4. Тестирование
4.1 Тестовые наборы:
Тестовые наборы составлены по методу выделения классов эквивалентности. Идея заключается в том, что вместо тестирования каждого возможного входного значения тестируются только представители каждого класса.
Генерация графов |
Вход. д. |
Выход. Д. |
Корректные данные |
Число узлов N
|
Матрица N*N заполненная единицами |
Неверные данные |
Отрицательное число узлов N<=0 |
Вывод сообщения пользователю об ошибке
|
Число узлов вне диапазона N>100 |
Вывод сообщения пользователю об ошибке
|
Удаление ребер |
Вход. д. |
Выход. Д. |
Корректные данные |
Матрица N*N заполненная единицами |
Матрица N*N с удаленными ребрами |
Неверные данные |
Неполносвязанная матрица (матрица n*n заполненная 0 и 1 с изолированным узлом) |
Вывод сообщения пользователю об ошибке
|
|
|
Проверка связанности графа |
Вход. д. |
Выход. Д. |
Корректные данные |
Матрица N*N с удаленными ребрами |
Матрица N*N с удаленными ребрами |
Неверные данные |
Неполносвязанная матрица (матрица n*n заполненная 0 и 1 с изолированным узлом) |
Вывод сообщения пользователю об ошибке
|
Вычисление запаса структурной надежности |
Вход. д. |
Выход. Д. |
Корректные данные |
Матрица N*N с удаленными ребрами |
Матрица N*N с удаленными ребрами, результат структурной надежности |
Неверные данные |
Неполносвязанная матрица (матрица n*n заполненная 0 и 1 с изолированным узлом) |
Вывод сообщения пользователю об ошибке
|
Вычисление центральности графа |
Вход. д. |
Выход. Д. |
Корректные данные |
Матрица N*N с удаленными ребрами, результат структурной надежности |
Матрица N*N с удаленными ребрами, результат структурной надежности, результат центральности графа |
Неверные данные |
Неполносвязанная матрица (матрица n*n заполненная 0 и 1) |
Вывод сообщения пользователю об ошибке
|
Поле рассеивания |
Вход. д. |
Выход. Д. |
Корректные данные |
Матрица N*N с удаленными ребрами, результат структурной надежности, результат центральности графа |
Матрица N*N с удаленными ребрами, результат структурной надежности, результат центральности графа, поле рассеивания |
Неверные данные |
Количество значений не соответствует 1000 экспериментам |
Вывод сообщения пользователю об ошибке
|
Построение экспоненциальной модели |
Вход. д. |
Выход. Д. |
Корректные данные |
Матрица N*N с удаленными ребрами, результат структурной надежности, результат центральности графа, поле рассеивания |
Поле рассеивания с экспоненциальной функцией |
Неверные данные |
Количество значений не соответствует 1000 экспериментам |
Вывод сообщения пользователю об ошибке
|
