- •Задание 2. Определить концентрацию электронов для заданного металла из условия касания зоны Бриллюэна и сферы Ферми и сделать суждение о применимости теории свободных электронов.
- •О Рисунок 1. Сфера Ферми и зона Бриллюэна. Пределим концентрацию электронов из условия касания зоны Бриллюэна и сферы Ферми
- •Сделать суждение о применимости теории свободных электронов
- •Исследование температурной зависимости длины свободного пробега 𝜆(𝑇)
- •Рассчитаем значения свободного пробега λ(t) для температур 0,1𝑇𝐷, 𝑇𝐷, 10𝑇𝐷 и 𝑇пл:
- •2. Исследование зависимости времени релаксации от температуры 𝜏(𝑇)
- •Рассчитаем значения времени релаксации τΣ при различных Nдеф (1012 и 1015) для температур 0,1𝑇𝐷, 𝑇𝐷, 10𝑇𝐷 и 𝑇пл.
- •Масштаб изменился
- •3. Исследовать зависимость электропроводности металла от температуры 𝜎(𝑇)
- •Nдеф 1015 Масштаб изменился
- •4. Исследовать зависимость теплопроводности металла от температуры k(𝑇)
- •Nдеф 1015 Масштаб изменился
- •Построим зависимости электропроводности (сопротивления) пленки от толщины при разных коэффициентах зеркальности пленки.
- •Построим графики суммарной электропроводности (сопротивления) по принципу:
- •Исследование статистических свойств электронного газа в твердых телах
- •Оценка степени вырождения электронного газа
- •Исследование температурной зависимости функции распределения Ферми-Дирака
- •Исследование температурной зависимости распределения носителей заряда по энергии
- •Исследование электропроводности полупроводников
- •Исследование температурной зависимости энергии Ферми в собственном полупроводнике.
- •Исследование зависимости концентрации носителей заряда от температуры для собственного полупроводника
- •Исследование зависимости концентрации носителей заряда от температуры для примесного (донорного) полупроводника
- •Исследование зависимости электропроводности от температуры для примесного (донорного) полупроводника
- •Задание 6. Рассчитать зависимости энергии Ферми и термодинамической работы выхода для примесного полупроводника от температуры.
- •Задание 7. Построить энергетическую диаграмму заданной пары металл-полупроводник. Рассчитать вольтамперную характеристику контакта в данном диапазоне температур.
- •1. Построить энергетическую диаграмму заданной пары металл-полупроводник.
- •2. Рассчитать вольтамперную характеристику контакта в данном диапазоне температур.
- •Задание 9. Сделать выводы и дать рекомендации по применению исследуемого контакта металл- полупроводник.
- •Использованная литература
Исследование зависимости концентрации носителей заряда от температуры для собственного полупроводника
Концентрации носителей заряда в полупроводнике описываются следующими формулами:
Концентрация электронов:
,
где
Концентрация дырок:
,
где
Вычислим концентрации в характерных точках:
(
м-3)
(м-3)
(м-3) (м-3)
(м-3) (м-3)
(м-3) (м-3)
Заметно, что они равны. Для наглядности также построим эти зависимости:
График 34. Зависимости концентраций носителей заряда от температуры в собственном полупроводнике при температуре от 0 до 300 K
Условие электронейтральности выполняется: Для полупроводника, в составе которого отсутствуют примеси, т.е. собственного полупроводника, концентрация электронов в зоне проводимости должна быть равна концентрации дырок в валентной зоне.
Исследование зависимости концентрации носителей заряда от температуры для примесного (донорного) полупроводника
В качестве донорной примеси выберем индий (In) – так как нам требуется примесный полупроводник p-типа. Индий в нашем случае будет примесным элементом, атомы которого устанавливает ковалентную связь с тремя соседними атомами германия. Но у германия остается одна свободная связь в то время, как у атома индия нет валентного электрона, поэтому он захватывает валентный электрон из ковалентной связи между соседними атомами германия и становится отрицательно заряженным ионом, образуя так называемую дырку и соответственно дырочный переход. Значит энергия активации примеси (Таблица 4.1 в Приложении)
Дж
Концентрация собственных электронов рассчитывается по формуле:
Концентрация электронов донорной примеси рассчитывается по формуле:
Для областей истощения примесей справедливы следующие аппроксимационные формулы:
Полная концентрация электронов рассчитывается по формуле:
Построим все эти зависимости:
График 35. Зависимости концентраций носителей заряда от температуры в примесном полупроводнике
И вычислим их значения в характерных точках
0.1TD |
TD |
10TD |
Tпл |
( (м-3) (м-3) (м-3) (м-3) |
( (м-3) (м-3) (м-3) (м-3) |
( (м-3) (м-3) (м-3) (м-3) |
( (м-3) (м-3) (м-3) (м-3) |
Вывод: Концентрация основных носителей в большей степени определяется концентрацией примесей. В примесных полупроводниках концентрация основных носителей превышает собственную. Также слабее зависит от T в интервале низких температур.
Исследование зависимости электропроводности от температуры для примесного (донорного) полупроводника
Электропроводность полупроводника вычисляется по формуле:
,
где
где
— электропроводность, См;
e — заряд электрона, Кл;
n(T) — концентрация электронов от температуры, м-1;
—
подвижность
электронов от температуры, м2/(В∙с);
— концентрация
дырок от температуры, м-1;
— подвижность
дырок от температуры, м2/(В∙с);
T — температура, К.
Построим
зависимости подвижностей исследуемых
единиц и электропроводности в диапазоне
:
График 36. Зависимость подвижности носителей заряда (электронов и дырок) от температуры в примесном полупроводнике при
График 37. Зависимость электропроводности от температуры в примесном полупроводнике при
И вычислим их значения в характерных точках
0.1TD |
TD |
10TD |
Tпл |
м м2/(В∙с) См |
м м2/(В∙с) См |
м м2/(В∙с) См |
м2/(В∙с) См |
Подвижность основных носителей превышает подвижность неосновных, а электропроводность увеличивается с увеличением температуры после ( ) температуры Дебая, и уменьшается до неё.

м-3)
м-3)
м-3)
м-3)
2/(В∙с)
2/(В∙с)
2/(В∙с)