- •Компоненты электронной техники
- •Введение
- •Лабораторная работа 1. Исследование постоянных резисторов
- •Сведения о соответствии цветов цифрам маркировки резисторов
- •Результаты исследования ткс постоянных резисторов
- •Результаты исследования вах маломощного резистора
- •Лабораторная работа 2. Исследование характеристик пЕременных резисторов
- •Исследование температурной зависимости сопротивления термистора
- •Исследование температурной зависимости сопротивления позистора
- •Результаты исследования вольтамперной характеристики позистора
- •Результаты исследования функциональной характеристики потенциометра
- •Лабораторная работа 3. Исследование характеристик варисторов и фоторезисторов
- •Исследование вольтамперной характеристики варистора
- •Исследование функциональной зависимости сопротивления фоторезистора
- •Исследование спектральной зависимости проводимости фоторезистора
- •Лабораторная работа 4. Исследование конденсаторов постоянной емкости
- •Группы термостабильности конденсаторов с постоянным тке
- •Группы термостабильности конденсаторов с неопределенным тке
- •Результаты исследования тке конденсаторов
- •Результаты исследования зарядки и разрядки конденсатора 1000 мкФ
- •Лабораторная работа 5. Исследование параметров катушКи индуктивности
- •Лабораторная работа 6. Исследование характеристик диодов
- •Исследование прямой ветви вах диодов
- •Лабораторная работа 7. Исследование выпрямителей и фильтров
- •Лабораторная работа 8. Исследование Светодиодов и фотодиодов
- •Исследование яркости светодиодов
- •Исследование спектральной зависимости напряжения фотодиода
- •Лабораторная работа 1 Исследование постоянных резисторов Исследование температурных зависимостей постоянных резисторов
- •Измерение сопротивления резисторов, соединенных по схеме «треугольник»
- •Результаты исследования вах маломощного резистора
- •Лабораторная работа 2 Исследование характеристик переменных резисторов Исследование температурной зависимости сопротивления термистора b57045
- •Исследование температурной зависимости сопротивления термистора b57164
- •Исследование температурной зависимости сопротивления позистора
- •Исследование вольтамперной характеристики позистора
- •Результаты исследования функциональной характеристики потенциометра
- •Лабораторная работа 3 Исследование характеристик варисторов и фоторезисторов
- •Исследование вах варистора s10k11 косвенным методом
- •Исследование вах варистора ct1206m6g косвенным методом
- •Исследование функциональной зависимости сопротивления фоторезистора
- •Исследование спектральной зависимости сопротивления фоторезистора
- •Лабораторная работа 4 Исследование конденсаторов постоянной емкости Исследование температурной зависимости емкости конденсатора x7r
- •Исследование температурной зависимости емкости конденсатора m1500
- •Исследование зависимости резонансной частоты контура для двух катушек
- •Лабораторная работа 8 Исследование светодиодов и фотодиодов
- •Исследование яркости светодиодов
- •Исследование спектральной зависимости напряжения фотодиода
- •Исследование обратной ветви вах фотодиода
- •Содержание
- •Компоненты электронной техники
- •197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5
Лабораторная работа 6. Исследование характеристик диодов
Цель работы – ознакомление с функцией выпрямительного диода, диода Шоттки и стабилитрона, а также исследование их характеристик.
Основные сведения о диодах
Полупроводниковыми диодами называются двухэлектродные приборы c односторонней проводимостью тока. Односторонняя проводимость обуславливается наличием p-n-перехода или перехода металл–полупроводник. Различия ВАХ диода с p-n-переходом и диода Шоттки с переходом металл – полупроводник представлены на рисунке 6.1.
Рис. 6.1. ВАХ диодов
Сравнивая ВАХ выпрямительного диода на p-n-переходе и диода Шоттки можно сделать следующие выводы: прямое падение напряжения на диоде Шоттки меньше в 2,5 – 3 раза, чем на диоде с p-n -переходом при одном и том же прямом токе; напряжение открытия диода Шоттки близко к 0, а у диода с p-n -переходом составляет десятые доли вольт, поэтому они не пригодны для выпрямления слабых сигналов; обратный ток диода с p-n -переходом меньше обратного тока диода Шоттки при одинаковых обратных напряжениях.
