Основы компьютерного моделирования оптических систем различных классов
.pdfОкончание табл. Б.2
Name – |
Description – описание |
Параметр |
Параметр |
Нху, Рху |
название |
|
lnt1 |
lnt2 |
|
RWRH |
Подобен RSRH, но относится к ошиб- |
Размер |
№ длины |
Нх, Ну |
|
кам волнового фронта, а не к размеру |
матрицы |
волны |
|
|
пятна |
(Grid) |
|
|
SFNO |
Рабочее F – число (F/S) в сагиттальной |
№ поля |
№ длины |
– |
|
плоскости; вычисляетсядлялюбойука- |
|
волны |
|
|
занной точки поля и любой |
|
|
|
TOTR |
Полная длина оптической системы |
– |
– |
– |
|
в установленных единицах измерения |
|
|
|
TRAI |
Радиус поперечной аберрации, изме- |
№ поверх- |
№ длины |
Да |
|
ренный относительно главного луча |
ности |
волны |
|
TTHI |
Суммарнаятолщинауказанныхповерх- |
№ первой |
№ по- |
|
|
ностей (это не расстояние между дву- |
поверх- |
следней |
|
|
мя поверхностями) |
ности |
поверх- |
|
|
|
|
ности |
|
TTLT |
Оператор ограничивает максимальную |
№ поверх- |
Код |
– |
|
полнуютолщинуповерхности. См. TTGT |
ности |
|
|
UDOP |
Определяетсяпользователем дляопти- |
Macro # |
Data# |
Да |
|
мизации числовых результатов, полу- |
|
|
|
|
ченных при выполнении внешних |
|
|
|
|
программ |
|
|
|
VOLU |
Объемэлемента, см3 (длякруглыхэле- |
№ первой |
№ по- |
|
|
ментовсплоскимиилисферическими |
поверх- |
следней |
|
|
поверхностями |
ности |
поверх- |
|
|
|
|
ности |
|
XNEA |
Минимальнаякраеваятолщинавоздуш- |
№ первой |
№ по- |
|
XNEG |
ныхпромежутковиоптическихэлемен- |
поверх- |
следней |
|
|
тов, необладающихвращательнойсим- |
ности |
поверх- |
|
|
метрией |
|
ности |
|
160
ПРИЛОЖЕНИЕ В
ПРИМЕРЫ МОДЕЛИРОВАНИЯ СИСТЕМ В ПП ZEMAX В.1. Линзовый дуплет
Линзовый дуплет – ОС со сферическими поверхностями, состоит из двух стекол, обычно склеенных (но не всегда); целесообразно его моделировать с одной общей поверхностью, имеющей одинаковую кривизну. Параметры системы приведены в редакторе дан-
ных линз (LensDataEditor) на рис. В.1.
Рис. В.1
В этом примере Zemax не моделирует сам склеивающий слой; он просто моделирует стекла, находящиеся в оптическом контакте.
Для подготовки процедуры оптимизации сначала определяют оценочную функцию по алгоритму:
команда Editors → команда Merit Function → Tools → Default Merit Function (рис. В.2).
Рис. В.2
161
Для выполнения процедуры оптимизации необходимо последовательно выбрать из главного меню Tools → Optimization → Automatic (рис. В.3).
Рис. В.3
Внеосевые характеристики ОС задают из главного меню: Вкладка System → Field → Диалоговое окно Field Data.
2D Layout (двумерное изображение системы) дано на рис. В.4.
Рис. В.4
Оценка качества дуплета. Кроме графика поперечных аберраций (относительно главного луча) в зависимости от координат зрачка
162
целесообразно приводить график волновых аберраций OPD в зависимости от координат зрачка (рис. В.5). Его анализ является одним из способов диагностики качества ОС. Для генерации графика OPD
выбирают команду Analysis и далее Fan – Optical Path.
Рис. В.5
Дополнительно проводят анализ диаграммы пятна рассеяния (рис. В.6). Для генерации необходимы команда Analysis – Spot Diagrams.
