3 лаба

Обработка результатов измерений

Статическая характеристика преобразования ЦИП

Рис 3.1 Статистическая характеристика преобразования ЦИП

Абсолютная инструментальная погрешность

Расчет инструментальной погрешности

Пример расчета:

Результаты вычислений представлены в таблице 3.2

Определение аддитивной и мультипликативной составляющих погрешности

Рис 3.2 Зависимость инструментальной погрешности ∆𝑅и от R

Определим аддитивную и мультипликативную погрешности как параметры прямой. Возьмем точку (1,4; -0,102). Прямая имеет вид y=ax+b. Из графика находим, что b = -0,1004, тогда a = -0,00142

То, есть:

Аддитивная погрешность	-0,00142
Мультипликативная погрешность	-0,1004

Измерение сопротивлений

Абсолютная погрешность:

∆𝑅 = 0,002R_п + 1 ед. мл. разряда при диапазоне 200 Ом-2000 КОм

∆𝑅 = 0,005R_п + 1 ед. мл. разряда при 20 МОм

Пример расчета:

∆𝑅₁=0,002*0,1164+ =0,0003328 кОм

Относительная погрешность:

Пример расчета:

Номер резистора	Диапазон измерения	Значения кванта для диапазона изм. Ом	Показания ЦИП , кОм	Абсолютная погрешность измерения , кОм	Относительная погрешность измерения, %	Результат измерения , кОм
R1	200	0,1	0,1164	0,0003328	0,2859
	2000	1	0,116	0,001232	1,062
	20000	10	0,11	0,01022	9,299
	200000	100	0,1	0,102	102
	2000000	1000	-	-	-	-
	20000000	10000	-	-	-	-
R2	200	0,1	-	-	-	-
	2000	1	1,143	0,003286	0,2874
	20000	10	1,14	0,01228	1,1298
	200000	100	1,1	0,1022	9,2909
	2000000	1000	1	1,002	100,2
	20000000	10000	-	-	-	-

Вывод: в ходе выполнения лабораторной работы были проведены измерения сопротивлений, и, по полученным результатам, была найдена статистическая характеристика преобразования ЦИП, абсолютная инструментальная погрешность, определена аддитивная(-0,00142) и мультипликативная(0,1004) составляющая погрешностей. Для измерений сопротивлений или любой другой величины следует использовать соответствующие диапазоны измерений, т. к. при слишком большом диапазоне теряется точность значений измеряемой величины.