На работу полупроводникового диода значительное влияние оказывает частота протекающего через него тока. Это связано с наличием паразитной емкости и инерционностью диода.
Емкость p-n-перехода складывается из двух частей: барьерной емкости Сбар и диффузионной емкости Сдиф.
Существование барьерной емкости обусловлено ионами примесей в p-n-переходе. При этом p- и n-области можно рассматривать, как заряженные обкладки конденсатора, где диэлектриком выступает обедненный слой. Размер данной емкости зависит от площади p-n-перехода, концентрации носителей заряда, диэлектрической проницаемости материала полупроводника и приложенной разности потенциалов.
Диффузионная емкость связана с изменением количества неравновесных носителей заряда в p-и n-областях. Диффузионная емкость характеризует инерционность движения неравновесных зарядов. Размер этой емкости пропорционален времени жизни неосновных носителей заряда и зависит также от других факторов. При работе диода в цепи переменного тока барьерная и диффузионная емкости шунтируют p-n-переход, что особенно сильно сказывается на высоких частотах.
Чтобы диод перешел из открытого состояния в закрытое, необходимо некоторое время. Если диод открыт, то через p-n-переход протекает прямой ток, обусловленный перемещением основных носителей заряда. В том случае, если мгновенно изменить полярность напряжения, то основные носители зарядов, не успевшие рекомбинировать, будут перемещаться в обратном направлении. Поэтому после смены полярности напряжения через диод в течение некоторого времени будет протекать ток. Таким образом, с увеличением частоты выпрямительные свойства полупроводниковых диодов ухудшаются.
Основным
параметром, определяющим частотные
свойства диода, является граничная
рабочая частота fгр,
при которой сила выпрямленного тока
уменьшается на 30 % относительно
номинального значения, измеренного на
низкой частоте. Одним из преимуществ
диодов Шоттки является возможность
использования их на значительно более
высоких рабочих частотах. Это связано
с тем, что в диодах Шоттки неосновные
носители не используются. В связи с
этим пропадает проблема накопления
заряда.
Разновидностью полупроводникового диода является стабилитрон – диод, предназначенный для стабилизации напряжения в источниках питания. По сравнению с обычными диодами он имеет достаточно низкое регламентированное напряжение пробоя (при обратном включении) и может поддерживать это напряжение на постоянном уровне при значительном изменении силы обратного тока.
Тогда, если параллельно стабилитрону подключить нагрузку, напряжение на ней тоже не будет изменяться. Стабилитрон характеризуется следующими основными параметрами: минимальный и максимальный токи стабилизации, напряжение стабилизации при заданном токе стабилизации, температурный коэффициент напряжения стабилизации. На рис. 6.2 показана ВАХ стабилитрона, где Uстаб – напряжение стабилизации.
Порядок выполнения исследований
1. Включить стенд, мультиметры и осциллограф.
2. Собрать схему для снятия прямой ветви ВАХ диодов с шунтирующим сопротивлением R1 = 620 Ом (рис. 6.3).
A
34
D1
Рис. 6.3. Схема исследования прямой ветви ВАХ диодов
Диоды подключать, обязательно соблюдая полярность (для прямой ветви красный провод – к источнику питания, черный – к заземлению). В работе исследуются полупроводниковый диод 1N4007 (зеленая метка) и диод Шоттки 1N5819 (желтая метка). Обратите внимание, что вольтметр подключен после амперметра и на его показания не влияет падение напряжения на амперметре, которое соизмеримо с прямым падением напряжения на диоде. В то же время ток через вольтметр несоизмеримо мал в сравнении с прямым током диода и не вносит заметной погрешности в показания амперметра.
3. Изменяя входное напряжение, снять прямую ветвь ВАХ исследуемых диодов. Измеренные значения занести в табл. 6.1.
Таблица 6.1
