Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
ПланТех_метода.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
09.01.2026
Размер:
2.63 Mб
Скачать

СПИСОК РЕКОМЕНДУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ

Болтакс Б. И. Диффузия в полупроводниках. М.: Физматгиз, 1961. Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий: в 2 т. /

под общ. ред. Ю. Н. Коркишко. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010, 2011.

Коледов Л. А. Технология и конструкции микросхем, микропроцессоров и микросборок. СПб.: Лань, 2008.

Королев М. А. Технология, конструкция и методы моделирования кремниевых интегральных микросхем: в 2 ч. / под общ. ред. Ю. А. Чаплыгина. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2007, 2009.

Кремниевые планарные транзисторы / под ред. Я. А. Федотова. М.: Сов.

радио, 1973.

Курносов А. И., Юдин В. В. Технология производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. М.: Высш. шк., 1986.

Маллер Р., Кейминс Т. Элементы интегральных схем. М.: Мир, 1989. Пичугин И. Г., Таиров Ю. М. Технология полупроводниковых приборов.

М.: Высш. шк., 1984.

Технология СБИС: в 2 кн. / под ред. С. Зи. М.: Мир, 1986.

61

ОГЛАВЛЕНИЕ

 

1. МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ДИФФУЗИИ..........................................

3

1.1. Законы процесса диффузии..........................................................................

3

1.2. Простейшие модели распределения концентрации примесей

 

в полупроводниковых структурах, изготовленных

 

методом диффузии........................................................................................

5

1.2.1. Модель диффузии из неограниченного источника.............................

6

1.2.2. Модель диффузии из ограниченного источника.................................

9

1.2.3. Примеры расчета этапов диффузии....................................................

14

1.3. Модель диффузии примесей из легированных оксидов.........................

17

1.4. Модель диффузии примесей в кремнии с одновременным

 

термическим окислением...........................................................................

21

1.5. Диффузия при высокой концентрации примесей....................................

25

2. МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИИ............

28

2.1. Модель Линдхарда, Шиотта и Шарфа......................................................

28

2.2. Модель Пирсона..........................................................................................

36

3. РАСЧЕТ СОПРОТИВЛЕНИЯ СЛОЯ .............................................................

38

4. МОДЕЛИРОВАНИЕ СТРУКТУРЫ БИПОЛЯРНОГО ТРАНЗИСТОРА....

42

4.1. Конструктивно-технологические особенности биполярных

 

транзисторов интегральных микросхем...................................................

42

4.2. Расчет параметров транзисторной структуры при заданных

 

режимах технологического процесса........................................................

46

4.3. Выбор режима технологического процесса для заданных

 

параметров слоев структуры......................................................................

54

СПИСОК РЕКОМЕНДУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ...............................................

61

62

Зятьков Игорь Иванович, Кривошеева Александра Николаевна

Базовые процессы планарной технологии

Учебное пособие

Редактор Н. В. Кузнецова

––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––

Подписано в печать 28.12.18. Формат 60×84 1/16. Бумага офсетная. Печать цифровая. Печ. л. 4,0.

Гарнитура «Times New Roman». Тираж 82 экз. Заказ 229.

––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––––

Издательство СПбГЭТУ «ЛЭТИ» 197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5

63

Соседние файлы в предмете Основы планарной технологии