Практика / Бронников,0182,ИДЗ7
.docxМИНОБРНАУКИ РОССИИ
Санкт-Петербургский государственный
электротехнический университет
«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)
Кафедра МиТ
отчет
по индивидуальному домашнему заданию №7
по дисциплине «Основы электроники и радиоматериалы» Вариант 2-10-8
Студенты гр. 0182 |
|
Бронников Д.Д. |
Преподаватель |
|
Фантиков В.С. |
Санкт-Петербург
2022
Задание 7. Построить энергетическую диаграмму заданной пары металл-полупроводник. Рассчитать вольтамперную характеристику контакта в данном диапазоне температур.
1. Построить энергетическую диаграмму заданной пары металл-полупроводник.
Омический контакт, Фпп > Фме
Воспользуемся данными, взятыми из таблицы и из прошлых ИДЗ:
Термодинамическая работа выхода для металла — 4.6эВ (Приложение 1);
Термодинамическая работа выхода для собственного п/п - 4.8 эВ;
Энергия Ферми металла EFМе = работе выхода из металла Фме – 4.6 эВ.
Энергия Ферми собственного полупроводника EFПП (собств.) = работе выхода из собственного полупроводника ФПП (собств.) – 4.80 эВ.
Ширина запрещенной зоны для собственного полупроводника EG – 0.67 эВ.
Энергия активации Eg примесного (донорного) полупроводника (In) –0.011 эВ
Уровень дна зоны проводимости Ec = Фпп (собств.) – 0,5*EG=4.8-0.5*0.67=4.465 эВ
Потолок валентной зоны (дно запрещенной зоны) Ev = Фпп (собств.) + 0,5*EG=4.8+0.5*0.67= 5.135эВ
Энергия Ферми примесного (донорного) полупроводника EFПП (прим.) = EC + 0,5*Eg=4.465+0.5*0.011=4.47 эВ
Работа выхода из примесного (донорного) полупроводника ФПП (прим.) = EFПП (прим.) =4.47 эВ
Энергия донорного уровня Ed = EC + Eg=4.465+0.011=4.476 эВ
И построим энергетические диаграммы:
Рисунок 1. Построение энергетической диаграммы с вакуумным зазором
Рисунок 2. Построение энергетической диаграммы без вакуумного зазора и без смещения
Рисунок 3. Построение энергетической диаграммы без вакуумного зазора и с прямым смещением eUсм=EFме - EFприм.п.п.=0.2эВ
Рисунок 4. Построение энергетической диаграммы без вакуумного зазора и при обратном смещении eUсм=EFме - EFприм.п.п.=0.2эВ
2. Рассчитать вольтамперную характеристику контакта в данном диапазоне температур.
Контактная разность потенциала для собственного п/п:
Плотность тока насыщения меняется согласно следующему закону:
Плотность тока насыщения при обратном смещении:
Константа Ричардсона:
Рассчитаем значение контактной разности потенциалов:
φк = 4.8-4.6 =0.2 эВ
По представленным выше закономерностям построим вольт-амперную характеристику контакта металл-полупроводник при различных температурах:
Рисунок 5. Вольт-амперная характеристика контакта для прямого и обратного смещения при температуре 0.1*TD
Рисунок 6. Вольт-амперная характеристика контакта для прямого и обратного смещения при температуре TD
Рисунок 7. Вольт-амперная характеристика контакта для прямого и обратного смещения при температуре 300К
Рисунок 8. Вольт-амперная характеристика контакта для прямого и обратного смещения при температуре 10TD
Рисунок 9. Вольт-амперная характеристика контакта для прямого и обратного смещения при температуре Tпл
Вывод: По ВАХ для примесного полупроводника видно, что его можно использовать как омический контакт, только в малых пределах изменения напряжения. С увеличением температуры ВАХ сдвигается вправо. ВАХ изменяется по экспоненте.
Приложение 1 Сайт с табличными значениями термодинамической работы выхода для металлов (Хрома):
https://dpva.ru/Guide/GuidePhysics/ElectricityAndMagnethism/ElectronExitEnergy/ElectronExitEnergySimple/
