Материаловедение и технология конструкционных материалов
.pdf40 |
Раздел I. Материаловедение |
Максимальное длительно действующее напряжение, при ко тором деформация еще равна нулю, называется теоретическим пределом ползучести.
Процесс испытания изображают в виде первичной кривой пол зучести в координатах «относительное удлинение — время», по которой определяют напряжение, соответствующее условному пределу ползучести материала (рис 1.14).
Рис. 1.14. Удлинение образца во времени:
5а — начальное удлинение под действием нагрузки; 5„ — удлинение на криволинейном участке кривой ползучести; 5С— удлинение на прямоли нейном участке
Условный предел ползучести — напряжение, которое за ус тановленное время испытания при данной температуре вызывает заданное удлинение образца или заданную скорость ползучести на прямолинейном участке кривой ползучести.
При определении по величине деформации предел ползучести обозначается символом с с тремя числовыми индексами: двумя нижними и одним верхним. Первый нижний индекс обозначает заданное удлинение (суммарное или остаточное) в процентах, вто рой — заданную продолжительность времени испытания в часах, верхний индекс — температуру в градусах Цельсия. Например, сто°2 /юо — предел ползучести при допуске на деформацию 0,20 % за 100 ч испытания при температуре 700 °С. При этом необходимо дополнительно указать, по суммарной или остаточной деформа ции определялся предел ползучести.
В случае определения предела ползучести по скорости ползу чести он обозначается символом а с двумя числовыми индексами: верхним и нижним. Нижний индекс обозначает заданную ско-
1. Основные сведения о свойствах и методах испытания.. |
41 |
рость ползучести (%/ч), верхний — температуру испытания (°С). Например, — предел ползучести при 1 • 10 5 %/ч при тем пературе 600 °С. Кроме того, необходимо дополнительно указать время испытания, за которое была достигнута заданная скорость ползучести.
ДД Методы определения дефектов металлов
Впроцессе кристаллизации слитков, их последующей пла стической деформации и термической обработки в металле об разуются различные дефекты, такие как шлаковые включения, газовые раковины, трещины и др. Для выявления этих дефек тов, наличие которых в деталях не допускается по условиям эксплуатации, разработаны различные методы контроля каче ства металла и его структуры. Наибольший интерес представля ют неразрушающие методы контроля, в ходе которых изделиям из металла не причиняется повреждений. К таким методам отно сятся радиационный (рентгеновское и у-просвечивание), ультра
звуковой, магнитный и др.
Для рентгеновского просвечивания применяют рентгенов ский аппарат (рис. 1.15), который состоит из рентгеновского из лучателя РИ и пульта управления ПУ. РИ представляет собой
Рис. 1.15. Схема рентгеновского аппарата
42 |
Раздел I. Материаловедение |
металлический защитный корпус 6, в котором размещается рент геновская трубка РТ и блок трансформаторов 5. Защитный кожух имеет окно для выхода рентгеновского излучения. Рентгенов ская трубка является основным элементом аппарата и представ ляет собой вакуумируемую колбу 2 с запаянными в нее катодом 4
ианодом 7. Нить накала 3 катода изготовляется из вольфрама
иразогревается электрическим током до температуры 2400...
3000 РС, при которой происходит термоэмиссия электронов. Электроны разгоняются в электрическом поле и попадают на зеркало анода 1, отдают ему свою кинетическую энергию, часть
из которой преобразуется в рентгеновское излучение. Рентгеновские лучи проходят через просвечиваемое изделие 8
и попадают на фотопленку 10. Если в изделии имеются дефекты, например газовые или шлаковые включения 9, проводимость рентгеновских лучей у которых выше, чем у металла, на пленке в месте расположения включения проявится темное пятно 11.
Сходные результаты получаются в случае просвечивания изде лий ^-лучами (рис. 1.16). Ампула 1 с радиоактивным веществом установлена в свинцовом кожухе 2, через отверстие которого выходит поток у-лучей. В случае наличия в изделии 3 дефекта на пленке 4 появится темное пятно.
3
4
Рис. 1.16. Просвечивание у-лучами
Ультразвуковой метод контроля качества изделий отно сится к эхоакустическим, в основу которых положен ввод ультра звуковых колебаний (УЗК) в исследуемый объект и регистрация отраженных волн (рис. 1.17). Электрический сигнал от генера тора импульсов 4 поступает на электроакустический преобразо ватель 3 и электронно-лучевую трубку (ЭЛТ) 5, на экране 6 которой формируется начальный зондирующий импульс А.
1. Основные сведения о свойствах и методах испытания. |
43 |
Электрический сигнал на преобразователе преобразуется в УЗК, которые передаются в контролируемое изделие 1. УЗК, пройдя расстояние х, равное толщине изделия, отражаются от противо положной поверхности изделия и вновь воспринимаются преоб разователем, образуя в нем сигнал, который поступает на ЭЛТ. На экране 6 от этого сигнала формируется донный импульс В. Если УЗК встретят на своем пути дефект 2, то они отразятся от него и сформируется импульс С, расстояние от которого до им пульса А (хд) характеризует глубину залегания дефекта. Ширина импульса С качественно соответствует протяженности дефекта.
