- •Физическая электроника Введение
- •Тема: Основы зонной теории твердых тел
- •1. Зоны разрешенных значений энергии в кристалле
- •2. Заполнение зон электронами и деление тел на металлы, диэлектрики и полупроводники
- •2.1. Число состояний в зоне
- •2.2. Связь заполнения зон с электрическими свойствами твердых тел
- •2.3. Поведение электронов во внешнем электрическом поле
- •3. Собственные полупроводники
- •4. Локальные уровни в запрещенной зоне
- •4.1. Донорные уровни
- •4.2. Акцепторные уровни
- •Тема: Статистика электронов и дырок в полупроводниках и металлах
- •1. Функция распределения в статистике Ферми-Дирака:
- •Функцию плотности состояний
- •Функцию распределения
- •2. Функция плотности состояний
- •3. Концентрация электронов и дырок в полупроводнике
- •3.1. Концентрация электронов в полупроводнике
- •3.2. Концентрация дырок в полупроводнике
- •4. Положение уровня Ферми и концентрация свободных носителей заряда в собственных полупроводниках
- •5. Статистика электронов в примесных полупроводниках
- •5.1. Донорный полупроводник
- •5.2. Акцепторный полупроводник
- •5.3. Закон действующих масс
- •5.4. Сильно легированные полупроводники
- •5.5. Компенсированные полупроводники
- •6. Статистика электронов в металлах
- •Тема: Неравновесные носители заряда в полупроводниках
- •1. Равновесные и неравновесные носители заряда (определение)
- •2. Время жизни. Скорости генерации и рекомбинации
- •3. Уравнение непрерывности
- •Диффузия и дрейф неравновесных носителей
- •4.1. Введение
- •4.2. Эффективный коэффициент диффузии
- •4.3. Стационарное распределение неравновесных носителей за слоем генерации
- •4.4. Максвелловское время релаксации
- •Тема: Электронная эмиссия Введение
- •1. Поверхностный потенциальный барьер для электронов в металле (Работа выхода)
- •2. Формула для плотности тока термоэлектронной эмиссии (Формула Ричардсона-Дешмена)
- •В ывод формулы для тока насыщения
- •3. Эффект Шоттки
- •4. Автоэлектронная эмиссия
- •5. Фотоэлектронная эмиссия
- •5.1. Основные закономерности. Формула Эйнштейна для фотоэффекта
- •5.2. Фотоэлектронная эмиссия из металлов
- •5.3. Фотоэлектронная эмиссия из диэлектриков и полупроводников
- •6. Вторичная электронная эмиссия
- •Тема: Электронные лампы
- •Двухэлектродные вакуумные лампы (диоды)
- •Вольт-амперная характеристика (вах) диода
- •Параметры диодов
- •Трехэлектродные лампы (триоды)
- •Внутреннее уравнение лампы
- •Недостатки триодов
- •Тетроды и пентоды
- •Тема. Электрический ток в газах
- •1. Ионизация газов. Упругие и неупругие столкновения
- •2. Длина свободного пробега. Эффективное сечение взаимодействия
- •3. Скорости генерации и рекомбинации
- •Несамостоятельный разряд в газе
- •5. Экспериментальное определение коэффициента рекомбинации
- •6. Распределение электронов по длинам свободного пробега
- •7. Лавинный разряд. Явление усиления тока при наличии ионизирующего соударения
- •8. Самостоятельный разряд
- •8.1. Лавинный разряд при объемной ионизации электронами и гамма-процессах на катоде
- •8.2. Зажигание самостоятельного разряда
- •8.2.1. Условия зажигания самостоятельного разряда
- •8.2.2. Процесс развития самостоятельного разряда
- •8.2.3. Развитие и установление самостоятельного разряда
- •8.2.4. Напряжение зажигания самостоятельного разряда
- •8.3. Формы самостоятельного разряда
- •8.3.1. Тлеющий разряд
- •8.3.2. Дуговой разряд
- •8.3.3. Коронный разряд
- •8.3.4. Искровой разряд
- •Тема: Движение электрона в электрических и магнитных полях
- •Электронная оптика
- •Движение электрона в однородном электрическом поле
- •3. Электростатическая электронная линза
- •1) Линзы-диафрагмы
- •2) Бипотенциальные линзы
- •3) Одиночные линзы
- •4. Магнитные линзы
- •Тема: Электронная микроскопия
- •Устройство электронного микроскопа
- •2. Разрешающая способность и увеличение электронного микроскопа
4.2. Акцепторные уровни
Предположим, что часть атомов германия в решетке замещена атомами трехвалентного индия (In).
Для образования ковалентных связей с четырьмя соседями у атомов In не хватает одного электрона. Эта неукомплектованная связь не остается около атома In, а перемещается по системе валентных связей. Таким образом, в системе валентных связей появляется вакансия (см. рисунок). В этом случае поведение всех электронов эквивалентно поведению одной частицы – дырки.
Однако эта дырка
связана
с ионом индия. Действительно, когда
около атома In
все связи оказываются укомплектованными,
атом становится отрицательно заряженным
ионом и притягивает
к себе дырку. Эта связь, однако, слабая
(опять же из-за поляризации (экранирования)).
Энергия связи дырки Eua
– энергия ионизации
акцептора
получается из формулы (1) путем замены
в ней массы электрона
на массу
дырки
При сообщении связанной дырке энергии Eua ≈ 0,01 эВ она отрывается от иона индия и становится свободной.
На рисунке изображены энергетические уровни акцепторной примеси, то есть примеси, захватывающей электроны из валентной зоны полупроводника.
Непосредственно у потолка валентной зоны находятся незаполненные электронами уровни атомов индия (Eua ≈ 0.01 эВ). Близость этих уровней к потолку валентной зоны приводит к тому, что при невысоких температурах электроны из валентной зоны переходят на примесные уровни. Связываясь с атомами индия, они теряют способность перемещаться в решетке германия и в проводимости не участвуют. Носителями заряда в данном случае являются лишь дырки, расположенные у потолка валентной зоны.
Примеси, захватывающие электроны из валентной зоны полупроводника, называются акцепторными, а энергетические уровни этих примесей – акцепторными уровнями. Полупроводники, содержащие такие примеси, называются дырочными полупроводниками или полупроводниками р-типа (или акцепторными полупроводниками).
Атомы примесей из других групп таблицы Менделеева образуют уровни, расположенные далеко от валентной зоны или зоны проводимости. Они не оказывают существенного влияния на электропроводность. Зато эти примеси влияют на процессы генерации и рекомбинации электронов и дырок.
То же самое относится и к примесным атомам, расположенным не в узлах решетки, а в междоузлиях. Вакансии и другие дефекты кристаллической решетки (атомы внедрения) также создают энергетические уровни в запрещенной зоне полупроводников, но они, как правило, расположены глубоко в запрещенной зоне.
Волновые функции электронов (или дырок) на примесных уровнях локализованы (!) вблизи примесей. Поэтому такие уровни называются локальными. При большой концентрации примесей электроны могут перемещаться от одного атома примеси к другому, и локальные уровни сливаются в зону.
Тема: Статистика электронов и дырок в полупроводниках и металлах
Любое твердое тело представляет собой систему – ансамбль из огромного числа частиц. В таких системах проявляются специфические, так называемые статистические закономерности, изучаемые в статистической физике. На основании этих закономерностей получаются очень важные для практического применения выражения для концентрации свободных носителей заряда (электронов и дырок) в полупроводниках и металлах, их распределение по энергиям.
