение его электрической прочности и рост тока утечки между затвором и каналом.

2. Увеличение B достигается уменьшением длины канала, что ограничено разрешающей способностью интегральной технологии (порядка нескольких нанометров в настоящее время).

3. Увеличение B достигается использованием полупроводников с большим коэффициентом подвижности. Поэтому кремниевые n-канальные МДП–транзисторы предпочтительнее p-канальных, а ещё лучшие результаты обеспечивает применение арсенида галлия, отличающегося наиболее высокой подвижностью свободных электронов.

12. Каковы пути совершенствования МДП–транзистора?

Заряд и разряд ёмкости затвор–канал МДП–транзистора является главным фактором инерционности. Не в ущерб U0 и B быстродействие МДП–транзистора можно улучшить, только уменьшив площадь канала W⋅L. Именно поэтому успехи в увеличении быстродействия цифровой электроники связаны, в основном, с уменьшением размеров транзисторов.

Соседние файлы в папке Лаб 4