Рис. 1.17. Ультразвуковой метод контроля
М агнитная дефектоскопия позволяет обнаружить поверх ностные и подповерхностные дефекты на глубине до 5 мм. Кон троль изделий методом магнитной дефектоскопии заключается в регистрации магнитного поля рассеяния (МПР), которое обра зуется над дефектом при намагничивании изделия (рис. 1.18).
Рис. 1.18. Магнитная дефектоскопия
44 |
Раздел I. Материаловедение |
Д л я э т о г о изделие помещают в магнитное поле. Магнитный поток, проходя через изделие 1, наталкивается на дефект 2 (тре щину, неметаллическое включение, газовую раковину), магнит ная проницаемость которого ниже, чем у металла. Магнитные силовые линии не могут прерываться, поэтому они: выходят из образца в окружающую среду. Если на поверхность изделия на несен ферромагнитный порошок, то в местах выхода магнитных силовых линий из образца на поверхность образуется валик, по вторяющий характер и форму дефекта. Вместо ферромагнитного порошка можно использовать магнитную ленту, запись с которой считывается преобразователем.
Коррозия металлов
Под коррозией понимают повреждение и разрушение металлов вследствие химического или электрохимического взаимодейст вия с окружающей средой. Ей в основном подвержены неблаго родные металлы, легко взаимодействующие с неметаллами.
Различают следующие виды коррозии.
Равномерное разрушение происходит по всей поверхности и оце нивается в мм/год. Так', например, корпуса судов корродируют со скоростью до 0,3 мм/год.
При точечной (питинговой) коррозии наблюдается местное разъедание металла, приводящее в итоге к появлению углубле ний или сквозных дыр.
Избирательная (селективная) коррозия характерна для спла вов с различными структурными составляющими, склонность которых к взаимодействию со средой неодинакова. Например, у чугуна, структура которого состоит из металлической основы и графита, окисляется металл, а на поверхности остается мяг кий графитный скелет.
Межкристаллитная коррозия происходит по границам зе рен. На границе зерен, как правило, собираются более рыхлые примеси, такие как сера, фосфор, что создает предпосылки для их окисления. Например, у нержавеющих сталей при темпера туре свыше 600 °С по границам зерен могут выделяться карбиды, что вызывает обеднение металла хромом и снижение его корро зионной стойкости.
1. Основные сведения о свойствах и методах испытания. |
45 |
Черезкристаллитная коррозия проходит через зерна, обра зующие зерновую структуру металла. Обычно она наблюдается в находящихся под напряжением металлах или под воздействи ем длительных знакопеременных нагрузок.
Коррозионные испытания проводят для того, чтобы опреде лить поведение металлов в различных средах и климатических условиях, а также разработать наиболее эффективные способы защиты от коррозии. Различают натурные и лабораторные испы тания. В первом случае образцы помещают совместно с работаю щими изделиями в производственную среду и периодически наблюдают за процессом коррозии. Естественно, что образцы должны быть изготовлены из того же материала, что и изделие. Лабораторные испытания позволяют оценить пригодность мате риалов для работы в определенных условиях в короткие сроки. Для этого проектируют и изготавливают шкафы, имитирующие климатические или почвенные условия, электролизные ванны для изучения коррозии под воздействием тока и установки, по зволяющие сравнивать поведение металлов в различных средах под нагрузкой.
Способность металлов взаимодействовать с различными сре дами была рассмотрена выше (см. табл. 1.2).
Кроме химических, физических и прочностных свойств ме таллы характеризуются технологическими свойствами, которые указывают на способность металлов и сплавов обрабатываться различными методами. Эти свойства будут рассмотрены в разде лах «Литейное производство», «Обработка металлов давлением», «Сварочное производство» и «Обработка резанием».
ИОБШЕЕ ПРЕДСТАВЛЕНИЕ О СТРОЕНИИ МЕТАЛЛОВ
И..... .
Кристаллические структуры металлов 2.1. и сплавов
Металлы и их сплавы в твердом состоянии представляют собой кристаллические тела, в которых атомы располагаются относи тельно друг друга в определенном, геометрически правильном порядке, образуя кристаллическую структуру. Такое законо мерное, упорядоченное пространственное размещение атомов называется кристаллической решеткой (рис. 2.1).
Рис. 2.1. Схема кристаллической решетки
В кристаллической решетке можно выделить элемент объема, образованный минимальным количеством атомов, многократное повторение которого в пространстве позволяет построить весь кристалл. Такой элементарный объем, характеризующий осо бенности строения данного типа кристалла, называется элемен тарной ячейкой. Для ее описания используют шесть величин: три ребра ячейки а,Ь ,с и три угла между ними а, |3, у. Эти вели чины называются параметрами элементарной ячейки.