Рис. В.6
163
График хроматического смещения фокуса – интерпретация изменения величины параксиального заднего фокального расстояния в зависимости от длины волны (Analysis – Miscellaneous Разное – Chromatic Focal – хроматический сдвиг фокуса).
В.2. Телеобъектив
Исходные данные исследуемой ОС заносятся в редактор данных линз LDE: диаметры линз 60 мм (для линз 1 и 2), 58 мм (для линз 3 и 4), 54 мм (для линзы 5), 40 мм (для линзы 6); расстояние между линзами 2 и 3 – 5 мм, 4 и 5 – 10 мм, 5 и 6 – 15 мм; фокусное расстояние 80 мм (рис. В.7).
Рис. В.7
Определение длин волн: System → Wave lenght → Select – F, d, C
(стандартная система RGB). Размерность длин волн – микрометры. Задание апертуры (рис. В.8). Для задания апертуры открывают вкладку General в меню System, затем – Aperture и вводят числен-
ное значение апертуры в поле Aperture Value (число 47,2 мм).
164
Рис. В.8
На рис. В.9 представлено изображение 3D Layout.
Рис. В.9. Пространственное изображение оптической системы
На рис. В.10, В.11, В.12 представлена графическая интерпретация оценки качества оптической системы после оптимизации.
165
Рис. В.10. Ray Aberration (аберрация луча)
Рис. В.11. Spot Diagrams (диаграмма пятна рассеяния)
166
Рис. В.12. Field Curv/Dist (кривизна поля/дисторсия)
В.3. Оптические системы с асферическими поверхностями
Оптическая система с асферическими поверхностями второго порядка дана на рис. В.13.
Рис. В.13
167
MTFA – среднее числовое значение модуля передаточной функции для сагиттальной и меридиональной плоскостей.
Система с асферическими поверхностями высших порядков да-
на на рис. В.14.
Рис. В.14
168
ПРИЛОЖЕНИЕ Г
ДОПУСКИ НА УСТАНОВКУ ЭЛЕМЕНТОВ И ПАРАМЕТРОВ ПОВЕРХНОСТЕЙ
Таблица Г.1
Допуски на параметры поверхностей
Surface tolerance – допуски на параметры поверхностей
Name – |
lnt1 |
lnt2 |
Description – описание |
|
имя |
||||
|
|
|
||
|
|
|
|
|
TRAD |
Номер поверх- |
|
Допуск на радиус в установленных |
|
|
ности |
|
единицах измерения |
|
TCUR |
Номер поверх- |
– |
Допуск на кривизну в обратных |
|
|
ности |
|
единицах измерения |
|
TFRN |
Номер поверх- |
– |
Допуск на радиус в интерференци- |
|
|
ности |
|
онных полосах |
|
TTHI |
Номер поверх- |
Номер ком- |
Допуск на толщину или положение |
|
|
ности |
пенсатора |
в схеме в установленных единицах |
|
|
|
|
измерения |
|
TCON |
Номер поверх- |
– |
Допуск на коническую постоянную |
|
|
ности |
|
|
|
TSDX |
Номер поверх- |
|
Допуск на децентровку стандартной |
|
|
ности |
|
поверхности по оси Х в установлен- |
|
|
|
|
ных единицах измерения |
|
TSDY |
Номер поверх- |
|
Допуск на децентровку стандартной |
|
|
ности |
|
поверхности по оси Y в установлен- |
|
|
|
|
ных единицах измерения |
|
TSTX |
Номер поверх- |
|
Допуск на наклон стандартной по- |
|
|
ности |
|
верхности (TIR) относительно оси Х |
|
|
|
|
в градусах |
|
TSTY |
Номер поверх- |
|
Допуск на наклон стандартной по- |
|
|
ности |
|
верхности (TIR) относительно оси Y |
|
|
|
|
в градусах |
|
TIRX |
Номер поверх- |
|
Допуск на наклон стандартной по- |
|
|
ности |
|
верхности (TIR) относительно оси Х |
|
|
|
|
в линейных единицах измерения |
169
