Построим по данным таблиц 3 и 4 график световой характеристики
для
первого и второго образцов:
Рисунок 2 - График
световой характеристики для CdS
и CdSe
Вывод
При
выполнении данной лабораторной работы
были исследованы фотоэлектрические
свойства полупроводников.
В частности, были
построены спектральные зависимости
фотопроводимости для CdS
и CdSe.
Внешний вид графиков физически объясняется
тем, что для каждого материала имеется
некоторое пороговое значение длины
волны λпор,
соответствующее ΔЭ, которое называют
красной границей фотоэффекта. При
уменьшении длины волны излучения от
λпор
интенсивность оптических переходов
возрастает, что приводит к увеличению
концентрации неравновесных носителей
заряда и соответствующему росту
фотопроводимости. С другой стороны, при
больших энергиях фотонов существенно
возрастает коэффициент оптического
поглощения, что сопровождается уменьшением
глубины проникновения света в
полупроводник. При этом неравновесные
носители заряда, возбуждаемые в тонком
поверхностном слое, быстро рекомбинируют
через уровни поверхностных дефектов.
Это приводит к спаду фотопроводимости
после некоторого максимума на спектральной
характеристике ФРЭ.
Также
были построены световые характеристики
для CdS
и CdSe.
Внешний вид этих графиков физически
объясняется тем, что при увеличении
уровня облучения полупроводника
возрастает интенсивность оптических
переходов и, следовательно, растет
фотопроводимость. В области слабых
световых потоков характеристика обычно
имеет ли нейный характер. Однако с
повышением интенсивности света линейность
нарушается, что объясняется усилением
роли процесса рекомбинации вследствие
того, что часть ловушек захвата начнет
превращаться в рекомбинационные центры.
Это служит причиной замедления роста
фотопроводимости.