Существует всего 14 типов кристаллических решеток, свойст венных элементам периодической системы. Наиболее распростра ненными среди металлов являются следующие типы решеток (рис. 2.2: линии на схемах условные; в действительности никаких
2. Общее представление о строении металлов |
47 |
471' о - . |
V * " |
i e |
|
|
и |
о. |
|
ИЗ? |
о--*!--:? |
||
/ ж —Ь9 |
^ |
||
|
Рис. 2.2. Типы кристаллических решеток:
а — объемноцентрированная кубическая; б — гранецентрированная
кубическая; е — гексагональная плотноупакованная
линий не существует, а атомы колеблются с большой частотой возле точек равновесия, т.е. узлов решетки):
□объемноцентрированная кубическая (ОЦК) — атомы рас положены в вершинах и в центре куба; такую решетку имеют Na, V, Nb, Fea, К, Cr, W и другие металлы;
□гранецентрированная кубическая (ГЦК) — атомы располо жены в вершинах куба и в центре каждой грани; решетку тако го типа имеют Pb, Al, Ni, Ag, Au, Си, Со, Fey и другие металлы;
□гексагональная плотноупакованная (ГПУ) — четырнадцать атомов расположены в вершинах и центре шестиугольных осно ваний призмы, а три — в средней плоскости призмы; такую ре шетку имеют Mg, Ti, Re, Zn, Hf, Be, Са и другие металлы.
Кристаллическую решетку характеризуют следующие основ ные параметры: период, координационное число, базис и коэф фициент компактности.
Периодом решетки называется расстояние между двумя со седними параллельными кристаллографическими плоскостями
вэлементарной ячейке решетки. Он измеряется в нанометрах (1 нм = 10“9 м) и для большинства металлов лежит в пределах 0,1...0,7 нм. Например, период решетки Fe — 0,287 нм; Си — 0,361 нм; W — 0,316 нм.
Координационное число показывает количество атомов, на ходящихся на наиболее близком и равном расстоянии от любого выбранного атома в решетке. Для ГЦК решетки координацион ное число равно 12, ОЦК — 8, ГПУ — 12.
48 |
Раздел I. Материаловедение |
Базисом решетки называется количество атомов, приходящих ся на одну элементарную ячейку. Так, на одну элементарную ячейку ОЦК решетки приходятся два атома: один, находящийся
вцентре куба и принадлежащий только данной ячейке, и вто рой — как сумма долей, которую вносят атомы, расположенные
ввершинах куба и принадлежащие одновременно восьми сопря
женным элементарным ячейкам ^ - 8 = lj. Базисное число ГЦК
и ГПУ решеток равно 4.
Коэффициент компактности (плотность упаковки) решет ки г) определяется отношением объема Уа, занимаемого атомами, ко всему объему элементарной ячейки решетки Fp:
Л = Va / Fp.
Плотность упаковки поцк = 0,68, Г\гцк = 0,74, r\rav = 0,74. Рассматривая модель кристаллической решетки (см. рис. 2.2),
можно заметить, что плотность атомов в различных плоскостях неодинакова. По этой причине свойства отдельно взятого кристал ла, в том числе химические, физические и механические, в разных направлениях будут отличаться. Такое различие свойств назы вается анизотропией. Все кристаллы анизотропны. Помимо кри сталлических тел, существуют аморфные, в которых атомы со вершают малые колебания вокруг хаотически расположенных равновесных положений, т.е. не образуют кристаллическую ре шетку. В таких телах свойства не зависйт от направления, т.е. они изотропны.
Стецень анизотропности может быть значительной. Исследо вания монокристалла меди в различных направлениях показали, что временное сопротивление с„ изменяется в нем в диапазоне 120...360 МПа, а относительное удлинение 8 — 10...55 %.
Технические металлы являются поликристаллическими ве ществами, состоящими из множества мелких (10_1...10~5 см), различно ориентированных относительно друг друга кристал лов, и их свойства во всех направлениях усредняются. Это озна чает, что металлы и сплавы изотропны.
2. Общее представление о строении металлов |
49 |
Дефекты строения реальных кристаллов
Существующие в природе кристаллы, которые получили на звание р е а л ь н ы х , не обладают совершенной атомно-кристалличе ской структурой. Их решетки имеют различного рода дефекты, т.е. отклонения от правильного периодического расположения атомов.
Дефекты кристаллического строения с учетом их простран ственного измерения подразделяют на точечные (нульмерные), линейные (одномерные), поверхностные (двухмерные) и объем ные (трехмерные).
Точечными дефектами называются такие нарушения перио дичности кристаллической решетки, размеры которых по всем трем пространственным координатам соизмеримы с размером атома. К точечным дефектам относятся (рис. 2.3, а):
□междоузельные, или дислоцированные, атомы, вышедшие из положения равновесия и перемещенные в позицию между узлами решетки;
а вакансии, или пустые узлы, кристаллической решетки;
□примесные атомы.
Линейные дефекты, или дислокации (рис. 2.3, б), — это ли нии, вдоль и вблизи которых нарушено правильное периодическое расположение атомных плоскостей кристалла. Так называемые
Рис. 2.3. Дефекты кристаллического строения:
а — точечные (1 — дислоцированный атом; 2 — вакансия; 3 — примесный атом внедрения); б — линейные (т — вектор сдвига); в — поверхностные
(а —угол разориентировки субзерен)
